「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(136ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a light source device for illumination in scanning microscopic inspection which is stable, is easily adjustable and can realizes high resolution at a low cost and a scanning microscope.例文帳に追加

安定的でかつ調節も容易であり、しかも低コストで高分解能を実現できる走査型顕微鏡検査における照明用光源装置及び走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The microscope objective includes a cemented lens formed by bonding a piano-convex lens (L11) which is disposed nearby the object side and turns its plane surface to the object side and a meniscus lens (L12) which turns its concave surface to the object side.例文帳に追加

最も物体側に配置されて物体側に平面を向けた平凸レンズ（Ｌ１１）と物体側に凹面を向けたメニスカスレンズ（Ｌ１２）との貼り合わせからなる接合レンズを含む。 - 特許庁

To provide a means of maintaining a relative position between a precisely predetermined laser link and a slitlamp microscope for easier installation and replacement of a laser link for various slitlamp microscopes.例文帳に追加

本発明は様々な細隙灯顕微鏡１、１３のケーシング２、１４へレーザリンク３を定められた通り確実に結合、位置設定させる検眼機器用アダプタ４、１５に関する。 - 特許庁

The dark field illumination device 140 can be used for the microscope which comprises an objective lens 105 and a sample support part which locates the sample 124 thereon during observation and is loadable/unloadable.例文帳に追加

暗視野照明装置１４０は、対物レンズ１０５、観察時に観察試料１２４が配置される着脱可能な観察試料支持部とを有する顕微鏡に用いられる。 - 特許庁

To provide a reaction observation container easily handeable and capable of safely observable, by macroscopic or light-optical microscope or the like, the reaction behavior of an active matter in the air such as sodium.例文帳に追加

ナトリウム等の空気中活性物質の反応挙動を、肉眼あるいは光学顕微鏡等で安全に観察でき、しかも容易に取り扱えるような反応観察容器を得る。 - 特許庁

The sample stage 3 of this scanning probe microscope has a base 13, a moving block 15, a rotary bolt 17, a first pressing plate 19, a second pressing plate 21 and four fixing bolts 23.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、４本の固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁

In the cathode active material, the element A stays independently on the matrix particles without being doped in the matrix particles and can be recognized by a scanning electron microscope observation.例文帳に追加

本発明の正極活物質は、元素Ａが母材粒子にドープされることなく、母材粒子の上に独立して配された形態を特徴としており、ＳＥＭ観察によって確認できる。 - 特許庁

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal scanning microscope capable of suppressing the degradation of the quality of a fluorescent image caused by self-fluorescence, while allowing a confocal diaphragm to act on exciting light and fluorescence.例文帳に追加

共焦点絞りを励起光及び蛍光に作用させながら、自家蛍光による蛍光画像の画質の劣化を抑制することができる共焦点走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To adjust the proportion of illuminating light introduced to a plurality of lighting optical systems of a microscope from one light source device, while restraining increase in cost and increase in size of the device.例文帳に追加

コストの増大や装置の大型化を抑制しつつ、１つの光源装置から顕微鏡の複数の照明光学系に導入する照明光の割合を調整できるようにする。 - 特許庁

To provide an information processor for avoiding a risk for missing a to-be-observed object observed by a user using a microscope, an information processing method, and a program of the same.例文帳に追加

ユーザによる顕微鏡での観察対象物の見落としの危険性を回避できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, an amplitude value of a Y-scan signal increases linearly only during an image acquisition period of time Tyu for acquiring image data, and returns to approximately zero immediately after completion of the acquisition of the image data.例文帳に追加

Ｙ走査信号の振幅値は、画像データを取得する画像取得時間Ｔｙｕの間だけ直線的に増加し、画像データの取得終了後直ちにほぼ０に戻る。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of obtaining a confocal dark field STEM image and a three-dimensional tomogram, and to provide a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

試料が傾斜した状態で、共焦点暗視野STEM像、3次元断層像を得られる試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡を提供することを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an electron staining agent, staining liquid, and an electron staining method with high performance for observing a biological sample with a transmission electron microscope, safe and easily handleable.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で生体試料を観察するための高性能かつ、安全で、容易に取り扱うことができる電子染色剤、染色液および電子染色方法を提供する。 - 特許庁

The microscope 10 is provided with a light source unit 16 having a visible ray source emitting visible rays, a UV ray source emitting UV rays, and an IR ray source emitting IR rays.例文帳に追加

顕微鏡１０は、光源ユニット１６、可視光を発する可視光源と、紫外線を発する紫外光源と、赤外線を発する赤外光源とを有する光源ユニット１６を備える。 - 特許庁

Then, the confocal laser microscope system 100 amplifies the image information 6, in conjunction with the input of an operation instruction 7 that alters the distance between the specimen 5 and the focusing position.例文帳に追加

そして、共焦点レーザ顕微鏡システム１００は、標本５と焦点位置の間の距離を変更する動作指示７の入力に連動して、画像情報６を増幅する。 - 特許庁

To perform wide area irradiation of a light flux of a long wavelength onto a sample and spot-irradiation of a light flux of a short wavelength from the same light source regarding a microscope device.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡装置に関し、同一の光源からの長波長の光束を試料に広域照射し短波長の光束をスポット照射することを目的とする。 - 特許庁

A minute flow field imaging apparatus includes an imaging apparatus (11) for imaging a particle image of visual fluid in the minute flow field (M) and a microscope (12) which is optically connected to the imaging apparatus.例文帳に追加

微小流動場撮影装置は、微小流動場(M)の可視化流体の粒子画像を撮像する撮像装置(11)と、撮像装置に光学的に連結した顕微鏡(12)とを備える。 - 特許庁

To process image data as much as real-timely while preventing image data continuously transferred from an imaging apparatus side to an image processing apparatus side from being defective in a virtual microscope.例文帳に追加

バーチャル顕微鏡において、撮像装置側から画像処理装置側へ連続的に転送される画像データの欠損を防ぎながら、画像データを極力リアルタイムに処理すること。 - 特許庁

To provide an operating microscope with a main objective (main objective lens) that extends along an objective plane and is penetrated by a binocular main observer beam path and a binocular co-observer beam path.例文帳に追加

対物面に沿って延び、且つ双眼主観察者ビーム経路及び双眼補助観察者ビーム経路が通る主対物（主対物レンズ）を備えた手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The titanium dioxide has 1-3 ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 when the primary particles thereof are observed by a field emission-type scanning electron microscope.例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope having excellent usability, and capable of certainly preventing contact between a sample to be observed and a structure in a sample chamber such as an objective lens.例文帳に追加

観察試料と対物レンズ等の試料室内の構造物の接触を未然に、かつ確実に防止することが可能な、使い勝手の良い走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with high precision and low damage, enabling identification of a frame in a defective section, or having high compression ratio of a stored image, or enabling extraction of systematic defects.例文帳に追加

欠陥箇所のフレームが特定可能な、又は保存画像の圧縮率が高い、或いはシステマティックな欠陥を抽出可能な高精度で低ダメージの走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To easily carry out excellent phase contract observation in accordance with the size of a subject without using a complicatedly constructed phase plate or an object lens in a phase contrast microscope.例文帳に追加

位相差顕微鏡において、複雑な構成の位相板や対物レンズを用いることなく被検体の大きさに対応して、容易に良好な位相差観察を行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope incorporating an automatic focus adjustment device that eliminates the need for a complicated operation in which the front focusing position of an objective lens is set to a desired observing position.例文帳に追加

所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a photodetector, a light detection method, a microscope, and an endoscope allowing to perform heterodyne detection of a desired light to be detected with high sensitivity and a high S/N ratio.例文帳に追加

所望の被検出光を高感度かつ高ＳＮ比でヘテロダイン検出できる光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device that prevents a flare during a dark field observation, and also prevents limb darkening during a bright field observation, thereby obtaining superior observation images through both observation.例文帳に追加

暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ、明視野観察時には周辺減光を防止し、両観察とも良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of observing a large-sized test piece, and capable of reducing a waiting time when a small-sized test piece is observed.例文帳に追加

大型試料も観察可能で、しかも小型試料の観察を行う場合にあっては、試料観察開始の待ち時間の短縮をはかることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an information processor for correcting unpredictable brightness unevenness, a method of processing information, program and an image pickup device with an optical microscope mounted thereon.例文帳に追加

予測することが難しい明度ムラを補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a measuring microscope that achieves accurate overall measurement by using an optical system lens such as a comparatively inexpensive and narrow-field telecentric lens.例文帳に追加

本発明は、比較的安価で狭視野なテレセントリックレンズなどの光学系レンズを使用して高精度、かつ全体を見渡した測定を行うことが可能となる測定顕微鏡に関するものである。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope device capable of appropriately determining adjusting degree of sensitivity even when the inspected object has an unclear outline due to irregularity on the surface.例文帳に追加

表面の凹凸による輪郭が明瞭でない検査対象物であっても、感度の調整具合を適切に判断することができる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A scanning probe microscope 1 has a constitution equipped with the material supply probe device 1a, a sample capturing probe 15, and a moving part 16 for moving relatively the sample capturing probe 15.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、物質供給プローブ装置１ａと、試料捕捉プローブ１５と、試料捕捉プローブ１５を相対移動させる移動部１６とを備えて構成した。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing, evaluating and processing a nano structure by making full use of respective features of a SEM function and a SPM function.例文帳に追加

ＳＥＭ機能とＳＰＭ機能のそれぞれの特徴を十分に生かしきったナノ構造体の観察、評価、加工を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To prevent reduction of a resolution capacity of an image by limiting dispersed electrons in a small scanning electron microscope using a condensing lens which excludes an adjusting function such as axis aligning and intensity.例文帳に追加

本発明は、軸合せや強度の調整機能を省いたコンデンサレンズを使用した小型の走査電子顕微鏡において、散乱電子を制限して画像の分解能の低下を防止する。 - 特許庁

To align the optical axis of an objective with the optical axis of a microscope main body with a simple structure and to increase the number of fitted objectives in a small structure.例文帳に追加

対物レンズの光軸と顕微鏡本体の光軸とを一致させる心調整を簡単な構造で行うと共に、小さな構造として対物レンズの取り付け本数を増大させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a plurality of electrically independent probes, capable of operating a micro-material having the size below 100 nm, and electric measurement thereof.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブを有し、１００ｎｍ以下程度の微小な物質の操作を可能とし、かつ電気測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The arithmetic operation part 201 of a controller 102 obtains a representative image representing the image of the sample 106 from one of the plurality of images acquired by the microscope body 101.例文帳に追加

コントローラ１０２の演算部２０１は、顕微鏡本体１０１により取得された該複数の画像のひとつから、試料１０６についての画像を代表する代表画像を得る。 - 特許庁

To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁

This invention relates to the double confocal scanning type microscope having an irradiation beam passage 2 of at least one light source 3 and a detection beam passage 4 of at least one detector 5.例文帳に追加

本発明は、少なくとも１つの光源（３）の照射ビーム経路（２）と、少なくとも１つの検出器（５）の検出ビーム経路（４）と、を有する二重共焦点走査型顕微鏡に関する。 - 特許庁

To provide a microfabrication method that achieves high-accuracy processing even while giving lateral oscillation to a cantilever having a probe in a microfabrication device using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工装置において、探針を有するカンチレバーに横振動を与えつつも、高精度な加工を可能とする微細加工方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope having an optical system for detection which can exactly guide the light from a specimen to a confocal diaphragm and is low in cost and small in size.例文帳に追加

本発明は、標本からの光を正確に共焦点絞りに導くことができ、しかも価格的に安価で小型な検出光学系を有する走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A controller 43 drives a stepping motor 102 for rough movement of each axis, when a microscope magnification by recognition of a magnification recognition device 100 is discriminated to be less than X times.例文帳に追加

コントローラ４３は、倍率認識装置１００の認識による顕微鏡倍率がＸ倍未満であると判別したときには、各軸の粗動用ステッピングモータ１０２を駆動する。 - 特許庁

To provide a differential pumping scanning electron microscope capable of easily carrying out maintenance and inspection of various parts of an electron-optical system and a differential pumping orifice easily making spin finishing of a pipe.例文帳に追加

電子光学系の各部品及び差動排気用オリフィスの保守点検が容易に行え、またパイプの芯出しの容易な差動排気走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a particle-optical microscope capable of suppressing signal loss between a scintillator and a photomultiplier tube and an excessive electrical current resulting from largeness of the photomultiplier tube.例文帳に追加

粒子光学顕微鏡において、光電子増倍管が大きい結果生じるシンチレータと光電子増倍管との間での信号損失、及び、過剰に流れる電流を抑制する。 - 特許庁

When the zoom knob 61 is operated by a viewer, the second and third lens frames 22, 23 are moved and the magnification of the microscope is varied, and the diameter of the opening of the aperture diaphragm 31 is varied.例文帳に追加

観察者がズームノブ６１を操作したとき、第２レンズ枠２２と第３レンズ枠２３とが動き、顕微鏡の倍率が変わるとともに、開口絞り３１の開口径が変わる。 - 特許庁