「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(134ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, the observation method for observing the cross section of the semiconductor device includes a process for observing the cross section of the specific place of the semiconductor device by a scanning microscope and a process for forming the protective film of an amorphous structure to the cross section and further observing the cross section by the transmission type electron microscope through the protective film.例文帳に追加

また、半導体デバイスの断面を観察する観察方法において、前記半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察する工程と；前記断面に非晶質構造の保護膜を形成し、当該保護膜を透して透過型電子顕微鏡によって前記断面を更に観察する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device in which the change in the power and/or wavelength of a laser beam source does not affect the power of the light coupled to an optical assembly and a confocal scanning microscope as the device for coupling the light of at least one wavelength of the laser beam source the optical assembly and the confocal scanning microscope.例文帳に追加

この発明は、レーザ光源の少なくとも１つの波長の光を光学組立物に結合するための装置および共焦点走査型顕微鏡であって、レーザ光源のパワーおよび／または波長における変化が光学組立物に結合される光のパワーに影響を及ぼさない装置および共焦点走査型顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope.例文帳に追加

試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。 - 特許庁

An image 22 acquired by a laser microscope function part and a color image 23 acquired by an optical microscope function part are developed on a memory in a processor 4, addresses which should be stored in an image data file 24 are calculated from, for example, the size of each piece of image data by a CPU of the processor 4 and pieces of image data are sequentially stored in the addresses.例文帳に追加

レーザ顕微鏡機能部で取得した画像２２及び光学顕微鏡機能部で取得したカラー画像２３は、処理装置４内のメモリ上に展開され、処理装置４のＣＰＵによって、例えばそれぞれの画像データのサイズから画像データファイル２４内に格納すべきアドレスが算出され、そのアドレスに順次画像データを格納される。 - 特許庁

This electronic microscope is provided with a manipulator 10 capable of gripping a minute sample 30 by a plurality of fingers 15, 16 in a vacuum sample chamber 2 to perform minute turn, travel, and open operations.例文帳に追加

電子顕微鏡において、真空の試料室２内で複数の指片１５，１６により微小試料３０を掴んで微小な回動，移動，開放動作が可能なマニュピレータ１０を備える。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device which makes it possible to restrict increase in device costs and reduction in throughput and also can adjust the focus of an optical microscope installed therein with high accuracy.例文帳に追加

装置コストの上昇、及びスループットの低下を抑えつつ、荷電粒子線装置に搭載される光学式顕微鏡のフォーカス合わせを精度良く行うことが可能な装置を提供する。 - 特許庁

Focusing handles 10 and 11 are arranged on both left and right side surfaces of the bottom section of a microscope main body 1 and switches 25 and 26 which are used to switch objective lenses, are provided on the left hand side of a front surface 30.例文帳に追加

顕微鏡本体１の下部の左右の両側面に焦準ハンドル１０，１１を有し、対物レンズを切り換えるスイッチ２５，２６を前面３０の左側に配置した。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

A laser color microscope 100 includes a laser light optical system (a first optical system) 1 and a white light optical system (a second optical system) 2, and the optical systems have a common objective lens 17.例文帳に追加

レーザカラー顕微鏡）１００は、レーザ光光学系（第１光学系）１と白色光光学系（第２光学系）２とを含み、これらは共通の対物レンズ１７を有する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加

探針のＸＹ方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of suppressing unnecessary response light as a background and detecting desired response light in nonlinear optical response process with a good S/N ratio.例文帳に追加

非線形光学応答過程による所望の応答光を、バックグラウンドとなる不要応答光の発生を抑制して、良好なＳ／Ｎで検出できる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To characterize the tip of a probe for machining, to additionally machine a diamond probe, and to remove a machined waste deposited on the probe in a physical default removal device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた物理的な欠陥除去装置で加工探針先端キャラクタリゼーションとダイヤモンド探針追加工と探針に付着した加工屑除去を可能にする。 - 特許庁

To enhance performance of a near field light recording apparatus and a near field light microscope each using a near field light generation element by enhancing optical efficiency of the near field light generation element.例文帳に追加

近視野光発生素子の光効率を向上させ、その近視野光発生素子を用いた近視野光記録装置および近視野光顕微鏡の性能を向上させる。 - 特許庁

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution.例文帳に追加

標本Ｓが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical fiber end face inspection device and its method capable of making the accuracy of inspection higher than before when the condition of an end face of an optical fiber is inspected by using an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を用いて光ファイバ端面の状態を検査するとき、従来に比べてその検査精度を向上可能な光ファイバ端面検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This polybenzazole fiber is characterized by having an uneven fiber surface and having a fiber surface area rate of ≥1.03 in an AFM (atomic force microscope) observation visual field range of 1×1 μm^2.例文帳に追加

繊維表面に凹凸を有し、当該繊維表面のＡＦＭ観察視野範囲１×１μｍ^2における表面積率が１．０３以上であることを特徴とするポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.例文帳に追加

レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a microscope optical system allowing observation extending from low magnification to high magnification, without causing barrel distortion or defocusing, when observing magnification is changed.例文帳に追加

観察倍率を変更する際に、筒偏芯や同焦点のずれが発生することなく、低倍率から高倍率まで良好な像を観察できる顕微鏡光学系を提供すること。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope having a dark field lighting device by which an examinee can be irradiated with the light emitted by a light source with high efficiency an lighting unevenness can be reduced.例文帳に追加

光源から出射された光を高効率で被検体に照射することができ、しかも照明むらの少ない暗視野照明装置を有する実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of preventing flare during a dark-field observation, and preventing limb darkening due to vignetting during a bright-field observation, thereby obtaining good observation images during both observations.例文帳に追加

暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ明視野観察時にはケラレによる周辺減光を防止し、両者とも良好な観察像を得ることの出来る顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To efficiently apply a relatively large magnetic field to a measuring target, for a polarization microscope and based on this, to observe the dynamic magnetization response of the measuring target.例文帳に追加

偏光顕微鏡において、被測定物に比較的大きな磁界を効率的に印加し、それにより被測定物の動的な磁化応答を観測することを可能とすることにある。 - 特許庁

To provide a microscope which has a spatial resolution greatly beyond a wavelength limit, being able to obtain a high resolution even by using the light in a visible range, and having a wide range of choice on observable objects.例文帳に追加

波長限界を大きく超えた空間分解能を有し、可視域の光を利用しても高い分解能が得られ、観測可能な対象の選択肢も広い顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron energy spectrometer has such a correcting means, and the electron microscope is provided with such a spectrometer.例文帳に追加

また、下流側の１２重極子レンズでは電子線が電子線エネルギー分光器に入射する角度と入射電子線のエネルギー広がりに関係する値の積に比例する収差を補正する。 - 特許庁

This is an automatic focusing method of a scanning electron microscope 10 which acquires an image signal and forms a test piece image based on secondary charged particle beams from a test piece irradiated with charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームが照射された試料からの２次荷粒子に基づいて画像信号を取得し試料像を形成する走査電子顕微鏡１０のオートフォーカス方法である。 - 特許庁

On the basis of simultaneous thermal and electrical measurements using scanning thermal probes, the applicability of a scanning thermal microscope (SThM) is expanded for analyzing the characteristics of the thermoelectric matter.例文帳に追加

本方法は、走査熱プローブを使用する熱的及び電気的同時測定を基礎とし、走査熱顕微鏡（ＳＴｈＭ）の適用性を熱電物質の特性解析へと拡張する。 - 特許庁

To provide a drive apparatus capable of easily improving the straightness of the track of a movable part and provide a scanning probe microscope apparatus capable of providing highly accurate images through the use of the drive apparatus.例文帳に追加

容易に可動部の軌跡の真直度を向上させることができる駆動装置と、これを用い、精度の高い画像を提供できる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a two-dimensional test pattern suitable for a color confocal microscope system furnished with a function which automatically corrects the deviation of a confocal image and a color image and for the automatic adjustment of the system.例文帳に追加

共焦点画像とカラー画像とのずれを自動的に修正する機能を備えたカラー共焦点顕微鏡システムとその自動調整に適した二次元テストパターンを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope having an auto-focusing function using a phase difference optical system that can remove ghosts attributable to a light ray branching element, and to provide a ghost removing method.例文帳に追加

位相差光学系を用いたオートフォーカス機能を有する顕微鏡において、光線分岐素子に起因するゴーストを除去することが可能な顕微鏡及びゴースト除去方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample conveying mechanism capable of removing foreign bodies stuck on a sample during conveyance of the sample, and to provide a scanning electron microscope having the sample conveying mechanism.例文帳に追加

本発明は、試料搬送中に、試料に付着した異物の除去を行う試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

Fluorescence from a sample 26 placed in a confocal inverted optical microscope 19 and excitation laser light are allowed to be simultaneously incident on a nonlinear optical element 32 to generate sum frequency light 34.例文帳に追加

共焦点倒立光学顕微鏡１９に設置された試料２６からの蛍光と、励起レーザ光を非線形光学素子３２に同時に入射させ、和周波光３４を発生させる。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope which enables a testee to easily carry out work without assuming a too much undue posture from the alignment of the testee to the end of observation and inspection.例文帳に追加

被検者の位置合わせから観察、検査終了までの間、検者があまり無理な姿勢をすること無く、容易に作業を行うことができる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.例文帳に追加

サーボ追従性からくる上り・下りの特性差を解消して計測精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法を提供する。 - 特許庁

In the confocal microscope device, a variable mirror wherein the wave front evaluation method is optimized as a cost function is used, to thereby realize aberration correction in the system.例文帳に追加

この共焦点顕微鏡装置では本発明の波面評価方法をコスト関数として最適化される可変鏡を用いることでシステムにおける収差の補正を実現する。 - 特許庁

To provide a mesh for a transmission electron microscope having a structure capable of preventing a sample from being lost by protecting the surface on the side holding a sample immediately after the sample is placed on it.例文帳に追加

試料を載置した直後から試料を保持した側の面を保護して、試料の紛失などを防止することができる構造を有する透過電子顕微鏡用メッシュの提供。 - 特許庁

A replica of a skin surface state is sampled (step 10) and is measured by using a confocal microscope so as to obtain three-dimensional shape measurement data of the replica (step 11).例文帳に追加

皮膚表面状態を採取したレプリカを採取し（ステップ１０）、これを共焦点顕微鏡を用いて計測することによりレプリカの三次元形状計測データを求める（ステップ１１）。 - 特許庁

To optimize easily various parameters for extracting the line edge shape of a pattern with high precision and over a wide range in a semiconductor device inspection process using a scanning type microscope.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いた半導体装置検査工程においてパターンのラインエッジ形状を高精度で広範囲に渡って抽出するための各種パラメータを簡便に最適化する。 - 特許庁

To provide a high-sensitive X-ray detector capable of suppressing movement of a secondary electron image and distortion of the secondary electron image caused by astigmatism or the like even if bringing the detector close to a sample inside an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内の試料に近接させても２次電子像の移動および非点収差等による２次電子像の歪みの低い，高感度なＸ線検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope by which the quality of an observation image in observation using polarization such as differential interference observation is improved by making the polarization state of illumination light better.例文帳に追加

照明光の偏光状態を良好にして、微分干渉観察など偏光を用いた観察時の観察画像の質を向上させた走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an aberration corrector capable of correcting chromatic aberration of an electronic optical system of a transmission type electron microscope by a comparatively simple and convenient system and capable of achieving high resolution observation.例文帳に追加

比較的簡便な系で透過型電子顕微鏡の電子光学系の色収差補正を行うことができ、かつ高分解能観察を実現できる色収差補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device capable of displaying a scale without troublesome operation and easily find actual dimensions in a photographed image of a sample observed by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡により観察された標本の撮像画像において、煩雑な操作を行うことなくスケールを表示することができ、実寸法を容易に知ることができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

A pulse excitation type ultrasonic microscope 2 is equipped with a resin plate 9 for supporting a living tissue 8 made to adhere, an ultrasonic transducer 13, and an X-Y stage 14.例文帳に追加

本発明のパルス励起型超音波顕微鏡２は、生体組織８を密着させて支持するための樹脂プレート９と、超音波トランスデューサ１３と、Ｘ−Ｙステージ１４とを備える。 - 特許庁

To provide a system capable of covering an imaging head by the other imaging head, when any of the imaging heads gets abnormal, in a microscope imaging device and a dimension measuring instrument having the plurality of imaging heads.例文帳に追加

複数の撮像ヘッドを有した顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置において、いずれかが異常になったときに、他の撮像ヘッドでカバー可能なシステムを提供する。 - 特許庁

The zoom microscope includes a replaceable infinity correction objective lens 11, an aperture stop 12, an afocal zoom system 13, and an imaging optical system 14 which are arranged in this order from a specimen 10A side.例文帳に追加

標本１０Ａの側から順に、交換可能な無限遠補正型の対物レンズ１１と、開口絞り１２と、アフォーカルズーム系１３と、結像光学系１４とを配置する。 - 特許庁

This fluorescence spectroscopic analyzer 100 has a microscope part 110, an excitation light control part 130, a fluorescence detection part 140, a signal processing part 150 and an operation part 160.例文帳に追加

蛍光分光分析装置１００は顕微鏡部１１０と励起光制御部１３０と蛍光検出部１４０と信号処理部１５０と演算部１６０とを有している。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which allows to diagnose pathologically even a tumor tissue as being undistinguishable by preoperative imaging diagnosis and can efficiently provide an operator with the pathological diagnosis result.例文帳に追加

術前の画像診断で判別できない腫瘍組織の病理診断を可能にし、この病理診断結果を術者へ効率的に提示可能な手術用顕微鏡を実現する。 - 特許庁