「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(136ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope device that prevents a flare during a dark field observation, and also prevents limb darkening during a bright field observation, thereby obtaining superior observation images through both observation.例文帳に追加

暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ、明視野観察時には周辺減光を防止し、両観察とも良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of observing a large-sized test piece, and capable of reducing a waiting time when a small-sized test piece is observed.例文帳に追加

大型試料も観察可能で、しかも小型試料の観察を行う場合にあっては、試料観察開始の待ち時間の短縮をはかることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an information processor for correcting unpredictable brightness unevenness, a method of processing information, program and an image pickup device with an optical microscope mounted thereon.例文帳に追加

予測することが難しい明度ムラを補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a measuring microscope that achieves accurate overall measurement by using an optical system lens such as a comparatively inexpensive and narrow-field telecentric lens.例文帳に追加

本発明は、比較的安価で狭視野なテレセントリックレンズなどの光学系レンズを使用して高精度、かつ全体を見渡した測定を行うことが可能となる測定顕微鏡に関するものである。 - 特許庁

To disclose a method and a device for controlling a beam in a scanning microscope with which individual areas or interested areas scattered over a whole focused area are scanned.例文帳に追加

個々の領域、結像領域全体にわたって分散されている関心のある領域を走査する走査型顕微鏡におけるビーム制御のための方法および装置が、開示される。 - 特許庁

To obtain a scanning electron microscope or a charged particle beam device having a function capable of easily managing the use state, e.g. the irradiation position of a microscale or the number of uses.例文帳に追加

マイクロスケールの照射位置あるいは使用回数といった使用状態を簡便に管理できる機能を備えた走査電子顕微鏡あるいは荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁

This test sample is observed with an optical microscope and the observed image is picked up with an image pickup element such as a CDC camera to form a sample image.例文帳に追加

次に、この試験サンプルを光学顕微鏡によって観察し、この光学顕微鏡によって観察した観察画像を、ＣＣＤカメラ等の撮像素子により撮像し、サンプル画像を生成する。 - 特許庁

To provide microscopy and a microscope capable of observing desired information of samples with an extremely high S/N ratio in a short time without having to raise the intensity of a light source.例文帳に追加

試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いＳ／Ｎで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope which permits the insertion and removal of an image pickup optical path without renewal of a body tube simply by inserting and removing an intermediate body tube unit between a body and the tube body.例文帳に追加

中間鏡筒ユニットを鏡体と鏡筒との間に挿脱するだけで鏡筒をバージョンアップすることなしに撮像光路を挿脱できる倒立型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which enables obtaining of a bright non-confocal image and performs difference image computation for changing the depth of focus, without increasing the load of a CPU.例文帳に追加

明るい非共焦点画像が得られるとともに、ＣＰＵの負荷を増大させること無く焦点深度を変更させる差画像演算を行う共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic resonance force microscope capable of providing sample information on the surface of a sample or a micro area on the surface of the sample while permitting wide area scanning.例文帳に追加

試料表面もしくは試料表面微小領域の試料情報を得ることができるとともに、より広域走査を可能にする磁気共鳴力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

To be able to feed or discharge various kinds of solutions or gases required for culturing cells, in a state of reduced stimulation to the cells, at a long-term observation of cells under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下での細胞長期観察時に、細胞培養に必要な各種の液体または気体を細胞への刺激を低減した状態で供給排出できるようにすること。 - 特許庁

To provide a microscopic optical analysis system hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters or the like.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、微小な異物等も確実に検出・同定できる顕微光学分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope control device and an area determination method which suppress an estimated error of a defocus amount and can suppress a load necessary for defocus amount arithmetic processing.例文帳に追加

デフォーカス量の推定誤差を抑制するとともに、デフォーカス量演算処理に要する負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び領域判定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope device capable of appropriately determining adjusting degree of sensitivity even when the inspected object has an unclear outline due to irregularity on the surface.例文帳に追加

表面の凹凸による輪郭が明瞭でない検査対象物であっても、感度の調整具合を適切に判断することができる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A scanning probe microscope 1 has a constitution equipped with the material supply probe device 1a, a sample capturing probe 15, and a moving part 16 for moving relatively the sample capturing probe 15.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、物質供給プローブ装置１ａと、試料捕捉プローブ１５と、試料捕捉プローブ１５を相対移動させる移動部１６とを備えて構成した。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing, evaluating and processing a nano structure by making full use of respective features of a SEM function and a SPM function.例文帳に追加

ＳＥＭ機能とＳＰＭ機能のそれぞれの特徴を十分に生かしきったナノ構造体の観察、評価、加工を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To prevent reduction of a resolution capacity of an image by limiting dispersed electrons in a small scanning electron microscope using a condensing lens which excludes an adjusting function such as axis aligning and intensity.例文帳に追加

本発明は、軸合せや強度の調整機能を省いたコンデンサレンズを使用した小型の走査電子顕微鏡において、散乱電子を制限して画像の分解能の低下を防止する。 - 特許庁

To align the optical axis of an objective with the optical axis of a microscope main body with a simple structure and to increase the number of fitted objectives in a small structure.例文帳に追加

対物レンズの光軸と顕微鏡本体の光軸とを一致させる心調整を簡単な構造で行うと共に、小さな構造として対物レンズの取り付け本数を増大させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a plurality of electrically independent probes, capable of operating a micro-material having the size below 100 nm, and electric measurement thereof.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブを有し、１００ｎｍ以下程度の微小な物質の操作を可能とし、かつ電気測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The arithmetic operation part 201 of a controller 102 obtains a representative image representing the image of the sample 106 from one of the plurality of images acquired by the microscope body 101.例文帳に追加

コントローラ１０２の演算部２０１は、顕微鏡本体１０１により取得された該複数の画像のひとつから、試料１０６についての画像を代表する代表画像を得る。 - 特許庁

To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁

This invention relates to the double confocal scanning type microscope having an irradiation beam passage 2 of at least one light source 3 and a detection beam passage 4 of at least one detector 5.例文帳に追加

本発明は、少なくとも１つの光源（３）の照射ビーム経路（２）と、少なくとも１つの検出器（５）の検出ビーム経路（４）と、を有する二重共焦点走査型顕微鏡に関する。 - 特許庁

To provide a microfabrication method that achieves high-accuracy processing even while giving lateral oscillation to a cantilever having a probe in a microfabrication device using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工装置において、探針を有するカンチレバーに横振動を与えつつも、高精度な加工を可能とする微細加工方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope having an optical system for detection which can exactly guide the light from a specimen to a confocal diaphragm and is low in cost and small in size.例文帳に追加

本発明は、標本からの光を正確に共焦点絞りに導くことができ、しかも価格的に安価で小型な検出光学系を有する走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A controller 43 drives a stepping motor 102 for rough movement of each axis, when a microscope magnification by recognition of a magnification recognition device 100 is discriminated to be less than X times.例文帳に追加

コントローラ４３は、倍率認識装置１００の認識による顕微鏡倍率がＸ倍未満であると判別したときには、各軸の粗動用ステッピングモータ１０２を駆動する。 - 特許庁

To provide a differential pumping scanning electron microscope capable of easily carrying out maintenance and inspection of various parts of an electron-optical system and a differential pumping orifice easily making spin finishing of a pipe.例文帳に追加

電子光学系の各部品及び差動排気用オリフィスの保守点検が容易に行え、またパイプの芯出しの容易な差動排気走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a particle-optical microscope capable of suppressing signal loss between a scintillator and a photomultiplier tube and an excessive electrical current resulting from largeness of the photomultiplier tube.例文帳に追加

粒子光学顕微鏡において、光電子増倍管が大きい結果生じるシンチレータと光電子増倍管との間での信号損失、及び、過剰に流れる電流を抑制する。 - 特許庁

When the zoom knob 61 is operated by a viewer, the second and third lens frames 22, 23 are moved and the magnification of the microscope is varied, and the diameter of the opening of the aperture diaphragm 31 is varied.例文帳に追加

観察者がズームノブ６１を操作したとき、第２レンズ枠２２と第３レンズ枠２３とが動き、顕微鏡の倍率が変わるとともに、開口絞り３１の開口径が変わる。 - 特許庁

The camera control unit 13 then records the observation image as adding information on items of comment and setting information indicating settings of a microscope system, both specified by a user.例文帳に追加

そして、カメラコントロールユニット１３は、ユーザにより指定されたコメントの各項目の情報と、顕微鏡システムの設定を示す設定情報とを観察画像に付加して記録させる。 - 特許庁

Temperature rise of the sample 6 surface by irradiation of the focused charged particle beams 3 is measured by the scanning thermal microscope, and when it exceeds the prescribed temperature, processing is interrupted and is not performed until temperature drops.例文帳に追加

走査熱顕微鏡で集束荷電粒子ビーム3照射によるサンプル6表面の温度上昇測定し、所定温度を超える場合には加工を中断し、温度が下がるまで待つ。 - 特許庁

Further, the microscope has an ocular lens barrel 13 detachably fitted to the lens barrel moving mechanism 10, and the ocular lens barrel 13 has an imaging lens 12 and an ocular 14.例文帳に追加

顕微鏡は更に、鏡筒移動機構１０に着脱自在に取り付けられた接眼鏡筒１３を有し、接眼鏡筒１３は結像レンズ１２と接眼レンズ１４を有している。 - 特許庁

The light source is a laser light source for generating action beam, illumination beam and/or aiming beam which is provided within the slit lamp head, the slit lamp base, or the slit lamp microscope.例文帳に追加

光源は、スリットランプヘッド、スリットランプベースまたはスリットランプ顕微鏡の内部に配置された、作用光線、照明光線および／または照準光線生成のためのレーザ光源である。 - 特許庁

A discharge sharp rod of an external power supply device is disposed close to the probe tip part of the scanning type probe microscope or the handling device, whereby the carbon nanotube is cut by discharge action.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡もしくはハンドリング機器のプローブ先端部に近接して外部電源装置の放電先鋭ロッドを配置し、放電作用によりカーボンナノチューブを切断する。 - 特許庁

To provide an illuminator for a microscope capable of efficiently illuminating a sample even by using a laser beam which is not linearly polarized light, and illuminating the sample simultaneously with a plurality of laser beams having different wavelength.例文帳に追加

直線偏光でないレーザを用いても効率よく照明でき、しかも波長の異なる複数のレーザ光を同時に標本に照明できる顕微鏡照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁

In the electron microscope device, at first a Fourier transformation image of a known period is obtained, and the relationship between the distance on the image and a pixel number is obtained, and this is made as the standard scale.例文帳に追加

本発明の電子顕微鏡装置によると、先ず、周期が既知の物質のフーリエ変換像を求め、画像上の距離と画素数の関係を求め、標準スケールとする。 - 特許庁

To provide a focusing device which enables an operator to focus an objective lens at a position where an image of a high contrast can be well observed and a microscope having this device.例文帳に追加

操作者にとってコントラストの高い像を良好に観察できる位置に焦点を合わせることが可能な焦点合わせ装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning magnetic microscope capable of accurately estimating crystal conditions or the like of a sample by irradiating a sample such as a semiconductor material with an electron beam while being scanned.例文帳に追加

電子ビームを走査させながら半導体材料などの試料に照射させ、試料の結晶状況などの評価を精度良く行ない得る走査型磁気顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To easily provide an image which is in focus at any position in the image to be an observation target of a user and is free from occurrence of misalignment in the image in a virtual microscope or the like.例文帳に追加

バーチャル顕微鏡等において、画像中の、ユーザの観察対象となる何れの位置においても焦点が合うと共に画像のずれが生じることがない画像を容易に提供する。 - 特許庁

To provide a microwave near-field optical microscope for improving the sensitivity and resolution, by connecting a probe to a dielectric resonator and minimizing the influence of the temperature and the external environment.例文帳に追加

誘電体共振器に探針を結合して温度や外部環境の影響を最小化し、感度と分解能が向上したマイクロ波の近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope to detect the scattering light in an extensive angular range, and a cantilever used therefor by improving the structure of the cantilever.例文帳に追加

本発明は、カンチレバーの構造を工夫することにより、より広い角度範囲の散乱光を検出可能にした近接場光学顕微鏡及びそれに用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁

A height distribution at the same spot and in the same region as a spot measured by a CCD camera is measured by an interference microscope simultaneously with measurement of an image brightness value by the CCD camera.例文帳に追加

ＣＣＤカメラによる画像輝度値の測定と同時に、干渉式顕微鏡１８で、ＣＣＤカメラで測定している箇所と同一箇所、同一範囲の高さの分布を測定する。 - 特許庁

The reference position marks formed on the optical elements 131a, 131b are imaged with a CCD imaging element, using a microscope 190 and calculates the direction and distance to move from the images of those marks.例文帳に追加

移動方向、距離は光学素子１３１ａ，１３１ｂのそれぞれに形成した位置基準マークを顕微鏡１９０を用いてＣＣＤ撮像素子で撮像し、マーク像から算出する。 - 特許庁