「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(128ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a revolver for a microscope having an inexpensive and simple structure and optionally selectively used for specifications fit to environment requiring high-degree cleanness and to ordinary environment.例文帳に追加

安価で簡単な構造を有し、高度のクリーン度を必要とする環境下と通常の環境下とに適合できる各仕様に任意に選択可能とすること。 - 特許庁

To enable the simultaneous observation of a medical microscope and an endoscope without the need for an observer to largely move his or her head or body at a low cost.例文帳に追加

観察者が頭や体を大きく動かすことなく医療用顕微鏡と内視鏡とを同時に観察することを低コストで可能とすることを課題とする。 - 特許庁

In a cantilever for a scanning probe microscope which measures surface state with a CNT probe joined to a base probe, the tip part of the base probe is non-sharpened.例文帳に追加

、ベース探針にＣＮＴ探針を接合して表面状態を測定する走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーにおいて、ベース探針の先端部を非先鋭形状にする。 - 特許庁

The surface to be measured is scanned by an atomic force microscope to efficiently and accurately know the correlation of the fine structure of surface plasmon with the surface structure of the sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いて被測定面を走査し、能率よく正確に表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関を知る。 - 特許庁

To provide a microscope which allows an observation image having a magnification different from that of a visual observation image to be satisfactorily acquired by an image pickup device simultaneously with visual observation.例文帳に追加

目視観察と同時に目視観察像と異なる倍率の観察像を撮像装置により良好に取得することを可能にする顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of securely and easily adjusting a focus, and to provide a focusing position adjusting method, and a manufacturing method for a pattern substrate using it.例文帳に追加

簡便かつ確実に焦点を調整することができる光学顕微鏡、焦点位置調整方法、及びそれを用いたパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for automatic supply of an observation sample to a microscope device that can be implemented at low cost to contribute to automation of small-quality sample inspection.例文帳に追加

少量の標本検査の自動化にも資するほどに廉価に実施することのできる、観察標本の顕微鏡装置への自動供給の手法を提供する。 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, PICTURE DISPLAY METHOD THEREOF AND RECORDING MEDIUM OBTAINED BY RECORDING PROCESSING PROGRAM FOR EXECUTING PICTURE DISPLAY PROCESSING例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、共焦点走査型顕微鏡における画像表示方法および画像表示処理をするための処理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To observe the internal skeleton of a cell that has not been observed heretofore, such as a red corpuscle or a white corpuscle, by an electron microscope, while holding the shape of a membrane.例文帳に追加

赤血球や白血球などのこれまで観察できなかった細胞の内部骨格を、膜の形状を保ったまま電子顕微鏡等で観察できるようにする。 - 特許庁

Then the magnifying power of the microscope is set to a second magnifying power of a recording mode and a sample stage is moved to the stored sample stage coordinates to be recorded (S22).例文帳に追加

透過電子顕微鏡の倍率を記録モードの第２の倍率に設定し、試料ステージを前記記憶した記録対象の試料ステージ座標に移動する（Ｓ２２）。 - 特許庁

To provide a microscopic device reducing the influence of heat of illumination light on a microscope body part and having high detection accuracy and an exposure apparatus provided with the microscopic device.例文帳に追加

照明光の熱が顕微鏡本体部に及ぼす影響を低減した検出精度の高い顕微鏡装置及びこれを備えた露光装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can alleviate a burden inflicted on an operator in order to perform an appropriate observation, especially, to suppress contamination of a testpiece and contraction of pattern.例文帳に追加

適切な観察を行うために、特に試料汚染及びパターン収縮を抑えるために、操作者にかかる負担を軽減することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which images an enlarged screen by using a line sensor, rapidly images a subject and can rapidly and easily set a measuring region.例文帳に追加

ラインセンサを使用して拡大画面を撮像する顕微鏡装置において、被写体を迅速に撮像すると共に、測定領域を迅速かつ容易に設定できるようにする。 - 特許庁

AUTOFOCUS (AF) SYSTEM FOR MICROSCOPE REALIZING REDUCTION OF AF RANGE AND OPTIMIZATION OF INVESTIGATING DIRECTION BEFORE INVESTIGATION, AND AF METHOD AND MICROSCOPIC DEVICE EQUIPPED WITH SAME SYSTEM例文帳に追加

探査に先立ちオートフォーカス（ＡＦ）範囲の縮小および探査方向の最適化を行う顕微鏡ＡＦシステム、ＡＦ方法および同システムを備えた顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a cartridge for an electron microscope in which anyone can surely set a test piece on a holder.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用カートリッジに関し、試料をだれでも確実にホルダに設定することができる電子顕微鏡用カートリッジを提供することを目的としている。 - 特許庁

A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

The method comprises measuring the moisture content and the amount of cholesterol in a stratum corneum, by measuring the intensity of self-fluorescence, generated from a collected sample of the stratum corneum by using a confocal laser microscope.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を強度測定し、角層水分量とコレステロール量を測定する。 - 特許庁

To provide a self-displacement detection type cantilever which has high sensitivity and high resolution and can be miniaturized, and to provide a cantilever system, a probe microscope, and an adsorption mass sensor.例文帳に追加

高感度、高分解能で小型化も可能な自己変位検出型のカンチレバー、カンチレバーシステム及びプローブ顕微鏡並びに吸着質量センサを提供すること。 - 特許庁

To provide a non-scan type femtosecond time-resolution fluorescence microscope capable of providing a time-resolved fluorescence two-dimensional image with a high time resolution of femto second order without scanning.例文帳に追加

非走査でフェムト秒オーダーの高い時間分解能で時間分解蛍光２次元イメージを得ることのできる非走査型フェムト秒時間分解蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By changing the beam diameter of incident laser light to a confocal microscope by a variable beam diameter optical system 12, the size of the laser irradiated area of a sample is changed.例文帳に追加

共焦点顕微鏡への入射レーザ光のビーム径をビーム径可変光学系１２によって変化させることによって、試料のレーザ照射領域の大きさを変化させる。 - 特許庁

To provide a focusing device for a microscope which is capable of easily focusing a position where the contrast of the image of a specimen is highest regardless of the brightness of the specimen.例文帳に追加

標本の明るさに関係なく、容易に、標本の像のコントラストが最大となる位置に焦点を合わせることが可能な顕微鏡用焦点合わせ装置を提供する。 - 特許庁

Actual dimensions of the sample image are shown by these measure images, and the measure images are corrected in accordance with magnifications when the magnification of the microscope 1 is changed.例文帳に追加

これらの物差し画像により標本画像の実寸法を示し、さらに顕微鏡１の倍率を変更したときには、これらの物差し画像を倍率に合わせて補正する。 - 特許庁

To provide a reference sample for a scanning probe microscope capable of accurately detecting each force becoming a standard, without being affected by unevenness data of surface.例文帳に追加

表面の凹凸情報に影響されることなく基準となる各力を正確に検出することができる走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope incorporating an automatic focusing device which reduces complication of work of setting a front focal position of an objective lens to a desired observation position.例文帳に追加

所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope simple in configuration and capable of observing an examinee in the presence of oblique lighting over a wide magnification range from a high magnification to a low magnification.例文帳に追加

簡単な構成で、高倍率から低倍率まで幅広い倍率範囲で、安定した偏斜照明で観察することが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁

To provide a compact apparatus for applying cover glasses for microscope specimens, which can reduce pattern variations of a mounting medium and use cover glasses of different lengths.例文帳に追加

封入剤パターンのバラツキを小さくし、長さの異なるカバーガラスを自在に用いることができ、小型化を図り得る顕微鏡標本のカバーガラス貼着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device which arbitrarily changes a pattern of light irradiating a sample and its irradiation position, with high light utilization efficiency, under various device conditions.例文帳に追加

さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface.例文帳に追加

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of carrying out, in real time, preprocessing of an image, processing of the image, and displaying of its result, in an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡における画像の前処理、画像処理及びその結果の表示をリアルタイムで実行することができる電子顕微鏡用画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To make reduction in time for photographing images and high image quality photographing compatible in a scanning electron microscope for measurement, inspection, and defect review or the like of semiconductor wafers.例文帳に追加

半導体ウェーハの測定、検査、欠陥レビュー用などの走査電子顕微鏡において、画像を撮像する時間の短縮と高画質撮像の両立を実現する。 - 特許庁

To provide a video microscope by which a cuticle can be more clearly observed by performing operation for the change of magnification and focusing by a single hand without interrupting the observation of hair.例文帳に追加

髪の毛の観察を中断せずに倍率の変更とピント合わせを片手で操作できるようにし、さらに鮮明にキューティクルの観察ができるビデオマイクロスコープを提供する。 - 特許庁

The length of a taper part 20 of the mark 3 for focus measurement, at which the thickness of resist is made gradually thin is measured from the secondary electronic signal waveform of a scanning type electronic microscope.例文帳に追加

フォーカス測定用マーク３においてレジストの厚みがだんだんに薄くなるテーパ部２０の長さを走査型電子顕微鏡の２次電子信号波形から測定する。 - 特許庁

The laser scanning type fluorescence microscope has a laser light source part 1 and a detection part for detecting fluorescence emitted from a specimen 8 irradiated with the light from the laser light source part 1.例文帳に追加

レーザ光源部１と、レーザ光源部１からの光が照射された標本８で発する蛍光を検出する検出部を有する蛍光顕微鏡である。 - 特許庁

The image of a microscopic operation surface (28) which can be formed by the eyepiece (33) of the microscope (21) is superposed on a detection optical path (36) together with the image of an examinee.例文帳に追加

検出光路（３６）に、被検物の像とともに顕微鏡（２１）の接眼レンズ（３３）にて生成可能な顕微鏡操作面（２８）の像を重畳可能である。 - 特許庁

To provide a microscope which enables easy setting of the rate of loosening of a stopper for regulating the spacing between a specimen and an objective lens, is simple in operation and is low cost.例文帳に追加

標本と対物レンズの間隔を規制するストッパーの緩め量を簡単に設定でき、しかも操作が簡単で、価格的にも安価な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a user-friendly digital camera for microscope in which power consumption is reduced by achieving a sleep function for making a transition to the sleep state at an optimal timing.例文帳に追加

より最適なタイミングでスリープ状態へ移行するスリープ機能の実現により、使い勝手が良く且つ消費電力を低減した顕微鏡用デジタルカメラを提供する。 - 特許庁

To provide a new simple optical microscope capable of yielding a high-density and high-magnification microscopic image with easy operation and having simple constitution and made inexpensive.例文帳に追加

簡単な操作で高密度且つ高倍率の顕微鏡像を得ることができ、しかも単純構成で安価である、新しい単式光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample holding member allowing high-resolution high-inclination observation small in deformation, in relation to a sample holding member for an electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料保持部材に関し、変形の少ない高分解能高傾斜観察可能な試料保持部材を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a measurement method of sample, using an electron microscope which can carry out precise measurements of the size of feature structure of the sample.例文帳に追加

オートフォーカスの失敗による影響を除去でき、試料の特徴構造の寸法を正確に測定し得る電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for returning to a state, where a sample image can be observed again, as soon as possible even if a cantilever comes into contact with the sample.例文帳に追加

カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of evaluating the dislocation density of a group III nitride crystal in a simple and convenient manner using an optical microscope by forming etch pits having a suitable diameter.例文帳に追加

適正な径のエッチピットを形成することにより、光学顕微鏡を用いて簡便にＩＩＩ族窒化物結晶の転位密度の評価ができる方法を提案する。 - 特許庁

To provide a fluorescent illuminating device for microscope which has solid illumination used as illumination light source for fluorescence observation and is excellent in protection of sample, operability and power-saving.例文帳に追加

蛍光観察の照明用光源として固体照明を用い、試料の保護、操作性、省電力化に優れた顕微鏡用蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁