「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(110ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an interference microscope capable of quantitatively detecting the phase distribution of an object to be checked with a simple device constitution.例文帳に追加

簡易な装置構成でありながら、被検物の位相分布を定量的に検出することのできる干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To facilitate optical axis adjustment work when attaching a cantilever to a scan type probe microscope for the first time and replacing the cantilever.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの初期取り付け時およびカンチレバーの交換時の光軸調整作業を容易にする。 - 特許庁

In a detector system for a transmission electron microscope, during an image acquisition period, image data is read out from a pixel and is analyzed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の検出器システムにおいて、画像取得期間の間に、画像データがピクセルから読み出され、分析される。 - 特許庁

Thereby the total distortion aberration of mapping type electron microscope becomes small, and the sample can be observed with high resolution.例文帳に追加

これにより、写像型電子顕微鏡全体として歪曲収差が小さくなり、高分解能で試料を観察することができる。 - 特許庁

To provide an electron source used for an electron microscope capable of causing field emission of an electron beam at a low voltage and high efficiency.例文帳に追加

低電圧で高効率に電子ビームを電界放出することができる電子顕微鏡などに用いられる電子源を実現する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a phase plate and a phase plate lens system by which a high quality of image can be obtained stably.例文帳に追加

高い像質を安定して得ることができる位相板と位相板用レンズシステムを備えた透過電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The method is especially suitable for use in a particle optical device including a scanning electron microscope column (20) and a converging ion beam column (10).例文帳に追加

本方法は、とりわけ、走査電子顕微鏡カラム(20)と集束イオンビームカラム(10)とを備えた、粒子光学装置での使用に最適である。 - 特許庁

To provide a light spot inspecting device facilitating a pint adjustment when plural microscope objective lenses are switched by a switching means.例文帳に追加

切り換え手段により複数の顕微鏡対物レンズを切り換える際のピント調整を容易にする光スポット検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photodetection device and a photodetection method using an optical fiber probe applicable to a scanning probe microscope or the like.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡等に適用可能な光ファイバプローブを用いた光検出装置及び光検出方法に関する。 - 特許庁

ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

an optical instrument that is placed on the lens of microscope and projects an image of an object on a plane in order to enable someone to sketch the object, called camera lucida 例文帳に追加

カメラルシダという,顕微鏡のレンズにつけて,対象物を平面上に投影し,それを写生する時に使う光学器械 - EDR日英対訳辞書

it may also have a tool to remove tissue to be checked under a microscope for signs of disease. 例文帳に追加

内視鏡には、病気の徴候に対し顕微鏡下で検査をするための組織を除去する際に使用する器具がついていることもある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

an eye exam using an instrument that combines a low-power microscope with a light source that makes a narrow beam of light. 例文帳に追加

拡大率の低い顕微鏡と細い光束を発することのできる光源を備えた装置を使用して行われる眼の検査法。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a method for obtaining an observation image of a microscope which is accurately positioned at a low cost without being made large-scaled.例文帳に追加

安価にかつ装置を大型化しなくても、高精度に位置決めされた顕微鏡の観察画像を取得する方法を提供すること。 - 特許庁

The method of machining fly-eye lens molding die can be applied to, for example, the fly-eye lens used in an illumination optical system of a microscope apparatus for observing a sample.例文帳に追加

本発明は、例えば、試料を観察する顕微鏡装置の照明光学系に使用されるフライアイレンズに適用できる。 - 特許庁

To provide testing vessel which makes a staining process easily executable under a microscope even when the vessel is not moved and also makes the comparison between the localized positions of genes and images of cells easier by easily staining hybridized samples.例文帳に追加

顕微鏡下で検査容器を移動することなく染色工程を行わせることが簡便にできるようにする。 - 特許庁

To provide a tweezer-equipped probe microscope which can make contact with a substrate with tweezers, can hold and detect a specimen, and can measure the profile of the sample.例文帳に追加

ピンセットの基板への接触、試料の把持検出、試料の形状測定ができるピンセット付き走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

Hillier was also involved in developing techniques for specimen preparation, which allowed broader applications of the electron microscope. 例文帳に追加

Hillierは、試料作製用の技法の開発にも携わり、(開発された)試料作製法は電子顕微鏡のより幅広い応用を可能にした。(IEEE) - 科学技術論文動詞集

This remote-control software was installed in our new TEM to enable observation of microscope images at many different places. 例文帳に追加

この遠隔制御ソフトウェアは、多くの異なる場所での顕微鏡像の観察を可能にするために、われわれの新しいTEMにインストールされた。 - 科学技術論文動詞集

The microscope column can be aligned with the aid of beam-tilt coils above and image-shift coils below the objective lens. 例文帳に追加

顕微鏡の鏡筒は、対物レンズの上のビーム傾斜コイルと対物レンズの下の像シフトコイル(の助け)によって(一直線に)調整できる。 - 科学技術論文動詞集

To provide a modulation contrast microscope which optimizes the view of the transparent zone of an egg in implementing an ICSI (intracytoplasmic sperm injection method).例文帳に追加

ICSI(卵細胞質内精子注入法)実施時に卵の透明帯の見えが最適となる変調コントラスト顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This probe 140 for near field optical microscope is characterized by being equipped with a scattering layer 150 adjacent to the outer surface side of a clad layer 144 of glass fibers, having approximately the same refractive index as that of the clad layer 144, concerning the probe for near field optical microscope using the glass fibers.例文帳に追加

ガラスファイバを用いた近接場光学顕微鏡用プローブにおいて、ガラスファイバのクラッド層１４４外面側に隣接し、該クラッド層の屈折率とほぼ同じ屈折率を有する散乱層１５０を備えたことを特徴とする近接場光学顕微鏡用プローブ１４０。 - 特許庁

The device has a positioning unit (20) having: a main body (22); an objective holder (24) movably supported on the main body and adapted to hold the microscope objective (26); and an actuator (27) for moving the objective holder (24) along the optical axis (O) of the microscope objective.例文帳に追加

この装置には、本体（２２）と、本体上で移動可能に支持され、かつ顕微鏡対物レンズ（２６）を保持するように構成された対物レンズホルダ（２４）と、顕微鏡対物レンズの光軸（Ｏ）に沿って対物レンズホルダ（２４）を移動させるためのアクチュエータ（２７）と、を有する位置決めユニット（２０）が含まれる。 - 特許庁

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a method of measuring a surface shape of a soft material by a probe microscope allowing accurate measurement of the surface shape of the soft material including a droplet or a material that has high volatility, and is soft and easy to deform, and to provide a probe microscope used for the measuring method.例文帳に追加

液滴や揮発性が高い上に軟らかく変形し易い材料を含む軟質物の表面形状を、精度良く測定することが可能となるプローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A light intensity measuring unit 1 for measuring intensity of light emitted from a microscope includes: an aperture diaphragm 3; a field diaphragm 5; at least one measuring lens 4 arranged between the aperture diaphragm 3 and the field diaphragm 5; and an interface section 2a for being mounted to the microscope.例文帳に追加

顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット１は、開口絞り３と、視野絞り５と、開口絞り３と視野絞り５の間に配置される少なくとも１枚の測定レンズ４と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部２ａとを含んで構成される。 - 特許庁

Since the well is formed on the surface of the thin plate of 50 to 200μm thickness, the inspection objective body in the well can be observed from the rear side with an inverted microscope, therefore processing the inspection objects, such as seeding the inspection object can be performed easily and surely, without being obstructed by the objective lens of the microscope.例文帳に追加

ウエルが厚さ５０〜２００μｍの薄板表面に形成されているので、ウエル内の被検体を倒立顕微鏡でウエルプレートの裏側から観察することが可能となり、顕微鏡の対物レンズに邪魔されることなく、被検体の播種等の被検体処理を容易かつ確実に行える。 - 特許庁

To provide a microscope photographing apparatus capable of preventing the deterioration of observation image quality, irrespective of the brightness of an object, and also, attaining a frame rate comfortable for observation, and to provide a brightness adjusting method and a brightness adjusting program for the microscope photographing apparatus.例文帳に追加

被写体の明るさによらず、観察する画質の劣化をさせず、かつ、観察するのに快適なフレームレートを実現することが可能な顕微鏡撮影装置、該顕微鏡撮影装置において実行される明るさ調整方法および明るさ調整プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

In the microscope having at least one beam splitter and the scattered light reducing means in the beam path of the microscope, the scattered light reducing means is constituted as a black glass plate (6) that has a (mirror surface) polished surface coated with antireflection film (7).例文帳に追加

顕微鏡ビーム路における少なくとも１つのビームスプリッタと、散乱光低減手段とを有する顕微鏡において、前記散乱光低減手段は、反射防止膜（７）が被着された（鏡面）研磨表面を有する黒色ガラスプレート（６）として構成されることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a deflection unit for a microscope with which sharp color observation can be easily and inexpensively performed with simple constitution without separately disposing a space and mechanism for arranging a phase plate, such as a sharp color plate and a vertical illuminating light projection tube or microscope using the same.例文帳に追加

鋭敏色板などの位相板を配置するためのスペースや機構を別途設けることなく、簡単な構成で、簡単かつ安価に鋭敏色観察を行なうことが可能な顕微鏡用偏向ユニット及びそれを用いた落射投光管又は顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a liquid immersion microscope device which is used by filling space between a lens part in the objective lens barrel of a liquid immersion microscope and a sample with liquid, and which surely detects the existence of liquid supplied to a sample surface or liquid adhering to the sample surface.例文帳に追加

本発明は、液浸顕微鏡の対物レンズ鏡筒のレンズ部と試料との間を液体で満たして使用される液浸顕微鏡装置に関し、試料面に供給された液体あるいは試料面に付着した液体の有無を確実に検出することを目的とする。 - 特許庁

To provide an imaging device for microscope which can always appropriately be corrected by assisting an operator in manually correcting a microscope image display device.例文帳に追加

従来の顕微鏡用撮像装置は、操作者が撮影された基準となる補正用撮像の良否を判断できず、撮影に失敗した校正用画像でも補正が実施され、また表示画面に対して傾いて設置され、撮像画像に不適切な補正が施されていても良否が確認できない。 - 特許庁

The grinding machine with the distance measuring function is characterized in that the image processing device measures the vertical directional distance between the reference surface of the microscope and the observation object based on sharpness being a degree of whether or not a focus of the microscope is adjusted.例文帳に追加

前記画像処理装置は、前記顕微鏡のピントが合っているか否かの程度である鮮鋭度に基づいて、当該顕微鏡の基準面と観察対象物との鉛直方向距離を測定するようになっていることを特徴とする距離測定機能付きの研削盤である。 - 特許庁

An annotation setting part 503 receives the setting of position information associated with annotation for at least one image data, among the image data captured by the microscope, respectively, at a plurality of different positions in an optical axis direction of the microscope of one observation object, from a user.例文帳に追加

アノテーション設定部５０３は、顕微鏡によりそれぞれ撮像され、１つの観察対象物の顕微鏡の光軸方向における異なる複数の位置の画像データのうち、１以上の画像データに対するアノテーションに関する位置情報の設定を利用者より受け付ける。 - 特許庁

To provide an apparatus for and a method of fully automatically and rapidly scanning and digitizing an entire microscope sample, using a computer controlled microscope slide scanner for composing image strips obtained by continuous scanning of the sample into a single continuous digital image.例文帳に追加

試料の連続的スキャンから得られた画像ストリップを単一の連続したデジタル画像を構成するためにコンピュータ制御された顕微鏡スライドスキャナを用いて、顕微鏡試料全体を全自動で迅速なスキャンおよびデジタル化するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This ion microscope includes the gas field ionization ion source, is constituted to install a refrigerator for cooling the gas field ionization ion source independently of an ion microscope body, and is provided with a refrigerant circulation circuit cooling mechanism for circulating a refrigerant between the gas field ionization ion source and the refrigerator.例文帳に追加

本発明は、ガス電界電離イオン源を備えたイオン顕微鏡において、ガス電界電離イオン源を冷却する冷凍機をイオン顕微鏡本体とは独立に設置し、ガス電界電離イオン源と冷凍機の間で冷媒を循環させる冷媒循環回路冷却機構を設けることに関する。 - 特許庁

The prepared slide controlling apparatus comprises an RFID tag reading means; a digital camera for photographing the image of the prepared slide as a whole; a microscope enabling photographing to be carried out under external control and by using a microscope camera; an electrically-operated stage which can move the prepared slide; and a computer for controlling the entirely.例文帳に追加

プレパラート管理装置は、ＲＦＩＤタグ読み取り手段と、プレパラートの全体画像を撮影するためのデジタルカメラと、外部制御および顕微鏡カメラによる撮影が可能な顕微鏡と、プレパラートを移動可能な電動ステージと、全体を制御するコンピュータとを備える。 - 特許庁

In the pitch-based carbon short fiber filler, a graphene sheet is closed at a filler end face when observed by a transmission electron microscope, while a surface observed by a scanning electron microscope is substantially flat, and the number average fiber length is 80 to 500 μm.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラーであり、個数平均繊維長が８０μｍ以上５００μｍ以下であることをピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

Further, the foreign bodies are collected by a foreign body removing mechanism arranged on the sample conveying hand prepared between a scanning electron microscope body and the sample cassette so as not to bring the foreign bodies generated in the scanning electron microscope to a sample cassette or the like.例文帳に追加

更に走査電子顕微鏡内で発生した異物を、試料カセット等に持ち込まないように、走査電子顕微鏡鏡体と試料カセットとの間に設けられた試料搬送用ハンドに設けられた異物除去機構によって、異物を回収する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a system and method capable of performing a stable measurement of a surface shape by certainly removing the charge accumulated in a semiconductor wafer obstructing the measurement of a scanning probe microscope and preventing the destruction of the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定の障害となる半導体ウエハ内部に蓄積された電荷を、確実に取り除き、走査型プローブ顕微鏡の探針の破壊を防止し、安定した表面形状測定を行うことができる測定システムおよび測定方法を提供すること。 - 特許庁

To classify defects very effectively, simply and exactly by using the minimum defect information, by obtaining only defect information required to classify the defects, when identifying and classifying the defects of objects to be inspected by using an optical microscope and an electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡及び電子顕微鏡を用いて被検査体の欠陥を識別して分類するに際して、欠陥の分類を行うのに必要な欠陥情報のみを取得し、最小限の欠陥情報により極めて効率良く、極めて簡易且つ正確に欠陥の分類を行う。 - 特許庁

The microscope system 100 includes a housing device 10 in which a plurality of specimens 1 are housed, a microscope device 20 which acquires image data of the specimen 1, a display device 61 which displays an image of the specimen 1 (sample 2), and a controller 50 which unitary controls the respective devices.例文帳に追加

顕微鏡システム１００は、複数の標本１を収納可能な収納装置１０と、標本１の画像データを取得する顕微鏡装置２０と、標本１（サンプル２）の画像を表示する表示装置６１と、上記各装置を統括的に制御する制御装置５０とを備えている。 - 特許庁

The fixing device 1 is composed so that an observer observes, by the horizontal optical microscope 2, an active state of cell samples held at the sample fixing section 3 by the horizontal optical microscope 2 and the biological sample can be fixed at an arbitrary point of time in a specific phenomenon.例文帳に追加

固定装置１は、観察者が水平型光学顕微鏡２で試料固定部３に保持された細胞試料の活動状態を水平型光学顕微鏡２で観察しながら、特定の現象の任意の時点で生体試料を固定し得るように構成されている。 - 特許庁

To minimize a gap of visual fields between an electron microscope image and an optical image in the first place, then to add color information obtained by an optical imaging device equipped with digital imaging functions to the electron microscope image in the second place, and then in the third place, to simplify a total device structure.例文帳に追加

第一に電子顕微鏡画像と光学画像の視野のずれを最小限にすることであり、第二にデジタル映像機能を備えた光学画像装置により得た色情報を電子顕微鏡画像に付加することであり、第三に、装置の全体の構造を簡略化することである。 - 特許庁