「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(125ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a vibration method of a cantilever for a scanning probe microscope including an excitation mechanism capable of vibrating the cantilever efficiently, capable of suppressing a noise of a displacement detection mechanism, suppressing a vibration noise of a member, and performing measurement having high resolution, concerning a scanning probe microscope in a vibration system.例文帳に追加

振動方式の走査型プローブ顕微鏡において、効率的にカンチレバーを振動させることができる加振機構を備え、変位検出機構のノイズを抑制するとともに、部材の振動ノイズを抑え、分解能の高い測定が可能となるような走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the measuring error of film thickness and to suppress width irregularity at every work, in setting a cross section by a frozen section method when the cross section of a sheet-like sample is observed or the thickness thereof is measured by an electron microscope or an optical microscope, by enhancing the workability at time of the vertical setting of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。 - 特許庁

Corner dovetails 411a and 411b fit in the dovetail grooves 11b and 11c of the main body 10 of the microscope for study are respectively provided in a revolver main body part 411, and a female screw 411d attached to the main body 10A of the general microscope by using a coupling part 80 is provided in the main body part 411.例文帳に追加

レボルバ本体部４１１には、研究用顕微鏡本体１０のアリ溝１１ｂ，１１ｃに嵌合される角アリ４１１ａ，４１１ｂがそれぞれ設けられるとともに、連結部品８０を使用して一般用顕微鏡本体１０Ａに取り付けるためのメスネジ４１１ｄが設けられている。 - 特許庁

To provide a microscopic image processing device capable of specifying an optical device such as a fluorescent cube set in a fluorescence microscope based on a result of detection of an imaging apparatus for imaging a sample observed by the fluorescence microscope, and a microscopic image processing program and a microscopic image processing method.例文帳に追加

蛍光顕微鏡により観察される試料を撮像する撮像装置の検出結果に基づいて、蛍光顕微鏡にセットされる蛍光キューブなどの光学素子を特定することが可能な顕微鏡画像処理装置、顕微鏡画像処理プログラムおよび顕微鏡画像処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

The optical fiber end face observation microscope 10 which is capable of easily changing the direction of the front end projected from a fiber holder 14 of the optical fiber 13 fixed to the fiber holder 14 with respect to a microscope body 12 by rotating a holder holding section 15 for holding the fiber holder 14 by a direction changing mechanism 20.例文帳に追加

ファイバホルダ１４を保持するホルダ保持部１５を向き変更機構２０によって回転することで、前記ファイバホルダ１４に固定された光ファイバ１３の前記ファイバホルダ１４から突出された先端の顕微鏡本体１２に対する向きを容易に変更できる光ファイバ端面観察顕微鏡１０を提供する。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁

The recipe preparation apparatus and method highly accurately measure the dimension without using the scanning electron microscope by rotating the design data of an oblique semiconductor element, changing an aspect ratio for the design data of an elongate semiconductor element and preparing the recipe in something other than the scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明では、走査型電子顕微鏡以外で、斜めの半導体素子の設計データに対して回転，細長い半導体素子のデザインデータに対して縦横比を変えてレシピを作成することにより、走査型電子顕微鏡を使用しないで、高精度に寸法測定するレシピ作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of observing reactions of light stimulation and fluorescence discoloration in real time by adding a function for performing the light stimulation to a Nipkow disk system confocal microscope, and adjusting a focal position in the optical axis direction of the spot of the light beam for stimulation that is concentrated on a sample.例文帳に追加

ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加することにより、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察可能とすると共に、試料上に集光させる刺激用光ビームのスポットの光軸方向焦点位置を調節することができる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

A PC 110 determines correction amount for the optical aberration caused by the thickness of the cover glass for protecting the sample 105 or the holding member for holding the sample and having transmittance based on a distance between the sample 105 arranged in the microscope 100 and the objective lens 104 of the microscope 100.例文帳に追加

ＰＣ１１０は、顕微鏡１００に配置された試料１０５と顕微鏡１００の有する対物レンズ１０４との間の距離に基づいて、試料１０５を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定する。 - 特許庁

To provide a microscope with a stand that can compensate (equilibrating, decay compensation) for vibrations not only in the X and Y axes but also in the Z axis, i.e. three-dimensionally.例文帳に追加

Ｘ軸及びＹ軸だけでなくＺ軸に関しても、即ち３次元的に振動の補償（平衡化、減衰補正）を実行することが可能な架台を有する顕微鏡。 - 特許庁

To provide a microscope wherein the excellent field of illumination in both of low magnification observation and high magnification observation is secured without requiring optical axis adjustment.例文帳に追加

低倍率観察時及び高倍率観察時の双方における良好な照野を、光軸調整を要することなく確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a microscope which makes it possible to simply and plainly display the optical information which an operator wants to display without making the operator undergo an excessive operational procedure.例文帳に追加

操作者に余分な操作手順をさせることなく、操作者が表示を望む光学情報を、簡易に、かつ分かりやすく表示できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope which is easily constituted, and is inexpensive, whose power consumption is reduced and where heat generation from a light source can be reduced to a low level.例文帳に追加

装置を簡単に構成でき安価で、しかも消費電力を低減できるとともに、光源からの発熱も小さくできる紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A conveyance control part 32 causes a TAB tape 10 to be conveyed to a position where a piece determined to be defective at a pattern inspection device 6 is photographed by a microscope 24.例文帳に追加

搬送制御部３２は、パターン検査装置６で不良品と判定されたピースを顕微鏡２４で撮影できる位置までＴＡＢテープ１０を搬送する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of irradiating only the region required to be observed of a sample with illumination light, thereby extending the latitude of a ROI (Region Of Interest) designation.例文帳に追加

標本の観察必要領域に限定して照明光を照射することを可能にし、ＲＯＩ指定の自由度が広い焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a dark field illumination device to be post mounted to a microscope, which is low-cost and has no constitution for dark field illumination.例文帳に追加

本発明の目的は、安価でかつ、もともと暗視野照明のための構成をもたない顕微鏡に後付けが可能な暗視野照明装置を提供することにある。 - 特許庁

The slide 1 has openings of the cell cavities 4 on the surface of the slide 1 to introduce a cell, and a transparent plane on the bottom of the cell cavities 4 for the observation by a microscope.例文帳に追加

スライド１は、スライド１の表面側に細胞を入れるセル孔４の開口を有し、セル孔４の底部に顕微鏡によって観察するための透視面を有する。 - 特許庁

Driving mechanisms including a motor drive revolver 110, aperture-stop switching device 120, etc., disposed in the microscope 100 are driven by a drive member (a drive motor 121, etc.).例文帳に追加

顕微鏡１００内に設けられた電動レボルバ装置１１０、開口絞り開閉装置１２０等の駆動機構は、駆動部（駆動モータ１２１等）によって駆動される。 - 特許庁

To automatically correct an observation position so as to follow movement of a sample not only in the case that a microscope body is deformed, but also in the case that the sample moves in any direction.例文帳に追加

顕微鏡本体の変形のみならず、標本がいずれの方向に移動した場合においても、これに追従するように観察位置を自動的に補正する。 - 特許庁

To provide a method capable of simply and efficiently manufacturing various ultra-thin segments such as a sample for transmission type electron microscope (TEM) observation in a short time and at a low cost.例文帳に追加

透過型顕微鏡（ＴＥＭ）観察用試料等をはじめとする各種超薄切片を、短時間、低コスト、簡便かつ効率的に製造し得る方法の提供。 - 特許庁

To provide a minute polarizing light source which is appropriately used for observations carried out by a near-field microscope or a photon STM and being manufactured through simpler processes.例文帳に追加

近視野顕微鏡やフォトンＳＴＭでの偏光観察に好適に使用できると共に、より簡便な工程で作製可能な微小偏光光源を提供する。 - 特許庁

To determine the exposure time for taking a picture of an image with an electron microscope without using a mechanism for measuring the brightness of an observed image on a fluorescent screen or the like.例文帳に追加

蛍光板等の観察像の輝度を測定する機構を利用することなく、電子顕微鏡の観察像を写真撮影するための露光時間を決定する。 - 特許庁

When a TEM (transmission electron microscope) image is photographed at each testpiece tilted angle, the image is photographed by changing the defocus amount Δf into a plurality of defocus amounts Δf_1, Δf_2, Δf_3.例文帳に追加

各試料傾斜角度においてＴＥＭ像を撮影する際、デフォーカス量Δｆが複数のデフォーカス量Δｆ_１，Δｆ_２，Δｆ_３に変えられて像撮影が行われる。 - 特許庁

When the contrast calculation part 48 detects the change of the state of the microscope, an AE calculation part 49 judges whether the setting of the exposure time adapted for the change is necessary or not.例文帳に追加

コントラスト演算部４８が顕微鏡の状態の変化を検出すると、ＡＥ演算部４９は、変化に適応した露出時間の設定が必要か否かを判断する。 - 特許庁

To provide a scanner driving method for a scanning probe microscope for avoiding the influence of an error resulted from the scanning of the probe or the sample in a circular arcuate shape.例文帳に追加

プローブまたは試料が円弧状に走査されることに起因するエラーの影響を回避できるようにする走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like of which images of a sample observed at different magnifications can be easily brought into connection with each other, capable of putting a mark on the area to be marked.例文帳に追加

同じ試料を異なる倍率で観察した観察像において、相互の関連付けや領域のマーキングを容易に行える電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

After certain time treatment, the wear resistance evaluating device 1000 evaluates the wear resistance of the ring 104 with its end face visually observed by a microscope or the like.例文帳に追加

この耐摩耗性評価装置１０００において所定時間処理された後に、リング１０４の端面を顕微鏡等で目視観察して耐摩耗性が評価される。 - 特許庁

The flame-resistant fiber has the value of the ratio of the modulus of elasticity of the surface layer part of the fiber to that of the central part of the fiber of ≥0.7 measured by using a scanning probe microscope by a nanoindentation method.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いてナノインデンテーション法により測定した繊維の表層部と中心部の弾性率の比の値が０．７以上である耐炎化繊維。 - 特許庁

To provide a technique by which additional information is visually recognized by visual observation, a microscope and the like without contaminating the surface of a magnetic medium after subjected to magnetic transfer.例文帳に追加

本発明は、磁気転写後の磁気媒体表面を汚染することなく、付加情報を目視、顕微鏡等により視覚認識する技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tip lens for a microscope immersion objective which can block harmful beams generating a flare without spoiling WD and is satisfactory for durability.例文帳に追加

ＷＤを損なうことなくフレアーを起こす有害光線を遮断でき、且つ耐性的にも問題のない顕微鏡用液浸対物レンズの先玉レンズを提供すること。 - 特許庁

To separate a specified portion from a semiconductor substrate by an FIB, and to form a sample fixed onto a mesh for a transmission electron microscope further into a thin piece of the sample, by the FIB.例文帳に追加

半導体基板からＦＩＢにより特定箇所を分離し、透過型電子顕微鏡用メッシュに固定した試料をさらにＦＩＢにより試料薄片化できる。 - 特許庁

To provide an illuminating method by which the optical images of a sample at different positions in an optical axis direction can be observed, and a microscope having an illuminator provided with the illuminating method.例文帳に追加

標本の光軸方向の異なる位置における光像を観察可能とする照明方法と、これを具備する照明装置を有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The superimposing part is provided with a through-path for directly outputting the video signal and a selector for switching a superimposition path for outputting a picture to be superimposed such as an electronic microscope signal or the like.例文帳に追加

スーパーインポーズ部にビデオ信号を直接出力するスルーパスと電子顕微鏡信号などのインポーズ画像を出力するインポーズパスを切替えるセレクタを設ける。 - 特許庁

A velocity of circular motion is increased to observe by a microscope 30 that the particle 16 is separated from the convergence position 10, so as to specify a separation time by a specifying switch 32.例文帳に追加

円運動の速度を増大させ、粒子１６が集光位置１０から離脱することを顕微鏡３０によって観察し、特定スイッチ３２で離脱時を特定する。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF BOUND STATE AND AGGREGATE STATE (PATTERN) OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION AND SUSPENDED MATTER PATTERN IMAGING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態（模様）の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を使用した懸濁物質の模様の撮影方法 - 特許庁

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument.例文帳に追加

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device such as an electron scanning microscope to construct a three-dimensional image (stereoscopic image) from an image obtained by the beam inclination of a right/left disparity angle.例文帳に追加

左右視差角分のビーム傾斜により得られる画像から立体画像（ステレオ画像）を構築する走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rest device for a microscope for surgery or the like in particular having safety against stumbling, the least possible volume and optimum compensation to a weight change.例文帳に追加

傾倒安全性と、可及的に少ない容積と、最適の重量変化補償とを備えた特に手術用顕微鏡などのための台架装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cell culture material which can culture cells as different culture media on both the sides of the cells and simply observe the growth state of the cells with an optical microscope.例文帳に追加

細胞の両面を異なる培地として培養でき、かつ細胞の生育状況を光学顕微鏡で簡便に行なえる細胞培養用材料を提供する。 - 特許庁

To provide an adapter for a microscope capable of acquiring a bright image in a desired part including the bottom of a recess even when the recess such as a deep flaw or the like exists in a specimen.例文帳に追加

被検物に奥行きの深い傷等の凹部がある場合でも、凹部の底部を含む所望の箇所の明るい画像を取得できる顕微鏡用アダプタを提供する。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device.例文帳に追加

簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope for the observation of a specimen cultured in a culture vessel and capable of automatically acquiring information on the growing state of the specimen.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡において、試料の生育状態に関する情報を自動で取得可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope.例文帳に追加

細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。 - 特許庁