「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(119ページ目) - Weblio英語例文検索

In the method for evaluating the SOI wafer, wherein a semiconductor layer, an insulating layer, and a supporting substrate are sequentially formed, the evaluation is carried out by a confocal laser microscope.例文帳に追加

半導体層、絶縁層、支持基板が順次形成されたＳＯＩウエーハの評価方法であって、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡により評価する。 - 特許庁

To provide a spin-polarized electron source which can be used for an electron microscope and an accelerator, has a superior durability of magnetic characteristics and can be operated at room temperature.例文帳に追加

電子顕微鏡や加速器に用いることができる、磁気特性の耐久性に優れて、且つ、室温動作可能なスピン偏極電子源を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which enables a stable sample operation in the application of operating the sample with a laser beam and is excellent in operability.例文帳に追加

レーザ光を用いて試料を操作するアプリケーションにおいて、安定した試料操作を実現できるとともに、操作性に優れた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The system integrates microscope modules such as objectives, tube lenses and zoom optics to reduce the number of components, and to simplify the system manufacturing process.例文帳に追加

このシステムは、部品点数を削減し、システムの製造プロセスを簡単化するため、対物レンズ、チューブレンズ及びズーム光学系のような顕微鏡モジュールを統合する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope grid, and a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the same.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッド、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシートーカーボンナノチューブフィルム複合構造体に関するものである。 - 特許庁

To provide a spectroscope whole of which can compactly be assembled and a confocal optical system using it, and a scanning optical microscope.例文帳に追加

装置全体をコンパクトに構成できる分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for accurately measuring a three-dimensional shape without extending measurement time even to an irregular sample.例文帳に追加

凹凸の激しい試料に対しても、測定時間を長くすることなく、正確な三次元形状測定を行なえる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Thereby, transmission of vibration from the vacuum pump 1 to the service chamber 2 correspondingly reduces, especially, the adapter makes it possible to apply in the field of a microscope.例文帳に追加

それによって、真空ポンプ１からサービスチャンバ２への振動の伝達が相当に減少し、特に顕微鏡分野における応用を可能とする。 - 特許庁

To provide a dark-field cube which can use an objective with a small external diameter for dark-field observation and a microscope equipped with the dark-field cube.例文帳に追加

暗視野観察において、外径の小さい対物レンズが使用できる暗視野キューブ、およびそれを備えた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

LOCAL POLARIZING MICROSCOPE ANALYSIS/SPECTRAL SEPARATION METHOD AND APPARATUS BY COMPOSITE EVANESCENT WAVE DARK FIELD EXCITATION, AND SUBSTANCE OPERATION METHOD AND APPARATUS APPLYING THE METHOD AND THE APPARATUS例文帳に追加

合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置 - 特許庁

This scanning microscope is provided with an optical element 4 which produces at least partially spectrally diffusing illumination light within its illumination optical path 8.例文帳に追加

走査顕微鏡においては、照明光路（８）内に、少なくとも部分的にスペクトル拡散する照明光を生じさせる光学要素（４）を設ける。 - 特許庁

An image generated by this interaction is obtained using the microscope 2 and the image input part 3 of a CCD camera or the like and analyzed in a control processing part (PC, computer) 8.例文帳に追加

これを、顕微鏡２及びＣＣＤカメラ等の画像入力部３を用いて画像を取得し、その画像を制御処理部（ＰＣ、コンピュータ）８で解析する。 - 特許庁

The focul positions of respective microscope objective lens parts fall within range of a fine adjustment of respective light spot forming positions p1, p2 on the optical axis X by the switching operation.例文帳に追加

この切り換え動作により各顕微鏡対物レンズ部の焦点位置が光軸Ｘ上の各光スポット形成位置ｐ１，ｐ２の微調整範囲に入る。 - 特許庁

A moving part 420 is disposed to move on a line on a plane orthogonal to the optical axis of a microscope main body of a finite correction optical system.例文帳に追加

有限補正光学系の顕微鏡本体の光軸に対して直交する平面上で直線上に移動可能に移動部４２０を配設する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of taking a three- dimensional image of a sample at high speed, and measuring the height of the sample highly accurately.例文帳に追加

試料の三次元画像を高速に取り込むことが可能で、且つ、試料の高さを高精度に測定可能な、走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a slit width adjusting apparatus in which a slit aperture part is accurately variable and high repeating accuracy is kept and to provide a microscope laser repair apparatus.例文帳に追加

スリット開口部を高精度に可変できるとともに、高い繰り返し精度も維持できるスリット幅調整装置および顕微鏡レーザリペア装置を提供する。 - 特許庁

The resonance frequency of the dynamic vibration absorber is set so as to conform to a strong frequency observed at an installtion place of the electron microscope E.例文帳に追加

この動吸振器の共振周波数は、当該電子顕微鏡Ｅの設置個所にみられる強い振動の周波数に一致するように設定されている。 - 特許庁

To provide a culture observation method by which a cell in culture solution is observed well for a long time, and an inverted microscope used therefor.例文帳に追加

培養液の中の細胞を良好に、しかも長時間観察することが可能な培養観察方法及び、それに使用する倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image microscope superior in operation performance by correcting focus shift in observation using invisible light such as infrared light.例文帳に追加

赤外光のような不可視光を用いた観察時にも焦点のずれを補正することができ、しかも、操作性能の良好な画像顕微鏡を提供する。 - 特許庁

As a result, even when the shape and size of the hole disposed on the stage of the microscope is different, one main body part 3 for the microscopes can be used in common.例文帳に追加

従って、顕微鏡のステージに設けられている孔のサイズや形が違っても、それら顕微鏡に１台の本体部３を共用することができる。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of picking up the image of a defect without depending on the directivity of the defect even when it is the defect having the directivity.例文帳に追加

方向性を有する欠陥であっても、欠陥の方向性に依存することなく欠陥像を撮像できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which can surely detect the patterns of a work, such as a printed substrate which is coated with a resist and is further formed with a protective layer.例文帳に追加

レジストが塗布され、さらに保護層が形成されたプリント基板等のワークのパターンを確実に検出することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of observing fluorescence without saturating fluorescent brightness and without amplifying a noise in an fluorescent image, during observation of a cell.例文帳に追加

細胞の観察中に、蛍光輝度が飽和することなく、かつ蛍光画像のノイズを増幅することなく蛍光観察ができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a manipulator capable of detecting force of an operation needle applied to a sample by observing the operation needle in an observation view of a microscope.例文帳に追加

操作針の被検体に対して作用する力を、顕微鏡の観察視野下で操作針を観察することにより検出する、マイクロマニピュレータを提供する。 - 特許庁

In this sample table for the electron microscope, surface roughness of a surface is set to 0.05 to 1.0 μm in arithmetical mean roughness Ra stipulated in JIS B 0601.例文帳に追加

表面の面粗さがＪＩＳ Ｂ ０６０１に規定される算術平均粗さ（Ｒａ）で０．０５〜１．０μｍとしてなる電子顕微鏡用試料台。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle microscope which can efficiently convert a discretized detection signal to a digital signal, thereby obtaining a high quality canning image.例文帳に追加

離散化した検出信号を効率よくディジタル信号に変換し、像質の良い走査像を得ることができる走査荷電粒子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

When the target view is found out and the visual field is determined, the operator 4 controls the scanning electronic microscope so that a sharp image can be obtained.例文帳に追加

目的とする視野が探し出され、視野が確定したら、オペレータ４は走査電子顕微鏡を調整して、鮮明が画像が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a method for accurately positioning a phase difference imparting member used for a phase microscope in a horizontal direction orthogonal to an optical axis.例文帳に追加

位相差顕微鏡に用いられる位相差付与部材を、光軸と直交する横方向について、精度良く位置決めすることができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope using a Nipkow disk for accurately executing the three-dimensional shape measurement of a material to be measured at high speed.例文帳に追加

高速且つ正確に被測定物の三次元形状測定を実行することが可能なニポウディスクを用いた走査型の共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The laser scanning microscope has a first focusing-position control unit, a confocal detecting unit and a second focusing-position control unit.例文帳に追加

第１の集光位置制御手段と、共焦点検出手段と、第２の集光位置制御手段とを備えるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which derives an amplitude transmittance distribution of light suitable for observing an image of an object in a best condition during observation.例文帳に追加

観察中の物体の像を最良の状態で観察するために適した光の振幅透過率分布を導き出す顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

The culture board for microscope observation consists of a transparent fluororesin having a refractive index of ≥1.33 to ≤1.34 and is subjected to treatment for hydrophilicity impartation on the board surface.例文帳に追加

屈折率が１．３３以上で１．３４以下の透明フッ素樹脂からなり、基板表面が親水化処理された顕微鏡観察用培養基板である。 - 特許庁

To execute excellent scanning by correcting a macro Z-direction fluctuation portion caused by inclination or swell of a sample, a characteristic of a scanner or the like in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料の傾斜やうねり、スキャナーの特性等によるマクロなＺ方向変動分を補正して良好な走査を行う。 - 特許庁

To provide an apparatus for selecting and detecting at least one spectral region of a spectral divergent beam preferably in a beam path of a confocal scanning microscope.例文帳に追加

好ましくは共焦点走査型顕微鏡のビーム路において、スペクトル拡開光線の少なくとも１つのスペクトル領域を選択かつ検出するための装置。 - 特許庁

To provide an observation method of a semiconductor structure capable of observing a structure having large aspect ratio with higher freedom, and to provide an electronic microscope system.例文帳に追加

アスペクト比の大きい構造をより高い自由度をもって観察することのできる半導体構造の観察方法及び電子顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

According to the present invention, since only one image taken with the electron microscope is basically necessary, a damage to the sample is reduced, and the process is performed in a short period of time.例文帳に追加

本発明によると、基本的には電子顕微鏡で撮像する画像は一枚で済む為、試料損傷低減が図れ、また、短時間で処理できる。 - 特許庁

The probe microscope 1 includes: a cantilever 2 having a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observation optical system 4; an objective lens 6; and a parallel glass 7.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６と、平行ガラス７とを備える。 - 特許庁

To provide equipment which takes photos of element distribution and spectrum with high space resolution and high-energy resolution using a transmission type electron microscope having an energy filter.例文帳に追加

エネルギーフィルタ式透過型電子顕微鏡を用いて、高空間分解能、高エネルギー分解能で元素分布やスペクトルを撮影する装置を提供する。 - 特許庁

To provide an adaptor system and an imaging system that can readily pick up a magnified image of a microscope by using an imaging device such as a digital camera.例文帳に追加

ディジタルカメラ等の撮像装置を使って手軽に顕微鏡の拡大像を撮像することができるアダプタシステム及び撮像システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device accurately detecting a measured object plane as well as being capable of shortening measurement time.例文帳に追加

本発明では、正確に測定対象平面を検出すると共に、測定時間の短縮が可能な共焦点顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To determine a light illumination position for photo-stimulus in a visual field while performing microscope observation and to accurately photo-stimulate the determined illumination position.例文帳に追加

顕微鏡観察を行いながら、その視野内において、光刺激用の光の照射位置を特定し、かつ、特定された照射位置を精度よく光刺激する。 - 特許庁

To provide an electron microscope apparatus which suppresses a thermal drift and noise due to oscillation in a stopping period of a stage and also uses an inexpensive sample stage.例文帳に追加

ステージ停止時における熱ドリフトや振動によるノイズを抑え、かつ安価な試料ステージを用いた電子顕微鏡装置を提供することにある。 - 特許庁

Since the weight of the observation device 60 is supported by the supporting member 80, the adverse effect exerted on the microscope 50 by the heavy observation device 60 is eliminated.例文帳に追加

支持部材８０が観察装置６０の重量を支えるため、大重量の観察装置６０による倒立顕微鏡５０への悪影響がなくなる。 - 特許庁

The scan probe microscope analyzes the molecular orientation structure of the substance layer according to the intensity of the harmonics generated by this harmonic generator.例文帳に追加

この高調波発生装置により発生する高調波の強度により上記物質層の分子配向構造を分析する走査プローブ顕微鏡。 - 特許庁