「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(107ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope base with a fluorescence scale that is high in two-point resolution, emission intensity and contrast, and that is superior in fading resistance.例文帳に追加

高い２点分解能、発光強度と、コントラストを有し、耐退色性に優れた蛍光目盛り付き顕微鏡基盤を提供する。 - 特許庁

To provide an optical component and a phase contrast microscope, exhibiting a phase difference of a sample including frequency information and color information.例文帳に追加

周波数情報や色情報を含めて試料の位相差を示すことができる光学部品及び位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an incubator capable of stably carrying out a humidity control even if a dry gas is introduced thereinto, and to provide a microscope using the incubator.例文帳に追加

乾燥した気体を導入しても湿度制御を安定して行えるインキュベータ装置とこれを用いた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a stage mechanism in which a drift is small while being stopped, and to provide an electron microscope provided with the mechanism.例文帳に追加

本発明は、停止時のドリフトが小さいステージ機構およびそれを備えた電子顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for producing a needle-like sample for an electronic microscope which allows the needle-like sample to be simply produced.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用針状試料の作製方法に関し、針状試料を簡単に作製することを目的としている。 - 特許庁

A non-luminescent pixel in the EL display 15 fully turned on is found within a low magnification visual field of an optical microscope 7 to locate its position.例文帳に追加

全面点灯させたＥＬ表示装置１５の滅点画素を光学顕微鏡７の低倍率視野内で捉えて位置を求める。 - 特許庁

To provide an optical scanning microscope for catching at least one place in a sample area with relative movement between illumination light and a sample.例文帳に追加

照明光と試料間の相対的移動によって試料領域の少なくとも1箇所を捕捉するための光走査型顕微鏡 - 特許庁

To provide a compact observation optical system where telescopic amount of an afocal section is large, and to provide a microscope including the observation optical system.例文帳に追加

コンパクトで且つアフォーカル部の伸縮量の大きな観察光学系及びそれを備えた顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of easily measuring the change with time of fluorescence in a short time, when the fluorescence is observed.例文帳に追加

蛍光観察を行う場合に、蛍光の経時変化を短時間で容易に測定することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The presence of water in a vacuum is the problem particularly with an apparatus for maintaining a part at a very low temperature such as a cryogenic electron microscope.例文帳に追加

特に、極低温電子顕微鏡のような、部分が極低温に維持される機器にとって、真空内の水の存在は問題である。 - 特許庁

To provide a surgical microscope capable of a slightly oblique illumination as needed as well as a zero-angle illumination.例文帳に追加

ゼロ度照明ができると共に必要な場合には照明光に若干の傾きを付与することもできる手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device and fluorescence microscope that are capable of correcting a fading based on a spatial position in the field of view.例文帳に追加

視野内の空間位置に基づいて褪色補正を行うことができる蛍光検出装置および蛍光顕微鏡を実現すること。 - 特許庁

To increase the number and density of primary electron beamlet spots formed at a time while maintaining a desired image forming resolution of an electron microscope device.例文帳に追加

電子顕微鏡装置の所望の結像解像度を維持しながら、一度に形成される一次電子ビームスポットの数や、密度を高める。 - 特許庁

To provide a microscope controller for improving the operability of an electric unit operated using a touch panel.例文帳に追加

本発明では、タッチパネルを用いて電動ユニットの操作を行う場合のその操作性の向上させる顕微鏡コントローラを提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating device for a microscope using LEDs which can stabilize color temperature even if light quantity is increased and decreased.例文帳に追加

光量の増減を行っても色温度を安定させることのできるＬＥＤを用いた顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an eye surgery microscope, without needs of manually resetting the movement speed of a lens barrel when an observation mode is changed-over.例文帳に追加

観察モードの切り替え時に鏡筒の移動速度を手作業で設定し直す必要のない眼科手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To improve the throughput of a removing process without overetching or leaving an unetched part of a fine working device using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いた微細加工装置のオーバーエッチや削り残しのない除去加工のスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which can simultaneously stimulate a wide area such as the whole cell with light and observe instantaneously generated reaction.例文帳に追加

細胞全体のように広い領域を一度に光刺激することができ、瞬時に発生する反応を観察することを可能とする。 - 特許庁

The resin composition has ≥25°C temperature Ts of starting the increase of a lateral force measured by a lateral force microscope.例文帳に追加

水平力顕微鏡を用いて、測定した組成物の水平力増大開始温度Ｔｓが２５℃以上であることを特徴とする。 - 特許庁

The terminal device 12 transmits identification information obtained by converting the two-dimensional barcode received from the microscope 11 to a server device 13.例文帳に追加

端末装置１２は顕微鏡１１から受信した二次元バーコードを変換して得られる識別情報をサーバ装置１３に送信する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing individually an energy level of each crystal defect or each defect caused by a process.例文帳に追加

個々の結晶欠陥やプロセス起因欠陥のエネルギー準位を個別に見ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To make efficiently measurable a physical quantity concerning a cantilever probe and a scanning force microscope.例文帳に追加

カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡に関し、効率的に物理量の測定を行うことができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of making good use of bright and uniform line illumination by enhancing the utilization of light emitted from a light source.例文帳に追加

光源からの光の利用効率を高め、明るく、均一なライン照明を利用できる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of speedily imaging a sample with high quality without reference to a shift in imaging position during a scan.例文帳に追加

走査時の撮像位置のずれにかかわらず、試料の撮像を高品質で、迅速に行なうことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The optical microscope 110 has a trinocular tube 116, an objective revolver 118, X-Y stage 130 and a Z stage 120.例文帳に追加

光学顕微鏡１１０は三眼鏡筒１１６と対物レボルバー１１８とＸＹステージ１３０とＺステージ１２０とを有している。 - 特許庁

Since the microscope body connected with a grounding wire is fitted with the lower plate 3, all the plates can be kept at a grounding potential.例文帳に追加

下板３は、アース線が接続されている顕微鏡本体に取り付けられているので、全ての板を接地電位とすることができる。 - 特許庁

To provide a measuring microscope apparatus simply switched between a condition suitable for in-plane measurement and a condition suitable for height measurement.例文帳に追加

面内測定に好適な条件と高さ測定に好適な条件とを簡単に切り換えられる測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method.例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。 - 特許庁

ADJUSTMENT DEVICE OF PULLING MEANS TENSION OF PULLING MEANS TRANSMISSION DEVICE, ITS ADJUSTMENT METHOD, AND MICROSCOPE HAVING PULLING MEANS TRANSMISSION DEVICE例文帳に追加

引張手段伝動装置の引張手段張力の調整装置及び調整方法並びに引張手段伝動装置を有する顕微鏡 - 特許庁

Degree of formation of a conductive path of the positive electrode mixture layer PA of a positive electrode plate P is inspected by a scanning probe microscope 1000.例文帳に追加

正極板Ｐの正極合材層ＰＡの導電パスの形成度合いを走査型プローブ顕微鏡１０００により検査する。 - 特許庁

To provide a microscope with a removable switch device which can be detachably arranged and fixed on any positions which is most suitable for a user.例文帳に追加

検鏡者の所望する任意な位置に、スイッチを着脱可能に配置・固定することを可能とする顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dental unit which is simple in structure and permits an operator to easily make a focal adjustment of a microscope without using the hand.例文帳に追加

簡易な構成であるとともに、施術者が手を用いずに顕微鏡のピントを合わせることができる歯科ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a relatively thin transmission illuminator for a microscope which enables observation of a transparent sample with a moderate shadow.例文帳に追加

透明な試料に適度な陰影をつけて観察することを可能にする比較的薄型の顕微鏡用透過照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plurality of probes for scanning a large area in a short time and a simple device constitution for a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、大面積を短時間で走査するために、複数のプローブを備え、かつ、簡便な装置構成とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive motor-driven stereoscopic microscope with a simple configuration and user-friendliness matched with actual observation operation.例文帳に追加

実際の観察操作に即して使い勝手がよく、且つ構成が簡単で価格的にも安価な電動実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The surgical microscope 100 has the lighting system 101 to emit the light toward a region to be operated 117.例文帳に追加

手術用顕微鏡１００で検査される手術部位１１７中に照明光を発するための照明装置１０１を有する。 - 特許庁

To provide an engineer with the possibility of fitting a microscope to various instantaneous demands.例文帳に追加

本発明の課題は、様々な瞬間の要求に顕微鏡を適合させる可能性を術者に提供する解決策を示すことである。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope probe structure which is cost-effectively manufactured to achieve ultrahigh resolution and high yield.例文帳に追加

優れた費用効果で製造可能であり、超高分解能で高い歩留まりが可能な原子間力顕微鏡プローブ構成を提供する。 - 特許庁

This nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint, a probe for a probe microscope and a magnetic recording medium.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針、磁気記録媒体。 - 特許庁

To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

ＳＥＭの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁

Since the necessity of returning the beam spot into the visual field of the microscope during the slope adjustment is eliminated, the workability of the slope adjustment is improved.例文帳に追加

傾角調整時にビームスポットを顕微鏡視野内に戻す作業が不要となるので、傾角調整の作業性を改善できる。 - 特許庁

Further, immediately after the foreign matter is removed and sucked, inspection whether the foreign matter has been removed or not can be preformed using the microscope 4.例文帳に追加

また、異物を除去し吸引した後に、すぐに顕微鏡４を用いて異物が除去されたか否かの検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of simply achieving dimming control, according to the switching of the objective lens of a user.例文帳に追加

本発明では、ユーザーの対物レンズの切替に応じて、調光制御を簡易に実現することができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope in which a zoom handle can be manually operated without operating a motor-driven/manual switch and a clutch mechanism.例文帳に追加

電動/手動切換用のスイッチやクラッチ機構を操作することなくズームハンドルを手動で操作することができる顕微鏡を提供する - 特許庁

To provide a SQUID microscope which enhances space resolution, without bringing a sample into contact with a probe.例文帳に追加

試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができる新規なＳＱＵＩＤ顕微鏡を提供する。 - 特許庁