Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
To provide a confocal microscope device accurately detecting a measured object plane as well as being capable of shortening measurement time.例文帳に追加
本発明では、正確に測定対象平面を検出すると共に、測定時間の短縮が可能な共焦点顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To determine a light illumination position for photo-stimulus in a visual field while performing microscope observation and to accurately photo-stimulate the determined illumination position.例文帳に追加
顕微鏡観察を行いながら、その視野内において、光刺激用の光の照射位置を特定し、かつ、特定された照射位置を精度よく光刺激する。 - 特許庁
To provide an electron microscope apparatus which suppresses a thermal drift and noise due to oscillation in a stopping period of a stage and also uses an inexpensive sample stage.例文帳に追加
ステージ停止時における熱ドリフトや振動によるノイズを抑え、かつ安価な試料ステージを用いた電子顕微鏡装置を提供することにある。 - 特許庁
Since the weight of the observation device 60 is supported by the supporting member 80, the adverse effect exerted on the microscope 50 by the heavy observation device 60 is eliminated.例文帳に追加
支持部材80が観察装置60の重量を支えるため、大重量の観察装置60による倒立顕微鏡50への悪影響がなくなる。 - 特許庁
The scan probe microscope analyzes the molecular orientation structure of the substance layer according to the intensity of the harmonics generated by this harmonic generator.例文帳に追加
この高調波発生装置により発生する高調波の強度により上記物質層の分子配向構造を分析する走査プローブ顕微鏡。 - 特許庁
A program (counting software) is stored in a computer of a counter body 24 for processing image data on an optical fiber image taken in through a microscope 23.例文帳に追加
計数装置本体24のコンピュータには、マイクロスコープ23から取り込んだ光ファイバ画像の画像データを処理するプログラム(計数ソフトウエア)が格納されている。 - 特許庁
To provide a microscope which has a shading correction device for correcting shading by an illumination optical system and a photographing optical system and can yield a high-quality image.例文帳に追加
照明光学系や撮影光学系によるシェーディングを補正するシェーディング補正装置を有し、高品質の画像が取得可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The control part 101 sets one or more shot regions to the defect D included in the image acquired by the microscope part 110 after tracking.例文帳に追加
制御部101は、追跡後に顕微鏡部110が取得した画像に含まれる欠陥Dに対して1つ以上のショット領域を設定する。 - 特許庁
To provide a microscope comprising a rotation mechanism with which a sample image being observed can be rotated at an optional angle without changing the visual field of observation.例文帳に追加
観察視野を変えることなく観察している試料画像を任意の角度に回転させることが可能な回転機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To make controllable the quality of printing area by visually measuring a printing area size easily and accurately without depending upon an assistant tool such as a microscope and a computer.例文帳に追加
顕微鏡やコンピュータ等の補助具に依存することなく、目視により容易かつ正確に画線寸法を測定し品質を管理することを可能にする。 - 特許庁
To provide a digital microscope which is not available before, by solving a problem that its luminance is not stable in a certain time period after a light source is lit.例文帳に追加
光源が点灯した後の一定時間において照度が安定しないという課題を解決し、従来にはなかったデジタル顕微鏡を提供する。 - 特許庁
After designating a position inside a memory cell block of a target cell, information on the number of arrangements of cells in a scanning electron microscope(SEM) observation visual field of a radix portion of the cell block is extracted.例文帳に追加
目標セルのメモリセルブロック内での位置を指定後、セルブロックの基点部分のSEM観察視野でのセルの配置個数情報の抽出。 - 特許庁
To provide a confocal optical scanner and confocal microscope capable of irradiating a sample with light uniform in light intensity without degrading its light quantity.例文帳に追加
光量を低下させずに光強度が均一な光を試料に照射することができる共焦点用光スキャナ及び共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The laser scanning microscope has a first focusing-position control unit, a confocal detecting unit and a second focusing-position control unit.例文帳に追加
第1の集光位置制御手段と、共焦点検出手段と、第2の集光位置制御手段とを備えるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope system which derives an amplitude transmittance distribution of light suitable for observing an image of an object in a best condition during observation.例文帳に追加
観察中の物体の像を最良の状態で観察するために適した光の振幅透過率分布を導き出す顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
The system integrates microscope modules such as objectives, tube lenses and zoom optics to reduce the number of components, and to simplify the system manufacturing process.例文帳に追加
このシステムは、部品点数を削減し、システムの製造プロセスを簡単化するため、対物レンズ、チューブレンズ及びズーム光学系のような顕微鏡モジュールを統合する。 - 特許庁
To provide a transmission electron microscope grid, and a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the same.例文帳に追加
本発明は、透過型電子顕微鏡グリッド、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシートーカーボンナノチューブフィルム複合構造体に関するものである。 - 特許庁
An image of a flying trace detection solid after etch processing is acquired by a microscope device 21 to be binarized, and the ellipse is fitted an image for each etch pit.例文帳に追加
エッチ処理済みの飛跡検出用固体の画像を顕微鏡装置21で取得し、これを二値化し、各エッチピットの画像に楕円をフィッティングする。 - 特許庁
To provide a focal position information detector, a microscope device and a focal position information detection method which enable accurate detection of focal position information.例文帳に追加
正確な焦点位置情報の検出が可能な焦点位置情報検出装置、顕微鏡装置及び焦点位置情報検出方法を提供すること - 特許庁
A mold is cultured on a liquid permeable film inoculated with the mold and the liquid permeable film is observed by a microscope to observe mold morphology.例文帳に追加
カビを接種した液体透過性フィルム上で、当該カビを培養し、上記液体透過性フィルムを顕微鏡観察に供し、カビの形態観察を行う。 - 特許庁
The housing 3 is fixed in the housing of the microscope 101 so that the position thereof can be adjusted in the optical axis direction of the optical system 210.例文帳に追加
このズームハウジング3は、立体顕微鏡101のハウジング内に、クローズアップ光学系210の光軸方向に位置調整可能に固定されている。 - 特許庁
In the image of the last acquired in a series of discrete images, the structure of the involved is searched, and positioned at the centroid of the image area of a microscope.例文帳に追加
一連の個別像において取得された最後の像において、関与の構造が検索され、顕微鏡の像域の中心に位置決めされる。 - 特許庁
To provide a device which detects, in a short period of time, a quantity of phase change of an observation object from a differential interference image obtained by a differential interference microscope.例文帳に追加
観察物体の位相変化量等を微分干渉顕微鏡により得た微分干渉画像から短時間で検出する装置を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope capable of obtaining dimensions of an observation object easily and correctly even if an aspect ratio of an image is changed.例文帳に追加
画像の縦横比が変更された場合においても、観察対象物の寸法を容易にかつ正しく求めることを可能とする顕微鏡を提供する。 - 特許庁
When a mask M and a work W are aligned with each other, the work stage 13 is moved, and the position of a work mark WAM is detected by the work mark microscope 15.例文帳に追加
マスクMとワークWの位置合わせの際には、ワークステージ13を移動させワークマーク用顕微鏡15によりワークマークWAMの位置を検出する。 - 特許庁
To provide an adapter system and an image pickup system capable of easily picking up the enlarged image of a microscope by using an image pickup system such as a digital camera.例文帳に追加
ディジタルカメラ等の撮像装置を使って手軽に顕微鏡の拡大像を撮像することができるアダプタシステム及び撮像システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加
ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁
An S is a sample cross-section desired to be obtained by an operator, in Fig. (c), and the sample cross-section S is observed thereafter by a scanning electron microscope or the like.例文帳に追加
図9(c)において、Sはオペレーターが得たかった試料断面であり、この試料断面Sは後で走査電子顕微鏡などで観察される。 - 特許庁
To provide a laser microscope that has a simple constitution and is made to quickly measure the thickness of a film with high accuracy, by reducing the amount of data to be processed.例文帳に追加
この発明は、簡易な構成で、処理データの軽減を図り得るようにして、迅速にして高精度な膜厚測定を実現することにある。 - 特許庁
A confocal microscope which is provided with an objective lens 7, a scanning mechanism 3, a movement mechanism 14, a very small opening 10 and a photodetector 11 is constituted.例文帳に追加
対物レンズ7と、走査機構3と、移動機構14と、微小開口10と、光検出器11とを備えた共焦点顕微鏡を構成している。 - 特許庁
To provide a light-receiving unit which is to be connected to a confocal optical microscope to constitute a measuring apparatus for measuring the light emitted from a sample.例文帳に追加
試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットを提供する。 - 特許庁
To provide a solid observation method and an electron microscope capable of totally and accurately evaluating an electronic device structure or the like with a three-dimensional structure.例文帳に追加
3次元構造を持つ電子デバイス構造等を全体的且つ高精度に評価しうる立体観察方法及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
Then, the sample 10 is set up on the stage on a piezo element three-dimensional scanner 4 of a scanning probe microscope in the direction wherein the plurality of layers are aligned laterally.例文帳に追加
次に、複数の層が横に並ぶ方向で、試料10を走査型プローブ顕微鏡のピエゾ素子3次元スキャナ4上のステージに設置する。 - 特許庁
To provide a real time confocal microscope not including a scanner but using a dispersion optical system capable of capturing the two-dimensional cross-sectional video of an object in real time.例文帳に追加
走査装置を含めず物体の2次元断面映像を実時間で獲得可能な分散光学系を用いた実時間共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a high resolving power microscope capable of observing the non-linear optical response of a sample with high space resolving power and high time resolving power.例文帳に追加
試料の非線形光学応答を高空間分解能及び高時間分解能で観測することのできる高分解能顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a photoelectric sensor, from which the influence of interference fringe is removed, and to provide a pattern-inspecting device using the sensor, a microscope and the manufacturing method of a mask.例文帳に追加
干渉縞の影響を除去した光電センサと、それを用いたパターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an illumination optical system which requires no operation of the illumination optical system in magnification change in frequently used magnification ranges, and to provide a microscope.例文帳に追加
使用頻度の高い倍率間での倍率変換において照明光学系の操作を不要とした照明光学系及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁
With this endoscope, an operator can observe the parts which are impossible to observe with the microscope for operation 1 with no difficulty and in the most comfortable posture.例文帳に追加
この内視鏡を用いれば、手術用顕微鏡1では観察できない部位について無理なく最適な姿勢で容易に観察可能である。 - 特許庁
To provide a microscope system which is low in cost and does not change a color temperature even if lighting is controlled cooperatively with an observation optical system without upsizing.例文帳に追加
低コストで大型化することなく、観察光学系と連動して調光を行なっても色温度が変化しない顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope that can improve rigidity of an XY fine motion mechanism without narrowing the scan region, increase the scanning speed, and miniaturize a device.例文帳に追加
走査領域を狭めることなく、XY微動機構の剛性を高め、走査速度の向上と装置の小型化できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
A linear light source, a detection system and a condensing system condensing light from the light source on a sample and condensing returned light on the detection system are disposed in a slit confocal microscope.例文帳に追加
直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを配設する。 - 特許庁
To provide a laser microscope capable of easily attaching and replacing a detector for detecting light emitted by a sample with coherent light.例文帳に追加
コヒーレント光により標本から発する光を検出するための検出器の取付けや交換を容易に行なえるレーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To surely fix a frame to a vibration-free base without backwardly reclining the frame or without removing rubber feet when installing the frame of the microscope on the vibration-free base.例文帳に追加
顕微鏡のフレームを除振台に設置する際に、フレームを後ろ向きに倒したりゴム足を取り外すことなく、フレームを除振台に確実に固定可能にする。 - 特許庁
To provide an illuminator for a microscope having little illumination irregularity and capable of obtaining an excellent observed image even in the case of using a digital camera or the like.例文帳に追加
照明ムラが少なく、デジタルカメラ等を用いた場合でも良好な観察像を得ることができる顕微鏡照明装置を提供すること。 - 特許庁
Light from the object 1 for observation is formed by an image formation optical system (microscope optical system 20) and an observed image 12 is projected in the space.例文帳に追加
観察対象物1からの光が結像光学系(顕微鏡光学系20)によって結像されて空間中に観察像12が投射される。 - 特許庁
To provide a scanning confocal microscope which permits exchange of detectors and extension of the number of image channels at a low cost and has high expandability.例文帳に追加
検出器の交換や画像チャネル数の増設を低コストで容易に行うことができる、拡張性の高い走査型共焦点顕微鏡の提供。 - 特許庁
The inclusion 3 can be analyzed by manufacturing the sample 1 for analysis by the manufacturing method, cutting it, and observing the cut surface by a microscope.例文帳に追加
本発明の製造方法により分析用サンプル(1)を製造し、切断し、切断面を顕微鏡により観察することにより、介在物(3)を分析できる。 - 特許庁
A moving part 420 is disposed to move on a line on a plane orthogonal to the optical axis of a microscope main body of a finite correction optical system.例文帳に追加
有限補正光学系の顕微鏡本体の光軸に対して直交する平面上で直線上に移動可能に移動部420を配設する。 - 特許庁
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