「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(125ページ目) - Weblio英語例文検索

The pattern matching method and apparatus for carrying out pattern matching between design data and the image taken by a scanning electron microscope converts the design data into a bitmap, and carries out the matching between the bitmapped design data and the image taken by a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データをビットマップに変換して、当該ビットマップ化された設計データと、走査型電子顕微鏡によって取得された画像とのマッチングを行うことを特徴とする。 - 特許庁

To reduce the measuring error of film thickness and to suppress width irregularity at every work, in setting a cross section by a frozen section method when the cross section of a sheet-like sample is observed or the thickness thereof is measured by an electron microscope or an optical microscope, by enhancing the workability at time of the vertical setting of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。 - 特許庁

Corner dovetails 411a and 411b fit in the dovetail grooves 11b and 11c of the main body 10 of the microscope for study are respectively provided in a revolver main body part 411, and a female screw 411d attached to the main body 10A of the general microscope by using a coupling part 80 is provided in the main body part 411.例文帳に追加

レボルバ本体部４１１には、研究用顕微鏡本体１０のアリ溝１１ｂ，１１ｃに嵌合される角アリ４１１ａ，４１１ｂがそれぞれ設けられるとともに、連結部品８０を使用して一般用顕微鏡本体１０Ａに取り付けるためのメスネジ４１１ｄが設けられている。 - 特許庁

To provide a microscopic image processing device capable of specifying an optical device such as a fluorescent cube set in a fluorescence microscope based on a result of detection of an imaging apparatus for imaging a sample observed by the fluorescence microscope, and a microscopic image processing program and a microscopic image processing method.例文帳に追加

蛍光顕微鏡により観察される試料を撮像する撮像装置の検出結果に基づいて、蛍光顕微鏡にセットされる蛍光キューブなどの光学素子を特定することが可能な顕微鏡画像処理装置、顕微鏡画像処理プログラムおよび顕微鏡画像処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

The optical fiber end face observation microscope 10 which is capable of easily changing the direction of the front end projected from a fiber holder 14 of the optical fiber 13 fixed to the fiber holder 14 with respect to a microscope body 12 by rotating a holder holding section 15 for holding the fiber holder 14 by a direction changing mechanism 20.例文帳に追加

ファイバホルダ１４を保持するホルダ保持部１５を向き変更機構２０によって回転することで、前記ファイバホルダ１４に固定された光ファイバ１３の前記ファイバホルダ１４から突出された先端の顕微鏡本体１２に対する向きを容易に変更できる光ファイバ端面観察顕微鏡１０を提供する。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁

The recipe preparation apparatus and method highly accurately measure the dimension without using the scanning electron microscope by rotating the design data of an oblique semiconductor element, changing an aspect ratio for the design data of an elongate semiconductor element and preparing the recipe in something other than the scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明では、走査型電子顕微鏡以外で、斜めの半導体素子の設計データに対して回転，細長い半導体素子のデザインデータに対して縦横比を変えてレシピを作成することにより、走査型電子顕微鏡を使用しないで、高精度に寸法測定するレシピ作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of observing reactions of light stimulation and fluorescence discoloration in real time by adding a function for performing the light stimulation to a Nipkow disk system confocal microscope, and adjusting a focal position in the optical axis direction of the spot of the light beam for stimulation that is concentrated on a sample.例文帳に追加

ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加することにより、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察可能とすると共に、試料上に集光させる刺激用光ビームのスポットの光軸方向焦点位置を調節することができる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

A PC 110 determines correction amount for the optical aberration caused by the thickness of the cover glass for protecting the sample 105 or the holding member for holding the sample and having transmittance based on a distance between the sample 105 arranged in the microscope 100 and the objective lens 104 of the microscope 100.例文帳に追加

ＰＣ１１０は、顕微鏡１００に配置された試料１０５と顕微鏡１００の有する対物レンズ１０４との間の距離に基づいて、試料１０５を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定する。 - 特許庁

To provide a microscope with a stand that can compensate (equilibrating, decay compensation) for vibrations not only in the X and Y axes but also in the Z axis, i.e. three-dimensionally.例文帳に追加

Ｘ軸及びＹ軸だけでなくＺ軸に関しても、即ち３次元的に振動の補償（平衡化、減衰補正）を実行することが可能な架台を有する顕微鏡。 - 特許庁

To provide a microscope wherein the excellent field of illumination in both of low magnification observation and high magnification observation is secured without requiring optical axis adjustment.例文帳に追加

低倍率観察時及び高倍率観察時の双方における良好な照野を、光軸調整を要することなく確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a microscope which makes it possible to simply and plainly display the optical information which an operator wants to display without making the operator undergo an excessive operational procedure.例文帳に追加

操作者に余分な操作手順をさせることなく、操作者が表示を望む光学情報を、簡易に、かつ分かりやすく表示できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope which is easily constituted, and is inexpensive, whose power consumption is reduced and where heat generation from a light source can be reduced to a low level.例文帳に追加

装置を簡単に構成でき安価で、しかも消費電力を低減できるとともに、光源からの発熱も小さくできる紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A conveyance control part 32 causes a TAB tape 10 to be conveyed to a position where a piece determined to be defective at a pattern inspection device 6 is photographed by a microscope 24.例文帳に追加

搬送制御部３２は、パターン検査装置６で不良品と判定されたピースを顕微鏡２４で撮影できる位置までＴＡＢテープ１０を搬送する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of irradiating only the region required to be observed of a sample with illumination light, thereby extending the latitude of a ROI (Region Of Interest) designation.例文帳に追加

標本の観察必要領域に限定して照明光を照射することを可能にし、ＲＯＩ指定の自由度が広い焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a dark field illumination device to be post mounted to a microscope, which is low-cost and has no constitution for dark field illumination.例文帳に追加

本発明の目的は、安価でかつ、もともと暗視野照明のための構成をもたない顕微鏡に後付けが可能な暗視野照明装置を提供することにある。 - 特許庁

The slide 1 has openings of the cell cavities 4 on the surface of the slide 1 to introduce a cell, and a transparent plane on the bottom of the cell cavities 4 for the observation by a microscope.例文帳に追加

スライド１は、スライド１の表面側に細胞を入れるセル孔４の開口を有し、セル孔４の底部に顕微鏡によって観察するための透視面を有する。 - 特許庁

Driving mechanisms including a motor drive revolver 110, aperture-stop switching device 120, etc., disposed in the microscope 100 are driven by a drive member (a drive motor 121, etc.).例文帳に追加

顕微鏡１００内に設けられた電動レボルバ装置１１０、開口絞り開閉装置１２０等の駆動機構は、駆動部（駆動モータ１２１等）によって駆動される。 - 特許庁

The microscope system is provided with a memory unit for memorizing the focal position and a reset detecting unit for detecting specific operation in order to reset content of memory in the memory unit.例文帳に追加

合焦位置を記憶するための記憶部と、記憶部の記憶内容をリセットするために特定の動作を検出するリセット検出部とを備える構成とする。 - 特許庁

An X-ray microscope includes a wide range X-ray source, and a means for arranging a testing object 3 and a recording means, and an X-ray capillary lens is arranged therebetween.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡は、広域Ｘ線源と、テスト物体３および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にＸ線キャピラリレンズが配置される。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

A velocity of circular motion is increased to observe by a microscope 30 that the particle 16 is separated from the convergence position 10, so as to specify a separation time by a specifying switch 32.例文帳に追加

円運動の速度を増大させ、粒子１６が集光位置１０から離脱することを顕微鏡３０によって観察し、特定スイッチ３２で離脱時を特定する。 - 特許庁

The composition comprises the following (A) to (C) ingredients; (A) ceramic particles having a number average particle size of 0.01-0.5 μm by an electron microscope method, (B) a compound containing polymerizable functional groups and (C) a photopolymerization initiator.例文帳に追加

（Ａ）電子顕微鏡法による数平均粒径が０．０１〜０．５μｍのセラミックス粒子、 （Ｂ）重合性官能基を有する化合物、及び （Ｃ）光重合開始剤 - 特許庁

To adjust a positional relation between an aperture member and a modulator to gain superior contrast, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材とモジュレータとの位置関係を調整し良好なコントラストを得ることを目的とする。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF BOUND STATE AND AGGREGATE STATE (PATTERN) OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION AND SUSPENDED MATTER PATTERN IMAGING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態（模様）の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を使用した懸濁物質の模様の撮影方法 - 特許庁

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument.例文帳に追加

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device such as an electron scanning microscope to construct a three-dimensional image (stereoscopic image) from an image obtained by the beam inclination of a right/left disparity angle.例文帳に追加

左右視差角分のビーム傾斜により得られる画像から立体画像（ステレオ画像）を構築する走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To continuously perform measurements without having to remove foreign matter from a probe tip part nor replace a cantilever even if foreign matter has adhered to a probe tip in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡において、プローブ尖端へ異物が付着しても、異物をプローブ尖端部から除去してカンチレバー交換をすることなく測定を継続可能とすること。 - 特許庁

To provide a remote drive type optical microscope device for photographing the metallic structure and the defects of an inner surface of small diameter piping which a person cannot access and for enabling immediate observation.例文帳に追加

人がアクセスできない小径配管内面の金属組織や欠陥を撮影し、即刻観察できる遠隔駆動式光学顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of observing testpieces wherein charged amount of the observation position can be controlled stably to a desired one, and provide an electron microscope by which this can be realized.例文帳に追加

観察箇所の帯電量を所望の帯電量に安定して制御することができる試料観察方法、及びそれを実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type confocal laser microscope by which an exact observation image is acquired even in an observation specimen containing transmissive substance through which a laser beam is transmitted.例文帳に追加

レーザ光を透過する透過物質を含む観察試料に対しても正確な観察画像を取得できる走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Light emitted from the light source 100 is made incident on an optical fiber 202 after passing through an incident lens unit 200 and is guided to a microscope 300 by the optical fiber 202.例文帳に追加

光源１００から出射した光は入射レンズユニット２００を通過後，光ファイバ２０２に入射し，光ファイバ２０２により顕微鏡３００まで導光される。 - 特許庁

To obtain an immersion system condenser lens for a microscope whose spherical aberration is completely corrected even when NA is ≥1.4 so as to realize total reflection illumination.例文帳に追加

顕微鏡用液浸系コンデンサーレンズであって、全反射照明を可能にするために、ＮＡが１．４以上であっても十分に球面収差が補正されるようにする。 - 特許庁

In this substrate inspection device 1, a microscope unit 32 is loaded movably on a guide member 30 parallel to the X-direction which is a conveyance direction of a substrate W.例文帳に追加

基板検査装置１は、基板Ｗの搬送方向であるＸ方向に平行なガイド部材３０に顕微鏡ユニット３２が移動自在に搭載されている。 - 特許庁

To provide a sample-attaching and detaching mechanism of a sample- forming apparatus for an electron microscope which can safely and easily set or take out samples to a sample holder.例文帳に追加

安全かつ容易に、試料ホルダへ試料をセット又は取り出すことが可能な電子顕微鏡用試料作成装置の試料着脱機構を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scan microscope securing coupling without loss and aberration for the inside of an adaptive optical system illumination optical path and/or the inside of a detection optical path.例文帳に追加

走査顕微鏡を、適応光学系の照明光路内及び、又は検出光路内への、損出のない、収差のない結合が保証されるように改良する。 - 特許庁

To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage.例文帳に追加

試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。 - 特許庁

The operation is performed by use of the scanning probe microscope including a probe the surface of which is modified with the biological relevant substance and a mechanism for detecting a generated heat.例文帳に追加

探針の表面が生体関連物質で修飾され、かつ、発生した熱量を検出する機構を有する走査型プローブ顕微鏡を用いて上記の操作を行う。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device capable of obtaining both of the fluorescent image and bright-field image of a cell by one and the same camera, with simple structure.例文帳に追加

簡易な構造により、同じカメラで、細胞の蛍光画像と明視野画像の両方を取得できる共焦点顕微鏡装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

In order to solve the problems, a device is proposed in which a prescribed treatment is carried out by a line as a unit (scanning line as a unit) when an image is processed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

上記課題を解決するために、走査電子顕微鏡の画像処理に際し、ライン単位（走査線単位）で所定の処理を実施する装置を提案する。 - 特許庁

The image is read by a camera (20) during the relative motion and a microscope controller (4) and a computer (6) are disposed for the purpose of evaluating and determining the focal position.例文帳に追加

画像が相対運動中にカメラ（２０）によって読み込まれ、顕微鏡制御装置（４）およびコンピュータ（６）が、焦点位置の評価および決定のために設けられる。 - 特許庁

To perform position alignment of a mask and a work piece by detecting two alignment marks located outside the depth of focus range without moving an alignment microscope in an optical axis direction.例文帳に追加

アライメント顕微鏡を光軸方向に移動させることなく、焦点深度範囲外にある２つのアライメントマークを検出しマスクとワークの位置合せをすること。 - 特許庁

To provide a resolution evaluation chart for a fluorescence microscope which is capable of coping with a light source having a wide wavelength region and is continuously usable, and a method of manufacturing the chart.例文帳に追加

幅広い波長領域の光源に対応でき継続的に使用可能な蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.例文帳に追加

共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁