「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(130ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a foreign matter checking method for checking foreign matter of a material to be checked such as a resin piece by a checking device such as a microscope.例文帳に追加

本発明は、樹脂片などの被検査資料側の異物などを顕微鏡などの検査装置によって検査する異物検査方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

The illuminator for the microscope in which a halogen lamp has a spiral part extending in a direction of a reflector and an optical axis, and enables uniform illumination of a visual field without additional component.例文帳に追加

ハロゲン・ランプがリフレクタおよび光学軸の方向に延びる螺旋部を有し、それが付加的な成分無しに視野の均一な照明を可能にする顕微鏡用照明装置。 - 特許庁

After that, the laser beam carries out incidence to a wave length separating unit 6, and the only light having a fixed wave length is emitted and guided to an optical microscope for machining.例文帳に追加

その後，レーザ光は波長分離ユニット６に入射し，所定の波長を有する光のみが出射され，加工用光学系である顕微鏡９に導かれる。 - 特許庁

In the microscope, the element (HFT) is arranged on or near the pupil surface of the optical path between a sample and a detection mechanism.例文帳に追加

顕微鏡、そして同顕微鏡を調整する方法であって、エレメント（ＨＦＴ）を、サンプルと検出機構との間の光路の瞳面に、またはその近辺に配置する。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope capable of obtaining good operability while achieving space saving and capable of observing a specific region under the optimum background illumination.例文帳に追加

本発明は、省スペース化を図りつつ良好な操作性を得ることができ、また、最適な背景照明の下で特定部位を観察できる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device which arbitrarily changes a pattern of light irradiating a sample and its irradiation position, with high light utilization efficiency, under various device conditions.例文帳に追加

さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface.例文帳に追加

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of carrying out, in real time, preprocessing of an image, processing of the image, and displaying of its result, in an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡における画像の前処理、画像処理及びその結果の表示をリアルタイムで実行することができる電子顕微鏡用画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To make reduction in time for photographing images and high image quality photographing compatible in a scanning electron microscope for measurement, inspection, and defect review or the like of semiconductor wafers.例文帳に追加

半導体ウェーハの測定、検査、欠陥レビュー用などの走査電子顕微鏡において、画像を撮像する時間の短縮と高画質撮像の両立を実現する。 - 特許庁

To provide a video microscope by which a cuticle can be more clearly observed by performing operation for the change of magnification and focusing by a single hand without interrupting the observation of hair.例文帳に追加

髪の毛の観察を中断せずに倍率の変更とピント合わせを片手で操作できるようにし、さらに鮮明にキューティクルの観察ができるビデオマイクロスコープを提供する。 - 特許庁

The length of a taper part 20 of the mark 3 for focus measurement, at which the thickness of resist is made gradually thin is measured from the secondary electronic signal waveform of a scanning type electronic microscope.例文帳に追加

フォーカス測定用マーク３においてレジストの厚みがだんだんに薄くなるテーパ部２０の長さを走査型電子顕微鏡の２次電子信号波形から測定する。 - 特許庁

The laser scanning type fluorescence microscope has a laser light source part 1 and a detection part for detecting fluorescence emitted from a specimen 8 irradiated with the light from the laser light source part 1.例文帳に追加

レーザ光源部１と、レーザ光源部１からの光が照射された標本８で発する蛍光を検出する検出部を有する蛍光顕微鏡である。 - 特許庁

This plate inspection device includes a control unit, a stage having a flat plate 32 for supporting a plate 2 having a plurality of holes 2a formed thereto and a microscope provided with the stage.例文帳に追加

プレート検査装置は、制御装置と、複数の孔２ａが形成されたプレート２を支持する平板３２を有するステージと、ステージが設けられた顕微鏡とを含んでいる。 - 特許庁

The microscope system 10 has a plurality of light emitting diodes 16, etc., ringed as a lighting means 14 for an observed body 13 and lights up the observed body from the outer circumferential side of a lens 10a.例文帳に追加

顕微鏡系１０は、被観察物１３の照明手段１４として、複数個の発光ダイオード１６・・・を環状にしてレンズ１０ａの外周側から照明する。 - 特許庁

The magnetic scanning/ positioning system with at least two items of degree of freedom can be used in the fields of a scanning probe microscope, data memory and imaging.例文帳に追加

少なくとも２つの自由度を有する磁気走査または位置決めシステムが、走査型プローブ顕微鏡の分野、またはデータ記憶若しくはイメージングの分野で使用され得る。 - 特許庁

The operation microscope 100 has a microscopic main objective lens 101 through which the observation light path for main observation and the observation light path 106 for simultaneous observation pass.例文帳に追加

手術用顕微鏡１００は、主観察のための観察光路と同時観察のための観察光路１０６とが通る顕微鏡主対物レンズ１０１を有している。 - 特許庁

To provide a microscope device that can remove liquid from the observation viewing field of a dry system objective lens when switching from a liquid-immersed objective lens to the dry system objective lens.例文帳に追加

液浸対物レンズから乾燥系対物レンズへ切り替える際に、液体を乾燥系対物レンズの観察視野から除去することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To allow positioning precision of high level such as required in a sample stage of an electron microscope device used in a field of manufacturing a semiconductor, and to allow reduction of a drift.例文帳に追加

半導体製造分野で用いられる電子顕微鏡装置の試料ステージで要求されるような高いレベルでの位置決め精度やドリフトの低減を可能とする。 - 特許庁

To provide an image display device for a scanning electron microscope, capable of printing the accurate magnification together with an image, even when the image is printed in any desired size.例文帳に追加

画像を任意の大きさで印刷する場合でも、画像と共に正確な倍率の印刷を行うことができる走査電子顕微鏡の画像表示装置を実現する。 - 特許庁

The electrode for an electric double layer capacitor is composed of carbon having a nano structure where the lattice section spacing determined by means of an electron microscope is in the range of 2-50 nm.例文帳に追加

電子顕微鏡による格子断面間隔が２〜５０ｎｍの範囲であるナノ構造を有するカーボンを用いて、電気二重層キャパシタ用電極を構成する。 - 特許庁

To provide a luminous body with high speed of response and luminescence intensity, and to provide an electron beam detector, scanning electron microscope and mass spectroscope using the same.例文帳に追加

応答速度が速く、且つ発光強度が高い発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置を提供する。 - 特許庁

A nondestructive process for an evaluation of the subsurface damage of the optical element comprises to measure a reflection light intensity by focusing a microscope onto a point of the optical element.例文帳に追加

光学素子の表面下の損傷を評価するための非破壊的なプロセスは、光学素子内の点に顕微鏡の焦点を合わせ、反射光の強度を測定する。 - 特許庁

To provide a lighting system, a slit lamp using the lighting system and a microscope enabling miniaturization and suppression of heat generation and suppressing the uneven brightness.例文帳に追加

小型化および熱の発生を抑えることが可能であり、明るさのムラを抑えることが可能な照明装置、この照明装置を用いたスリットランプ、顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe electron microscope (SFM) facilitating a change of probes while dispensing with adjustment for positioning a deflection detector after a change of probe.例文帳に追加

プローブ交換を容易にするとともにプローブ交換後の偏向検出器の位置決めのための調節を不要にした走査型プローブ電子顕微鏡（ＳＦＭ）を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging method capable of observing one fluorescent coloring matter molecule with high time resolving power, an imaging device therefor and a total reflection type fluorescence microscope using the imaging device.例文帳に追加

蛍光色素分子1個の観察を高時間分解能で可能にする画像化方法及び装置、並びに、それを用いた全反射型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope for obtaining a quantitative image by detecting fluorescence from a sample in uniform conditions in each pixel period.例文帳に追加

各画素周期において均一な条件で標本からの蛍光を検出して、定量性のある画像を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To illustrate, a sample 34 placed at the end 20 of a sample holder 7 can be maintained at a temperature of liquid nitrogen in a low temperature TEM (transparent electron microscope) as its embodimenet.例文帳に追加

例えば、低温ＴＥＭ（透視型電子顕微鏡）において、試料ホルダ７の末端２０に配置される試料３４が、例えば、液体窒素の温度に維持され得る。 - 特許庁

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.例文帳に追加

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly sensitive X-ray detector prevented from generating distortion of a secondary electron image caused by an astigmatism and the like, even when getting close to a sample inside an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内の試料に近接させても非点収差等による２次電子像の歪みを起こさない高感度なＸ線検出器を提供することである。 - 特許庁

To provide a coating method that can be easily applied to an observation sample for a scanning electron microscope and can fully observe fine structure of a sample surface.例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の観察試料に簡便に適用することができ、かつ試料表面の微細構造を十分に観察し得るコーティング方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce the user's burden relating to operation in selecting the region of the color three-dimensional images obtained from a color confocal microscope as a measurement range of a sample.例文帳に追加

試料の測定範囲としてカラー共焦点顕微鏡から得られたカラー三次元画像の領域を選択する際の操作に係るユーザの負担を軽減させる。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope in which phase contrast and halo are varied by a simple operation, and a variety of specimens are observed at a most suitable phase contrast.例文帳に追加

簡単な操作で位相差のコントラストとハローを変化させ、さまざまな標本で最も適した位相差観察をすることができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a three-dimensional image of a sample which is free of lightness unevenness in a short time by making better use of sectioning effect as a feature of the confocal microscope.例文帳に追加

本発明は、共焦点顕微鏡の特徴であるセクショニング効果をより生かして明るさむらの無い試料の３次元画像を無駄時間なく短い時間で構築する。 - 特許庁

To provide a probe for a magnetic force microscope capable of observing a magnetic domain structure without causing the invasion problem of local magnetism even in the magnetic domain structure of a nanometer size.例文帳に追加

ナノメートルサイズの磁区構造であっても、局所磁性の侵襲の問題が生じることなく磁区構造の観測が可能な磁気力顕微鏡用プローブを提供する。 - 特許庁

The technology comprises a microscope 10, an imaging apparatus 20, a computer 50 for performing an imaging control and a picked up image processing, an input apparatus 30 and a display apparatus 40.例文帳に追加

顕微鏡１０と、撮像装置２０と、撮像の制御および撮像された画像の処理を行うコンピュータ５０と、入力装置３０と、表示装置４０とを含む。 - 特許庁

To provide a revolver device that prevents wear of an biasing means and less likely causes deterioration in positioning precision of objective lenses, and to provide a microscope that has the revolver device.例文帳に追加

付勢手段の摩耗を抑制することができ、対物レンズの位置決め精度が悪化し難いレボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope by which plural observers can simultaneously perform observation, and an optimum observation position can be selected and observed while the observers can take the various kinds of observing styles.例文帳に追加

複数人が同時に観察でき、様々な観察スタイルをとりながら、最適な観察位置を選択して観察することができる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a double confocal scanning type microscope which can realize at least almost theoretically realizable resolution especially in association with polychromatic fluorescent use.例文帳に追加

特に多色蛍光用途に関連して、少なくともほぼ理論的に可能である解像力を実現することができる二重共焦点走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an apochromat class objective lens for an immersion microscope whose numerical aperture attains about 1.2, and which hardly causes distortion of an image surface and has an intermediate magnification (about 50).例文帳に追加

水浸系で、開口数が１．２程度に達し、像面歪曲の少ない、中倍率（５０倍前後程度）のアポクロマート級の水浸系顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

The microscope is provided advantageously with at least one means of changing the object side focusing position of the irradiation light between the light source (2) and the objective lens (7) within an irradiation optical path (1).例文帳に追加

照射光路（１）内に、有利には光源（２）と対物レンズ（７）との間に、照射光の対象物側合焦位置を変化させる少なくとも１つの手段を設ける。 - 特許庁

To provide a color laser scanning type microscope which can obtain a high-pixel and high-sharpness color image by removing noises, signal distortion, etc., of a signal processing system and is inexpensive.例文帳に追加

信号処理系統におけるノイズ及び信号歪み等を排除して高画素、高鮮明カラー画像が得られ、しかも安価なカラーレーザー走査型顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide an electron microscope apparatus and a brake mechanism capable of reducing vibration even when a stage moves at a high speed, reducing drift in stopping the stage, and positioning with high precision.例文帳に追加

ステージを高速移動しても低振動であり、ステージ停止時のドリフトが小さく、高精度の位置決めを行える電子顕微鏡装置およびブレーキ機構に関する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope that can prevent the occurrence of fringes by automatically adjusting a scanning zone of spot light and to thereby obtain proper observation images.例文帳に追加

スポット光の走査範囲を自動的に調整することで縞の発生を防止し良好な観察画像を得ることができるスキャン型コンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a high-performance tuning fork with a relatively simple structure and a method for manufacturing the same, and a focusing device, a displacement sensor and a confocal microscope, using the same.例文帳に追加

比較的容易な構成で性能の高い音叉、及びその製造方法、並びに、音叉を用いた合焦装置、変位センサ、及び共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope apparatus capable of spectroscopic measurement and near-field measurement, in addition to conventional scanning probe measurement.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置によって、従来の走査型プローブ測定に加えて分光学的測定および近視野測定を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁