「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(122ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a liquid immersion microscope apparatus capable of precisely setting a working distance by reducing the effect of the error of attaching an adaptor to an objective lens.例文帳に追加

対物レンズに対するアダプタの取り付け誤差の影響を低減してワーキングディスタンスを精度よく設定できる液浸顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

To provide an electron microscope suitable for observing organisms and living samples under the condition that they are alive or functional.例文帳に追加

本発明は、生物，生体試料を生存或いは機能可能な状態で観察するのに好適な電子顕微鏡の提供を目的とするものである。 - 特許庁

To enable any one to simply, easily and immediately print out an enlarged image by a microscope and to view this enlarged image on the surface of a print paper.例文帳に追加

顕微鏡による拡大画像を、誰でも簡単且つ容易に、しかも直ちにプリントアウトしてその拡大画像を紙面上で見ることができるようにする。 - 特許庁

To achieve a process without overetching or insufficient etching and a process with high accuracy in surplus defect correction of a photomask by using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いたフォトマスクの余剰欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工や高精度な加工を実現する。 - 特許庁

To perform the slope adjustment of the objective lens of an optical pickup with good workability based on a beam spot image obtained by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡で取得したビームスポット画像に基づき、光ピックアップ装置の対物レンズの傾角調整を作業性良く行うことができるようにすること。 - 特許庁

To provide a radiation electron microscope which can obtain a quality electron image with a higher space resolution while preventing damage of a sample as caused by electric discharge.例文帳に追加

高い空間分解能で良質な電子像を得られ、かつ、放電による試料の損傷を防止することができる放射電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, the user observes the sample with the atomic force microscope in the observed region specified in the step S3 (step S4).例文帳に追加

その後、使用者は、ステップＳ３において指定した観察対象領域について原子間力顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a field-emission electron gun which can control the deterioration of electron emission characteristics and is low cost, and to provide an electron microscope and an electron beam exposure apparatus.例文帳に追加

電子放出特性の劣化を抑制可能であり、低コストな電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

Further, the dislocation density can be measured by counting etch pits through an optical microscope etc., and then the quality of the crystal can be evaluated.例文帳に追加

また、エッチピットの個数を光学顕微鏡などを用いて数えることで、転位密度を測定することができ、結晶の品質を評価することができる。 - 特許庁

In the differential interference microscope, the differential interference image of a sample is picked up by an imaging apparatus (11) and its video signal is output to an image processing device.例文帳に追加

本発明による微分干渉顕微鏡は、試料の微分干渉像を撮像装置(11)により撮像し、その映像信号を画像処理装置に出力する。 - 特許庁

To provide an immersion microscope objective lens that has long operation distance and has sufficiently corrected aberrations in a wide wavelength region (substantially h-line to t-line).例文帳に追加

作動距離が長く、広波長域（おおよそｈ線〜ｔ線）にわたり諸収差が良好に補正された、液浸系顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a shape measuring apparatus and a laser microscope which, even when external mechanical vibrations and acoustic vibrations are propagated, are unaffected by the external vibrations.例文帳に追加

外部からの機械振動や音響振動が伝達されても、外部振動の影響を受けない形状測定装置及びレーザ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To rapidly and accurately set an optimum retardation position in adjustment of retardation for an optical microscope having a differential interference observation function.例文帳に追加

微分干渉観察機能を有する光学顕微鏡のリタデーション調整において、最適なリタデーション位置を迅速かつ精度良く設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a photomicrographing device which can perform time-plus photography with a plurality of photographing ranges without being limited by the observation visual field of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の観察視野に制限されずに複数の撮影範囲のタイムラプス撮影を行うことができる顕微鏡写真撮影装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which can assure the required accuracy of measurement even when patterns for measurement are highly integrated or miniaturized.例文帳に追加

測定対象パターンが高集積化、微細化したときであっても、要求される測定精度を確保することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope including a function capable of correcting easily and highly precisely a quintic spherical aberration C5, and an aberration correction method.例文帳に追加

５次球面収差Ｃ５の補正を簡単かつ高精度に行う機能を備えた走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a higher resolving power by controlling an average distance constantly between the tip part of a microwave resonator and a sample in a scan type microwave microscope.例文帳に追加

走査型マイクロ波顕微鏡におけるマイクロ波共振器の先端部と試料との間の平均距離を一定に制御して高解像度を得る。 - 特許庁

A laser scan microscope image from a reflection light is provided at the same time, or sequentially, with the scanning of the laser beam 3, with two images displayed superimposed.例文帳に追加

また、レーザビーム３の走査と同時に、または相前後して反射光によるレーザ走査顕微鏡像が取得され、２つの像が重ね合わせて表示される。 - 特許庁

A fluorescent image acquisition control part 772 controls the operation of the microscope 10 and acquires a fluorescence image by imaging fluorescence observation image of the sample.例文帳に追加

また、蛍光画像取得制御部７７２は、顕微鏡１０の動作を制御し、標本の蛍光観察像を撮像して蛍光画像を取得する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope system, the focal position is varied by a focus controlling system as an electron beam is scanned by a deflection controlling system.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置において、偏向制御系によって電子ビームを走査させながら同時に焦点制御系によって焦点位置を変化させる。 - 特許庁

The ophthalmological surgical microscope tilts the optical axis O_f of a front lens 40 by nearly half the angle formed by an observation axis O and a lighting axis L with respect to the observation axis O.例文帳に追加

前置レンズ４０の光軸Ｏ_ｆを、観察軸Ｏと照明軸Ｌとが成す角度のほぼ半分の角度だけ観察軸Ｏに対し傾斜させる。 - 特許庁

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

To provide an attachment for a cellular phone with camera or a digital camera with which the cellular phone with camera or the digital camera are used as a microscope.例文帳に追加

カメラ付き携帯電話またはデジタルカメラを顕微鏡として使用することができるカメラ付き携帯電話またはデジタルカメラ用アタッチメントを提供する。 - 特許庁

To provide a Z standard calibration specimen for accurately performing a Z calibration in a scanning electron microscope having a three- dimensional shape analyzing means.例文帳に追加

三次元形状解析手段を備えた走査電子顕微鏡において、高精度にＺ校正を行なうためのＺ標準校正試料を提供する。 - 特許庁

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT OPTICAL MICROSCOPE HAVING PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT LITHOGRAPHY DEVICE AND PROXIMITY FIELD LIGHT STORAGE DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブ、及び該近接場光プローブを有する近接場光学顕微鏡、近接場光リソグラフィー装置、近接場光ストレージ装置 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of removing fluorescent crosstalks and suppressing the time lag of respective observations by a plurality of excitation waveforms.例文帳に追加

蛍光クロストークを除去できるとともに、複数の励起波長による各々の観察の時間的遅れを抑制できる走査型レーザー顕微鏡する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) probe structure includes a cantilever (8) and a planar type tip (19) mounted on the cantilever (8) extending along its longitudinal direction (x).例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）プローブ構成は、カンチレバー（８）と、カンチレバー（８）に装着され、その長手方向（ｘ）に沿って延びるプレーナ型チップ（１９）とを備える。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of facilitating cleaning of an electrostatic chuck and reducing the attenuating non-operating time due to the stain of the electrostatic chuck.例文帳に追加

本発明は、静電チャックのクリーニングを容易にし、また静電チャック汚染による不稼働時間を低減可能な走査電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°.例文帳に追加

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

An electron beam energy analyzer (energy filter) 11 is installed to a scanning transmission type electron microscope to observe an electron beam energy loss spectrum and an element distribution image.例文帳に追加

走査透過型の電子顕微鏡に電子線エネルギー分析装置（エネルギーフィルタ）１１を備え、電子線エネルギー損失スペクトルや元素分布像を観察する。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope capable of acquiring a fluorescent image good in contrast by effectively intercepting stray light from the periphery of a sample and to provide a shading member.例文帳に追加

試料周囲からの迷光を効果的に遮断し、コントラストの良い蛍光像を得ることができる蛍光顕微鏡および遮光部材を提供する。 - 特許庁

To provide a low-vacuum observation scanning electron microscope having a function for observing a sample under low vacuum in an optimum condition.例文帳に追加

低真空状態で試料を最適な状態で観察できる機能を備えた低真空観察用走査電子顕微鏡電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide electron beam devices such as a scanning electron microscope and an electron beam drawing device wherein influences of an atmospheric pressure fluctuation and a low-frequency sound are eliminated.例文帳に追加

大気圧の変動、低周波音による影響を除去した走査電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子ビーム装置を実現する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope by which total reflection fluorescence observation having sufficient brightness and excellent contrast is performed by enhancing the use efficiency of illuminating light.例文帳に追加

照明光の利用効率を高め、十分な明るさで、コントラストのよい全反射蛍光観察を可能にした全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the microscope, a condensing mirror 10 for cathode luminescence detection arranged below the objective lens 4 is used also as a low vacuum atmosphere secondary electron amplification electrode.例文帳に追加

対物レンズ４の下面に配置されたカソードルミネッセンス検出用集光ミラー１０を、低真空雰囲気２次電子増幅用電極と兼用する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope by which three-dimensional images of good accuracy can be obtained and the color information of a sample surface can be reproduced.例文帳に追加

精度の良い三次元画像を得ることができ、さらに試料表面の色情報を再現することもできる走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Each of the lengths of the obtained hyaluronic acid fiber and chitin fiber reaches 0.5-1.0 μm by measurement by an electron microscope, and the polymerization degrees thereof are very high.例文帳に追加

得られたヒアルロン酸繊維、キチン繊維は、どちらも電子顕微鏡測定により長さが０．５〜１．０ミクロンにも達しており重合度が非常に高い。 - 特許庁

Further, either a TV camera 28 or 31 is selected and aligned on the light axis with an electron optics system maintained in a mode of a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、電子光学系を走査透過電子顕微鏡モードに維持した状態で、ＴＶカメラ２８か３１が選択されて光軸上に配置される。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, capable of detecting secondarily generated electrons from a sample with high detection efficiency by using a semi-in-lens type object lens.例文帳に追加

セミインレンズ型対物レンズを用いて高い検出効率で試料からの二次発生電子を検出することが可能な走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

This measuring method of a dimension of a register pattern consists of cooling a sample before measuring a regist pattern dimension with a scanning electron microscope.例文帳に追加

レジストパターンの寸法を走査型電子顕微鏡で測定するにあたり、試料を冷却して測定することを特徴とするレジストパターンの寸法測定方法。 - 特許庁

To provide a measuring method of a regist pattern with high accuracy by controlling the volume shrinkage of a scanning electron microscope which is caused by electron irradiation.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の電子線照射によるレジストパータンの体積収縮を抑制して、測定精度を向上し得る方法を提供する - 特許庁

A control unit 18 calculates a contrast evaluation value for each pixel for composing a plurality of microscope images of a sample 1 having a different focal position.例文帳に追加

制御部１８は、焦点位置が異なる標本１の複数の顕微鏡画像を構成する各画素についてのコントラスト評価値を算出する。 - 特許庁

To secure a real-time characteristic to display images directly after imaging, when a smoothing filter processing and an interlaced scanning are performed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、平滑フィルタ処理やインターレス走査を実行した場合に、撮像後ただちに像を表示するリアルタイム性を確保する。 - 特許庁

To provide a sample stand for a scanning electron microscope and its angle adjusting method whereby the angle of a sample can be easily and accurately adjusted.例文帳に追加

試料の角度調整を容易かつ正確に行うことができる走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。 - 特許庁