「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(110ページ目) - Weblio英語例文検索

To interrupt length measurement by detecting that a sample carrying mechanism of a scanning electron microscope including a vacuum exhaust system is in operation.例文帳に追加

真空排気系を含む走査電子顕微鏡の試料搬送機構が稼働中であることを検出して測長を中断する。 - 特許庁

To improve an optical observation apparatus in order to provide an operation microscope or an endoscope in which documentation to be done afterward can be exactly performed.例文帳に追加

後の文書化を確実に行えるような手術用顕微鏡又は内視鏡を提供するため、光学観測装置を改良する。 - 特許庁

Thereby the total distortion aberration of mapping type electron microscope becomes small, and the sample can be observed with high resolution.例文帳に追加

これにより、写像型電子顕微鏡全体として歪曲収差が小さくなり、高分解能で試料を観察することができる。 - 特許庁

To provide an electron source used for an electron microscope capable of causing field emission of an electron beam at a low voltage and high efficiency.例文帳に追加

低電圧で高効率に電子ビームを電界放出することができる電子顕微鏡などに用いられる電子源を実現する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a phase plate and a phase plate lens system by which a high quality of image can be obtained stably.例文帳に追加

高い像質を安定して得ることができる位相板と位相板用レンズシステムを備えた透過電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The method is especially suitable for use in a particle optical device including a scanning electron microscope column (20) and a converging ion beam column (10).例文帳に追加

本方法は、とりわけ、走査電子顕微鏡カラム(20)と集束イオンビームカラム(10)とを備えた、粒子光学装置での使用に最適である。 - 特許庁

To provide a light spot inspecting device facilitating a pint adjustment when plural microscope objective lenses are switched by a switching means.例文帳に追加

切り換え手段により複数の顕微鏡対物レンズを切り換える際のピント調整を容易にする光スポット検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photodetection device and a photodetection method using an optical fiber probe applicable to a scanning probe microscope or the like.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡等に適用可能な光ファイバプローブを用いた光検出装置及び光検出方法に関する。 - 特許庁

ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

an optical instrument that is placed on the lens of microscope and projects an image of an object on a plane in order to enable someone to sketch the object, called camera lucida 例文帳に追加

カメラルシダという,顕微鏡のレンズにつけて,対象物を平面上に投影し,それを写生する時に使う光学器械 - EDR日英対訳辞書

it may also have a tool to remove tissue to be checked under a microscope for signs of disease. 例文帳に追加

内視鏡には、病気の徴候に対し顕微鏡下で検査をするための組織を除去する際に使用する器具がついていることもある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

an eye exam using an instrument that combines a low-power microscope with a light source that makes a narrow beam of light. 例文帳に追加

拡大率の低い顕微鏡と細い光束を発することのできる光源を備えた装置を使用して行われる眼の検査法。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

The method of machining fly-eye lens molding die can be applied to, for example, the fly-eye lens used in an illumination optical system of a microscope apparatus for observing a sample.例文帳に追加

本発明は、例えば、試料を観察する顕微鏡装置の照明光学系に使用されるフライアイレンズに適用できる。 - 特許庁

To provide a method for obtaining an observation image of a microscope which is accurately positioned at a low cost without being made large-scaled.例文帳に追加

安価にかつ装置を大型化しなくても、高精度に位置決めされた顕微鏡の観察画像を取得する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide testing vessel which makes a staining process easily executable under a microscope even when the vessel is not moved and also makes the comparison between the localized positions of genes and images of cells easier by easily staining hybridized samples.例文帳に追加

顕微鏡下で検査容器を移動することなく染色工程を行わせることが簡便にできるようにする。 - 特許庁

To provide a tweezer-equipped probe microscope which can make contact with a substrate with tweezers, can hold and detect a specimen, and can measure the profile of the sample.例文帳に追加

ピンセットの基板への接触、試料の把持検出、試料の形状測定ができるピンセット付き走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

Hillier was also involved in developing techniques for specimen preparation, which allowed broader applications of the electron microscope. 例文帳に追加

Hillierは、試料作製用の技法の開発にも携わり、(開発された)試料作製法は電子顕微鏡のより幅広い応用を可能にした。(IEEE) - 科学技術論文動詞集

This remote-control software was installed in our new TEM to enable observation of microscope images at many different places. 例文帳に追加

この遠隔制御ソフトウェアは、多くの異なる場所での顕微鏡像の観察を可能にするために、われわれの新しいTEMにインストールされた。 - 科学技術論文動詞集

The microscope column can be aligned with the aid of beam-tilt coils above and image-shift coils below the objective lens. 例文帳に追加

顕微鏡の鏡筒は、対物レンズの上のビーム傾斜コイルと対物レンズの下の像シフトコイル(の助け)によって(一直線に)調整できる。 - 科学技術論文動詞集

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for remotely observing microscope capable of shortening a time from a monitoring device's instructing a requirement for obtaining an image till the monitoring device can observe a still picture by attaining the high speed of the transfer of the still picture between a microscope photographing device and the monitoring device.例文帳に追加

顕微鏡撮影装置とモニタ装置との間での静止画像転送の高速化を図り、モニタ装置から画像取得要求の命令を発行してから、モニタ装置で静止画像が観察できるまでの時間を短縮することが可能な遠隔顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

In a Koehler type illumination system in which an object is illuminated by introducing laser light to the peripheral part of an objective lens of a microscope, the rotational zone total reflection illumination mechanism is characterized in that the direction of illumination with the laser light is rotatable around the axis of the objective lens 56 of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入し物体を照明するケーラー式照明系において、前記レーザ光による照明方向を顕微鏡対物レンズ５６の軸心を中心に回転可能としたことを特徴とする回転式輪帯全反射照明機構。 - 特許庁

A surgery system 1 is composed of a microscope 2 for surgery for an observation and imaging instrument for observing a treating site and a surgical instrument for treating the treating site, and a motor-driven surgical instrument is used as an external device of the microscope 2 for the surgery.例文帳に追加

手術システム１は、処置部位を観察する観察・撮像装置である手術用顕微鏡２と、処置部位に対して処置を施す手術装置とを備えて構成されるシステムであり、手術用顕微鏡２の外部装置として電動駆動される手術装置が用いられる。 - 特許庁

To provide a microscope moving unit which prevents an apparatus from being made larger and slower by making the movable part small, improves the revolving operability of an objective lens by securing a wide space around the objective lens and permits microscope observation of different positions of a sample without changing the state of the sample.例文帳に追加

可動部分を小さくして装置の大型化および低速化を防止し、対物レンズの周囲に広い空間を確保して対物レンズの取り回し性を向上するとともに、標本の状態を変化させることなく、標本の異なる位置を顕微鏡観察することを可能とする。 - 特許庁

To provide a vertical illumination microscope equipped with a deflecting member such as a half mirror or a half prism in its optical path and capable of eliminating the difference of resolution and the difference of contrast caused by the vertical and horizontal line patterns, and an optical member such as an objective used in the vertical illumination microscope.例文帳に追加

ハーフミラーやハーフプリズム等の偏向部材を光路中に備える落射顕微鏡において、縦横のラインパターンによる解像度の差やコントラストの差を無くすことが可能な落射顕微鏡、及び落射顕微鏡に用いられる対物レンズなどの光学部材を提供する。 - 特許庁

The information of the specimen holder is transmitted to the electron microscope by accessing the memory of the specimen holder mounted on the electron microscope, so that the user can use the spacemen holder without mistaking characteristics of the specimen holder and danger of erroneous recording of the specimen information can be reduced.例文帳に追加

電子顕微鏡に装着された試料ホルダのメモリにアクセスすることにより試料ホルダの情報を電子顕微鏡へ送ることで、使用者は試料ホルダの特性を間違えることなく使用する事ができ、試料の情報を誤って記録する危険性を低減できる。 - 特許庁

To provide an in situ observation system in a composite emission electron microscope capable of facilitating LEEM or XPEEM observation under a catalytic reaction condition by utilizing such a characteristic that an electron microscope forms the focal point in a specified position and putting an aperture having a small opening radius in this position.例文帳に追加

電子顕微鏡が特定位置で焦点を結ぶことを利用し、その位置に開口半径の小さいアパーチャーを入れ、ＬＥＥＭやＸＰＥＥＭ観察を触媒反応条件下で容易に行えるようにした複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システムを提供する。 - 特許庁

To provide a sample cooling device for an electron microscope wherein an exclusive-use helium cooling stage for cooling the sample in the electron microscope to a very low temperature (several K) by liquid helium, and then observing and analyzing it can be also used at a low temperature (several tens of K) as another cooling temperature by the use of liquid nitrogen.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料を液体ヘリウムによって極低温（数Ｋ）に冷却して、観察、分析する専用ヘリウム冷却ステージを他の冷却温度として液体窒素による低温（数十Ｋ）でも使用できる電子顕微鏡の試料冷却装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a manipulation device for fine work of an electron microscope constituted by mounting a dual probe which enables an operator not only to observe an extremely fine and minute sample but also to smoothly and surely perform electric measurement and further electric super-fine working while observing an image by the microscope.例文帳に追加

極めて微細かつ精緻な顕体試料の観察のみならず、オペレーターが顕微鏡の画像を観察しながら、電気的測定、さらには電気的超微細加工を、円滑かつ確実に行なうことを可能とするデュアルプローブを載置した電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置の提供。 - 特許庁

To provide a method of measuring a surface shape of a soft material by a probe microscope allowing accurate measurement of the surface shape of the soft material including a droplet or a material that has high volatility, and is soft and easy to deform, and to provide a probe microscope used for the measuring method.例文帳に追加

液滴や揮発性が高い上に軟らかく変形し易い材料を含む軟質物の表面形状を、精度良く測定することが可能となるプローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A light intensity measuring unit 1 for measuring intensity of light emitted from a microscope includes: an aperture diaphragm 3; a field diaphragm 5; at least one measuring lens 4 arranged between the aperture diaphragm 3 and the field diaphragm 5; and an interface section 2a for being mounted to the microscope.例文帳に追加

顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット１は、開口絞り３と、視野絞り５と、開口絞り３と視野絞り５の間に配置される少なくとも１枚の測定レンズ４と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部２ａとを含んで構成される。 - 特許庁

Since the well is formed on the surface of the thin plate of 50 to 200μm thickness, the inspection objective body in the well can be observed from the rear side with an inverted microscope, therefore processing the inspection objects, such as seeding the inspection object can be performed easily and surely, without being obstructed by the objective lens of the microscope.例文帳に追加

ウエルが厚さ５０〜２００μｍの薄板表面に形成されているので、ウエル内の被検体を倒立顕微鏡でウエルプレートの裏側から観察することが可能となり、顕微鏡の対物レンズに邪魔されることなく、被検体の播種等の被検体処理を容易かつ確実に行える。 - 特許庁

This probe 140 for near field optical microscope is characterized by being equipped with a scattering layer 150 adjacent to the outer surface side of a clad layer 144 of glass fibers, having approximately the same refractive index as that of the clad layer 144, concerning the probe for near field optical microscope using the glass fibers.例文帳に追加

ガラスファイバを用いた近接場光学顕微鏡用プローブにおいて、ガラスファイバのクラッド層１４４外面側に隣接し、該クラッド層の屈折率とほぼ同じ屈折率を有する散乱層１５０を備えたことを特徴とする近接場光学顕微鏡用プローブ１４０。 - 特許庁

The device has a positioning unit (20) having: a main body (22); an objective holder (24) movably supported on the main body and adapted to hold the microscope objective (26); and an actuator (27) for moving the objective holder (24) along the optical axis (O) of the microscope objective.例文帳に追加

この装置には、本体（２２）と、本体上で移動可能に支持され、かつ顕微鏡対物レンズ（２６）を保持するように構成された対物レンズホルダ（２４）と、顕微鏡対物レンズの光軸（Ｏ）に沿って対物レンズホルダ（２４）を移動させるためのアクチュエータ（２７）と、を有する位置決めユニット（２０）が含まれる。 - 特許庁

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

In the microscope having at least one beam splitter and the scattered light reducing means in the beam path of the microscope, the scattered light reducing means is constituted as a black glass plate (6) that has a (mirror surface) polished surface coated with antireflection film (7).例文帳に追加

顕微鏡ビーム路における少なくとも１つのビームスプリッタと、散乱光低減手段とを有する顕微鏡において、前記散乱光低減手段は、反射防止膜（７）が被着された（鏡面）研磨表面を有する黒色ガラスプレート（６）として構成されることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a deflection unit for a microscope with which sharp color observation can be easily and inexpensively performed with simple constitution without separately disposing a space and mechanism for arranging a phase plate, such as a sharp color plate and a vertical illuminating light projection tube or microscope using the same.例文帳に追加

鋭敏色板などの位相板を配置するためのスペースや機構を別途設けることなく、簡単な構成で、簡単かつ安価に鋭敏色観察を行なうことが可能な顕微鏡用偏向ユニット及びそれを用いた落射投光管又は顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The mechanism comprises a microscope mounting part (outer cylinder part 35) to be fitted to the eye piece 1a of the microscope 1; and a mouse attaching adapter 3 provided with a mouse attaching base 31 which contacts with the bottom surface of the mouse input device 2, and with a mouse attaching pin 32 which attaches and fixes the mouse input device 2.例文帳に追加

顕微鏡１の接眼部１ａに嵌合される顕微鏡装着部（外筒部３５）と、マウス入力装置２の底面と接するマウス取り付け用台座３１と、マウス入力装置２を取り付け固定するマウス取り付け用ピン３２とを有するマウス取り付け用アダプタ３を備える。 - 特許庁

To provide a device for providing an optical microscope with both functions of rotating a prepared specimen and moving it horizontally and vertically by giving a rotary function for freely rotating the prepared specimen on the stage to the optical microscope with a clamp in which the prepared specimen is moved only horizontally and vertically on the stage.例文帳に追加

ステージ上でプレパラートを左右上下にしか動かす事が出来ないクレンメルのある光学顕微鏡に、ステージ上でプレパラートを自由に回転させる回転機能を与え、光学顕微鏡にプレパラートの回転機能と左右上下運動機能を併せ持たせる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shape measurement apparatus and a shape measurement method capable of performing the efficient and high-accuracy shape measurement of a measurement object in a short time, which has a three-dimensional shape greatly exceeding a depth of a field of a microscope without moving the measurement object or the microscope.例文帳に追加

顕微鏡の被写界深度を大幅に超えた立体形状を持つ被測定物を、被測定物や顕微鏡等を移動させることなく、短時間で効率的に、高精度な形状測定を行うことができる形状測定装置および形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

The three-dimensional image display device 16 is supported not at the surgical microscope 15 but at the distal end link 13 of the stand device 1, so that, even if the main operator A moves the surgical microscope 15, the three-dimensional image display device 16 is unmoved and does not affect the observation of the assistant side.例文帳に追加

立体映像表示装置１６は、手術顕微鏡１５でなく、スタンド装置１の先端リンク１３に支持されているため、主術者Ａが手術顕微鏡１５を動かしても、立体映像表示装置１６は不動で、助手側の観察に影響を与えない。 - 特許庁

In the case of replacing a first transparent member interposing between the sample and the microscope objective lens and having a refractive index (n) and thickness d_1, with a second transparent member intervening between the sample and the microscope objective lens and having the refractive index (n) and thickness d_2, following conditional expressions (1) and (2) are satisfied.例文帳に追加

標本と顕微鏡対物レンズの間に介在する屈折率ｎ、厚さｄ_1の第一の透明部材を、標本と前記顕微鏡対物レンズの間に介在する屈折率ｎ、厚さｄ_2の第二の透明部材へ置き換えた場合に、次の条件式（１）と（２）を満足する。 - 特許庁

A focal point of the optical microscope is converged on the sample surface under the condition where the probe is approached to the sample by the prove approaching mechanism, positional information of the driving mechanism is stored at this time, the focusing for the optical microscope in the automatic measurement is carried out using the positional information as a reference.例文帳に追加

探針接近機構により探針と試料を接近させた状態で試料表面に光学顕微鏡の焦点を合せ、このときの駆動機構部の位置情報を記憶し、位置情報を基準として自動測定時の光学顕微鏡の焦点合せを行う。 - 特許庁

To provide a microscope photographing apparatus capable of preventing the deterioration of observation image quality, irrespective of the brightness of an object, and also, attaining a frame rate comfortable for observation, and to provide a brightness adjusting method and a brightness adjusting program for the microscope photographing apparatus.例文帳に追加

被写体の明るさによらず、観察する画質の劣化をさせず、かつ、観察するのに快適なフレームレートを実現することが可能な顕微鏡撮影装置、該顕微鏡撮影装置において実行される明るさ調整方法および明るさ調整プログラムを提供すること。 - 特許庁