「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(113ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope apparatus that achieves favorable observation without reducing work efficiency in changing an objective lens from very low magnification to high magnification.例文帳に追加

極低倍から高倍まで対物レンズを切り替える際の作業性は損なわずに、良好な観察が可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The probe microscope 1 is equipped with: a cantilever 2 with a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observing optical system 4; and objective lens 6A.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６Ａとを備える。 - 特許庁

To provide a microscope in which light irradiating a visual field can be freely changed to any one of a visible ray, UV ray and IR ray or combination of these.例文帳に追加

視野に照射する光を、可視光、紫外線、赤外線、またはこれらの組み合わせに自在に変更可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic optical system and microscope, capable of changing the focal distance of an imaging optical system, without having to replace an imaging lens.例文帳に追加

結像レンズを交換することなく、結像光学系の焦点距離を変更可能な顕微鏡光学系及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of highly accurately observing the internal structure of an observation sample having a non-linear optical effect.例文帳に追加

非線形光学効果を有する観察試料の内部構造を高精度に観察することが可能な構成の顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This is related to the manipulator for an optical instrument, especially for a particle optical instrument, especially a lens stop manipulator in an electron microscope or a sample manipulator.例文帳に追加

本発明は光学機器、特に粒子光学機器用マニピュレータ、特に電子顕微鏡における絞りマニピュレータまたは試料マニピュレータに関する。 - 特許庁

Besides, this microscope is constituted so that the axial line A of the first reflector 3 thereof forms an angle α deviated from the optical axis O and from 0°.例文帳に追加

該望遠鏡は、望遠鏡第１のリフレクタ（３）の軸線（Ａ）が光軸（Ｏ）と０゜からずれた角度（α）を形成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an optical element switching turret which can be attached to/detached from a microscope main body by easy operation regardless of condenser lens.例文帳に追加

コンデンサレンズに拘わらずに、顕微鏡本体に対して簡単な操作で着脱できる光学要素切換ターレットを提供することを目的とする。 - 特許庁

The height of the fine waving on the above waving is measured by using a three dimension surface structure analysis microscope and expressed by a coercivity curve.例文帳に追加

うねり上に発生した微小うねりの高さは三次元表面構造解析顕微鏡を用いて測定され、粗さ曲線で示される。 - 特許庁

The sample body 30 is set as a sample for an atomic force microscope, and the sample body 30 is moved in the Z-axis direction very slowly.例文帳に追加

この様な試料体３０を原子間力顕微鏡の試料としてセットし、試料体３０をＺ軸方向に極めてゆっくり移動させる。 - 特許庁

To provide a dyeing agent for electron microscope observation which indicates a high dyeing property over a wide application range, is easy to handle and improves safety.例文帳に追加

適用範囲が広く高い染色性を示し、取り扱いが容易で安全性の高い電子顕微鏡観察用染色剤を提供する。 - 特許庁

To provide a compact transmission electron microscope allowing a fluorescent plate to be disposed on an optical axis of an electron beam and to be retreated from the electron beam optical axis.例文帳に追加

蛍光板を電子線光軸上に配置および電子線光軸上から退避できるコンパクトな透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electric microscope 1 includes an optical element switching device 31 that switches between observation cubes 29-1 and 29-2 disposed on an observation optical axis OA2.例文帳に追加

電動顕微鏡１は、観察光軸ＯＡ２上に配置する観察キューブ２９−１，２を切り換える光学素子切換装置３１を備える。 - 特許庁

To provide a compact and high-resolution objective lens for stereoscopic microscope inspection having not only a flat image plane but large work distance.例文帳に追加

平坦な像面だけでなく大きな作業距離も併せ持つ、立体顕微鏡検査用のコンパクトで高解像度の対物レンズを提供する。 - 特許庁

On the stage of visual field search, a client 11 can observe a scanning electronic microscope image to be changed with the passage of time by a terminal 6.例文帳に追加

依頼者１１は視野探しの段階において、刻々と変化する走査電子顕微鏡画像を端末６によって観察することができる。 - 特許庁

To provide an illuminating light radiation mechanism for an infrared microscope, which realizes accurate visible light observation without using a complicated optical system.例文帳に追加

複雑な光学系を用いずに、正確な可視光観察を可能にする、赤外顕微鏡のための照明光照射機構を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope that accurately detects luminance at each point by eliminating interaction between the points where data are obtained from corresponding specimens.例文帳に追加

データ取得を行う標本の点相互の影響を排除して個々の点の輝度を正しく検出する走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a dispenser-attached microscope in which a liquid such as a reagent can be dispensed on a specimen under observation without moving transmitted illumination.例文帳に追加

透過照明を移動することなく観察中の試料に試薬等の液体を分注することができる分注付き顕微鏡の提供。 - 特許庁

To enhance a through-put while restraining deterioration of measuring precision in height measurement carried out using a confocal scanning optical microscope.例文帳に追加

共焦点走査型光学顕微鏡を用いて行う高さ測定における測定精度の劣化を抑制しつつスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide a confocal microscope of high flexibility in a multi-beam scanning system by making programmable the number of irradiation spots and a pin hole size.例文帳に追加

照射スポット数やピンホールサイズをプログラマブルにし、マルチビームスキャン方式において非常にフレキシビリティの高い共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the etching process, the end point of the etching is controlled based on the result obtained by measuring the etching depth of the silicon substrate by an optical microscope.例文帳に追加

エッチング工程では、光学顕微鏡によりシリコン基板のエッチング深さを測定した結果に基づいて、エッチングの終点を管理する。 - 特許庁

To provide an optical microscope of high stability which prevents a specimen from causing defocus and movement (drift) of an object point (object) during observation.例文帳に追加

観測中に試料が焦点ボケを生じたり、物点（対象物）の移動（ドリフト）を起こさない安定性の高い光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a proper shading correction effects in correspondence flexibly to changes in the installation environment of a microscope system or illumination unevenness.例文帳に追加

顕微鏡システムの設置環境または照明ムラの変化に柔軟に対応して、良好なシェーディング補正効果を得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope, a position control method, and a position control program that are able to exert position control of a stage at a high speed and with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で高速にステージの位置制御を行い得る顕微鏡、位置制御方法及び位置制御プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of maintaining the amount of a liquid in a Petri dish to be approximately constant even when the liquid such as a culture medium is repeatedly discharged and injected.例文帳に追加

培地等の液体の排出と注入を繰り返してもシャーレ内の液体の量を略一定に維持可能な顕微鏡システム。 - 特許庁

By using an atomic force microscope provided with a probe 22 of the same composition as the protective layer 13, a force curve in a lubricating layer 14 is measured.例文帳に追加

保護層１３と同一組成の探針２２を備えた原子間力顕微鏡を用いて、潤滑層１４におけるフォースカーブを測定する。 - 特許庁

To provide an optical microscope system enabling a user to easily observe a specimen by using an image obtaining means and an image display means.例文帳に追加

画像取得手段および画像表示手段を用いて試料を容易に観察することができる光学顕微鏡システムを提供する - 特許庁

To provide a withstand voltage optical fiber resistant to deterioration in insulation, as well as being heavily insulated for an ultra-high voltage electron microscope and realize a manufacturing method thereof.例文帳に追加

絶縁劣化を起こし難く、高耐圧を有する超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dicing apparatus that does not require the exchange of a dual-objective microscope used for work alignment even when the size of work changes.例文帳に追加

ワークサイズが変更になっても、ワークのアライメントに用いる双対物顕微鏡の交換を必要としないダイシング装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a virtual microscope system capable of acquiring a photographed image of a dyed sample and a spectral statistical data in a short time.例文帳に追加

染色標本を撮像した染色標本画像とスペクトルの統計データとを短時間で取得できるバーチャル顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

The present invention enables at least the partial automation of inspection which has been conducted by human eyes using a microscope.例文帳に追加

本発明によれば、顕微鏡を使用して人間の目で検査が行われていた検査の少なくとも一部の自動化を可能とすることができる。 - 特許庁

To provide a highly durable cantilever usable for a scanning type probe microscope for observing a minute object.例文帳に追加

微細な対象物を観察する走査型プローブ顕微鏡に用いることができ、かつ、耐久性の高いカンチレバーを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a microscope and an operation method of the same to facilitate a positioning of a sample and focusing.例文帳に追加

本発明では、標本の位置決めや焦点合わせがしやすい顕微鏡装置および顕微鏡装置操作方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The microscope lens barrel 10 is constituted so that a first position with the lowest ratio and a second position with the highest ratio are adjacent to each other.例文帳に追加

さらに、顕微鏡鏡筒１０は、比率が最も低い第１の位置と比率が最も高い第２の位置が隣接するように構成される。 - 特許庁

To provide a focusing device for measuring microscope capable of improving the operability of focusing, and preventing the contamination of a simple.例文帳に追加

焦準に際し操作性の向上を図ると共に試料に対する汚染を防止できる測定顕微鏡の焦準装置を提供すること。 - 特許庁

This scanning probe electron microscope 100 has a probe 101 removably mounted on a head 108 by a kinematic mounting technique.例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡１００は運動学的取付け手法によりヘッド１０８内に取外し可能に取り付けたプローブ１０１を有する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of repeatedly precisely reproducing the shape image of a sample or the like without being influenced by environment.例文帳に追加

試料の形状像等を、環境の影響なしに繰り返し高精度に再現することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type fluorescence microscope simple to operate and capable of exciting and detecting at least three fluorescent coloring matters by one measurement.例文帳に追加

操作が簡単で、かつ、一度の測定で３色以上の蛍光色素を励起、検出可能なレーザ走査型蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type confocal microscope capable of always obtaining a clear image, without being affected by the pulsation of a sample.例文帳に追加

試料の拍動等の影響を受けることなく、常に鮮明な画像を得ることのできるレーザ走査型共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A body part 10 of an XYθ stage is driven, so that an alignment mark provided on a wafer is positioned in the observation view of an observation microscope.例文帳に追加

先ず、ウエハ上に設けられたアライメントマークが観察顕微鏡の観察視野に位置するように、ＸＹθステージの本体部１０を駆動する。 - 特許庁

To provide a scanning optical near-field microscope capable of fast scanning and is capable of coping with respect to samples with large dimensions and weight.例文帳に追加

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To surely correct aberration by a constitutionally simple means even when using thick beam splitters in an optical arrangement for a microscope.例文帳に追加

顕微鏡用光学装置において、厚いビームスプリッターを使用した場合でも構成的に簡単な手段で収差の確実な補正を可能にさせる。 - 特許庁

To provide a length measuring method by a scanning electron microscope, capable of preventing a length measuring error from being generated by the constitution of a sample, a kind of film or the like.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the visual field of a microscope from moving outside an object to be inspected or an inspection area, so that the operability of stage driving is improved.例文帳に追加

顕微鏡の視野が、被検査物の外にまたは検査領域の外に移動することを防止して、ステージ駆動の操作性を向上させる。 - 特許庁

To provide a microscope control device that detects whether or not switching is carried out without altering an objective lens switching mechanism.例文帳に追加

対物レンズの切り替え機構に変更を加えなくともその切り替えの有無を検知することのできる顕微鏡制御装置を提供する。 - 特許庁