「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(128ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technique for automatic supply of an observation sample to a microscope device that can be implemented at low cost to contribute to automation of small-quality sample inspection.例文帳に追加

少量の標本検査の自動化にも資するほどに廉価に実施することのできる、観察標本の顕微鏡装置への自動供給の手法を提供する。 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, PICTURE DISPLAY METHOD THEREOF AND RECORDING MEDIUM OBTAINED BY RECORDING PROCESSING PROGRAM FOR EXECUTING PICTURE DISPLAY PROCESSING例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、共焦点走査型顕微鏡における画像表示方法および画像表示処理をするための処理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To observe the internal skeleton of a cell that has not been observed heretofore, such as a red corpuscle or a white corpuscle, by an electron microscope, while holding the shape of a membrane.例文帳に追加

赤血球や白血球などのこれまで観察できなかった細胞の内部骨格を、膜の形状を保ったまま電子顕微鏡等で観察できるようにする。 - 特許庁

Then the magnifying power of the microscope is set to a second magnifying power of a recording mode and a sample stage is moved to the stored sample stage coordinates to be recorded (S22).例文帳に追加

透過電子顕微鏡の倍率を記録モードの第２の倍率に設定し、試料ステージを前記記憶した記録対象の試料ステージ座標に移動する（Ｓ２２）。 - 特許庁

To provide a microscopic device reducing the influence of heat of illumination light on a microscope body part and having high detection accuracy and an exposure apparatus provided with the microscopic device.例文帳に追加

照明光の熱が顕微鏡本体部に及ぼす影響を低減した検出精度の高い顕微鏡装置及びこれを備えた露光装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can alleviate a burden inflicted on an operator in order to perform an appropriate observation, especially, to suppress contamination of a testpiece and contraction of pattern.例文帳に追加

適切な観察を行うために、特に試料汚染及びパターン収縮を抑えるために、操作者にかかる負担を軽減することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an adapter for a microscope capable of acquiring a bright image in a desired part including the bottom of a recess even when the recess such as a deep flaw or the like exists in a specimen.例文帳に追加

被検物に奥行きの深い傷等の凹部がある場合でも、凹部の底部を含む所望の箇所の明るい画像を取得できる顕微鏡用アダプタを提供する。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device.例文帳に追加

簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope for the observation of a specimen cultured in a culture vessel and capable of automatically acquiring information on the growing state of the specimen.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡において、試料の生育状態に関する情報を自動で取得可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope.例文帳に追加

細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe microscope for easily measuring an identical region in a to-be-measured object by using first and second displacement detecting optical systems.例文帳に追加

第１変位検出光学系、及び第２変位検出光学系にて被測定物における同一の箇所を容易に測定することができるプローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To enable switching of at least two of the observation methods in an optical microscope system for e.g. bright field observation, dark field observation, and differential interference observation.例文帳に追加

例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも２種の観察法を切り替え可能とすること。 - 特許庁

To provide a three-dimensional confocal laser microscope system capable of providing the super-depth image of a sample at a real time by scanning an objective lens at high speed.例文帳に追加

対物レンズを高速に走査することによって、リアルタイムで試料の超深度画像を得ることのできる３次元共焦点レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting device which does not depend on a sample by using a detection sensitivity value of an optical detector as a focusing evaluation value in an optical microscope.例文帳に追加

本発明では、光学顕微鏡において、光検出器の検出感度値を合焦評価値として用いて、サンプルに依存しない自動焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of altering an observation position at high speed in a single or plurality of incubation containers, with a reflux tube or potential measurement patch attached thereto.例文帳に追加

環流用チューブや電位測定用パッチを付けた状態で、単一または複数の培養容器において高速に観察位置を変更できる顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

To provide a microscope with a photographing function comprising an image-rotating function which is convenient by adequately moving an XY stage, in accordance with the movement of a screen.例文帳に追加

画面の移動に合わせてＸＹステージを適切に移動させることにより、使い勝手の良い、画像回転機能を備えた撮影機能付き顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device with an inclined column capable of obtaining an inclined image having high resolution in the same level as that of a top-down image obtained using a vertical column.例文帳に追加

直立カラムを用いて得られるトップダウン像と同程度の高分解能の傾斜像を得ることのできる傾斜カラム付の走査電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

One or more microscope slides are positioned in an image acquisition device that scans specimens on the slides and makes two dimensional images at a medium or high resolution.例文帳に追加

１つ以上の顕微鏡スライドは、スライド上の試料を走査して中解像度又は高解像度で二次元画像を生成する画像捕捉デバイス内に配置される。 - 特許庁

To provide a microscope system including an aiming detection device focusing on a sample quickly, and applicable also to a liquid sample.例文帳に追加

迅速に試料に合焦することができ、液体試料に対しても適用することのできる照準検出装置を備えた顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To facilitate recognition of a position of a reference, effective chip region by visual observation, a microscope, or the like even if the size of a chip formed on a semiconductor substrate becomes small.例文帳に追加

半導体基板上に形成されるチップサイズが小さくなっても、基準となる有効チップ領域の位置を目視、顕微鏡などにより認識することを容易とすること。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope that allows stable examination by eliminating influence of ambient light while inhibiting damage to a specimen and fading of fluorescence.例文帳に追加

標本へのダメージおよび蛍光の退色を抑制しつつ、環境光による影響を排除して安定した観察を行うことができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a rest device for a microscope for surgery or the like in particular having safety against stumbling, the least possible volume and optimum compensation to a weight change.例文帳に追加

傾倒安全性と、可及的に少ない容積と、最適の重量変化補償とを備えた特に手術用顕微鏡などのための台架装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cell culture material which can culture cells as different culture media on both the sides of the cells and simply observe the growth state of the cells with an optical microscope.例文帳に追加

細胞の両面を異なる培地として培養でき、かつ細胞の生育状況を光学顕微鏡で簡便に行なえる細胞培養用材料を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member which is not equipped with an aperture part for rotating an optical element on a housing, and has no restriction on a rotating range, and a microscope having the same.例文帳に追加

筐体に光学素子を回転させるための開口部を有さず、回転範囲の制限のない光学部材と、これを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope with which a high-quality focused color image that does not including blur is efficiently generated in a short period of time, and to provide a method of generating a focused color image.例文帳に追加

ボケを含まない良質の合焦カラー画像を短い時間で効率よく生成できる共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法を提供する。 - 特許庁

The magnetic recording head measuring device for measuring the force related to the magnetic force of the magnetic recording head 3 or the force gradient by utilizing the magnetic force microscope, is disclosed.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、磁気記録ヘッド３の磁気力に関係する力又は力勾配を測定するための磁気記録ヘッド測定装置が開示されている。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of automatically or nearly automatically adjusting an applied voltage of a photodetector even when scanning conditions are changed.例文帳に追加

走査条件が変更されても、光検出器の印加電圧を自動的または略自動的に調整することが可能なレーザ走査顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

In a confocal microscope, a piezoelectric actuator having the high viscous drag of a driving part is used to accelerate the damping of overshoot at the stepwise moving an objective.例文帳に追加

共焦点顕微鏡において、駆動部の粘性抵抗を高めたピエゾアクチュエータを使用して、対物レンズをステップ状に動かした時のオーバーシュートの減衰を早める。 - 特許庁

The present invention can be applied to, for example, a case of processing an image with a massive data amount such as an image obtained by photographing a sample of pathological tissue through a microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡を介して、病理組織の標本を撮影した画像等の、膨大なデータ量の画像を処理する場合に適用することができる。 - 特許庁

The user further specifies the observed region of the sample with the atomic force microscope from the observed region retrieved in the step S2b (step S3).例文帳に追加

続いて、使用者は、ステップＳ２ｂにおいて探索した観察対象領域の中から、さらに原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域を指定する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a microscope lens barrel in which a reticle anti-rotation mechanism can easily be mounted and dismounted, and situation attended with adjustment of an optical system can be obviated.例文帳に追加

レチクル回転止め機構の付け外しを容易に行うことができ、かつ光学系の調整を行う事態を防止することができる顕微鏡鏡筒を提供する。 - 特許庁

To provide a gas field ionization ion source of high stability capable of obtaining a large current, and to provide an ion microscope of high resolution and deep focal depth.例文帳に追加

本発明の目的は、大電流が得られ、高安定なガス電界電離イオン源、及び高分解能でかつ大焦点深度のイオン顕微鏡を提供することに関する。 - 特許庁

To provide a incident-light microscope easily operated to be focused and also realizing excellent observation free from the loss of light quantity even in dark field observation.例文帳に追加

ピント合わせ操作を容易に行なうことができ、しかも、暗視野観察においても光量損失のない良好な観察を行なうことができる落射顕微鏡を提供できる。 - 特許庁

If protein is collected on surface of the collection medium, which reacts with red detecting liquid to be colored into clear red, therefore it is easily identified under microscope.例文帳に追加

捕集媒体表面にタンパク質が捕集されていれば、赤色検出液と反応して、鮮明な赤色に着色するので、顕微鏡下で容易に識別できる。 - 特許庁

Accordingly, the light for end- face inspection from the light source is totally reflected by the end face of the optical fiber including a core and a clad, and a part of the light comes into the microscope.例文帳に追加

したがって、光源からの端面検査光は光ファイバのコア及びクラッドを含む上記端面にて全反射してその一部が光学顕微鏡に入射する。 - 特許庁

To suppress distortion generated in a lens barrel main body and in an optical member etc. therein and to suppress an increase in load imposed on a microscope main body.例文帳に追加

鏡筒本体とその内部の光学部材等とに発生する歪を抑制することができ、顕微鏡本体に対する荷重の増大を抑制することができること。 - 特許庁

To inexpensively provide a stage of a microscope which is constituted so that a sample can be accurately moved, which is easily processed, assembled and adjusted and whose handleability is excellent.例文帳に追加

精度良く標本を移動することができるとともに、加工、組立及び調整が容易であり、しかも使い勝手の良い顕微鏡のステージを安価に提供する。 - 特許庁

To provide a foreign matter checking method for checking foreign matter of a material to be checked such as a resin piece by a checking device such as a microscope.例文帳に追加

本発明は、樹脂片などの被検査資料側の異物などを顕微鏡などの検査装置によって検査する異物検査方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a microscope device for surgery, which allows surer a safer surgery by enabling an operator to easily recognize the progression condition of the surgery during operations.例文帳に追加

術者が容易に術中における手術の進行状況を把握し、より確実、安全な手術を行なうことができる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

Or, the black defect region 3 is physically removed as high as the height of the recess of the original plate with the probe 5 of an inter-atomic force microscope harder than the material of the work piece.例文帳に追加

あるいは被加工材質よりも硬い原子間力顕微鏡の探針５を用いて黒欠陥３をスクラッチングで原版の凹部の高さまで物理的に除去する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet ray microscope of which observation image is bright, the alignment of a light source can be confirmed in the middle of the observation of a sample, and the adjustment operation of a light source position is easy.例文帳に追加

観察像が明るく、標本の観察中にも光源のアライメントが確認でき、光源位置の調整作業が容易な紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanner driving method for a scanning probe microscope for avoiding the influence of an error resulted from the scanning of the probe or the sample in a circular arcuate shape.例文帳に追加

プローブまたは試料が円弧状に走査されることに起因するエラーの影響を回避できるようにする走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法を提供すること。 - 特許庁

A reflection electron microscope 4 irradiates incident beams 15 on the surface of bio cells 12, and photographs continuous images as a two-dimensional intensity distribution of their reflected and scattered beams 21.例文帳に追加

反射型電子顕微鏡４は、バイオセル１２の表面に入射線１５を照射し、その反射散乱線２１の二次元強度分布である連続画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section.例文帳に追加

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁