「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(111ページ目) - Weblio英語例文検索

With this constitution, light condensing ratio of the multiple photon exciting laser microscope which condenses light only from a surface irradiated with a laser beam is normally 20-30%, whereas, the maximum light condensing ratio of 44% or higher can be obtained with this microscope.例文帳に追加

この構成により、通常、レーザ光を照射している面からのみ集光している多光子励起レーザ顕微鏡では集光率が２０−３０％であるのに対し、本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は最大集光率４４％以上得られる。 - 特許庁

The sample stage comprises a mechanism for adjusting the direction of an overall stage system eucentrically adjusted and passing a rotating shaft through the center of the electron microscope, namely, an adjusting mechanism containing second spherical seat for adjusting the direction of mounting the whole stage eucentrically adjusted on the electron microscope.例文帳に追加

ユーセントリック調整されたステージ系全体の方向を調整し、回転軸を電子顕微鏡中心に通す機構、すなわちユーセントリック調整されたステージ全体の電子顕微鏡への取りつけ方向を調整できる第２の球面座を含む調整機構を設ける。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope condenser lens in which the color aberration (in particular, magnification color aberration) of a pupil is sufficiently corrected while high numerical aperture (0.7 or greater) and a long operating distance (0.6×fmm or greater where the focal distance of the entire system of the condenser lens is represented by f) is ensured, and to provide a microscope apparatus.例文帳に追加

高開口数（０．７以上）及び長作動距離（コンデンサレンズ全系の焦点距離をｆとしたとき、０．６×ｆｍｍ以上）を確保しつつ、瞳の色収差（特に倍率色収差）が十分に補正された顕微鏡用コンデンサレンズ及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

The information of the specimen holder is transmitted to the electron microscope by accessing the memory of the specimen holder mounted on the electron microscope, so that the user can use the spacemen holder without mistaking characteristics of the specimen holder and danger of erroneous recording of the specimen information can be reduced.例文帳に追加

電子顕微鏡に装着された試料ホルダのメモリにアクセスすることにより試料ホルダの情報を電子顕微鏡へ送ることで、使用者は試料ホルダの特性を間違えることなく使用する事ができ、試料の情報を誤って記録する危険性を低減できる。 - 特許庁

To provide a method for remotely observing microscope capable of shortening a time from a monitoring device's instructing a requirement for obtaining an image till the monitoring device can observe a still picture by attaining the high speed of the transfer of the still picture between a microscope photographing device and the monitoring device.例文帳に追加

顕微鏡撮影装置とモニタ装置との間での静止画像転送の高速化を図り、モニタ装置から画像取得要求の命令を発行してから、モニタ装置で静止画像が観察できるまでの時間を短縮することが可能な遠隔顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

In a Koehler type illumination system in which an object is illuminated by introducing laser light to the peripheral part of an objective lens of a microscope, the rotational zone total reflection illumination mechanism is characterized in that the direction of illumination with the laser light is rotatable around the axis of the objective lens 56 of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入し物体を照明するケーラー式照明系において、前記レーザ光による照明方向を顕微鏡対物レンズ５６の軸心を中心に回転可能としたことを特徴とする回転式輪帯全反射照明機構。 - 特許庁

A surgery system 1 is composed of a microscope 2 for surgery for an observation and imaging instrument for observing a treating site and a surgical instrument for treating the treating site, and a motor-driven surgical instrument is used as an external device of the microscope 2 for the surgery.例文帳に追加

手術システム１は、処置部位を観察する観察・撮像装置である手術用顕微鏡２と、処置部位に対して処置を施す手術装置とを備えて構成されるシステムであり、手術用顕微鏡２の外部装置として電動駆動される手術装置が用いられる。 - 特許庁

To provide a microscope moving unit which prevents an apparatus from being made larger and slower by making the movable part small, improves the revolving operability of an objective lens by securing a wide space around the objective lens and permits microscope observation of different positions of a sample without changing the state of the sample.例文帳に追加

可動部分を小さくして装置の大型化および低速化を防止し、対物レンズの周囲に広い空間を確保して対物レンズの取り回し性を向上するとともに、標本の状態を変化させることなく、標本の異なる位置を顕微鏡観察することを可能とする。 - 特許庁

To provide a vertical illumination microscope equipped with a deflecting member such as a half mirror or a half prism in its optical path and capable of eliminating the difference of resolution and the difference of contrast caused by the vertical and horizontal line patterns, and an optical member such as an objective used in the vertical illumination microscope.例文帳に追加

ハーフミラーやハーフプリズム等の偏向部材を光路中に備える落射顕微鏡において、縦横のラインパターンによる解像度の差やコントラストの差を無くすことが可能な落射顕微鏡、及び落射顕微鏡に用いられる対物レンズなどの光学部材を提供する。 - 特許庁

To provide a manipulation device for fine work of an electron microscope constituted by mounting a dual probe which enables an operator not only to observe an extremely fine and minute sample but also to smoothly and surely perform electric measurement and further electric super-fine working while observing an image by the microscope.例文帳に追加

極めて微細かつ精緻な顕体試料の観察のみならず、オペレーターが顕微鏡の画像を観察しながら、電気的測定、さらには電気的超微細加工を、円滑かつ確実に行なうことを可能とするデュアルプローブを載置した電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置の提供。 - 特許庁

To provide a sample cooling device for an electron microscope wherein an exclusive-use helium cooling stage for cooling the sample in the electron microscope to a very low temperature (several K) by liquid helium, and then observing and analyzing it can be also used at a low temperature (several tens of K) as another cooling temperature by the use of liquid nitrogen.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料を液体ヘリウムによって極低温（数Ｋ）に冷却して、観察、分析する専用ヘリウム冷却ステージを他の冷却温度として液体窒素による低温（数十Ｋ）でも使用できる電子顕微鏡の試料冷却装置を提供すること。 - 特許庁

The mechanism comprises a microscope mounting part (outer cylinder part 35) to be fitted to the eye piece 1a of the microscope 1; and a mouse attaching adapter 3 provided with a mouse attaching base 31 which contacts with the bottom surface of the mouse input device 2, and with a mouse attaching pin 32 which attaches and fixes the mouse input device 2.例文帳に追加

顕微鏡１の接眼部１ａに嵌合される顕微鏡装着部（外筒部３５）と、マウス入力装置２の底面と接するマウス取り付け用台座３１と、マウス入力装置２を取り付け固定するマウス取り付け用ピン３２とを有するマウス取り付け用アダプタ３を備える。 - 特許庁

To provide a device for providing an optical microscope with both functions of rotating a prepared specimen and moving it horizontally and vertically by giving a rotary function for freely rotating the prepared specimen on the stage to the optical microscope with a clamp in which the prepared specimen is moved only horizontally and vertically on the stage.例文帳に追加

ステージ上でプレパラートを左右上下にしか動かす事が出来ないクレンメルのある光学顕微鏡に、ステージ上でプレパラートを自由に回転させる回転機能を与え、光学顕微鏡にプレパラートの回転機能と左右上下運動機能を併せ持たせる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shape measurement apparatus and a shape measurement method capable of performing the efficient and high-accuracy shape measurement of a measurement object in a short time, which has a three-dimensional shape greatly exceeding a depth of a field of a microscope without moving the measurement object or the microscope.例文帳に追加

顕微鏡の被写界深度を大幅に超えた立体形状を持つ被測定物を、被測定物や顕微鏡等を移動させることなく、短時間で効率的に、高精度な形状測定を行うことができる形状測定装置および形状測定方法を提供する。 - 特許庁

A focal point of the optical microscope is converged on the sample surface under the condition where the probe is approached to the sample by the prove approaching mechanism, positional information of the driving mechanism is stored at this time, the focusing for the optical microscope in the automatic measurement is carried out using the positional information as a reference.例文帳に追加

探針接近機構により探針と試料を接近させた状態で試料表面に光学顕微鏡の焦点を合せ、このときの駆動機構部の位置情報を記憶し、位置情報を基準として自動測定時の光学顕微鏡の焦点合せを行う。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

The three-dimensional image display device 16 is supported not at the surgical microscope 15 but at the distal end link 13 of the stand device 1, so that, even if the main operator A moves the surgical microscope 15, the three-dimensional image display device 16 is unmoved and does not affect the observation of the assistant side.例文帳に追加

立体映像表示装置１６は、手術顕微鏡１５でなく、スタンド装置１の先端リンク１３に支持されているため、主術者Ａが手術顕微鏡１５を動かしても、立体映像表示装置１６は不動で、助手側の観察に影響を与えない。 - 特許庁

In the case of replacing a first transparent member interposing between the sample and the microscope objective lens and having a refractive index (n) and thickness d_1, with a second transparent member intervening between the sample and the microscope objective lens and having the refractive index (n) and thickness d_2, following conditional expressions (1) and (2) are satisfied.例文帳に追加

標本と顕微鏡対物レンズの間に介在する屈折率ｎ、厚さｄ_1の第一の透明部材を、標本と前記顕微鏡対物レンズの間に介在する屈折率ｎ、厚さｄ_2の第二の透明部材へ置き換えた場合に、次の条件式（１）と（２）を満足する。 - 特許庁

This surgical microscope supporting device includes a column 3 supported by a supporting base 2, a parallel link type second arm 6 which can rotate vertically and has a proximal part supported by the column 3 and the surgical microscope 25 supported at a distal end of the second arm 6 through two or more electric devices for vertical movement 17 and 24.例文帳に追加

支持ベース２に支持された支柱３と、基端部が前記支柱３に上下回動可能に保持された平行リンク式の第２アーム６と、第２アーム６の先端部に複数の電動上下動装置１７，２４を介して支持された手術用顕微鏡２５を備える。 - 特許庁

When the surface of a work is observed through a microscope 50, if the microscope 50 is moved in the vertical direction along a liner guide 58, a locating pin 66 is pressed to the left in the direction of an arrow C at the position of a locating hole 68 provided in accordance with the diameter of a rotary blade 21.例文帳に追加

顕微鏡５０によりワークの表面を撮像する際に、顕微鏡５０をリニアガイド５８に沿って上下方向に移動すると、位置決めピン６６は、回転刃２１の径に対応して設けられる位置決め穴６８の位置で矢印Ｃの左方向に付勢される。 - 特許庁

On an operation floor 3, an evacuating device 12 for evacuating the inside of the operation tool 7 and the chamber 13, a position adjusting mechanism controller 11 controlling the position adjusting mechanism 6, a microscope monitor 9 for observing the image of the microscope 5 and a status grasping monitor 8 for observing the motion of the chamber 13 are placed.例文帳に追加

オペレーションフロア３上に操作具７内およびチャンバ13内を排気する排気装置12，位置調整機構６を制御する位置調整機構制御装置11，顕微鏡５の観察像を見る顕微鏡モニタ９，チャンバ13の動きを観察状況把握モニタ８を設置する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

The microscope device has a disk 12 having an opening part 12a crossing the optical path (x) of an observation optical system of a microscope body 1 and is equipped with an image blur reducing device 5 having a rotation controller 15 which drives and rotates the disk 12 by a motor 12 and controls the rotational frequency of the motor 13.例文帳に追加

顕微鏡本体１の観察光学系の光路ｘを横切る開口部１２ａを有するディスク１２を有し、このディスク１２をモータ１３で回転駆動させるとともに、モータ１３の回転数を制御する回転制御装置１５を有する像ぶれ低減装置５を備える。 - 特許庁

To make a laser beam incident on a microscope main body as parallel light of a uniform beam diameter without reducing joint efficiency relative to an optical fiber even in the case where a wavelength changes when fluorescence observation is carried out such that a laser beam emitted from the laser light source is guided to a microscope main body by the use of the optical fiber.例文帳に追加

レーザ光源から出射されたレーザ光を光ファイバを用いて顕微鏡本体に導入して蛍光観察を行う際に、波長が変化しても光ファイバへの結合効率を低下させることなく、かつ、均一なビーム径の平行光として顕微鏡本体に入射させる。 - 特許庁

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a microscope sample which makes it efficient and accurate to evaluate the performance of a microscope using a differential interference contract method and a phase difference contrast method and also measure the size of the microstructure of a transparent living body sample as an object to be observed, and its manufacturing method.例文帳に追加

微分干渉コントラスト法や位相差コントラスト法を用いた顕微鏡の性能の評価や、観察対象である透明な生物標本の微細構造の大きさ測定を効率良くかつ正確に行うことができる顕微鏡標本、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an in situ observation system in a composite emission electron microscope capable of facilitating LEEM or XPEEM observation under a catalytic reaction condition by utilizing such a characteristic that an electron microscope forms the focal point in a specified position and putting an aperture having a small opening radius in this position.例文帳に追加

電子顕微鏡が特定位置で焦点を結ぶことを利用し、その位置に開口半径の小さいアパーチャーを入れ、ＬＥＥＭやＸＰＥＥＭ観察を触媒反応条件下で容易に行えるようにした複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システムを提供する。 - 特許庁

To provide a binocular microscope device which reconstructs a three-dimensional form of an observation object based on a parallax image picked up by a binocular microscope capable of stereoscopic observation, and displays an image of the observation image observed from an arbitrary direction with the reconstructed three-dimensional form.例文帳に追加

立体観察が可能な双眼顕微鏡によって撮像された視差画像に基づいて観察物体の３次元形状を再構築し、その再構築された３次元形状により任意の方向から観察される観察物体の像を表示可能にした双眼顕微鏡装置。 - 特許庁

To provide a trinocular tube capable of adjusting a binocular inclined observation angle for an eyepiece lens connectable with a stereo microscope and guiding at least one of both optical paths of stereo microscope into a camera connection pipe on the arbitrary place of inclined line of sight by means of a simple means.例文帳に追加

立体顕微鏡と連結できる接眼レンズに対する双眼傾斜観察角度を調整することができ、傾斜視線の任意の場所で立体顕微鏡両光路の少なくとも１つを簡単な手段によりカメラ接続管に導き入れることのできる三眼鏡筒を提供すること。 - 特許庁

The microscope 20 attached with the attachment 10 is placed below a camera head 103 of the data visual presenter 100, and the installation position of the microscope 20 is adjusted so that the outer circumferential surface of the imaging lens tube 104 of the camera head 103 abuts a positioning piece 13 of the attachment 10.例文帳に追加

アタッチメント１０を取り付けた顕微鏡２０を資料提示装置１００のカメラヘッド１０３の下方に設置し、カメラヘッド１０３の撮像レンズ鏡筒１０４の外周面がアタッチメント１０の位置決め片１３に当接するように顕微鏡２０の設置位置を調整する。 - 特許庁

The auxiliary illuminating arrangement is employed and mounted on the slit lamp microscope having a microscope body 1, a jaw table section 2, the slit lamp 3 which irradiates the eye of the patient supported by the jaw table section with slit light, an imaging device 4 for photographing an image of slit light reflected in the eye of the patient, and a video capture means 5.例文帳に追加

顕微鏡本体１と、顎台部２と、顎台部によって支持された患者の眼にスリット光を照射する細隙灯３と、患者の眼に映ったスリット光の像を撮影する撮像装置４と、ビデオキャプチャー手段５とを有する細隙灯顕微鏡に装着されて使用される。 - 特許庁

To provide a microscope for work capable of lightening a burden imposed on an operator and rapidly completing operation by enabling an assistant to easily grasp what position within the field of the microscope the operator gazes without temporarily interrupting the operation.例文帳に追加

本発明は、例えば、手術を一時中断することなく手術者が顕微鏡視野内のどの位置を注視しているかを助手などに容易に把握させることにより、手術者にかかる負担を軽減し、手術を迅速に完了することが可能な作業用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this microscope, plural units are attached to a body unit constituting a microscope body, and are electrically connected to the grounding cables, and at least two units has the conductivity of mutually different performance.例文帳に追加

請求項１に記載の顕微鏡は、顕微鏡本体を成す本体ユニットに複数のユニットが装着され、かつこれらのユニットはグランド線に電気的に接続されている顕微鏡であって、少なくとも２つのユニットは互いに異なる性能の導通性を有していることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope apparatus capable of independently changing the intensity distribution of stimulating light in the depth direction on a sample surface of a laser beam stimulating a sample and light for acquiring an image respectively, and an observation method using the confocal microscope apparatus.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a surgical microscope for two-person observation with excellent operability, in which the angle of looking into the surgical microscope for two observers is made variable corresponding to the direction of approaching an operation part without narrowing the work space of surgery by a second observation device.例文帳に追加

二人の観察者の手術用顕微鏡を覗き込む角度を、術部へのアプローチ方向に応じて可変とすることができ、かつ第２観察装置によって手術の作業空間が狭められることがない、作業性の良い二人観察用の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

This adapter for microscope is provided with a screw part 3a for connecting the photographing lens 53a of a camera at one end of an adapter part 1A, a cylinder part 4a inserted in the eyepiece inserting part of the microscope and a screw part 8 to which a C mount adapter 50 is connected at the other end.例文帳に追加

顕微鏡用アダプタには、アダプタ部１Ａの一端にカメラの撮影レンズ５３ａを接続するためのネジ部３ａが設けられ、他端に顕微鏡の接眼レンズ挿入部に挿入される円筒部４ａが設けられるとともに、Ｃマウントアダプタ５０が接続されるネジ部８が設けられている。 - 特許庁

By sending the information on the specimen holder 11 to the electron microscope by accessing the memory 303 of the specimen holder 11 mounted on the electron microscope, the user can use it without mistaking the property of the specimen holder, and the danger of accidentally recording the information on the sample can be reduced.例文帳に追加

電子顕微鏡に装着された試料ホルダ１１のメモリ３０３にアクセスすることにより試料ホルダ１１の情報を電子顕微鏡へ送ることで、使用者は試料ホルダの特性を間違えることなく使用する事ができ、試料の情報を誤って記録する危険性を低減できる。 - 特許庁

The probe card 14 and the scanning probe microscope 19 are disposed in an array, and the wafer 12 is held by a wafer chuck 15 and horizontally moved by a horizontal moving mechanism 16 between the application position of a needle under the probe card 14 and the measurement position of a needle trace under the scanning probe microscope 19.例文帳に追加

プローブカード１４と走査型プローブ顕微鏡１９とは並設されており、ウエハ１２は、ウエハチャック１５によって保持され、水平移動機構１６により、プローブカード１４下の針当て位置と走査型プローブ顕微鏡１９下の針跡計測位置との間で水平移動される。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope that sets contact resistance to low impedance of the same degree as a bulk metal and measures the position of the probe, which traces the surface of a sample being a target measuring article by a means other than an optical means, and to provide the scanning probe microscope using the same.例文帳に追加

接触抵抗をバルク金属と同程度の低インピーダンスにすると共に、光学的手段以外の手段により、対象測定物である試料表面をトレースするプローブの位置を計測する走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an easily-miniaturizable slit diaphragm device, and a confocal microscope using the slit diaphragm device, concerning the slit diaphragm device capable of adjusting a slit width, and the confocal microscope using the slit diaphragm device as a confocal slit diaphragm.例文帳に追加

本発明は、スリット幅を調整可能なスリット絞り装置およびこのスリット絞り装置を共焦点スリット絞りに用いた共焦点顕微鏡に関し、容易に小型化することができるスリット絞り装置およびこのスリット絞り装置を用いた共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

Driving speed, in changing the distance between a sample S being an object to be observed by the microscope 1 and an objective 13 by driving a motor-driven focusing mechanism 10 for adjusting the distance, is controlled by a controller 2, based on the depth of focus of the observation optical system of the microscope 1.例文帳に追加

顕微鏡１での観察対象である試料Ｓと対物レンズ１３との間の距離を調整する電動焦準機構１０を駆動して当該距離を変化させる際の当該駆動の速度を、顕微鏡１の観察光学系の焦点深度に基づいてコントローラ２が制御する。 - 特許庁