「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(133ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a general type confocal laser scanning microscope constituted so that a light source which is inexpensively acquired and operated can be used for the purpose of CLSM.例文帳に追加

獲得および運転が低コストであるような光源がＣＬＳＭ用途に使用されることもできるようにした一般的なタイプの共焦点レーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope capable of simultaneously measuring the surface shape of a sample and a plurality of physical properties in a microregion.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能な顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system deriving and forming an intensity distribution of illumination light suited for observing, in an optimal state, an image of an object under observation.例文帳に追加

観察中の物体の像を最良の状態で観察するために適した照明光の強度分布を導き出して形成する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

In summary, one now has all the flexibility and power of modern image-processing techniques that can be run on workstations available at the microscope. 例文帳に追加

要約すると、研究者は今や、顕微鏡で利用できるワークステーション上で動かすことができる近代的な画像処理技法のすべての柔軟性と力を持っている。 - 科学技術論文動詞集

To provide a scanning confocal microscope in which a plurality of light sources are separated, laser light is made incident on a device body part, and a light source can be easily added after a device is delivered.例文帳に追加

複数の光源を分けて装置本体部に入射させたり、装置納入後に光源を追加することが容易な走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the inverted microscope, each of optical paths is set so that an optical path P15 and an optical path P17 of an image forming optical system 202 are orthogonally intersect each other when viewed from above.例文帳に追加

倒立顕微鏡では、結像光学系２０２の光路P１５と光路P１７とが、上方から見たときに、互いに直交するように、各光路が設定されている。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus that can observe into the interior of a specimen and that can apply an optical stimulus over a wide area within a short period of time.例文帳に追加

、標本の内部まで観察できるとともに、広範囲に渡る光刺激を短時間で行うことのできる顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical axis adjusting method capable of easily setting an optical axis in the rear surface of a cantilever in a scanning probe microscope equipped with an optical lever type displacement detection system constituted by utilizing the rear surface of the cantilever, an optical axis adjusting auxiliary jig fitted thereto and the scanning probe microscope having optical axis adjusting constitution.例文帳に追加

カンチレバーの背面を利用して構成される光テコ式の光学式変位検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡でカンチレバーの背面での光軸設定を容易に行える光軸調整方法、この光軸調整法に適した光軸調整用補助具、およびこの光軸調整の構成を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope system is equipped with a microscope mirror part 4 equipped with a stereomicroscope optical system for stereomicroscopically observing an operating part, an endoscope 18 performing the auxiliary observation of the dead angle of the mirror part 4 and an endoscope connection part 12 provided in the mirror part 4 and optically connecting the endoscope 18 to the mirror part 4.例文帳に追加

術部を実体観察するための実体顕微鏡光学系を備えた顕微鏡鏡体部４と、この顕微鏡鏡体部４の死角を補助観察する内視鏡１８と、顕微鏡鏡体部４に設けられてこの内視鏡１８を顕微鏡鏡体部４に光学的に接続する内視鏡接続部１２とを備えた手術用顕微鏡装置。 - 特許庁

A friction force microscope includes a calculation mechanism which calculates the effective probe height and twist spring constant of a cantilever in the friction force microscope by bending sensitivity obtained from displacement information of the cantilever in the bending direction and twisting sensitivity obtained from displacement information in the twisting direction, respectively, and calculates a friction force using the calculation values.例文帳に追加

摩擦力顕微鏡においてカンチレバーの有効な探針高さおよび捻れバネ定数を、それぞれカンチレバーの撓み方向の変位情報から求めた撓み感度および捩れ方向の変位情報から求めた捩れ感度により算定し、該算定値を用いた摩擦力の算定機構を備えた摩擦力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The common sample holder for a scanning electron microscope device and a focused ion beam device is set mountable on a scanning electron microscope device with an electron beam backscatter pattern measurement function and on a focused-ion beam device with a microsampling function, and enables a crystal orientation analysis and microsampling, without having to remount a sample.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダーは、電子線後方散乱パターン計測機能を有した走査型電子顕微鏡装置と、マイクロサンプリング機能を装備した集束イオンビーム装置とに装着可能で、試料の載せ替え作業をせずに結晶方位解析とマイクロサンプリング加工が可能であることを特徴とする。 - 特許庁

This microscope still picture observation system is provided with TV cameras 11 and 12 fetching in the observed picture of a desired sample as a still picture and the comments and the marks for observation information fetched by the TV cameras 11 and 12 are put in the microscope still picture observation system by which the magnification of the fetched picture is freely changeable.例文帳に追加

本発明の顕微鏡静止画像観察システムは、所望とする標本の観察画像を静止画像として取り込むＴＶカメラ１１，１２を有し、取り込む画像の倍率が変更自在な顕微鏡静止画像観察システムにおいて、前記ＴＶカメラ１１，１２で取り込んだ観察情報に対するコメントや印を付けることができることを特徴とする。 - 特許庁

Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.例文帳に追加

もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.例文帳に追加

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁

For disposing the nano-tube in a desired place, the precise disposition control using an electron microscope is conducted with the same focal depth used on the stage, in which a base board installing table having an angle is installed and the nano-tube is moved in the horizontal direction, and therefore, the situation of the movement can be observed through the microscope owing to the same focal depth.例文帳に追加

任意の場所へナノチューブを配置するには、電子顕微鏡を利用し、ステージ上に同一焦点深度を利用した精密配置制御を行うために、角度をつけた基板設置台を設け、ナノチューブは、水平方向に移動させるので、同一焦点深度であるため、移動の状況は、該顕微鏡により観察することができる。 - 特許庁

To provide a microscope for operation which facilitates the interlocking of variable power between an operator and an assistant, does not entail the upsizing of the microscope, enables the stereoscopic view of the assistant, makes the assistant's observation field the same as the operator's observation field and enables the assistant' s observation position with respect to the operators observation position in lateral positions and opposite positions.例文帳に追加

術者と助手の変倍の連動が容易で且つ顕微鏡の大型化を招くことがなく、また、助手の立体視が可能で且つ助手の観察野が術者の観察野と同一であり、更には、術者の観察位置に対する助手の観察位置が側方位置および対向位置で可能な手術用顕微鏡の提供を目的としている。 - 特許庁

An optical part D comprises a microscope illuminating optical system D1, which detects the surface of a semiconductor wafer 2 as first surface data with microscope illumination and a laser scattering type optical system D2, which detects the surface of a semiconductor wafer 2 as second surface data detecting scattered laser rays from a semiconductor wafer 2 by the use of laser rays.例文帳に追加

光学部Ｄは、顕微鏡照明によって半導体ウェハ２表面を第１表面情報として検出する顕微鏡照明光学系Ｄ１、レーザ光を用いて半導体ウェハからのレーザ散乱光を検出することによって半導体ウェハ２表面を第２表面情報として検出するレーザ散乱式光学系Ｄ２を含む。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points.例文帳に追加

本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。 - 特許庁

A reference position of a measurement position by a scanning electron microscope or the like is set based on position information of a reference pattern on an image which is formed at a position apart from the measurement position and obtained by a scanning electron microscope or the like and information of the position relationship between a reference pattern detected based on a design data and the measurement position.例文帳に追加

上述のような問題を解決するため、測定個所から離間した位置に形成され、走査電子顕微鏡等によって得られる画像上の基準パターンの位置情報と、設計データに基づいて検出される基準パターンと測定個所の位置関係の情報に基づいて、走査電子顕微鏡等による測定個所の基準位置を設定する。 - 特許庁

The microscope units Su, Su' for an assistant are disposed in the guide rail 14 to be movable between the usage position and the non-usage position in a circumferential direction of a main microscope unit 12.例文帳に追加

また、手術用顕微鏡１０は、前記顕微鏡本体１１の鏡筒１２ａに顕微鏡本体１１の対物レンズ１２ｃの光軸を中心に周方向に延びるガイドレール１４が設けられ、助手用顕微鏡ユニットＳｕ，Ｓｕ′が前記主顕微鏡ユニット１２の周方向に使用位置と不使用位置との間で移動可能に前記ガイドレール１４に取り付けられている。 - 特許庁

This sample inspection device comprises: a microscope 1 equipped with a CCD camera and an illumination device; an image processing device 8 for controlling the microscope 1; an inspection stage 2 for moving an inspection object 3 to an inspection position; a stage drive control device 4 for driving and controlling the inspection stage 2; and a system control device 6 for controlling the whole inspection system.例文帳に追加

試料検査装置は、ＣＣＤカメラ及び照明装置を備えた顕微鏡１、この顕微鏡１を制御する画像処理装置８、被検査対象３を検査位置に移動する検査ステージ２、この検査ステージ２を駆動・制御するステージ駆動・制御装置４及び検査システム全体を制御するシステム制御装置６で構成される。 - 特許庁

In electron irradiation observation from a normal direction on the surface of a wafer WF using a first column 8 of a scanning electron microscope; when it is determined that a defect is caused by releasing, an edge of the wafer WF is moved to an imaging position of the second column 16 of the scanning electron microscope by an XYθ stage 24, and the edge of the wafer WF is observed obliquely.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の第一カラム８によるウェハWF表面の法線方向からの電子照射観察において、欠陥がはがれに起因すると判定される場合に、ＸＹθステージ２４によってウェハWFのエッジを走査型電子顕微鏡の第二カラム１６の撮像位置に移動し、斜方からウェハWFのエッジを観察する。 - 特許庁

To realize a computing means which can optimize an amount of focal gap in STEM and which can erase a virtual image and receive a feedback of a condition by substantially shortening the period of time to obtain a computed image and by comparing an image of an electron microscope to the computed image right after observation in an observation method and an observation equipment by a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置に関し、ＳＴＥＭに於ける焦点ずれ量の最適化や虚像の消去を可能にする計算手段を実現し、そして、計算像を得る為の時間を大幅に短縮して電子顕微鏡像を観察直後に計算像と比較して条件をフィードバックできるようにする。 - 特許庁

On a sample holder 20 for an electron microscope, the electron beam that transmits through a sample S supported by a grid 28 and passes through an aperture member 31 with a main body portion 21 attached to a sample stand of a scanning electron microscope is irradiated on a secondary electron generating surface 32, resulting in a secondary electron being generated from the secondary electron generating surface 32.例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ２０においては、走査型電子顕微鏡の試料台に本体部２１が取り付けられた状態で、グリッド２８によって支持された試料Ｓを透過し且つ絞り部材３１を通過した電子線が２次電子発生面３２に照射され、それにより、２次電子発生面３２から２次電子が発生させられる。 - 特許庁

The observing positions and directions of the surgical microscope 1 and the ultrasonic probe 37 relative to the portion A to be operated on are detected, and an image observed by the ultrasonic probe 37 is displayed on a predetermined portion of an image observed by the surgical microscope 1, while the former is visually correlated with the latter according to the detection result.例文帳に追加

手術用顕微鏡１の観察位置及び方向と、超音波プローブ３７の観察位置及び方向との術部Ａに対するそれぞれの相対位置を検出し、、この検出結果をもとに、超音波プローブ３７の観察像が、手術用顕微鏡１の観察像の所定の部分に、視覚的に相関付けて表示される。 - 特許庁

A relative height position value between a focal point of a microscope and the sample solution is successively varied, and plane images are photographed through the microscope at respective relative height positions, and areas of specific polymer crystals are computed from their plane images at the relative height positions respectively, and the relative height position value is calculated in such a condition that its corresponding area represents the minimum value.例文帳に追加

顕微鏡の焦点と試料溶液との間の相対高さ位置を逐次変更し、各相対高さ位置において顕微鏡をとおして得られる平面画像を撮像するとともに、各高さ位置における特定高分子結晶の平面画像からそれぞれの面積を算出し、この面積が最小となるときの前記相対高さ位置を算出する。 - 特許庁

Furthermore, when the position of the microscope A is decided, the placing part 13 is gradually lowered by gradually evacuating the air from the bearing part 21, and finally, the base board 16 is brought into contact with the top board 17, so that the top board 17 and the base board 16 are integrated and the blur of the microscope A after the alignment is prevented.例文帳に追加

さらに、顕微鏡Ａの位置の決定がなされると、ベアリング部２１からエアーを徐々に抜くことにより顕微鏡載置部１３が徐々に降ろされ、最終的に天板１７に対してベース板１６が密着するので、天板１７とベース板１６とが一体化し、位置合わせ後における顕微鏡Ａのブレ防止が可能になる。 - 特許庁

The laser microdissection unit for cutting a microscopic sample (3) using a laser beam of a laser (19) includes a microscope (1) including an illumination beam path directed onto the sample (3) and an imaging beam path configured to image the sample (3), and the microscope includes a fluorescence device (14) including an excitation filter (15), a dichroic beam splitter (16) and a blocking filter (17).例文帳に追加

レーザー（１９）のレーザービームを用いて顕微鏡サンプル（３）を切断するレーザー顕微解剖ユニットは、サンプル（３）に向けられた照明ビーム路とサンプル（３）を映し出す画像形成ビーム路とを有する顕微鏡（１）を含み、当該顕微鏡は更に励起フィルター（１５）、二色性ビームスプリッター（１６）及び阻止フィルター（１７）を備える蛍光装置（１４）を含む。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample to be observed under an electron microscope, by which a sample for electron microscope is easily prepared with high alignment accuracy for a prescribed region, without having to cleave a wafer to analyze planar shape profile, and obtained data is combined to also analyze a three-dimensional shape profile.例文帳に追加

ウェハを劈開せず、特定領域に対して高い位置合わせ精度で、より簡便に、電子顕微鏡用試料を作成して平面形状プロファイルを解析することができ、得られたデータを合成して三次元の形状プロファイルをも解析することができる電子顕微鏡観察用試料の作成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect evaluation method capable of precisely and rapidly preparing a flaky sample for electron microscope observation by a converged ion beam sample preparing device in relation to a semiconductor crystal including an internal defect used as an observation object and capable of evaluating the crystalline defect in detail by observing the flaky sample with an electron microscope.例文帳に追加

観察対象とする内部欠陥を含む半導体結晶に対し、収束イオンビーム試料作製装置による電子顕微鏡観察用薄片試料の作製を高精度かつ短時間で行うことができ、該薄片試料を電子顕微鏡で観察することによって詳細に結晶欠陥の評価を行うことができる欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

When the refractive index setting auxiliary liquid for setting the refractive index of microscope objective liquid immersion oil is mixed to a liquid immersion oil of standard refractive index, the refractive index setting auxiliary liquid is mixed by the amount required for realizing a refractive index, which is determined in response to the temperature of the sample to be observed and/or the thickness of cover glass for microscope.例文帳に追加

標準屈折率液浸油に、顕微鏡対物用液浸油の屈折率を設定するための屈折率設定用補助液を混合するに際して、前記屈折率設定用補助液を、観察する標本の温度及び／又は顕微鏡用カバー硝子の厚さに対応して決定される屈折率になる量だけ混合することを特徴とする。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a rack for a microscope specimen container capable of efficiently and stably housing a large number of containers, even when the microscope specimen containers have many uneven parts and unique shapes are housed, preferably, capable of housing them in both the longitudinal and the lateral directions, and is capable of freely changing the direction of the once housed container, as necessary.例文帳に追加

凹凸部が多くユニークな形状の顕微鏡標本容器を収容する場合でも多数の容器を効率的且つ安定的に収納でき、好ましくは、縦横等いずれの方向にも収納できるとともに、一旦収納された容器の向きを必要に応じ自在に変えることができる顕微鏡標本容器用ラックを提供する。 - 特許庁

An electron microscope comprises a sound wave taking-in means for taking in a sound wave from the outside to the vicinity of a column of an electron microscope unit, a graphical user interface for setting a signal taken in by the sound wave taking-in means, and a sound wave transmitting means transmitting the signal established by the graphical user interface and arranged in the vicinity of the column.例文帳に追加

本発明の電子顕微鏡は、電子顕微鏡装置のカラム周囲に外部からの音波の信号を取り込む音波取込手段と、この音波取込手段により取り込んだ信号を設定するＧＵＩと、このＧＵＩにより設定された信号を発信する前記カラムの周囲に設けられた音波発信手段とを備えた構成とする。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by this fiber illumination-type microscope system which is provided with a light source part, a microscope body having an objective lens, a single-core fiber for transmitting a light from the light source part, a mode scrambler for mode-scrambling the light incident into the fiber, and an illumination optical system for illuminating a sample with the emitted light from the fiber.例文帳に追加

光源部と、対物レンズを有する顕微鏡本体と、前記光源部からの光を伝達する単芯コアのファイバと、前記ファイバに入射した光に対してモードスクランブルをかけるモードスクランブラと、前記ファイバの出射光を標本に照明する照明光学系と、を備えるファイバ照明型顕微鏡システムにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

The sample observation method using the electron microscope includes a fixing process for placing the sample 1 on a sample stand 2 and heating the metal joining material 3 while subjecting the same to ultrasonic vibration not only to join and fix the sample 1 and the sample stand 2 but also to electrically connect both of them and the sample 1 is observed using the electron microscope as it remains fixed on the sample stand 2.例文帳に追加

試料台２上に試料１を載置し、金属接合材３を超音波振動させながら加熱することで試料１と試料台２とを金属接合材３により接合して固定すると共に電気的に接続する固定工程を備え、試料台２上に試料１を固定した状態で電子顕微鏡を用いた観察を行う。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that accurately specifies the measuring region of a sample having a minute pattern that cannot be observed easily by an optical microscope, is capable of alignment, and can correct measuring profile distortion caused by the variation of a probe shape or probe wear, based on the state of the probe shape and probe wear.例文帳に追加

光学顕微鏡では観察が困難であるような微細パターンを有する試料の計測領域を正確に特定し、位置合わせすることができ、探針形状および探針磨耗の状態に基づいて、探針形状のばらつき、もしくは探針磨耗に起因する計測プロファイル歪みの補正を行うことのできる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This SQUID microscope is characterized in that a space between an end of the probe of a SQUID microscope part thereof and the specimen to be measured is measured by means of a variation in a tunnel current generated therebetween and that a control part is provided to control the space between the probe and the specimen so that the value of the current becomes a desired value.例文帳に追加

本発明１のＳＱＵＩＤ顕微鏡は、そのＳＱＵＩＤ顕微鏡部のプローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流の変動にて測定し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御する制御部が設けてあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

To provide a self displacement sensing cantilever that allows measurement of a scanning probe microscope to be simultaneously executed under irradiation with light, facilitates application of a functional coating film without impairing functions of a displacement detection unit, and also, allows physical properties such as light, electricity, and magnetism to be highly accurately and easily measured, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

光を照射しながら走査型プローブ顕微鏡の測定を同時に行うことが可能で変位検出部の機能を損なうことなしに機能性の被膜を容易に行うことができ、光、電気、磁気などの物性を高精度で容易に測定可能となる自己変位検出型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope in which effect of noises on an observation image due to mechanical vibration can be reduced by fixing a coarse movement mechanism of a sample stage in order to compensate shortage of contact face pressure in slide mechanism/guide mechanism after finishing search for observation regions concerning the scanning microscope.例文帳に追加

本発明は走査型顕微鏡に関し、滑り機構・ガイド機構における当たり面圧力の不足を補うため、観察部位の探索を終了した後に、試料ステージの粗動機構を固定し、機械的振動による観察画像へのノイズの影響を低減することができる走査型顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

The imaging device applied to imaging of the observed image by the microscope displays the focusing information of the image formed by the imaging device according to at least one state of the combinations of optical systems relating to at least objective lens (27) and photographic eyepiece (35a) on the microscope (1) side and a speculum method.例文帳に追加

顕微鏡による観察像の撮像に適用される撮像装置において、前記顕微鏡（１）側の少なくとも対物レンズ（２７）と写真接眼レンズ（３５ａ）の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、及び検鏡方法の少なくとも１つの状態に応じて、前記撮像装置で撮像された画像の合焦情報を表示する。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The immersion objective lens OL for a microscope is arranged on the object side in the observation optical system of a microscope and the surface of the lens OL closest to the object side is located in immersion liquid and used to emit an enlarged image of the object, wherein the lens surface closest to the object side of a lens L1 which is located closest to the object is formed concave with respect to the object.例文帳に追加

顕微鏡の観察光学系において物体側に配置され、最も物体側の面が浸液内に位置して物体の拡大像を出射する液浸系顕微鏡対物レンズＯＬにおいて、最も物体側に位置するレンズＬ１の最も物体側のレンズ面が物体側に凹面となるように形成される。 - 特許庁

This system has the microscope 1 for enlarging an object, a CCD camera 2 which picks up the image enlarged by the microscope 1, a monitor 3 which projects the enlarged image by inputting an image pickup signal picked up by the CCD camera 2 and a printer 4 which is inputted with the image pickup signal picked up by the CCD camera 2 and prints the paper with the enlarged image.例文帳に追加

対象物を拡大するための顕微鏡１と、顕微鏡１で拡大した画像を撮像するＣＣＤカメラ２と、ＣＣＤカメラ２により撮像した撮像信号を入力して拡大画像を映し出すモニタ３と、ＣＣＤカメラ２により撮像した撮像信号を入力して拡大画像を印刷するプリンター４とを備える。 - 特許庁

The inspection device of the semiconductor device is equipped with a microscope 5, which is equipped with a mounting part 9 having the semiconductor device being an inspection target mounted thereon, and a stabilizing member 11 arranged adjacent to the microscope 5 and constituted so as to stabilize the position of the hand 15 of the inspector who inspects the semiconductor device mounted on the mounting part 9.例文帳に追加

本発明の半導体素子の検査装置は、検査対象の半導体素子を載置する載置部９を備える顕微鏡５と、顕微鏡５に隣接して配置され、前記載置部９に載置された半導体素子の検査を行う検査者の手１５の位置を安定させるように構成された安定化部材１１とを備えることを特徴とする。 - 特許庁