「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(122ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a color microscope in which the influence of an axial aberration of an objective lens due to the light emitted from a plurality of light sources is reduced.例文帳に追加

複数の光源から放射される光に起因した対物レンズの軸上色収差の影響を低減することのできるカラー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope having a high S/N ratio and a wide dynamic range and ensuring high speed response by restraining noise caused by return light.例文帳に追加

戻り光による雑音を抑制して高いＳ／Ｎ比と広いダイナミックレンジを有するとともに高速応答が可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope which electrically performs a tilt adjustment impossible for a person or a sample tilt mechanism to control, and achieves a precise tilt adjustment.例文帳に追加

試料傾斜機構や人間では制御できない傾斜を電気的に行い、精密な傾斜合わせを実現する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which improves a throughput, even if it is observed with a sample electrified into negative electric potential.例文帳に追加

試料を負電位に帯電させて観察を行った場合においてもスループットの向上を図ることができる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When an operation of inspecting and imaging the sample with the microscope is finished, the preparation is returned by the preparation holding hand 5 to the original position in the preparation storage magazine.例文帳に追加

ここで、顕微鏡による試料の検査・撮像が完了すると、プレパラート保持ハンド５は、前記プレパラートをプレパラート収納マガジンのもとの位置に戻す。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for a scanning electron microscope by a simple operation without damaging the sample being an observation target.例文帳に追加

観察対象の試料にダメージを与えることなく、簡単な操作で、走査電子顕微鏡用の試料を作製する方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus for surgery easily and quickly providing a suitable separation state of an illumination light and an observation light when replacing pre-lenses.例文帳に追加

前置レンズを交換するときに照明光と観察光の好適な分離状態を容易かつ迅速に得られる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

AGGLUTINATION SIMULATOR FOR CONTACT MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, AND AGGLUTINATION SIMULATION METHOD例文帳に追加

接触モード原子間力顕微鏡の凝着シミュレータ、凝着シミュレーションプログラム、凝着シミュレーションプログラムを記憶した記録媒体及び凝着シミュレーション方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method and device for a metal atom micro-structure capable of fabricating a micro-electrode of nanometer scale using an interatomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて、ナノメータスケールの微細電極を作製することができる微細金属原子構造物の作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Note that the average surface roughness Ra is measured by scanning an area of 10 μmx10 μm employing an interatomic force microscope (an AFM).例文帳に追加

ここで、平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて、１０μｍ×１０μｍの範囲を走査して測定されたものである。 - 特許庁

The inverted microscope 1 is equipped with a cell activity maintaining device 31 for maintaining the activity of the cell in a container 30 near an objective 8.例文帳に追加

倒立顕微鏡１は、対物レンズ８の近傍に、容器３０内の細胞の活性を維持するための細胞活性維持装置３１が備わっている。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of performing an observing work in accordance with observation conditions, and also, capable of easily switching the observation conditions.例文帳に追加

観察条件に合った観察作業を行うことができるとともに、これら観察条件の切換えを簡単にできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detector that is readily removable and can reduce the burden of optical adjustment, when exchanging the detector, and to provide an infrared microscope equipped with the detector.例文帳に追加

容易に着脱でき、交換の際に光学調整の負担を軽減できる検出器およびその検出器を備えた赤外顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope including a function capable of correcting easily and highly precisely a quintic spherical aberration C5, and an aberration correction method.例文帳に追加

５次球面収差Ｃ５の補正を簡単かつ高精度に行う機能を備えた走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a higher resolving power by controlling an average distance constantly between the tip part of a microwave resonator and a sample in a scan type microwave microscope.例文帳に追加

走査型マイクロ波顕微鏡におけるマイクロ波共振器の先端部と試料との間の平均距離を一定に制御して高解像度を得る。 - 特許庁

A laser scan microscope image from a reflection light is provided at the same time, or sequentially, with the scanning of the laser beam 3, with two images displayed superimposed.例文帳に追加

また、レーザビーム３の走査と同時に、または相前後して反射光によるレーザ走査顕微鏡像が取得され、２つの像が重ね合わせて表示される。 - 特許庁

A fluorescent image acquisition control part 772 controls the operation of the microscope 10 and acquires a fluorescence image by imaging fluorescence observation image of the sample.例文帳に追加

また、蛍光画像取得制御部７７２は、顕微鏡１０の動作を制御し、標本の蛍光観察像を撮像して蛍光画像を取得する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope system, the focal position is varied by a focus controlling system as an electron beam is scanned by a deflection controlling system.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置において、偏向制御系によって電子ビームを走査させながら同時に焦点制御系によって焦点位置を変化させる。 - 特許庁

The ophthalmological surgical microscope tilts the optical axis O_f of a front lens 40 by nearly half the angle formed by an observation axis O and a lighting axis L with respect to the observation axis O.例文帳に追加

前置レンズ４０の光軸Ｏ_ｆを、観察軸Ｏと照明軸Ｌとが成す角度のほぼ半分の角度だけ観察軸Ｏに対し傾斜させる。 - 特許庁

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

To provide an attachment for a cellular phone with camera or a digital camera with which the cellular phone with camera or the digital camera are used as a microscope.例文帳に追加

カメラ付き携帯電話またはデジタルカメラを顕微鏡として使用することができるカメラ付き携帯電話またはデジタルカメラ用アタッチメントを提供する。 - 特許庁

To provide a Z standard calibration specimen for accurately performing a Z calibration in a scanning electron microscope having a three- dimensional shape analyzing means.例文帳に追加

三次元形状解析手段を備えた走査電子顕微鏡において、高精度にＺ校正を行なうためのＺ標準校正試料を提供する。 - 特許庁

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT OPTICAL MICROSCOPE HAVING PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT LITHOGRAPHY DEVICE AND PROXIMITY FIELD LIGHT STORAGE DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブ、及び該近接場光プローブを有する近接場光学顕微鏡、近接場光リソグラフィー装置、近接場光ストレージ装置 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of removing fluorescent crosstalks and suppressing the time lag of respective observations by a plurality of excitation waveforms.例文帳に追加

蛍光クロストークを除去できるとともに、複数の励起波長による各々の観察の時間的遅れを抑制できる走査型レーザー顕微鏡する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) probe structure includes a cantilever (8) and a planar type tip (19) mounted on the cantilever (8) extending along its longitudinal direction (x).例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）プローブ構成は、カンチレバー（８）と、カンチレバー（８）に装着され、その長手方向（ｘ）に沿って延びるプレーナ型チップ（１９）とを備える。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of facilitating cleaning of an electrostatic chuck and reducing the attenuating non-operating time due to the stain of the electrostatic chuck.例文帳に追加

本発明は、静電チャックのクリーニングを容易にし、また静電チャック汚染による不稼働時間を低減可能な走査電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°.例文帳に追加

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

An electron beam energy analyzer (energy filter) 11 is installed to a scanning transmission type electron microscope to observe an electron beam energy loss spectrum and an element distribution image.例文帳に追加

走査透過型の電子顕微鏡に電子線エネルギー分析装置（エネルギーフィルタ）１１を備え、電子線エネルギー損失スペクトルや元素分布像を観察する。 - 特許庁

A chamber for observing the biological sample with the microscope includes a mirror at a part of or all of the bottom face of the chamber.例文帳に追加

生物学的試料を顕微鏡で観察するためのチャンバーであって、該チャンバーの底面の一部又は全体にミラーを含むことを特徴とする上記チャンバー。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of improving the reliability of observation data and analysis data and averts analysis errors due to contamination.例文帳に追加

コンタミネーションによる分析誤差を回避し、観察データや分析データの信頼性を向上させることができる電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

Firstly, the computer 50 determines the size of a pinhole which gives resolution expected as a confocal microscope from the input magnification and numerical aperture of an objective 24a.例文帳に追加

まず、入力された対物レンズ２４ａの倍率と開口数から、コンフォーカル顕微鏡として期待される分解能を与えるピンホールサイズを決定する。 - 特許庁

ELECTRON BEAM RADIATING DEVICE, AND ELECTRON BEAM DEPICTING DEVICE, SCAN-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND POINT LIGHT SOURCE-TYPE X-RAY RADIATING DEVICE USING IT例文帳に追加

電子ビーム照射装置およびこの電子ビーム照射装置を用いた電子ビーム描画装置、走査型電子顕微鏡、点光源型Ｘ線照射装置 - 特許庁

To provide a microscope use imaging apparatus capable of setting optional exposure correction to a moving picture and obtaining stable exposure accuracy.例文帳に追加

動画に対して任意の露出補正を設定することができるとともに、安定した露出精度を得られる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a total fluorescence microscope which can realize stable fluorescent observation by total reflection illumination and can improve operability.例文帳に追加

全反射照明による安定した蛍光観察を実現できるとともに、操作性の向上を図ることができる全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the microscope, a condensing mirror 10 for cathode luminescence detection arranged below the objective lens 4 is used also as a low vacuum atmosphere secondary electron amplification electrode.例文帳に追加

対物レンズ４の下面に配置されたカソードルミネッセンス検出用集光ミラー１０を、低真空雰囲気２次電子増幅用電極と兼用する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope by which three-dimensional images of good accuracy can be obtained and the color information of a sample surface can be reproduced.例文帳に追加

精度の良い三次元画像を得ることができ、さらに試料表面の色情報を再現することもできる走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Each of the lengths of the obtained hyaluronic acid fiber and chitin fiber reaches 0.5-1.0 μm by measurement by an electron microscope, and the polymerization degrees thereof are very high.例文帳に追加

得られたヒアルロン酸繊維、キチン繊維は、どちらも電子顕微鏡測定により長さが０．５〜１．０ミクロンにも達しており重合度が非常に高い。 - 特許庁

Further, either a TV camera 28 or 31 is selected and aligned on the light axis with an electron optics system maintained in a mode of a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、電子光学系を走査透過電子顕微鏡モードに維持した状態で、ＴＶカメラ２８か３１が選択されて光軸上に配置される。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, capable of detecting secondarily generated electrons from a sample with high detection efficiency by using a semi-in-lens type object lens.例文帳に追加

セミインレンズ型対物レンズを用いて高い検出効率で試料からの二次発生電子を検出することが可能な走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

This measuring method of a dimension of a register pattern consists of cooling a sample before measuring a regist pattern dimension with a scanning electron microscope.例文帳に追加

レジストパターンの寸法を走査型電子顕微鏡で測定するにあたり、試料を冷却して測定することを特徴とするレジストパターンの寸法測定方法。 - 特許庁

To provide a measuring method of a regist pattern with high accuracy by controlling the volume shrinkage of a scanning electron microscope which is caused by electron irradiation.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の電子線照射によるレジストパータンの体積収縮を抑制して、測定精度を向上し得る方法を提供する - 特許庁

A control unit 18 calculates a contrast evaluation value for each pixel for composing a plurality of microscope images of a sample 1 having a different focal position.例文帳に追加

制御部１８は、焦点位置が異なる標本１の複数の顕微鏡画像を構成する各画素についてのコントラスト評価値を算出する。 - 特許庁

To secure a real-time characteristic to display images directly after imaging, when a smoothing filter processing and an interlaced scanning are performed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、平滑フィルタ処理やインターレス走査を実行した場合に、撮像後ただちに像を表示するリアルタイム性を確保する。 - 特許庁

To provide a sample stand for a scanning electron microscope and its angle adjusting method whereby the angle of a sample can be easily and accurately adjusted.例文帳に追加

試料の角度調整を容易かつ正確に行うことができる走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。 - 特許庁