「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(117ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope is provided with a light source 10, an illumination optical system 20, a fluorescence filter set 100, an objective lens 30, an image forming lens 50 and a detector 60.例文帳に追加

顕微鏡は、光源１０と、照明光学系２０と、蛍光フィルターセット１００と、対物レンズ３０と、結像レンズ５０と、検出装置６０とを備えている。 - 特許庁

To provide an objective lens for microscope of which observation visual field can be simply adjusted, and also the deviation of the range of the observation visual field after adjustment can be surely prevented.例文帳に追加

観察視野調整を簡単にできるとともに、調整後の観察視野範囲のずれを確実に防止できる顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining easily three-dimensional shape on the surface of a test piece, while preventing cost increase and large-sizing of the device.例文帳に追加

コストアップと装置の大型化を防ぎなから、試料の表面の立体形状を容易に得ることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an improved stereoscopic microscope inspection system for observing an object or the intermediate image formed from the object particularly in microscopic surgery.例文帳に追加

特に顕微手術における、物体又は物体から生成される中間像を観察するための改善された立体顕微鏡検査システムを提供する。 - 特許庁

To facilitate confirmation an appearance test of a joint part and a collapsed state of conductive particles by a microscope in case of jointing with the use of an anisotropic conductive film.例文帳に追加

異方性導電フィルムを用いて接合した場合に、接合部の外観検査、導電粒子のつぶれの状態を顕微鏡による確認を容易にする。 - 特許庁

An address detection part 31 of an inverted microscope 12 reads a physical address of an objective lens fixed to a state detection revolver 11 from an address board 21.例文帳に追加

倒立顕微鏡１２のアドレス検出部３１は、アドレス基板２１から状態検出レボルバ１１に固定された対物レンズの物理アドレスを読み出す。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of displaying a confocal image in real time and providing the confocal image having excellent S/N.例文帳に追加

本発明は、共焦点画像をリアルタイムで表示できるとともに、Ｓ／Ｎの良好な共焦点画像を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This confocal microscope has a lamp 1 and multislits 2 and a plurality of linear bright-lines from the multislits 2 are scanned by a galvanometer 4.例文帳に追加

本発明にかかるコンフォーカル顕微鏡は、ランプ１と、マルチスリット２を有し、マルチスリット２からの複数のライン状の輝線は、ガルバノメータ４によって走査される。 - 特許庁

To provide a microscope with a probe capable of rapidly bringing a probe distal end into contact with a sample without possibility of breaking the probe or the sample.例文帳に追加

プローブや試料を破損させるおそれがなく、すばやくプローブ先端を試料に接触させることができるプローブ付き顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To inspect the kind and progress state of a corrosion at checking location by observing the bottom and side walls of a tank at tens of meters depth in the water with a high magnification microscope.例文帳に追加

水中数10ｍ下の貯槽底面や側壁面を高倍率顕微鏡で観察して点検個所の腐食の種類やその進展状況を検査する。 - 特許庁

This microscope arrangement 200 has an objective arrangement 201 including an object plane 206 for arranging an observation object or the intermediate image 207.例文帳に追加

顕微鏡装置２００は観察対象物または中間像２０７を配置するための対象物面２０６を備えた対物レンズ装置２０１を有している。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a highly precise method of evaluating an SiC substrate, capable of being carried out as a nondestructive method without using an expensive evaluation instrument or microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて行える精度の高いＳｉＣ基板の評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope in which a transmission image of a sample is displayed on a display in real time, and visual field deviation by sample drift is automatically corrected.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料の透過像をディスプレイにリアルタイムに表示するとともに、試料ドリフトによる視野ずれの自動補正を行う。 - 特許庁

To provide an ultrasonic microscope for transmitting high frequency ultrasonic waves to a sample and observing the inside of the sample with high spatial resolution.例文帳に追加

試料に対して高周波数の超音波を送出でき、高空間分解能で試料の内部を観察することができる超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an immersion microscope objective lens whose working distance is long, numerical aperture is large and chromatic aberration is excellently corrected from a visible range to a near-infrared range.例文帳に追加

作動距離が長く、開口数が大きく、色収差が可視域から近赤外域まで良好に補正された液浸系顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To achieve a spatial resolution of a sub μm order using high frequency ultrasonic waves while suppressing aberration of an acoustic lens in an ultrasonic microscope.例文帳に追加

超音波顕微鏡において、音響レンズの収差を抑制しつつ高周波の超音波を用いてサブμｍオーダの空間分解能を実現する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of observation of a reaction process between a gas and a solid at atmospheric pressure.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡に関し、大気圧での気体と固体の反応過程の観察が実現できる電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and a surface inspection method for forming a marking sign on a sample surface without complicating a constitution of an apparatus.例文帳に追加

装置構成を複雑化することなく、試料表面にマーキング痕を形成できる走査型プローブ顕微鏡及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device capable of changing observation conditions according to a change in sample's status and of performing a high-speed and high-resolution observation.例文帳に追加

標本の状態変化に応じて観察条件を変化させ、高速かつ高分解能な観察を行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To acquire a method for characterizing a probe of an atomic force microscope by a characterization structure having two inclined sidewalls opposed to each other.例文帳に追加

互いに対向する二つの傾斜側壁を持つ特徴づけ構造によって原子間力顕微鏡の探針を特徴づけるための方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can identify a probe region and a bonding region of an electrode pad clearly by magnification observation by an optical microscope.例文帳に追加

電極パッドのプローブ領域とボンディング領域とを、光学顕微鏡による拡大観察で明確に識別することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

To provide a collimation plate reducing individual difference of a measurement result and reducing the load of measuring work, and also to provide a microscope device using the collimation plate.例文帳に追加

測定結果の個人差を低減し、測定作業の負荷を低減することが可能な視準板、及び、この視準板を用いた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To enable combination with a suitable drive mechanism and a relatively small structural size for a microscope, relating to an afocal zoom system for being used for microscopes.例文帳に追加

顕微鏡に使用するための無限焦点ズーム系に関し、適切な駆動メカニズムと組み合わせ、比較的小さい顕微鏡用構成サイズを可能とする。 - 特許庁

The microscope 1 varies a distance between a stage 11 for holding a sample SP and an objective lens 15, and images the sample SP magnified by the objective lens 15.例文帳に追加

顕微鏡１は、サンプルＳＰを保持するステージ１１と対物レンズ１５との距離を変動させ、対物レンズ１５により拡大されるサンプルＳＰを撮像する。 - 特許庁

The operating microscope has the main objective 1 that extends along the objective plane and is penetrated by the binocular main observer beam path and the binocular co-observer beam path.例文帳に追加

手術用顕微鏡は、対物面に沿って延び、且つ双眼主観察者ビーム経路及び双眼補助観察者ビーム経路が通る主対物１を備える。 - 特許庁

To provide an interference objective lens having a high NA and a long operating distance as well as a simplified configuration, and to provide a microscope device having the interference objective lens.例文帳に追加

構成の簡素化を図りつつ、高ＮＡで、長作動距離を有する干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a difference between a reference line and an actual cutting line by preventing the distance between a shaft of a spindle and a microscope from changing owing to heat.例文帳に追加

スピンドルの軸と顕微鏡の距離が熱により変化することを防止し、基準線と実際の切断位置との誤差を小さくすることができる。 - 特許庁

In an image generation method, a first partial image obtained by imaging a target to be imaged which is observed by a microscope 50, with a prescribed resolution, is acquired.例文帳に追加

画像生成方法において、顕微鏡５０で観察される撮像対象物を所定の解像度で撮像した第１の部分画像を取得する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope that is highly rigid and capable of attaching an optical device to an observation optical system between an objective lens and an ocular lens.例文帳に追加

対物レンズから接眼レンズに至る観察光学系に光学装置を装着可能であって、かつ、剛性に優れた倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle microscope capable of reconciling the enhancement of resolution and the enhancement of focal depth.例文帳に追加

本発明は、分解能の向上と焦点深度の向上の両立を可能とする走査形荷電粒子顕微鏡の提供を目的とするものである。 - 特許庁

A repairing device 100 has a microscope 102, a lens-actuating device 103, a range finder 104, a laser-beam irradiator 106, and a controller 110.例文帳に追加

リペア装置１００は、顕微鏡１０２と、レンズ駆動装置１０３と、測距計１０４と、レーザ光照射部１０６と、制御部１１０と、を備える。 - 特許庁

To provide an optical microscope which prevents blurring of an image by moving a prism, without changing its attitude and is economically constituted.例文帳に追加

プリズムの姿勢を変えずにプリズムを移動させることで像のぶれが防止できるとともに、経済的に構成できる光学式顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To change the size of an aperture hole of an aperture member, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材の絞り開口の大きさを変更することを目的とする。 - 特許庁

Superoxide anion decomposing agent composed of platinum fine powder having a particle size of 6 nm or less as observed under a microscope which is prepared under a metal salt reduction method. 例文帳に追加

金属塩還元反応法により調製され、顕微鏡下で観察した場合に粒径が6nm以下の白金の微粉末からなるスーパーオキサイドアニオン分解剤。 - 特許庁

The microscope has an exclusive ion detection electrode for detecting ions, and the ion detection electrode is arranged near a route for accelerating ions by a bias electrode.例文帳に追加

イオンを検出する専用のイオン検出電極を備えており、イオン検出電極は、バイアス電極によってイオンを加速する経路のそばに配置されている。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope that can efficiently acquire a fluorescent light by eliminating loss of the fluorescent light excited by total reflection illumination to the utmost.例文帳に追加

全反射照明により励起された蛍光のロスを極力無くして、蛍光を効率よく取得可能な全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a photodetector, permitting drawing of an accurate IZ-curve and obtaining a higher quality observed images at a low cost.例文帳に追加

正確なＩＺカーブを描くことができ、安価でより高画質な観察画像が得られる走査型レーザ顕微鏡及び光学素子を提供すること。 - 特許庁

To obtain a wide scanning range, as well as, precise position control related to a stage scanner, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明はステージスキャナ及び走査型プローブ顕微鏡に関し、広範囲な走査範囲を確保しかつ精密な位置制御を実現することを目的としている。 - 特許庁

To accurately perform measurement with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target without causing a probe to be worn out.例文帳に追加

μｍ級の微細な対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡での測定を探針摩耗の問題を起こすことなく高い測定精度で行える。 - 特許庁

To provide a microscope light source device by which the position of a light source image is easily and accurately adjusted and light from a light source is effectively used.例文帳に追加

簡便に精度良く光源像の位置を調整することができ、光源からの光を有効に使用できる顕微鏡用光源装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a simulation apparatus which forms a simulation image in a scanning probe microscope at high speed, and also to provide a simulation method, and a simulation program.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるシミュレーション画像を高速に生成することができるシミュレーション装置、シミュレーション方法及びシミュレーションプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a SQUID microscope with its spatial resolution enhanced while keeping a specimen from contacting a probe.例文帳に追加

本発明は、試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができるＳＱＵＩＤ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which is suitable for monitoring conditions of the device, without having to depend on the existence of electrostatic charges or sample tilting, or the like.例文帳に追加

本発明の目的は、帯電や試料傾斜等の存在によらず、装置の状態をモニタするのに好適な走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁