「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(130ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transmission electron microscope capable of photographing an element distribution image, similarly with a TEM image on a TEM image photographing film.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、ＴＥＭ像撮影用フィルム上にＴＥＭ像と同様に元素分布像を撮影する事が可能な透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of improving a resolution by applying a technique using a microlens array, and arbitrarily changing the resolution.例文帳に追加

マイクロレンズアレイを用いた技術を適用したうえで、解像力を向上させることができ、且つ解像力を任意に変更させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To illustrate, a sample 34 placed at the end 20 of a sample holder 7 can be maintained at a temperature of liquid nitrogen in a low temperature TEM (transparent electron microscope) as its embodimenet.例文帳に追加

例えば、低温ＴＥＭ（透視型電子顕微鏡）において、試料ホルダ７の末端２０に配置される試料３４が、例えば、液体窒素の温度に維持され得る。 - 特許庁

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.例文帳に追加

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly sensitive X-ray detector prevented from generating distortion of a secondary electron image caused by an astigmatism and the like, even when getting close to a sample inside an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内の試料に近接させても非点収差等による２次電子像の歪みを起こさない高感度なＸ線検出器を提供することである。 - 特許庁

To provide a coating method that can be easily applied to an observation sample for a scanning electron microscope and can fully observe fine structure of a sample surface.例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の観察試料に簡便に適用することができ、かつ試料表面の微細構造を十分に観察し得るコーティング方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce the user's burden relating to operation in selecting the region of the color three-dimensional images obtained from a color confocal microscope as a measurement range of a sample.例文帳に追加

試料の測定範囲としてカラー共焦点顕微鏡から得られたカラー三次元画像の領域を選択する際の操作に係るユーザの負担を軽減させる。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope in which phase contrast and halo are varied by a simple operation, and a variety of specimens are observed at a most suitable phase contrast.例文帳に追加

簡単な操作で位相差のコントラストとハローを変化させ、さまざまな標本で最も適した位相差観察をすることができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a three-dimensional image of a sample which is free of lightness unevenness in a short time by making better use of sectioning effect as a feature of the confocal microscope.例文帳に追加

本発明は、共焦点顕微鏡の特徴であるセクショニング効果をより生かして明るさむらの無い試料の３次元画像を無駄時間なく短い時間で構築する。 - 特許庁

The illuminator for the microscope in which a halogen lamp has a spiral part extending in a direction of a reflector and an optical axis, and enables uniform illumination of a visual field without additional component.例文帳に追加

ハロゲン・ランプがリフレクタおよび光学軸の方向に延びる螺旋部を有し、それが付加的な成分無しに視野の均一な照明を可能にする顕微鏡用照明装置。 - 特許庁

After that, the laser beam carries out incidence to a wave length separating unit 6, and the only light having a fixed wave length is emitted and guided to an optical microscope for machining.例文帳に追加

その後，レーザ光は波長分離ユニット６に入射し，所定の波長を有する光のみが出射され，加工用光学系である顕微鏡９に導かれる。 - 特許庁

In the microscope, the element (HFT) is arranged on or near the pupil surface of the optical path between a sample and a detection mechanism.例文帳に追加

顕微鏡、そして同顕微鏡を調整する方法であって、エレメント（ＨＦＴ）を、サンプルと検出機構との間の光路の瞳面に、またはその近辺に配置する。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope capable of obtaining good operability while achieving space saving and capable of observing a specific region under the optimum background illumination.例文帳に追加

本発明は、省スペース化を図りつつ良好な操作性を得ることができ、また、最適な背景照明の下で特定部位を観察できる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an apochromat class objective lens for an immersion microscope whose numerical aperture attains about 1.2, and which hardly causes distortion of an image surface and has an intermediate magnification (about 50).例文帳に追加

水浸系で、開口数が１．２程度に達し、像面歪曲の少ない、中倍率（５０倍前後程度）のアポクロマート級の水浸系顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

The microscope is provided advantageously with at least one means of changing the object side focusing position of the irradiation light between the light source (2) and the objective lens (7) within an irradiation optical path (1).例文帳に追加

照射光路（１）内に、有利には光源（２）と対物レンズ（７）との間に、照射光の対象物側合焦位置を変化させる少なくとも１つの手段を設ける。 - 特許庁

To provide a color laser scanning type microscope which can obtain a high-pixel and high-sharpness color image by removing noises, signal distortion, etc., of a signal processing system and is inexpensive.例文帳に追加

信号処理系統におけるノイズ及び信号歪み等を排除して高画素、高鮮明カラー画像が得られ、しかも安価なカラーレーザー走査型顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide an electron microscope apparatus and a brake mechanism capable of reducing vibration even when a stage moves at a high speed, reducing drift in stopping the stage, and positioning with high precision.例文帳に追加

ステージを高速移動しても低振動であり、ステージ停止時のドリフトが小さく、高精度の位置決めを行える電子顕微鏡装置およびブレーキ機構に関する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope that can prevent the occurrence of fringes by automatically adjusting a scanning zone of spot light and to thereby obtain proper observation images.例文帳に追加

スポット光の走査範囲を自動的に調整することで縞の発生を防止し良好な観察画像を得ることができるスキャン型コンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a high-performance tuning fork with a relatively simple structure and a method for manufacturing the same, and a focusing device, a displacement sensor and a confocal microscope, using the same.例文帳に追加

比較的容易な構成で性能の高い音叉、及びその製造方法、並びに、音叉を用いた合焦装置、変位センサ、及び共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope apparatus capable of spectroscopic measurement and near-field measurement, in addition to conventional scanning probe measurement.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置によって、従来の走査型プローブ測定に加えて分光学的測定および近視野測定を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a laser microscope device that stably performs spectroscopy at high resolution over a wide band area while suppressing a decrease in the intensity of detected fluorescence.例文帳に追加

検出される蛍光の強度低下を抑制しつつ、広帯域かつ高分解能な分光を安定的に行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In the optical component built in a microscope, a lens 10 composing the optical component and a holder 15 holding the lens 10 are formed as a unit with mold molding.例文帳に追加

顕微鏡に組み込まれる光学部品において、光学部品を構成するレンズ１０と、このレンズ１０を保持するホルダ１５とをモールド成型によって一体に形成した。 - 特許庁

To provide a device and a method for processing a microscope image by which a high-contrast and clear image is obtained for a translucent and specimen having some thickness.例文帳に追加

半透明で厚みのある被検物に対し、コントラストが高くて明瞭な画像を得ることができる顕微鏡画像の処理装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain an energy filter electron microscope which restrains increase of the length of a lens-barrel by widening magnification range and yet reducing the number of lens steps of an image formation system to a bare minimum.例文帳に追加

倍率範囲を広くしながら、しかも、結像系のレンズ段数を必要最小限に抑え鏡筒の長さの増大を抑制するエネルギフィルタ電子顕微鏡を得る。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which can scan arbitrary positions respectively independently a first scanning optical system and a second scanning optical system at an arbitrary time.例文帳に追加

第１の走査光学系と第２の走査光学系を任意の時間に標本の任意の場所をそれぞれ独立して走査できる顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a small-sized laser scanning type microscope capable of optionally selecting a wavelength region, and capable of detecting an image having satisfactory S/N with high sensitivity.例文帳に追加

小型で、任意に波長領域を選択することができ、高感度にＳ／Ｎの良好な画像を検出することが可能なレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To quickly inspect a specimen containing a fine grating by using a simple inspection apparatus and a simple inspection method without using a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な検査装置及び方法を用いて、微細なグレーティングを含む被検査物について迅速に検査を行えるようにする。 - 特許庁

An image processing part 103 performs an image processing of correcting the exposure or white balance of an observation image by a microscope 1 picked up by an image pickup part 102.例文帳に追加

画像処理部１０３は、撮像部１０２によって撮像された顕微鏡１での観察画像の露出若しくはホワイトバランスを補正する画像処理を行う。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope system configured to adjust a ratio of color components on changing from color to grayscale, in accordance with wavelength properties of a fluorescent cube.例文帳に追加

本発明では、蛍光キューブの波長特性に応じて、カラーからグレースケールに変換するときの色成分の割合を調整する蛍光顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a miniaturized scanning electron microscope enabling observation of the optional position of a large sample, and capable of easily obtaining a three-dimensional image.例文帳に追加

大型試料の任意の位置を観察することを可能にし、また、三次元立体像を容易に得ることができ小型化された走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a magnetic force microscope capable of observing a magnetic domain structure without causing the invasion problem of local magnetism even in the magnetic domain structure of a nanometer size.例文帳に追加

ナノメートルサイズの磁区構造であっても、局所磁性の侵襲の問題が生じることなく磁区構造の観測が可能な磁気力顕微鏡用プローブを提供する。 - 特許庁

The technology comprises a microscope 10, an imaging apparatus 20, a computer 50 for performing an imaging control and a picked up image processing, an input apparatus 30 and a display apparatus 40.例文帳に追加

顕微鏡１０と、撮像装置２０と、撮像の制御および撮像された画像の処理を行うコンピュータ５０と、入力装置３０と、表示装置４０とを含む。 - 特許庁

To provide a revolver device that prevents wear of an biasing means and less likely causes deterioration in positioning precision of objective lenses, and to provide a microscope that has the revolver device.例文帳に追加

付勢手段の摩耗を抑制することができ、対物レンズの位置決め精度が悪化し難いレボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope by which plural observers can simultaneously perform observation, and an optimum observation position can be selected and observed while the observers can take the various kinds of observing styles.例文帳に追加

複数人が同時に観察でき、様々な観察スタイルをとりながら、最適な観察位置を選択して観察することができる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a double confocal scanning type microscope which can realize at least almost theoretically realizable resolution especially in association with polychromatic fluorescent use.例文帳に追加

特に多色蛍光用途に関連して、少なくともほぼ理論的に可能である解像力を実現することができる二重共焦点走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide techniques for an imaging lens with a wide visual field having satisfactorily corrected aberrations in the range of the visual field, and for an imaging optical system and a microscope using the same.例文帳に追加

広い視野を有し、且つその視野範囲内で収差が良好に補正された結像レンズ、それを用いた撮影光学系及び顕微鏡の技術を提供する。 - 特許庁

In a microscope device 1, the beam diameter of a laser beam emitted from a titanium sapphire laser 2 is varied by a beam diameter varying optical system 3 to irradiate a phase modulation type SLM5.例文帳に追加

顕微鏡装置１は、チタンサファイアレーザ２から射出されたレーザ光のビーム径をビーム径可変光学系３で可変して、位相変調型ＳＬＭ５に照射する。 - 特許庁

To enable to collect a vertical image photographing against an observation sample and a slant observation image in observation using a scanning type electron microscope at a high speed.例文帳に追加

走査式電子顕微鏡を用いた観察において、観察試料に対して鉛直下向きに撮像する落射画像と、傾斜観察画像とを高速に収集すること。 - 特許庁

To provide a sample holder of a transmission electron microscope capable of correcting astigmatism without requiring a standard sample even if the sample is that of a crystal phase only.例文帳に追加

結晶相のみの試料であっても標準試料を要することなく非点収差の補正が可能な、透過型電子顕微鏡の試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

When the observation position within the culture vessel 3 is going to be changed, the microscope casing 5 is moved by a moving stage 9 to move objective lens 6 relative to the culture vessel 3.例文帳に追加

培養容器３内の観察位置を変更する場合には、移動ステージ９で顕微鏡筐体５を移動させて培養容器３に対して対物レンズ６を移動させる。 - 特許庁

To realize an electron microscope device in which an adverse effect due to slippage of trajectory of electron beams by hysteresis is not brought about even in the case an electromagnetic deflection shutter is used.例文帳に追加

電磁偏向式シャッターを使用する場合にもヒステリシスによる電子線の軌跡のずれによる悪影響を生じることのない電子顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁

To accurately set focusing position on an inclined axis, when taking a photograph in a transmission electron microscope provided with an expansion MDS function.例文帳に追加

拡張ＭＤＳ機能を備える透過型電子顕微鏡において、写真撮影する場合に焦点合わせ位置を正しく傾斜軸上に設定できるようにする。 - 特許庁

The operation microscope 100 has a microscopic main objective lens 101 through which the observation light path for main observation and the observation light path 106 for simultaneous observation pass.例文帳に追加

手術用顕微鏡１００は、主観察のための観察光路と同時観察のための観察光路１０６とが通る顕微鏡主対物レンズ１０１を有している。 - 特許庁

To provide a microscope device that can remove liquid from the observation viewing field of a dry system objective lens when switching from a liquid-immersed objective lens to the dry system objective lens.例文帳に追加

液浸対物レンズから乾燥系対物レンズへ切り替える際に、液体を乾燥系対物レンズの観察視野から除去することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To allow positioning precision of high level such as required in a sample stage of an electron microscope device used in a field of manufacturing a semiconductor, and to allow reduction of a drift.例文帳に追加

半導体製造分野で用いられる電子顕微鏡装置の試料ステージで要求されるような高いレベルでの位置決め精度やドリフトの低減を可能とする。 - 特許庁