「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(117ページ目) - Weblio英語例文検索

To observe samples with high accuracy with respect to an approach control method and an apparatus of interatomic force microscope.例文帳に追加

本発明は原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置に関し、高精度の試料観察を行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a microscope with a probe capable of rapidly bringing a probe distal end into contact with a sample without possibility of breaking the probe or the sample.例文帳に追加

プローブや試料を破損させるおそれがなく、すばやくプローブ先端を試料に接触させることができるプローブ付き顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron microscope 12 electronically scans, radiates an electron beam to the tested element T after the deterioration has been promoted, and measures a shape of the tested element T.例文帳に追加

電子顕微鏡１２は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Ｔに電子線を照射して試験体Ｔの形状を測定する。 - 特許庁

To provide a scanner for SPM (scanning probe microscope) which is miniaturized without sacrificing displacement amount and which is suitable for a high-speed scanning operation having a high resonance frequency.例文帳に追加

変位量を犠牲にすることなく、小型化された、従って高い共振周波数を有する高速走査に適したＳＰＭ用スキャナを提供する。 - 特許庁

An example of the medical image pickup component element 300 is an X-ray image detector or a surgical microscope used for medical technique under a fluoroscopic image guide.例文帳に追加

医用画像取り込み構成要素（３００）の例には、透視像ガイド下医学的手技で使用されるＸ線画像検出器や外科用顕微鏡が含まれる。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope which employs a wave front converting element, has little off-axis performance deterioration and exerts little influence on an object to be observed.例文帳に追加

軸外での性能劣化が少なく、観察する物体に影響を及ぼすことの少ない、波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡。 - 特許庁

To provide a human body dust detection method which easily identifies visual field to be searched under microscope without using acid in detection of such biologic materials as human body dust.例文帳に追加

人体ダストなどの生物由来物質の検出において、顕微鏡下で探索すべき視野を容易に認識でき、酸を使わない方法を提供する。 - 特許庁

The method further includes a step of then inspecting whether a non-through hole 13A which is not penetrating through the film 12, is generated or not by a scanning electron microscope.例文帳に追加

次に、走査型電子顕微鏡により第１の絶縁膜１２を貫通していない未貫通孔部１３Ａが生じているか否かを検査する。 - 特許庁

The microscope is provided with a light source 10, an illumination optical system 20, a fluorescence filter set 100, an objective lens 30, an image forming lens 50 and a detector 60.例文帳に追加

顕微鏡は、光源１０と、照明光学系２０と、蛍光フィルターセット１００と、対物レンズ３０と、結像レンズ５０と、検出装置６０とを備えている。 - 特許庁

To provide an objective lens for microscope of which observation visual field can be simply adjusted, and also the deviation of the range of the observation visual field after adjustment can be surely prevented.例文帳に追加

観察視野調整を簡単にできるとともに、調整後の観察視野範囲のずれを確実に防止できる顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining easily three-dimensional shape on the surface of a test piece, while preventing cost increase and large-sizing of the device.例文帳に追加

コストアップと装置の大型化を防ぎなから、試料の表面の立体形状を容易に得ることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an improved stereoscopic microscope inspection system for observing an object or the intermediate image formed from the object particularly in microscopic surgery.例文帳に追加

特に顕微手術における、物体又は物体から生成される中間像を観察するための改善された立体顕微鏡検査システムを提供する。 - 特許庁

To facilitate confirmation an appearance test of a joint part and a collapsed state of conductive particles by a microscope in case of jointing with the use of an anisotropic conductive film.例文帳に追加

異方性導電フィルムを用いて接合した場合に、接合部の外観検査、導電粒子のつぶれの状態を顕微鏡による確認を容易にする。 - 特許庁

An address detection part 31 of an inverted microscope 12 reads a physical address of an objective lens fixed to a state detection revolver 11 from an address board 21.例文帳に追加

倒立顕微鏡１２のアドレス検出部３１は、アドレス基板２１から状態検出レボルバ１１に固定された対物レンズの物理アドレスを読み出す。 - 特許庁

A scanning type confocal microscope system is provided with a photodetector 15 of normal sensitivity and a photodetector 19 of high sensitivity as means for detecting reflected light from a sample 10.例文帳に追加

本装置は、試料１０からの反射光を検出する手段としてノーマル感度の光検出器１５と高感度の光検出器１９を備える。 - 特許庁

A control part 108 acquires installation state information indicating an installation state of an optical member inserted into an observation optical path of the microscope 101.例文帳に追加

制御部１０８は、顕微鏡１０１の観察光路中に挿入される光学部材の設置状態を示す設置状態情報を取得する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による２次元キャリア分布の評価に適した２次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope stage which allows a specimen to be reliably aligned even when the specimen is observed with high magnifications and is small-sized and can be made inexpensive.例文帳に追加

高倍観察時にも標本の位置合わせを確実に行なうことができ、小型で価格的にも安価にできる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope in which the handling time and labor for attachment and detachment of a member shielding vertical illuminating light can be saved and the forgetting to mount the shielding member can be prevented.例文帳に追加

落射照明光を遮蔽する部材の着脱の手間を省き、遮蔽部材の装着忘れを防止することができる光学顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which can easily be balanced by a simple mechanism not only when it is installed on a horizontal floor but also when it is installed on an inclined floor.例文帳に追加

水平床設置時のみならず傾斜床設置時に簡単な機構により容易にバランスを取ることが可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope device which removes images such as flaw, dirt, and stain on the backside of wells, different from a sample image and acquires an excellent sample image.例文帳に追加

ウェルの裏面の傷、ゴミ、汚れなどの標本像とは異なる像を除去し、良好な標本画像を取得する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

Light from a halogen lamp 13 housed in a light source part 2 is caused to travel to the optical system part 4 of the microscope or the like through the optical unit 3, whereby the sample is lighted.例文帳に追加

光源部２に収容したハロゲンランプ１３からの光を光学ユニット３を経て顕微鏡などの光学系部４に向かわせ試料を照明する。 - 特許庁

Simultaneously, the controller 12 controls a focus adjustment device 66 to move a microscope main body 21 so as to bring the tool 71 into focus.例文帳に追加

さらに、これと同時に、制御装置１２は、焦点調節装置６６を制御して、ツール７１に焦点が合うように、顕微鏡本体２１を移動させる。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of displaying a confocal image in real time and providing the confocal image having excellent S/N.例文帳に追加

本発明は、共焦点画像をリアルタイムで表示できるとともに、Ｓ／Ｎの良好な共焦点画像を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This confocal microscope has a lamp 1 and multislits 2 and a plurality of linear bright-lines from the multislits 2 are scanned by a galvanometer 4.例文帳に追加

本発明にかかるコンフォーカル顕微鏡は、ランプ１と、マルチスリット２を有し、マルチスリット２からの複数のライン状の輝線は、ガルバノメータ４によって走査される。 - 特許庁

To inspect the kind and progress state of a corrosion at checking location by observing the bottom and side walls of a tank at tens of meters depth in the water with a high magnification microscope.例文帳に追加

水中数10ｍ下の貯槽底面や側壁面を高倍率顕微鏡で観察して点検個所の腐食の種類やその進展状況を検査する。 - 特許庁

This microscope arrangement 200 has an objective arrangement 201 including an object plane 206 for arranging an observation object or the intermediate image 207.例文帳に追加

顕微鏡装置２００は観察対象物または中間像２０７を配置するための対象物面２０６を備えた対物レンズ装置２０１を有している。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a highly precise method of evaluating an SiC substrate, capable of being carried out as a nondestructive method without using an expensive evaluation instrument or microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて行える精度の高いＳｉＣ基板の評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope in which a transmission image of a sample is displayed on a display in real time, and visual field deviation by sample drift is automatically corrected.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料の透過像をディスプレイにリアルタイムに表示するとともに、試料ドリフトによる視野ずれの自動補正を行う。 - 特許庁

To acquire a method for characterizing a probe of an atomic force microscope by a characterization structure having two inclined sidewalls opposed to each other.例文帳に追加

互いに対向する二つの傾斜側壁を持つ特徴づけ構造によって原子間力顕微鏡の探針を特徴づけるための方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can identify a probe region and a bonding region of an electrode pad clearly by magnification observation by an optical microscope.例文帳に追加

電極パッドのプローブ領域とボンディング領域とを、光学顕微鏡による拡大観察で明確に識別することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

To provide a collimation plate reducing individual difference of a measurement result and reducing the load of measuring work, and also to provide a microscope device using the collimation plate.例文帳に追加

測定結果の個人差を低減し、測定作業の負荷を低減することが可能な視準板、及び、この視準板を用いた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To enable combination with a suitable drive mechanism and a relatively small structural size for a microscope, relating to an afocal zoom system for being used for microscopes.例文帳に追加

顕微鏡に使用するための無限焦点ズーム系に関し、適切な駆動メカニズムと組み合わせ、比較的小さい顕微鏡用構成サイズを可能とする。 - 特許庁

The microscope 1 varies a distance between a stage 11 for holding a sample SP and an objective lens 15, and images the sample SP magnified by the objective lens 15.例文帳に追加

顕微鏡１は、サンプルＳＰを保持するステージ１１と対物レンズ１５との距離を変動させ、対物レンズ１５により拡大されるサンプルＳＰを撮像する。 - 特許庁

The operating microscope has the main objective 1 that extends along the objective plane and is penetrated by the binocular main observer beam path and the binocular co-observer beam path.例文帳に追加

手術用顕微鏡は、対物面に沿って延び、且つ双眼主観察者ビーム経路及び双眼補助観察者ビーム経路が通る主対物１を備える。 - 特許庁

To provide an interference objective lens having a high NA and a long operating distance as well as a simplified configuration, and to provide a microscope device having the interference objective lens.例文帳に追加

構成の簡素化を図りつつ、高ＮＡで、長作動距離を有する干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic microscope for transmitting high frequency ultrasonic waves to a sample and observing the inside of the sample with high spatial resolution.例文帳に追加

試料に対して高周波数の超音波を送出でき、高空間分解能で試料の内部を観察することができる超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an immersion microscope objective lens whose working distance is long, numerical aperture is large and chromatic aberration is excellently corrected from a visible range to a near-infrared range.例文帳に追加

作動距離が長く、開口数が大きく、色収差が可視域から近赤外域まで良好に補正された液浸系顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To achieve a spatial resolution of a sub μm order using high frequency ultrasonic waves while suppressing aberration of an acoustic lens in an ultrasonic microscope.例文帳に追加

超音波顕微鏡において、音響レンズの収差を抑制しつつ高周波の超音波を用いてサブμｍオーダの空間分解能を実現する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of observation of a reaction process between a gas and a solid at atmospheric pressure.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡に関し、大気圧での気体と固体の反応過程の観察が実現できる電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and a surface inspection method for forming a marking sign on a sample surface without complicating a constitution of an apparatus.例文帳に追加

装置構成を複雑化することなく、試料表面にマーキング痕を形成できる走査型プローブ顕微鏡及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device capable of changing observation conditions according to a change in sample's status and of performing a high-speed and high-resolution observation.例文帳に追加

標本の状態変化に応じて観察条件を変化させ、高速かつ高分解能な観察を行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁