「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(128ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device.例文帳に追加

簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

To provide a microscope for the observation of a specimen cultured in a culture vessel and capable of automatically acquiring information on the growing state of the specimen.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡において、試料の生育状態に関する情報を自動で取得可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope.例文帳に追加

細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe microscope for easily measuring an identical region in a to-be-measured object by using first and second displacement detecting optical systems.例文帳に追加

第１変位検出光学系、及び第２変位検出光学系にて被測定物における同一の箇所を容易に測定することができるプローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To enable switching of at least two of the observation methods in an optical microscope system for e.g. bright field observation, dark field observation, and differential interference observation.例文帳に追加

例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも２種の観察法を切り替え可能とすること。 - 特許庁

To provide a microscope with a photographing function comprising an image-rotating function which is convenient by adequately moving an XY stage, in accordance with the movement of a screen.例文帳に追加

画面の移動に合わせてＸＹステージを適切に移動させることにより、使い勝手の良い、画像回転機能を備えた撮影機能付き顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device with an inclined column capable of obtaining an inclined image having high resolution in the same level as that of a top-down image obtained using a vertical column.例文帳に追加

直立カラムを用いて得られるトップダウン像と同程度の高分解能の傾斜像を得ることのできる傾斜カラム付の走査電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

One or more microscope slides are positioned in an image acquisition device that scans specimens on the slides and makes two dimensional images at a medium or high resolution.例文帳に追加

１つ以上の顕微鏡スライドは、スライド上の試料を走査して中解像度又は高解像度で二次元画像を生成する画像捕捉デバイス内に配置される。 - 特許庁

To provide a microscope system including an aiming detection device focusing on a sample quickly, and applicable also to a liquid sample.例文帳に追加

迅速に試料に合焦することができ、液体試料に対しても適用することのできる照準検出装置を備えた顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To facilitate recognition of a position of a reference, effective chip region by visual observation, a microscope, or the like even if the size of a chip formed on a semiconductor substrate becomes small.例文帳に追加

半導体基板上に形成されるチップサイズが小さくなっても、基準となる有効チップ領域の位置を目視、顕微鏡などにより認識することを容易とすること。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope that allows stable examination by eliminating influence of ambient light while inhibiting damage to a specimen and fading of fluorescence.例文帳に追加

標本へのダメージおよび蛍光の退色を抑制しつつ、環境光による影響を排除して安定した観察を行うことができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To collect region-specific expression information characterizing each piece of biological tissue, from imaging mass spectrometry data by effectively utilizing an optical microscope image on a sample.例文帳に追加

試料上の光学顕微画像を有効に活用して、イメージング質量分析データから各生体組織を特徴付ける領域特異的な発現情報を収集する。 - 特許庁

In the comparison results of the microscope images, if it is determined that the examination object patterns are not acceptable, the method compares the profiles to finally determine whether the patterns are acceptable or not.例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像比較結果、不良であると判断されれば２次電子信号プロフィールを比較して最終的にパターンの不良の可否を判断する。 - 特許庁

To provide: a mode synchronous laser device that easily adjusts the repetition frequency of pulse light with simple and compact constitution; a pulse laser light source device; and a microscope device.例文帳に追加

簡単かつ小型な構成でパルス光の繰り返し周波数を容易に調整することができるモード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

A microscope 3 generates a plurality of oblique illumination sample images, having different brightness distribution, which are obtained by obliquely illuminating the sample S and imaging a predetermined sample area.例文帳に追加

顕微鏡３は、標本Ｓを偏斜照明して所定の標本領域を撮像した明るさの分布が異なる複数の偏斜標本画像を生成する。 - 特許庁

To provide a rest device for a microscope for surgery or the like in particular having safety against stumbling, the least possible volume and optimum compensation to a weight change.例文帳に追加

傾倒安全性と、可及的に少ない容積と、最適の重量変化補償とを備えた特に手術用顕微鏡などのための台架装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cell culture material which can culture cells as different culture media on both the sides of the cells and simply observe the growth state of the cells with an optical microscope.例文帳に追加

細胞の両面を異なる培地として培養でき、かつ細胞の生育状況を光学顕微鏡で簡便に行なえる細胞培養用材料を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope with which a high-quality focused color image that does not including blur is efficiently generated in a short period of time, and to provide a method of generating a focused color image.例文帳に追加

ボケを含まない良質の合焦カラー画像を短い時間で効率よく生成できる共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member which is not equipped with an aperture part for rotating an optical element on a housing, and has no restriction on a rotating range, and a microscope having the same.例文帳に追加

筐体に光学素子を回転させるための開口部を有さず、回転範囲の制限のない光学部材と、これを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The magnetic recording head measuring device for measuring the force related to the magnetic force of the magnetic recording head 3 or the force gradient by utilizing the magnetic force microscope, is disclosed.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、磁気記録ヘッド３の磁気力に関係する力又は力勾配を測定するための磁気記録ヘッド測定装置が開示されている。 - 特許庁

To provide a laser microscope device that stably performs spectroscopy at high resolution over a wide band area while suppressing a decrease in the intensity of detected fluorescence.例文帳に追加

検出される蛍光の強度低下を抑制しつつ、広帯域かつ高分解能な分光を安定的に行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In the optical component built in a microscope, a lens 10 composing the optical component and a holder 15 holding the lens 10 are formed as a unit with mold molding.例文帳に追加

顕微鏡に組み込まれる光学部品において、光学部品を構成するレンズ１０と、このレンズ１０を保持するホルダ１５とをモールド成型によって一体に形成した。 - 特許庁

To provide a device and a method for processing a microscope image by which a high-contrast and clear image is obtained for a translucent and specimen having some thickness.例文帳に追加

半透明で厚みのある被検物に対し、コントラストが高くて明瞭な画像を得ることができる顕微鏡画像の処理装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain an energy filter electron microscope which restrains increase of the length of a lens-barrel by widening magnification range and yet reducing the number of lens steps of an image formation system to a bare minimum.例文帳に追加

倍率範囲を広くしながら、しかも、結像系のレンズ段数を必要最小限に抑え鏡筒の長さの増大を抑制するエネルギフィルタ電子顕微鏡を得る。 - 特許庁

The user further specifies the observed region of the sample with the atomic force microscope from the observed region retrieved in the step S2b (step S3).例文帳に追加

続いて、使用者は、ステップＳ２ｂにおいて探索した観察対象領域の中から、さらに原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域を指定する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a microscope lens barrel in which a reticle anti-rotation mechanism can easily be mounted and dismounted, and situation attended with adjustment of an optical system can be obviated.例文帳に追加

レチクル回転止め機構の付け外しを容易に行うことができ、かつ光学系の調整を行う事態を防止することができる顕微鏡鏡筒を提供する。 - 特許庁

To provide a gas field ionization ion source of high stability capable of obtaining a large current, and to provide an ion microscope of high resolution and deep focal depth.例文帳に追加

本発明の目的は、大電流が得られ、高安定なガス電界電離イオン源、及び高分解能でかつ大焦点深度のイオン顕微鏡を提供することに関する。 - 特許庁

To provide a self-displacement detection type cantilever which has high sensitivity and high resolution and can be miniaturized, and to provide a cantilever system, a probe microscope, and an adsorption mass sensor.例文帳に追加

高感度、高分解能で小型化も可能な自己変位検出型のカンチレバー、カンチレバーシステム及びプローブ顕微鏡並びに吸着質量センサを提供すること。 - 特許庁

To provide a non-scan type femtosecond time-resolution fluorescence microscope capable of providing a time-resolved fluorescence two-dimensional image with a high time resolution of femto second order without scanning.例文帳に追加

非走査でフェムト秒オーダーの高い時間分解能で時間分解蛍光２次元イメージを得ることのできる非走査型フェムト秒時間分解蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By changing the beam diameter of incident laser light to a confocal microscope by a variable beam diameter optical system 12, the size of the laser irradiated area of a sample is changed.例文帳に追加

共焦点顕微鏡への入射レーザ光のビーム径をビーム径可変光学系１２によって変化させることによって、試料のレーザ照射領域の大きさを変化させる。 - 特許庁

To provide a focusing device for a microscope which is capable of easily focusing a position where the contrast of the image of a specimen is highest regardless of the brightness of the specimen.例文帳に追加

標本の明るさに関係なく、容易に、標本の像のコントラストが最大となる位置に焦点を合わせることが可能な顕微鏡用焦点合わせ装置を提供する。 - 特許庁

Actual dimensions of the sample image are shown by these measure images, and the measure images are corrected in accordance with magnifications when the magnification of the microscope 1 is changed.例文帳に追加

これらの物差し画像により標本画像の実寸法を示し、さらに顕微鏡１の倍率を変更したときには、これらの物差し画像を倍率に合わせて補正する。 - 特許庁

To provide a reference sample for a scanning probe microscope capable of accurately detecting each force becoming a standard, without being affected by unevenness data of surface.例文帳に追加

表面の凹凸情報に影響されることなく基準となる各力を正確に検出することができる走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope incorporating an automatic focusing device which reduces complication of work of setting a front focal position of an objective lens to a desired observation position.例文帳に追加

所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope simple in configuration and capable of observing an examinee in the presence of oblique lighting over a wide magnification range from a high magnification to a low magnification.例文帳に追加

簡単な構成で、高倍率から低倍率まで幅広い倍率範囲で、安定した偏斜照明で観察することが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁

To provide a compact apparatus for applying cover glasses for microscope specimens, which can reduce pattern variations of a mounting medium and use cover glasses of different lengths.例文帳に追加

封入剤パターンのバラツキを小さくし、長さの異なるカバーガラスを自在に用いることができ、小型化を図り得る顕微鏡標本のカバーガラス貼着装置を提供する。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which images an enlarged screen by using a line sensor, rapidly images a subject and can rapidly and easily set a measuring region.例文帳に追加

ラインセンサを使用して拡大画面を撮像する顕微鏡装置において、被写体を迅速に撮像すると共に、測定領域を迅速かつ容易に設定できるようにする。 - 特許庁

AUTOFOCUS (AF) SYSTEM FOR MICROSCOPE REALIZING REDUCTION OF AF RANGE AND OPTIMIZATION OF INVESTIGATING DIRECTION BEFORE INVESTIGATION, AND AF METHOD AND MICROSCOPIC DEVICE EQUIPPED WITH SAME SYSTEM例文帳に追加

探査に先立ちオートフォーカス（ＡＦ）範囲の縮小および探査方向の最適化を行う顕微鏡ＡＦシステム、ＡＦ方法および同システムを備えた顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a cartridge for an electron microscope in which anyone can surely set a test piece on a holder.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用カートリッジに関し、試料をだれでも確実にホルダに設定することができる電子顕微鏡用カートリッジを提供することを目的としている。 - 特許庁

A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

The method comprises measuring the moisture content and the amount of cholesterol in a stratum corneum, by measuring the intensity of self-fluorescence, generated from a collected sample of the stratum corneum by using a confocal laser microscope.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を強度測定し、角層水分量とコレステロール量を測定する。 - 特許庁

The image of a microscopic operation surface (28) which can be formed by the eyepiece (33) of the microscope (21) is superposed on a detection optical path (36) together with the image of an examinee.例文帳に追加

検出光路（３６）に、被検物の像とともに顕微鏡（２１）の接眼レンズ（３３）にて生成可能な顕微鏡操作面（２８）の像を重畳可能である。 - 特許庁