「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(100ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an analytical electron microscope capable of enhancing detection efficiency and of enhancing use efficiency.例文帳に追加

検出効率を高めることができるとともに、使用効率を高めることができる分析電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS DYNAMIC FOCUS CONTROL METHOD AND SHAPE IDENTIFYING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SURFACE AND CROSS SECTION例文帳に追加

走査電子顕微鏡、そのダイナミックフォーカス制御方法および半導体デバイスの表面および断面形状の把握方法 - 特許庁

An all metal probe suitable for an electric interatomic force microscope is manufactured only by two lithography processes.例文帳に追加

電気式原子間力顕微鏡に適した全金属プローブをたった２つのリソグラフィー工程だけで製造するようにした。 - 特許庁

To achieve centering of illumination technically simply in changing the focal distance of the main objective lens of a microscope.例文帳に追加

技術的に簡単に照明のセンタリングを、顕微鏡の主対物レンズの焦点距離変化の際に実現することである。 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

The particle-state structure is not able to be identified by transmission electron microscope(TEM) observation.例文帳に追加

この組織性状は透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によっても粒状組織が識別できない組織状態である。 - 特許庁

This is because he not only loved sweets but also because he became obsessed with cleanliness after observing germs under a microscope while studying in Germany. 例文帳に追加

理由は、大の甘党の上に、ドイツ留学中に細菌を顕微鏡で見て以来潔癖症になってしまったため。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Since many taxa are difficult to distinguish even with a microscope in a laboratory, the levels of taxonomic identification in the field are limited.例文帳に追加

実験室で顕微鏡を使っても多くの分類群が区別しづらいので，現地での分類識別は，限られている。 - 英語論文検索例文集

Since many taxa are difficult to distinguish even with a microscope in a laboratory, the levels of taxonomic identification in the field are limited.例文帳に追加

実験室で顕微鏡を使っても多くの分類群が区別しづらいので，現地での分類識別は，限られている。 - 英語論文検索例文集

the removal of a small sample of bone marrow (usually from the hip) through a needle for examination under a microscope. 例文帳に追加

顕微鏡での検査のために針を用いて（通常は腰の辺りから）少量の骨髄のサンプルを採取する手技。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

a microscope (device used to magnify small objects) that uses electrons (instead of light) to produce an enlarged image. 例文帳に追加

映像を拡大するのに、（光の代わりに）電子を用いる顕微鏡（小さな物体を拡大するために用いられる装置）。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide an inexpensive motor-drive position switching mechanism for a microscope for which necessary stoppage accuracy is secured and whose control method is easy.例文帳に追加

必要な停止精度を確保し、制御方法も簡単で、安価な顕微鏡の電動位置切換機構を提供する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope capable of selecting a plurality of branched optical paths without deteriorating rigidity and optical performance.例文帳に追加

剛性と光学性能を劣化させることなく、複数の分岐光路を選択できる倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which can easily deal with changeover of a plurality of kinds of different observation methods or simultaneous use thereof.例文帳に追加

複数の異なる観察法の切換えまたは同時使用に簡単に対応できる顕微鏡システムを提供できる。 - 特許庁

To provide a laser microscope system of which the installation space can be reduced, the performance can be maintained, and the cost can be reduced.例文帳に追加

設置スペースを小さくでき、且つ性能の維持およびコストの低減を可能にしたレーザ顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device preventing splashes of an immersion liquid removed from an object lens from attaching to the surface of a sample container.例文帳に追加

対物レンズ上から除去したイマージョン液の飛沫が標本容器の表面に付着することを防止する。 - 特許庁

A combined 200kV HREM/STEM microscope incorporates aberration correctors in both probe-forming and imaging lenses. 例文帳に追加

HREMとSTEMを結合させた200kV(電子)顕微鏡は、プローブ形成レンズと結像レンズの両方に収差補正装置を搭載している。 - 科学技術論文動詞集

The new 300 kV analytical electron microscope is fitted with an EDS system having an ultra-thin window Si (Li) detector. 例文帳に追加

その新型300kV分析電子顕微鏡は、ウルトラスィン・ウインドウ半導体(リチウム)検出器を有するEDS装置を備え付けている。 - 科学技術論文動詞集

By containing it, or by using it, for example, a three-dimensional memory material and a three-dimensional recording medium, an optical control material and an optical control element, a photocuring material and an optical modeling system, a fluorescence material for multiphoton fluorescence microscope, and a multiphoton fluorescence microscope, are constructed.例文帳に追加

これを含有するか、用いて、例えば、三次元メモリ材料と三次元記録媒体、光制限材料と光制限素子、光硬化材料と光造形システム、多光子蛍光顕微鏡用蛍光材料と多光子蛍光顕微鏡を構成する。 - 特許庁

The microscope has one or more optical elements (21a, 21b) having a micromirror alignment (80) having a lot of micromirrors (82) which are controllable and adjustable, and the selective optical deflection and/or division of an optical path passing through the microscope are available.例文帳に追加

多数の制御、調節可能なマイクロミラー（８２）を有するマイクロミラー配列（８０）とした１以上の光学要素（２１ａ、２１ｂ）を有し、顕微鏡を通過する光線路の選択的な光学的偏向及び／又は分割が可能な顕微鏡。 - 特許庁

A thin-film part 16 for allowing electrons from a transmission- type electron microscope to be transmitted is formed at a part where a semiconductor is observed, and a specific etching treatment is made to the thin-film part 16, thus preparing a semiconductor sample 13 for the transmission-type electron microscope.例文帳に追加

半導体１０の観察を受ける部分に透過型電子顕微鏡からの電子の透過を許す薄膜部１６を形成し、該薄膜部に所定のエッチング処理を施して透過型電子顕微鏡用半導体試料１３を作成する方法。 - 特許庁

To provide a mechanism in which gradient driving of a sample stage does not influence on other peripheral devices such as a photoelectron microscope or the like installed in combination, in a charged particle microscope provided with the sample stage having the gradient function.例文帳に追加

本発明の課題は、傾斜機能をもつ試料ステージを備えた荷電粒子顕微鏡において、併設される光学顕微鏡等の他の周辺機器に対して試料ステージの傾斜駆動が影響を及ぼさないような機構を提供することにある。 - 特許庁

To provide an operating method at a high temperature, of an electron microscope, and the electron microscope, capable of stably setting a sample and efficiently heating the same with respect to high temperature properties such as phase transformation and phase transition required in the development of a heat-proof material.例文帳に追加

耐熱材料の開発において要求される相変態および相転移などの高温物性について、試料を安定に設定でき、効率よく加熱できる電子顕微鏡の高温での運転方法とその電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an surgical microscope capable of being simply and rapidly subjected to equilibration and especially avoiding the defect of an existing device like the attachment of an additional weight or the joining with an arm or the like only on the side of one of the opposed parts (side surfaces) of the microscope.例文帳に追加

平衡化を簡単かつ迅速に行うことができ、かつとりわけ付加重りの取り付けや顕微鏡の相対する部分（側面）の一方側のみでのアーム等との結合のような既知の装置の欠点を回避する手術顕微鏡。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanical stage for a polarizing microscope, which can be easily mounted on a rotating stage and allows a sample plate to be easily moved in an X-axis direction and Y-axis direction and can be inexpensively manufactured, and a polarizing microscope provided with the same.例文帳に追加

回転ステージに容易に装着でき、試料板をＸ軸方向及びＹ軸方向に簡便に移動させることができ、安価に製造することのできる偏光顕微鏡用メカニカルステージ及びこれを備えた偏光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system that has magnification and high resolution, can easily perform observation or acquisition of a magnified image of an observation target in a portable state, and can be used even in a similar state of a conventional microscope.例文帳に追加

拡大倍率と高い分解能を有し、携帯可能な状態での観察対象物の拡大像の観察、該拡大像の取得を簡便に行うことができ、従来の顕微鏡と同様な状態でも利用可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning method in a scanning probe microscope attaining accurate magnetic measurement of a sample under a strong magnetic field, without causing disarray of the magnetic structure of the sample, and to provide a strong magnetic field scanning probe microscope device.例文帳に追加

プローブが試料の磁気構造を乱すことなく、強磁場下における試料の磁気的測定をより正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In such a case the CCD camera 1 is used on the eyepiece insertion section 220 side of a microscope 200, an eyepiece 220 of the microscope 200 is mounted with a second adapter 6 and further the CCD camera 1 by means of a fourth adapter 7 at need.例文帳に追加

ＣＣＤカメラ１を顕微鏡２００の接眼挿入部２２０側で使用するような場合には、第２のアダプタ６さらに必要に応じて第４のアダプタ７を介してＣＣＤカメラ１を顕微鏡２００の接眼レンズ２２０に取り付ける。 - 特許庁

To provide a light source unit for microscope lighting device capable of switching between dark field illumination and bright field illumination with a simple structure and capable of miniaturization at an inexpensive price, and a microscope provided therewith.例文帳に追加

暗視野照明と明視野照明とに切り換えて使用できるとともに、構造が簡単で、小型化が可能であり、安価に提供することができるようにした顕微鏡照明装置における光源ユニット、およびそれを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope including a phase plate which is used for an electron microscope and gets around problems that spacial frequency information of an observed specimen is lost, and minimizes effect of charge of an insulation film.例文帳に追加

電子顕微鏡に用いられる位相板において、観察試料の空間周波数情報が欠損する問題を回避し、かつ絶縁膜の帯電の影響を最小限にすることのできる位相板を備えた位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The eye surgery microscope 1 detects the actually selected observation mode among a plurality of predetermined observation modes, and performs an actuation to change the movement speed of a lens tube section 10 (the microscope 6), based on the detection result of the observation mode.例文帳に追加

眼科手術用顕微鏡１は、予め設けられた複数の観察モードのうち現に選択されている観察モードを検出し、この観察モードの検出結果に基づいて鏡筒部１０（顕微鏡６）の移動速度を変更するように作用する。 - 特許庁

Especially at the time of evaluation by a transmission electron microscope, a target material is frozen in a state including solvent such as water by quick-freezing and introduced to a cryo-type transmission electron microscope as it is with a cryo-transfer method and observed.例文帳に追加

特に透過電子顕微鏡による評価の際、急速凍結法により、対象となる物質を水分などの溶媒を含んだ状態で凍結し、クライオトランスファー法によりそのままの状態でクライオ型透過電子顕微鏡に導入し観察する。 - 特許庁

In the heating stage 1 for the microscope with an applying function which is installed and used under an objective lens of a microscope, the heating stage 1 comprises at least ink applying mechanisms 4 and 4', and a heating mechanism 2.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ１において、前記塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ１は、少なくとも、インキ塗布機構４，４’と、加熱機構２と、からなることを特徴とする。 - 特許庁

To perform remote monitoring of an electron microscope arranged to a client side, properly using a know-how including in a service server side for monitoring an electron generation chip of an electron gun, improve a service to the client, and improve an availability of the electron microscope.例文帳に追加

クライアント（顧客）側に配設された電子顕微鏡の遠隔監視、特に電子銃の電子発生チップの監視をサービスサーバ側で有するノウハウを生かして適確に行い、クライアントに対するサービスを向上させ、電子顕微鏡の稼動率を向上させる。 - 特許庁

To provide a cantilever module for a scanning type probe microscope which prevents the deterioration of the electric component on the side of a scanning type probe microscope main body to enhance durability when measurement is performed using a self-detection type cantilever and is easy to exchange a cantilever.例文帳に追加

自己検知型カンチレバーを用いて測定する場合に、走査型プローブ顕微鏡本体側の電気部品の劣化を防止し耐久性が向上すると共にカンチレバーの交換が容易な走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーモジュールを提供する。 - 特許庁

To provide an aberration compensation method of a transmission electron microscope capable of providing a high-definition image by eliminating influence of hysteresis of a lens by lens relaxation, in relation to an aberration compensation method of a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の収差補正方法に関し、レンズ緩和によりレンズのヒステリシスの影響を無くして高精度の画像を得ることができるようにした透過電子顕微鏡の収差補正方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a display device for microscope and/or image data which can be installed to a microscope or immediately near it and adjusted to the optimal visual line direction on ergonomy.例文帳に追加

人間工学上および応用技術上の理由から顕微鏡またはそのすぐ近くの様々な場所に設置または配置でき、人間工学上最適な視線方向に合わせることが可能な顕微鏡および／または画像データ用の表示装置 - 特許庁

To provide an optical microscope of high stability which prevents a specimen from giving rise to defocus and movement (drift) of an object point (object) during observation by compensating the defocus in Z direction caused by thermal expansion of an optical microscope, etc.例文帳に追加

光学顕微鏡等の熱膨張に起因するＺ方向の焦点外れを補償することにより、観測中に試料が焦点ボケを生じたり、物点（対象物）の移動（ドリフト）を起こさない安定性の高い光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Light from a light source section 1 is introduced in a primary microscope body 3 through a single-fiber unit 2 having a single fiber and an image at an exit end of the fiber unit 2 is projected on the pupil of an objective 33 through a projection lens 31 in the primary microscope body 3.例文帳に追加

光源部１からの光を単芯のコアを有するファイバ単芯２により顕微鏡本体３に導入し、顕微鏡本体３内の投影レンズ３１によりファイバ２の出射端の像を対物レンズ３３の瞳に投影する。 - 特許庁

To provide a zero-degree assistant's device for a microscope capable of enabling an assistant to easily (further safely) perform side change and making the size or the height (therefore, the size or the height of the structure of a microscope having the device) of the structure as small as possible.例文帳に追加

補助者の容易な（さらには安全な）サイド変更を可能にし、その構造大きさないし高さ（従って該装置を有する顕微鏡の構造大きさないし高さ）も可及的に小さくすることができる顕微鏡のための０°−補助者装置。 - 特許庁

To provide an optical apparatus system which has a microscope, etc., and with which the repair work, such as the specification of a failure point and the exchange of failure components is carried out immediately without moving optical apparatus in case of the occurrence of the failure in the optical apparatus system having a microscope, etc.例文帳に追加

顕微鏡等を備えた光学機器システムおいて、故障が生じた場合に、光学機器を移動させずに、即座に、故障個所の特定、故障部品の交換等の修理作業を行うことができる光学機器システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which changes the position of an operating needle point to be linked with a change in an observing position within a visual field by commonalizing the coordinate for reference coordinate within the visual field of a microscope and the coordinate of a manipulator corresponding to the operating needle point.例文帳に追加

顕微鏡視野内の基準座標と操作針の針先に対応したマニュピレータの座標とを共通化し、視野内の観察位置の変更に連動して針先位置を変更することを可能にする顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

The supporting structure 14 has a moving area during use for moving the microscope section 16 when the surgical site is being observed and a moving area during storage that is a different area from the moving area during use and where the microscope section 16 can move when stored.例文帳に追加

この支持機構１４は、術部の観察時に顕微鏡部１６を移動させる使用時移動範囲と、顕微鏡部１６を収納する収納時に使用時移動範囲とは異なる範囲で移動可能な収納時移動範囲とを有する。 - 特許庁

To provide a control method for optical illumination system for DUV (deep ultraviolet) laser microscope, by which highly accurate image observation or image measurement can be performed by easily removing luminosity non- uniformity inside an illumination field to occur in a DUV laser microscope.例文帳に追加

ＤＵＶレーザ顕微鏡において発生する照野内の輝度ムラを簡便に取り除き、高精度の画像観察や画像計測を行うことが可能ななＤＵＶレーザ顕微鏡の照明光学系の調整方法を提供することを目的とする。 - 特許庁