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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Microscopeの意味・解説 > Microscopeに関連した英語例文

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Microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8962



例文

To provide a microscopic focus maintenance device capable of shortening a time required for detecting a focal position, and to provide a microscope device.例文帳に追加

フォーカス位置の検出時間の短縮を図ることのできる顕微鏡フォーカス維持装置及び顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Both of the inspecting sections have inspecting microscope units 55 each being configured to flexibly move in the width direction perpendicular to a feed direction of the glass substrate W.例文帳に追加

両検査部は、検査用顕微鏡ユニット55をガラス基板Wの搬送方向と直交する幅方向に移動自在に構成されている。 - 特許庁

To provide a scanning type microscope in which an observed image is available without being deteriorated due to the generation of a distortion or a shift on the image obtained as a result of the observation.例文帳に追加

観察の結果得られる画像に歪みやずれが生じて劣化することなく観察画像を得る走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope has a stage capable of driving in XY-direction, and an optical system enlarging the object to be inspected placed on the stage.例文帳に追加

本発明は、XY方向に駆動可能なステージと、ステージ上に載置された被検査物を拡大する光学系とを有する顕微鏡に関する。 - 特許庁

例文

The inter-atom force microscope 23 measures a projecting and recessed profile on the surface of the wafer 28, where CMP work is terminated.例文帳に追加

本発明によれば、CMP加工が終了したウェーハ28の表面の凹凸プロファイルを、原子間力顕微鏡23によって測定する。 - 特許庁


例文

To provide a means which is a method for replacing a filament of an electron gun of an electron microscope or the like with extremely more favorable workability than a screw type one.例文帳に追加

電子顕微鏡等の電子銃のフィラメントを交換する方法でネジ式より作業性が非常に良い手段を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope which allows mounting of scales only when needed relating to an iris diaphragm, field stop and fine focus adjustment handle.例文帳に追加

開口絞り、視野絞り及び焦準用微動ハンドルに関して、必要な場合にのみ目盛りを取付けることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method of achieving an ion beam microscope that has high resolution and can reduce a damage to a test piece as much as possible during imaging.例文帳に追加

高分解能でかつ撮像中に試料の損傷をできるだけ少なくできるイオンビーム顕微鏡を実現する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope by which the number of grounding cables is suppressed and also the electrostatic breakdown of a sample to be tested is surely prevented.例文帳に追加

グランド線の本数が抑えられ、しかも確実に被検物試料の静電破壊を防止できる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

An upper layer pattern and a lower layer pattern are subjected to pattern matching between SEM (Scanning Electron Microscope) images, to thereby generate an upper layer correlation map and a lower layer correlation map.例文帳に追加

上層パターンと下層パターンをそれぞれSEM画像の間でパターン・マッチングを行ない、上層相関マップと下層相関マップを生成する。 - 特許庁

例文

To provide a microscope capable of achieving a simple and easy handling operation, and also, acquiring image data with high accuracy.例文帳に追加

この発明は、簡便にして、容易な取扱い操作を実現したうえで、高精度な映像データの取得を実現し得るようにすることにある。 - 特許庁

To provide a multilayer film filter having a structure to realize desired characteristics as an optical filter and to provide a fluorescence microscope using the same.例文帳に追加

光学フィルターとして所望の特性を実現し得る構造を有する多層膜フィルター、及び、それを用いた蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The non-confocal detection optical system is optimized by exchanging the first lens group 9 according to a setting of a multi-photon excitation microscope 1.例文帳に追加

多光子励起顕微鏡1の設定に応じて、第1レンズ群9を交換することで、非共焦点検出光学系は最適化される。 - 特許庁

To provide a microscope controller which improves an operability of stage movement when an operation for a stage movement is performed to a touch panel.例文帳に追加

本発明では、タッチパネルに対してステージ移動操作を行う場合のステージ移動の操作性の向上させる顕微鏡コントローラを提供する。 - 特許庁

The risk for missing the to-be-observed object observed by the microscope is avoided, which is useful in a medical or pathological field.例文帳に追加

したがって、顕微鏡での観察対象物の見落としの危険性を回避することができ、特に医療または病理の分野には有用である。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of highly accurately detecting light from a sample while shortening a period of time required for scanning.例文帳に追加

走査に要する時間を短縮しつつ、標本からの光を高感度に検出することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope which easily switches fluorescence observation and other observation, and protects a barrier filter against stain.例文帳に追加

蛍光観察と他の観察との切り替えが容易であり、また、バリアフィルタの汚損から保護することができる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus that achieves favorable observation without reducing work efficiency in changing an objective lens from very low magnification to high magnification.例文帳に追加

極低倍から高倍まで対物レンズを切り替える際の作業性は損なわずに、良好な観察が可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The probe microscope 1 is equipped with: a cantilever 2 with a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observing optical system 4; and objective lens 6A.例文帳に追加

プローブ顕微鏡1は、探針21を有するカンチレバー2と、変位検出光学系3と、観察光学系4と、対物レンズ6Aとを備える。 - 特許庁

To provide a microscope in which light irradiating a visual field can be freely changed to any one of a visible ray, UV ray and IR ray or combination of these.例文帳に追加

視野に照射する光を、可視光、紫外線、赤外線、またはこれらの組み合わせに自在に変更可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic optical system and microscope, capable of changing the focal distance of an imaging optical system, without having to replace an imaging lens.例文帳に追加

結像レンズを交換することなく、結像光学系の焦点距離を変更可能な顕微鏡光学系及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of highly accurately observing the internal structure of an observation sample having a non-linear optical effect.例文帳に追加

非線形光学効果を有する観察試料の内部構造を高精度に観察することが可能な構成の顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This is related to the manipulator for an optical instrument, especially for a particle optical instrument, especially a lens stop manipulator in an electron microscope or a sample manipulator.例文帳に追加

本発明は光学機器、特に粒子光学機器用マニピュレータ、特に電子顕微鏡における絞りマニピュレータまたは試料マニピュレータに関する。 - 特許庁

Besides, this microscope is constituted so that the axial line A of the first reflector 3 thereof forms an angle α deviated from the optical axis O and from 0°.例文帳に追加

該望遠鏡は、望遠鏡第1のリフレクタ(3)の軸線(A)が光軸(O)と0゜からずれた角度(α)を形成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an optical element switching turret which can be attached to/detached from a microscope main body by easy operation regardless of condenser lens.例文帳に追加

コンデンサレンズに拘わらずに、顕微鏡本体に対して簡単な操作で着脱できる光学要素切換ターレットを提供することを目的とする。 - 特許庁

The height of the fine waving on the above waving is measured by using a three dimension surface structure analysis microscope and expressed by a coercivity curve.例文帳に追加

うねり上に発生した微小うねりの高さは三次元表面構造解析顕微鏡を用いて測定され、粗さ曲線で示される。 - 特許庁

The sample body 30 is set as a sample for an atomic force microscope, and the sample body 30 is moved in the Z-axis direction very slowly.例文帳に追加

この様な試料体30を原子間力顕微鏡の試料としてセットし、試料体30をZ軸方向に極めてゆっくり移動させる。 - 特許庁

To provide a dyeing agent for electron microscope observation which indicates a high dyeing property over a wide application range, is easy to handle and improves safety.例文帳に追加

適用範囲が広く高い染色性を示し、取り扱いが容易で安全性の高い電子顕微鏡観察用染色剤を提供する。 - 特許庁

To provide a compact transmission electron microscope allowing a fluorescent plate to be disposed on an optical axis of an electron beam and to be retreated from the electron beam optical axis.例文帳に追加

蛍光板を電子線光軸上に配置および電子線光軸上から退避できるコンパクトな透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electric microscope 1 includes an optical element switching device 31 that switches between observation cubes 29-1 and 29-2 disposed on an observation optical axis OA2.例文帳に追加

電動顕微鏡1は、観察光軸OA2上に配置する観察キューブ29−1,2を切り換える光学素子切換装置31を備える。 - 特許庁

To provide a compact and high-resolution objective lens for stereoscopic microscope inspection having not only a flat image plane but large work distance.例文帳に追加

平坦な像面だけでなく大きな作業距離も併せ持つ、立体顕微鏡検査用のコンパクトで高解像度の対物レンズを提供する。 - 特許庁

On the stage of visual field search, a client 11 can observe a scanning electronic microscope image to be changed with the passage of time by a terminal 6.例文帳に追加

依頼者11は視野探しの段階において、刻々と変化する走査電子顕微鏡画像を端末6によって観察することができる。 - 特許庁

To provide an illuminating light radiation mechanism for an infrared microscope, which realizes accurate visible light observation without using a complicated optical system.例文帳に追加

複雑な光学系を用いずに、正確な可視光観察を可能にする、赤外顕微鏡のための照明光照射機構を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope that accurately detects luminance at each point by eliminating interaction between the points where data are obtained from corresponding specimens.例文帳に追加

データ取得を行う標本の点相互の影響を排除して個々の点の輝度を正しく検出する走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a dispenser-attached microscope in which a liquid such as a reagent can be dispensed on a specimen under observation without moving transmitted illumination.例文帳に追加

透過照明を移動することなく観察中の試料に試薬等の液体を分注することができる分注付き顕微鏡の提供。 - 特許庁

To enhance a through-put while restraining deterioration of measuring precision in height measurement carried out using a confocal scanning optical microscope.例文帳に追加

共焦点走査型光学顕微鏡を用いて行う高さ測定における測定精度の劣化を抑制しつつスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide a confocal microscope of high flexibility in a multi-beam scanning system by making programmable the number of irradiation spots and a pin hole size.例文帳に追加

照射スポット数やピンホールサイズをプログラマブルにし、マルチビームスキャン方式において非常にフレキシビリティの高い共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the etching process, the end point of the etching is controlled based on the result obtained by measuring the etching depth of the silicon substrate by an optical microscope.例文帳に追加

エッチング工程では、光学顕微鏡によりシリコン基板のエッチング深さを測定した結果に基づいて、エッチングの終点を管理する。 - 特許庁

To provide an optical microscope of high stability which prevents a specimen from causing defocus and movement (drift) of an object point (object) during observation.例文帳に追加

観測中に試料が焦点ボケを生じたり、物点(対象物)の移動(ドリフト)を起こさない安定性の高い光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a proper shading correction effects in correspondence flexibly to changes in the installation environment of a microscope system or illumination unevenness.例文帳に追加

顕微鏡システムの設置環境または照明ムラの変化に柔軟に対応して、良好なシェーディング補正効果を得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope apparatus where a clear fluorescence image is obtained by preventing external light from mixing with weak fluorescence emitted from a specimen, while reducing the size of the overall apparatus.例文帳に追加

装置全体を小型化し、試料から発生する微弱な蛍光への外光の混入を防止して鮮明な蛍光画像を得る。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation suitably employed for observation of a fine structure of a steel material.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた鉄鋼材料の微細構造の観察に適した電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a Q value of resonance of a probe by taking Q/ω as a parameter into a design item in a scanning-type scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型走査探針顕微鏡においてパラメータとしてのQ/ωを設計事項に取り入れてプローブの共振のQ値を小さくする。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable securely positioning observation position of a sample without being affected by the size or weight of the sample.例文帳に追加

標本の大きさや重さに影響されることなく標本の観察位置合わせを確実に行うことができる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.例文帳に追加

構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁

To make an illumination device common by easily optimizing an illuminating condition for each of a uniaxial microscope and a stereomicroscope.例文帳に追加

単軸顕微鏡および実体顕微鏡のそれぞれに対し、容易に照明条件を最適化可能として装置の共通化を実現できること。 - 特許庁

To provide a microscope which has the improved degree of freedom of microscopic observation, and can easily be applied to various microscopic method and made compact and lightweight.例文帳に追加

観察の自由度が高く様々な顕鏡方法に簡単に対応でき、しかも小型、軽量化を実現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SENSITIVITY ADJUSTING METHOD FOR PHOTOMULTIPLIER, SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE INTRODUCING THE SAME METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING SENSITIVITY ADJUSTING PROGRAM例文帳に追加

フォトマルチプライヤの感度調整方法、該感度調整方法を採用した走査型レーザ顕微鏡および感度調整プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide an autofocusing method which is capable of stably and efficiently detecting a focusing position under all conditions, and to provide a UV microscope.例文帳に追加

あらゆる状況下で安定的に効率良く合焦位置を検出できる自動合焦方法及び紫外線顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a method of observation by a scanning probe microscope which allows the observation of the configuration and the dispersed state of particles such as powders.例文帳に追加

粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。 - 特許庁




  
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