「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(111ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a shape measurement apparatus and a shape measurement method capable of performing the efficient and high-accuracy shape measurement of a measurement object in a short time, which has a three-dimensional shape greatly exceeding a depth of a field of a microscope without moving the measurement object or the microscope.例文帳に追加

顕微鏡の被写界深度を大幅に超えた立体形状を持つ被測定物を、被測定物や顕微鏡等を移動させることなく、短時間で効率的に、高精度な形状測定を行うことができる形状測定装置および形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

The three-dimensional image display device 16 is supported not at the surgical microscope 15 but at the distal end link 13 of the stand device 1, so that, even if the main operator A moves the surgical microscope 15, the three-dimensional image display device 16 is unmoved and does not affect the observation of the assistant side.例文帳に追加

立体映像表示装置１６は、手術顕微鏡１５でなく、スタンド装置１の先端リンク１３に支持されているため、主術者Ａが手術顕微鏡１５を動かしても、立体映像表示装置１６は不動で、助手側の観察に影響を与えない。 - 特許庁

In the case of replacing a first transparent member interposing between the sample and the microscope objective lens and having a refractive index (n) and thickness d_1, with a second transparent member intervening between the sample and the microscope objective lens and having the refractive index (n) and thickness d_2, following conditional expressions (1) and (2) are satisfied.例文帳に追加

標本と顕微鏡対物レンズの間に介在する屈折率ｎ、厚さｄ_1の第一の透明部材を、標本と前記顕微鏡対物レンズの間に介在する屈折率ｎ、厚さｄ_2の第二の透明部材へ置き換えた場合に、次の条件式（１）と（２）を満足する。 - 特許庁

To provide a microscope photographing apparatus capable of preventing the deterioration of observation image quality, irrespective of the brightness of an object, and also, attaining a frame rate comfortable for observation, and to provide a brightness adjusting method and a brightness adjusting program for the microscope photographing apparatus.例文帳に追加

被写体の明るさによらず、観察する画質の劣化をさせず、かつ、観察するのに快適なフレームレートを実現することが可能な顕微鏡撮影装置、該顕微鏡撮影装置において実行される明るさ調整方法および明るさ調整プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a liquid immersion microscope device which is used by filling space between a lens part in the objective lens barrel of a liquid immersion microscope and a sample with liquid, and which surely detects the existence of liquid supplied to a sample surface or liquid adhering to the sample surface.例文帳に追加

本発明は、液浸顕微鏡の対物レンズ鏡筒のレンズ部と試料との間を液体で満たして使用される液浸顕微鏡装置に関し、試料面に供給された液体あるいは試料面に付着した液体の有無を確実に検出することを目的とする。 - 特許庁

To provide an imaging device for microscope which can always appropriately be corrected by assisting an operator in manually correcting a microscope image display device.例文帳に追加

従来の顕微鏡用撮像装置は、操作者が撮影された基準となる補正用撮像の良否を判断できず、撮影に失敗した校正用画像でも補正が実施され、また表示画面に対して傾いて設置され、撮像画像に不適切な補正が施されていても良否が確認できない。 - 特許庁

The grinding machine with the distance measuring function is characterized in that the image processing device measures the vertical directional distance between the reference surface of the microscope and the observation object based on sharpness being a degree of whether or not a focus of the microscope is adjusted.例文帳に追加

前記画像処理装置は、前記顕微鏡のピントが合っているか否かの程度である鮮鋭度に基づいて、当該顕微鏡の基準面と観察対象物との鉛直方向距離を測定するようになっていることを特徴とする距離測定機能付きの研削盤である。 - 特許庁

An annotation setting part 503 receives the setting of position information associated with annotation for at least one image data, among the image data captured by the microscope, respectively, at a plurality of different positions in an optical axis direction of the microscope of one observation object, from a user.例文帳に追加

アノテーション設定部５０３は、顕微鏡によりそれぞれ撮像され、１つの観察対象物の顕微鏡の光軸方向における異なる複数の位置の画像データのうち、１以上の画像データに対するアノテーションに関する位置情報の設定を利用者より受け付ける。 - 特許庁

This ion microscope includes the gas field ionization ion source, is constituted to install a refrigerator for cooling the gas field ionization ion source independently of an ion microscope body, and is provided with a refrigerant circulation circuit cooling mechanism for circulating a refrigerant between the gas field ionization ion source and the refrigerator.例文帳に追加

本発明は、ガス電界電離イオン源を備えたイオン顕微鏡において、ガス電界電離イオン源を冷却する冷凍機をイオン顕微鏡本体とは独立に設置し、ガス電界電離イオン源と冷凍機の間で冷媒を循環させる冷媒循環回路冷却機構を設けることに関する。 - 特許庁

To provide an apparatus for and a method of fully automatically and rapidly scanning and digitizing an entire microscope sample, using a computer controlled microscope slide scanner for composing image strips obtained by continuous scanning of the sample into a single continuous digital image.例文帳に追加

試料の連続的スキャンから得られた画像ストリップを単一の連続したデジタル画像を構成するためにコンピュータ制御された顕微鏡スライドスキャナを用いて、顕微鏡試料全体を全自動で迅速なスキャンおよびデジタル化するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In the pitch-based carbon short fiber filler, a graphene sheet is closed at a filler end face when observed by a transmission electron microscope, while a surface observed by a scanning electron microscope is substantially flat, and the number average fiber length is 80 to 500 μm.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラーであり、個数平均繊維長が８０μｍ以上５００μｍ以下であることをピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

Further, the foreign bodies are collected by a foreign body removing mechanism arranged on the sample conveying hand prepared between a scanning electron microscope body and the sample cassette so as not to bring the foreign bodies generated in the scanning electron microscope to a sample cassette or the like.例文帳に追加

更に走査電子顕微鏡内で発生した異物を、試料カセット等に持ち込まないように、走査電子顕微鏡鏡体と試料カセットとの間に設けられた試料搬送用ハンドに設けられた異物除去機構によって、異物を回収する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a system and method capable of performing a stable measurement of a surface shape by certainly removing the charge accumulated in a semiconductor wafer obstructing the measurement of a scanning probe microscope and preventing the destruction of the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定の障害となる半導体ウエハ内部に蓄積された電荷を、確実に取り除き、走査型プローブ顕微鏡の探針の破壊を防止し、安定した表面形状測定を行うことができる測定システムおよび測定方法を提供すること。 - 特許庁

To classify defects very effectively, simply and exactly by using the minimum defect information, by obtaining only defect information required to classify the defects, when identifying and classifying the defects of objects to be inspected by using an optical microscope and an electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡及び電子顕微鏡を用いて被検査体の欠陥を識別して分類するに際して、欠陥の分類を行うのに必要な欠陥情報のみを取得し、最小限の欠陥情報により極めて効率良く、極めて簡易且つ正確に欠陥の分類を行う。 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a space resolution up to the periphery centered at 10 nm, capable of acquiring quantitatively information on a film thickness or its distribution of a dielectric thin film, and an (extremely thin dielectric) film thickness distribution measuring method using the microscope.例文帳に追加

誘電体薄膜の膜厚もしくはその分布に関わる情報を定量的に取得可能な、１０ｎｍを中心としてその近傍までの空間分解能を持つ走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた（極薄誘電体）膜厚分布測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope sample which makes it efficient and accurate to evaluate the performance of a microscope using a differential interference contract method and a phase difference contrast method and also measure the size of the microstructure of a transparent living body sample as an object to be observed, and its manufacturing method.例文帳に追加

微分干渉コントラスト法や位相差コントラスト法を用いた顕微鏡の性能の評価や、観察対象である透明な生物標本の微細構造の大きさ測定を効率良くかつ正確に行うことができる顕微鏡標本、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a trinocular tube capable of adjusting a binocular inclined observation angle for an eyepiece lens connectable with a stereo microscope and guiding at least one of both optical paths of stereo microscope into a camera connection pipe on the arbitrary place of inclined line of sight by means of a simple means.例文帳に追加

立体顕微鏡と連結できる接眼レンズに対する双眼傾斜観察角度を調整することができ、傾斜視線の任意の場所で立体顕微鏡両光路の少なくとも１つを簡単な手段によりカメラ接続管に導き入れることのできる三眼鏡筒を提供すること。 - 特許庁

The microscope 20 attached with the attachment 10 is placed below a camera head 103 of the data visual presenter 100, and the installation position of the microscope 20 is adjusted so that the outer circumferential surface of the imaging lens tube 104 of the camera head 103 abuts a positioning piece 13 of the attachment 10.例文帳に追加

アタッチメント１０を取り付けた顕微鏡２０を資料提示装置１００のカメラヘッド１０３の下方に設置し、カメラヘッド１０３の撮像レンズ鏡筒１０４の外周面がアタッチメント１０の位置決め片１３に当接するように顕微鏡２０の設置位置を調整する。 - 特許庁

To provide a binocular microscope device which reconstructs a three-dimensional form of an observation object based on a parallax image picked up by a binocular microscope capable of stereoscopic observation, and displays an image of the observation image observed from an arbitrary direction with the reconstructed three-dimensional form.例文帳に追加

立体観察が可能な双眼顕微鏡によって撮像された視差画像に基づいて観察物体の３次元形状を再構築し、その再構築された３次元形状により任意の方向から観察される観察物体の像を表示可能にした双眼顕微鏡装置。 - 特許庁

The auxiliary illuminating arrangement is employed and mounted on the slit lamp microscope having a microscope body 1, a jaw table section 2, the slit lamp 3 which irradiates the eye of the patient supported by the jaw table section with slit light, an imaging device 4 for photographing an image of slit light reflected in the eye of the patient, and a video capture means 5.例文帳に追加

顕微鏡本体１と、顎台部２と、顎台部によって支持された患者の眼にスリット光を照射する細隙灯３と、患者の眼に映ったスリット光の像を撮影する撮像装置４と、ビデオキャプチャー手段５とを有する細隙灯顕微鏡に装着されて使用される。 - 特許庁

This surgical microscope supporting device includes a column 3 supported by a supporting base 2, a parallel link type second arm 6 which can rotate vertically and has a proximal part supported by the column 3 and the surgical microscope 25 supported at a distal end of the second arm 6 through two or more electric devices for vertical movement 17 and 24.例文帳に追加

支持ベース２に支持された支柱３と、基端部が前記支柱３に上下回動可能に保持された平行リンク式の第２アーム６と、第２アーム６の先端部に複数の電動上下動装置１７，２４を介して支持された手術用顕微鏡２５を備える。 - 特許庁

When the surface of a work is observed through a microscope 50, if the microscope 50 is moved in the vertical direction along a liner guide 58, a locating pin 66 is pressed to the left in the direction of an arrow C at the position of a locating hole 68 provided in accordance with the diameter of a rotary blade 21.例文帳に追加

顕微鏡５０によりワークの表面を撮像する際に、顕微鏡５０をリニアガイド５８に沿って上下方向に移動すると、位置決めピン６６は、回転刃２１の径に対応して設けられる位置決め穴６８の位置で矢印Ｃの左方向に付勢される。 - 特許庁

On an operation floor 3, an evacuating device 12 for evacuating the inside of the operation tool 7 and the chamber 13, a position adjusting mechanism controller 11 controlling the position adjusting mechanism 6, a microscope monitor 9 for observing the image of the microscope 5 and a status grasping monitor 8 for observing the motion of the chamber 13 are placed.例文帳に追加

オペレーションフロア３上に操作具７内およびチャンバ13内を排気する排気装置12，位置調整機構６を制御する位置調整機構制御装置11，顕微鏡５の観察像を見る顕微鏡モニタ９，チャンバ13の動きを観察状況把握モニタ８を設置する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

The microscope device has a disk 12 having an opening part 12a crossing the optical path (x) of an observation optical system of a microscope body 1 and is equipped with an image blur reducing device 5 having a rotation controller 15 which drives and rotates the disk 12 by a motor 12 and controls the rotational frequency of the motor 13.例文帳に追加

顕微鏡本体１の観察光学系の光路ｘを横切る開口部１２ａを有するディスク１２を有し、このディスク１２をモータ１３で回転駆動させるとともに、モータ１３の回転数を制御する回転制御装置１５を有する像ぶれ低減装置５を備える。 - 特許庁

To make a laser beam incident on a microscope main body as parallel light of a uniform beam diameter without reducing joint efficiency relative to an optical fiber even in the case where a wavelength changes when fluorescence observation is carried out such that a laser beam emitted from the laser light source is guided to a microscope main body by the use of the optical fiber.例文帳に追加

レーザ光源から出射されたレーザ光を光ファイバを用いて顕微鏡本体に導入して蛍光観察を行う際に、波長が変化しても光ファイバへの結合効率を低下させることなく、かつ、均一なビーム径の平行光として顕微鏡本体に入射させる。 - 特許庁

To provide a method of measuring a surface shape of a soft material by a probe microscope allowing accurate measurement of the surface shape of the soft material including a droplet or a material that has high volatility, and is soft and easy to deform, and to provide a probe microscope used for the measuring method.例文帳に追加

液滴や揮発性が高い上に軟らかく変形し易い材料を含む軟質物の表面形状を、精度良く測定することが可能となるプローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A light intensity measuring unit 1 for measuring intensity of light emitted from a microscope includes: an aperture diaphragm 3; a field diaphragm 5; at least one measuring lens 4 arranged between the aperture diaphragm 3 and the field diaphragm 5; and an interface section 2a for being mounted to the microscope.例文帳に追加

顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット１は、開口絞り３と、視野絞り５と、開口絞り３と視野絞り５の間に配置される少なくとも１枚の測定レンズ４と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部２ａとを含んで構成される。 - 特許庁

Since the well is formed on the surface of the thin plate of 50 to 200μm thickness, the inspection objective body in the well can be observed from the rear side with an inverted microscope, therefore processing the inspection objects, such as seeding the inspection object can be performed easily and surely, without being obstructed by the objective lens of the microscope.例文帳に追加

ウエルが厚さ５０〜２００μｍの薄板表面に形成されているので、ウエル内の被検体を倒立顕微鏡でウエルプレートの裏側から観察することが可能となり、顕微鏡の対物レンズに邪魔されることなく、被検体の播種等の被検体処理を容易かつ確実に行える。 - 特許庁

To provide a microscope condenser lens in which the color aberration (in particular, magnification color aberration) of a pupil is sufficiently corrected while high numerical aperture (0.7 or greater) and a long operating distance (0.6×fmm or greater where the focal distance of the entire system of the condenser lens is represented by f) is ensured, and to provide a microscope apparatus.例文帳に追加

高開口数（０．７以上）及び長作動距離（コンデンサレンズ全系の焦点距離をｆとしたとき、０．６×ｆｍｍ以上）を確保しつつ、瞳の色収差（特に倍率色収差）が十分に補正された顕微鏡用コンデンサレンズ及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

With this constitution, light condensing ratio of the multiple photon exciting laser microscope which condenses light only from a surface irradiated with a laser beam is normally 20-30%, whereas, the maximum light condensing ratio of 44% or higher can be obtained with this microscope.例文帳に追加

この構成により、通常、レーザ光を照射している面からのみ集光している多光子励起レーザ顕微鏡では集光率が２０−３０％であるのに対し、本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は最大集光率４４％以上得られる。 - 特許庁

The sample stage comprises a mechanism for adjusting the direction of an overall stage system eucentrically adjusted and passing a rotating shaft through the center of the electron microscope, namely, an adjusting mechanism containing second spherical seat for adjusting the direction of mounting the whole stage eucentrically adjusted on the electron microscope.例文帳に追加

ユーセントリック調整されたステージ系全体の方向を調整し、回転軸を電子顕微鏡中心に通す機構、すなわちユーセントリック調整されたステージ全体の電子顕微鏡への取りつけ方向を調整できる第２の球面座を含む調整機構を設ける。 - 特許庁

When a pattern formed on a specimen is tested by using a scanned electron microscope, and optically aligning the specimen put on a specific position of the scanned electron microscope, light used for alignment is obliquely cast on the specimen and alignment is performed by using the obtained image information of the pattern.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて試料に形成されたパターンを検査において、試料を走査型電子顕微鏡の所定の位置に載置する光学的なアライメントを行う際に、アライメントに用いる光を試料に斜めから照射して、これにより得られたパターンの画像情報を用いて行う。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

This adapter for microscope is provided with a screw part 3a for connecting the photographing lens 53a of a camera at one end of an adapter part 1A, a cylinder part 4a inserted in the eyepiece inserting part of the microscope and a screw part 8 to which a C mount adapter 50 is connected at the other end.例文帳に追加

顕微鏡用アダプタには、アダプタ部１Ａの一端にカメラの撮影レンズ５３ａを接続するためのネジ部３ａが設けられ、他端に顕微鏡の接眼レンズ挿入部に挿入される円筒部４ａが設けられるとともに、Ｃマウントアダプタ５０が接続されるネジ部８が設けられている。 - 特許庁

By sending the information on the specimen holder 11 to the electron microscope by accessing the memory 303 of the specimen holder 11 mounted on the electron microscope, the user can use it without mistaking the property of the specimen holder, and the danger of accidentally recording the information on the sample can be reduced.例文帳に追加

電子顕微鏡に装着された試料ホルダ１１のメモリ３０３にアクセスすることにより試料ホルダ１１の情報を電子顕微鏡へ送ることで、使用者は試料ホルダの特性を間違えることなく使用する事ができ、試料の情報を誤って記録する危険性を低減できる。 - 特許庁

The probe card 14 and the scanning probe microscope 19 are disposed in an array, and the wafer 12 is held by a wafer chuck 15 and horizontally moved by a horizontal moving mechanism 16 between the application position of a needle under the probe card 14 and the measurement position of a needle trace under the scanning probe microscope 19.例文帳に追加

プローブカード１４と走査型プローブ顕微鏡１９とは並設されており、ウエハ１２は、ウエハチャック１５によって保持され、水平移動機構１６により、プローブカード１４下の針当て位置と走査型プローブ顕微鏡１９下の針跡計測位置との間で水平移動される。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope that sets contact resistance to low impedance of the same degree as a bulk metal and measures the position of the probe, which traces the surface of a sample being a target measuring article by a means other than an optical means, and to provide the scanning probe microscope using the same.例文帳に追加

接触抵抗をバルク金属と同程度の低インピーダンスにすると共に、光学的手段以外の手段により、対象測定物である試料表面をトレースするプローブの位置を計測する走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an easily-miniaturizable slit diaphragm device, and a confocal microscope using the slit diaphragm device, concerning the slit diaphragm device capable of adjusting a slit width, and the confocal microscope using the slit diaphragm device as a confocal slit diaphragm.例文帳に追加

本発明は、スリット幅を調整可能なスリット絞り装置およびこのスリット絞り装置を共焦点スリット絞りに用いた共焦点顕微鏡に関し、容易に小型化することができるスリット絞り装置およびこのスリット絞り装置を用いた共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

Driving speed, in changing the distance between a sample S being an object to be observed by the microscope 1 and an objective 13 by driving a motor-driven focusing mechanism 10 for adjusting the distance, is controlled by a controller 2, based on the depth of focus of the observation optical system of the microscope 1.例文帳に追加

顕微鏡１での観察対象である試料Ｓと対物レンズ１３との間の距離を調整する電動焦準機構１０を駆動して当該距離を変化させる際の当該駆動の速度を、顕微鏡１の観察光学系の焦点深度に基づいてコントローラ２が制御する。 - 特許庁