「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(125ページ目) - Weblio英語例文検索

A laser microscope including an objective lens 5 and a laser head 6 is installed on the surface plate 3, and the laser microscope is arranged on roughly the same horizontal plane as the XY stage 2, and the objective lens 5 is arranged on the bottom surface of the recessed part 3a of the surface plate 3 so as to be faced to the under surface of the photomask 1 through the opening part 22d.例文帳に追加

また、定盤３上に対物レンズ５及びレーザヘッド６を含むレーザ顕微鏡を設け、このレーザ顕微鏡をＸＹステージ２とほぼ同一水平面上に配置し、対物レンズ５をフォトマスク１の下面に開口部２２ｄを介して対向するように定盤３の凹部３ａの底面上に配置する。 - 特許庁

This light signal analyzer has a laser 10 for emitting excitation light, a microscope part 30 for acquiring light from the sample S, a fluorescence extracting part 20 for extracting fluorescence from the light acquired by the microscope part 30, and a processing part 40 for processing the fluorescence extracted by the fluorescence extracting part 20.例文帳に追加

光信号分析装置は、励起光を発するレーザー１０と、試料Ｓからの光を取得する顕微鏡部３０と、顕微鏡部３０で取得した光から蛍光を抽出する蛍光抽出部２０と、蛍光抽出部２０で抽出された蛍光を処理する処理部４０とを有している。 - 特許庁

The surgical microscope system 1 comprises a surgical microscope 7 for providing the microscopic image of an operation site, a (cofocus) light scanning probe 2 for providing the cofocus optical image for a subject, an observation device 3 for processing an image, and a navigation device 5 for detecting the observation position of the light scanning probe 2.例文帳に追加

手術用顕微鏡装置１は、手術部位の顕微鏡画像を得る手術用顕微鏡７と、被検体に対して共焦点光学像を得るための（共焦点）光走査プローブ２と、画像処理などを行う観測装置３と、前記光走査プローブ２の観察位置を検出するナビゲーション装置５とを有する。 - 特許庁

To provide a microscope for operation by which image information is given an operator according to operating situations, through a single or combined display of image information concerning endoscopic examination, microscope by a navigation device, position of endoscopic examination, or direction of endoscopic examination.例文帳に追加

内視鏡観察画像、ナビゲーション装置による顕微鏡、内視鏡観察位置の画像情報、さらには内視鏡観察方向等の画像情報を各々単独または任意に組み合わせて表示し、術者が手術状況に応じて画像情報が得られる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a digital camera for a microscope which is equipped with an objective lens whose observation magnification is variable and which is capable of performing correction processing for removing a systematic error or a random error in order to obtain an optimum image for every objective lens, at every observation magnification and in every microscope system.例文帳に追加

観察倍率が可変である対物レンズを備える顕微鏡のために使用するデジタルカメラであって、対物レンズごと、観察倍率ごと、さらには検鏡方式ごとに最適な画像を得るために、系統的誤差やランダム誤差を除去する補正処理を行うことが出来る顕微鏡用デジタルカメラ等を提供すること。 - 特許庁

To improve operability by making focusing part-moving speed with respect to the revolving speed of the manual focusing part moving operation handle of a microscope to correspond widely to the depth of focus and the focal distance of an objective lens and widely switching the speed, even in the midst of microscope operation, without releasing a hand from the operation handle.例文帳に追加

顕微鏡の手動式焦準部移動操作ハンドルの回転数に対する焦準部移動速度を、対物レンズの焦点深度や焦点距離に幅広く対応すると共に、操作ハンドルから手を放さず、検鏡中にも幅広い速度切換えを可能とすることで、操作性の向上を図る。 - 特許庁

This microscope is provided with optical devices 13 and 14 bending luminous flux from an objective lens 6 and guiding it to an observation part 8, inside covers 16 and 17 attached to a microscope frame 1, supporting the devices 13 and 14 and shading the external light, and the light unshading outside covers 21 and 22 covering over the cover 16 and 17.例文帳に追加

対物レンズ６からの光束を折り曲げて観察部８に導く光学素子１３、１４と、顕微鏡フレーム１に取り付けられ、前記光学素子１３、１４を支持し、外光を遮光する内カバー１６、１７と、前記内カバー１６、１７を覆う非遮光性の外カバー２１、２２とを有する。 - 特許庁

The printer includes a recording head which jets an ink from the nozzle opening formed in a nozzle formation surface; a microscope 42 constituted to be relatively movable to the nozzle formation surface; and a driving motor 28, a lead screw 30 and a moving member 34 as a moving mechanism for relatively moving the microscope 42 to the nozzle formation surface.例文帳に追加

プリンタは、ノズル形成面に形成されたノズル開口からインクを噴射する記録ヘッドと、ノズル形成面に対して相対移動可能に構成されたマイクロスコープ４２と、マイクロスコープ４２をノズル形成面に対して相対移動させるための移動機構としての駆動モータ２８、リードスクリュ３０及び移動部材３４を備えた。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁

The recipe preparation apparatus and method highly accurately measure the dimension without using the scanning electron microscope by rotating the design data of an oblique semiconductor element, changing an aspect ratio for the design data of an elongate semiconductor element and preparing the recipe in something other than the scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明では、走査型電子顕微鏡以外で、斜めの半導体素子の設計データに対して回転，細長い半導体素子のデザインデータに対して縦横比を変えてレシピを作成することにより、走査型電子顕微鏡を使用しないで、高精度に寸法測定するレシピ作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of observing reactions of light stimulation and fluorescence discoloration in real time by adding a function for performing the light stimulation to a Nipkow disk system confocal microscope, and adjusting a focal position in the optical axis direction of the spot of the light beam for stimulation that is concentrated on a sample.例文帳に追加

ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加することにより、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察可能とすると共に、試料上に集光させる刺激用光ビームのスポットの光軸方向焦点位置を調節することができる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

A PC 110 determines correction amount for the optical aberration caused by the thickness of the cover glass for protecting the sample 105 or the holding member for holding the sample and having transmittance based on a distance between the sample 105 arranged in the microscope 100 and the objective lens 104 of the microscope 100.例文帳に追加

ＰＣ１１０は、顕微鏡１００に配置された試料１０５と顕微鏡１００の有する対物レンズ１０４との間の距離に基づいて、試料１０５を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定する。 - 特許庁

A velocity of circular motion is increased to observe by a microscope 30 that the particle 16 is separated from the convergence position 10, so as to specify a separation time by a specifying switch 32.例文帳に追加

円運動の速度を増大させ、粒子１６が集光位置１０から離脱することを顕微鏡３０によって観察し、特定スイッチ３２で離脱時を特定する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device such as an electron scanning microscope to construct a three-dimensional image (stereoscopic image) from an image obtained by the beam inclination of a right/left disparity angle.例文帳に追加

左右視差角分のビーム傾斜により得られる画像から立体画像（ステレオ画像）を構築する走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

The composition comprises the following (A) to (C) ingredients; (A) ceramic particles having a number average particle size of 0.01-0.5 μm by an electron microscope method, (B) a compound containing polymerizable functional groups and (C) a photopolymerization initiator.例文帳に追加

（Ａ）電子顕微鏡法による数平均粒径が０．０１〜０．５μｍのセラミックス粒子、 （Ｂ）重合性官能基を有する化合物、及び （Ｃ）光重合開始剤 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF BOUND STATE AND AGGREGATE STATE (PATTERN) OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION AND SUSPENDED MATTER PATTERN IMAGING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態（模様）の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を使用した懸濁物質の模様の撮影方法 - 特許庁

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument.例文帳に追加

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To adjust a positional relation between an aperture member and a modulator to gain superior contrast, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材とモジュレータとの位置関係を調整し良好なコントラストを得ることを目的とする。 - 特許庁

The microscope system is provided with a memory unit for memorizing the focal position and a reset detecting unit for detecting specific operation in order to reset content of memory in the memory unit.例文帳に追加

合焦位置を記憶するための記憶部と、記憶部の記憶内容をリセットするために特定の動作を検出するリセット検出部とを備える構成とする。 - 特許庁

An X-ray microscope includes a wide range X-ray source, and a means for arranging a testing object 3 and a recording means, and an X-ray capillary lens is arranged therebetween.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡は、広域Ｘ線源と、テスト物体３および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にＸ線キャピラリレンズが配置される。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

The illumination system 8 of a slit-lamp microscope (stereomicroscope) 1 is turnable in right and left directions and projects illumination light passed through an illumination diaphragm 56 to an eye to be examined.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡（実体顕微鏡）１の照明系８は、左右方向に回動可能とされ、照明絞り５６を経由した照明光を被検眼に投射する。 - 特許庁

An observed image of the phase-difference microscope is analyzed to regard as an optimum focus point the position where the sizes and number of images of an observed solid body are maximum.例文帳に追加

位相差顕微鏡の観測像を画像解析して、観測される個体の像影の大きさおよび像影の個数が最大となる位置を最適フォーカス位置とした。 - 特許庁

To perform position alignment of a mask and a work piece by detecting two alignment marks located outside the depth of focus range without moving an alignment microscope in an optical axis direction.例文帳に追加

アライメント顕微鏡を光軸方向に移動させることなく、焦点深度範囲外にある２つのアライメントマークを検出しマスクとワークの位置合せをすること。 - 特許庁

To provide a resolution evaluation chart for a fluorescence microscope which is capable of coping with a light source having a wide wavelength region and is continuously usable, and a method of manufacturing the chart.例文帳に追加

幅広い波長領域の光源に対応でき継続的に使用可能な蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.例文帳に追加

共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the shape and the property of the sample surface by preventing growth of ice on the sample surface at the sample cooling time.例文帳に追加

試料冷却時に試料面の氷の成長を防止して試料面の形状、及び物性を測定することを可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning capacitance microscope(SCM) with which a p-n junction position in a semiconductor sample can be specified with high detection sensitivity and to provide a measuring method using the SCM.例文帳に追加

半導体試料中のｐ−ｎ接合位置を高い検出感度で特定できる走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）とそれを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁

To continuously perform measurements without having to remove foreign matter from a probe tip part nor replace a cantilever even if foreign matter has adhered to a probe tip in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡において、プローブ尖端へ異物が付着しても、異物をプローブ尖端部から除去してカンチレバー交換をすることなく測定を継続可能とすること。 - 特許庁

To provide a remote drive type optical microscope device for photographing the metallic structure and the defects of an inner surface of small diameter piping which a person cannot access and for enabling immediate observation.例文帳に追加

人がアクセスできない小径配管内面の金属組織や欠陥を撮影し、即刻観察できる遠隔駆動式光学顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of observing testpieces wherein charged amount of the observation position can be controlled stably to a desired one, and provide an electron microscope by which this can be realized.例文帳に追加

観察箇所の帯電量を所望の帯電量に安定して制御することができる試料観察方法、及びそれを実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type confocal laser microscope by which an exact observation image is acquired even in an observation specimen containing transmissive substance through which a laser beam is transmitted.例文帳に追加

レーザ光を透過する透過物質を含む観察試料に対しても正確な観察画像を取得できる走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Light emitted from the light source 100 is made incident on an optical fiber 202 after passing through an incident lens unit 200 and is guided to a microscope 300 by the optical fiber 202.例文帳に追加

光源１００から出射した光は入射レンズユニット２００を通過後，光ファイバ２０２に入射し，光ファイバ２０２により顕微鏡３００まで導光される。 - 特許庁

To obtain an immersion system condenser lens for a microscope whose spherical aberration is completely corrected even when NA is ≥1.4 so as to realize total reflection illumination.例文帳に追加

顕微鏡用液浸系コンデンサーレンズであって、全反射照明を可能にするために、ＮＡが１．４以上であっても十分に球面収差が補正されるようにする。 - 特許庁

In this substrate inspection device 1, a microscope unit 32 is loaded movably on a guide member 30 parallel to the X-direction which is a conveyance direction of a substrate W.例文帳に追加

基板検査装置１は、基板Ｗの搬送方向であるＸ方向に平行なガイド部材３０に顕微鏡ユニット３２が移動自在に搭載されている。 - 特許庁

To provide a sample-attaching and detaching mechanism of a sample- forming apparatus for an electron microscope which can safely and easily set or take out samples to a sample holder.例文帳に追加

安全かつ容易に、試料ホルダへ試料をセット又は取り出すことが可能な電子顕微鏡用試料作成装置の試料着脱機構を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scan microscope securing coupling without loss and aberration for the inside of an adaptive optical system illumination optical path and/or the inside of a detection optical path.例文帳に追加

走査顕微鏡を、適応光学系の照明光路内及び、又は検出光路内への、損出のない、収差のない結合が保証されるように改良する。 - 特許庁

To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage.例文帳に追加

試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。 - 特許庁

The operation is performed by use of the scanning probe microscope including a probe the surface of which is modified with the biological relevant substance and a mechanism for detecting a generated heat.例文帳に追加

探針の表面が生体関連物質で修飾され、かつ、発生した熱量を検出する機構を有する走査型プローブ顕微鏡を用いて上記の操作を行う。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device capable of obtaining both of the fluorescent image and bright-field image of a cell by one and the same camera, with simple structure.例文帳に追加

簡易な構造により、同じカメラで、細胞の蛍光画像と明視野画像の両方を取得できる共焦点顕微鏡装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the process surface is corrected to the opposite direction by a biaxial tilt stage provided in the atomic force microscope scanner system so as to flatten the processed figure.例文帳に追加

もしくは加工面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで反対方向に補正することで加工形状が平らになるようにする。 - 特許庁

Since the line-and-space pattern P is a periodical pattern, it has high visibility for visual check with an optical microscope, and the region for inspection of defects can be defined.例文帳に追加

さらに、ラインアンドスペースパターンＰは、周期パターンであるため、光学顕微鏡を使って目視した場合に視認性が高く、欠陥検査領域を明確にすることができる。 - 特許庁

When measuring a positional relationship between a first lot wafer and a reticle, a reticle microscope is focused (step 412), and its state is stored (step 414).例文帳に追加

ロット先頭のウエハとレチクルとの位置関係の計測を行うに際して、レチクル顕微鏡の合焦動作を行い（ステップ４１２）、その状態を記憶する（ステップ４１４）。 - 特許庁

To provide a condenser lens for a microscope which secure a high numerical aperture (≥0.75) and a relatively long working distance (≥0.4f), while suppressing the aberrations of the visual field and aberrations of pupil.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズは、視野の収差と瞳の収差とを抑えつつ、高開口数（０．７５以上）かつ比較的長い作動距離（０．４ｆ以上）を確保する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe for microscopic operation which is surely sterilizable and excellent in operability under a microscope and can provide an ultrasonic image of high resolution.例文帳に追加

滅菌を確保することが可能で、顕微鏡下での操作性に優れかつ高分解能の超音波画像を得られる顕微鏡下手術用超音波プローブを提供すること。 - 特許庁