「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(134ページ目) - Weblio英語例文検索

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope.例文帳に追加

試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。 - 特許庁

An image 22 acquired by a laser microscope function part and a color image 23 acquired by an optical microscope function part are developed on a memory in a processor 4, addresses which should be stored in an image data file 24 are calculated from, for example, the size of each piece of image data by a CPU of the processor 4 and pieces of image data are sequentially stored in the addresses.例文帳に追加

レーザ顕微鏡機能部で取得した画像２２及び光学顕微鏡機能部で取得したカラー画像２３は、処理装置４内のメモリ上に展開され、処理装置４のＣＰＵによって、例えばそれぞれの画像データのサイズから画像データファイル２４内に格納すべきアドレスが算出され、そのアドレスに順次画像データを格納される。 - 特許庁

To provide an attachment 10 for use with a data visual presenter, which can quickly obtain correspondence between an optical axis of an imaging lens of a data visual presenter 100 and an optical axis of an eyepiece lens of a microscope 20.例文帳に追加

迅速に資料提示装置１００レンズの光軸と顕微鏡２０眼レンズの光軸を一致させることができる資料提示装置用アタッチメント１０を供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope, capable of capturing the inner peripheral surface of a notched part, such as a notch formed in the peripheral edge of a semiconductor wafer and of a groove, etc., as a high-resolution image.例文帳に追加

半導体ウェハの周縁に形成されたノッチのような切欠き部や溝等の内周面を高解像度画像として撮像できる共焦点型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope that can excite a sample labeled with fluorescent protein to thereby generate fluorescent polarization and perform various functional analysis of the sample by using the generated fluorescent polarization.例文帳に追加

蛍光タンパクにより標識した標本を励起することができ、これにより得られる蛍光偏光により標本の多様な機能解析を可能にした共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which the information of chemical composition and chemical bonding state on the surface of a sample can be attained in addition to the information of irregular shape on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面の化学組成および化学結合状態についての情報を得ることができる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Measurement information, measured by the inter-atom force microscope 23, is outputted to a judgment device 140 and the judgment device 140 judges the quality of the wafer 28, based on measurement information.例文帳に追加

原子間力顕微鏡２３で測定された測定情報は、判定装置１４０に出力され、判定装置１４０は、測定情報に基づいてウェーハ２８の良否を判断する。 - 特許庁

To provide a measuring method for an object by switching for shifting a changeable mirror, largely reducing a measuring time with an easy structure, and a non-scanning confocal microscope using the same.例文帳に追加

構成が簡単で計測時間を大幅に短縮する可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.例文帳に追加

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁

After the illuminating device is combined with the microscope, that is after it is sold, the XY adjustment of the optical fiber 1 is performed and the interval in the optical axis direction of the optical fiber 1 and an image forming lens 11 is adjusted.例文帳に追加

その後、顕微鏡と組み合わせてから、つまり、販売後、光ファイバー１のＸＹ調整、及び、光ファイバー１と結像レンズ１１との光軸方向の間隔調整を行う。 - 特許庁

To provide a scanning-type laser microscope, allowing a galvanoscanner to fast scan over a wide range and capable of observing a wide range, by efficiently radiating the heat generated in the galvano-scanner.例文帳に追加

ガルバノスキャナで発生する熱を効率よく放熱することにより、ガルバノスキャナを高速かつ広範囲を走査可能にし、広い範囲を観察できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To avoid the substantial occupancy area of a fluorescence microscope from being extended by a light shielding member when the light shielding member to shield the vicinity of a stage from light is opened to make the vicinity of the stage open.例文帳に追加

ステージ回りの遮光する部材を開いてステージ回りを開放したときに、遮光部材によって蛍光顕微鏡の実質的な占有面積を拡大してしまうのを回避する。 - 特許庁

This scanning electron microscope is so structured that an insulation member 5d is arranged between an inner magnetic pole 5a and an outer magnetic pole 5b; and the inner magnetic pole 5a and the outer magnetic pole 5b are electrically insulated from each other.例文帳に追加

内側磁極５ａと外側磁極５ｂの間に絶縁部材５ｄが配置され、内側磁極５ａと外側磁極５ｂが電気的に絶縁される構造となっている。 - 特許庁

A pair of optical microscopes are arranged on the upside and on the downside of the optical element 10, and the recessed parts 11a, 12a are detected by each microscope, and the eccentricity amount of the recessed parts 11a, 12a is calculated.例文帳に追加

一対の光学顕微鏡を光学素子１０の上方及び下方に配置し、各顕微鏡にて凹部１１ａ，１２ａを検出し、凹部１１ａ，１２ａの偏心量を算出する。 - 特許庁

To provide a stage position measuring device for an electronic microscope using a laser interference measuring machine for measuring the position of a stage, if inclinable, with high accuracy.例文帳に追加

傾斜可能なステージであっても、レーザ干渉測長器を用いて高精度のステージの位置測定を行うことができる走査電子顕微鏡等のステージ位置測定装置を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope device in which a function assigned to an operation switch can be easily viewed without greatly displacing an eye from a sample observation state and looking at the operation switch.例文帳に追加

操作スイッチに割り当てられている機能を標本観察状態から眼を大きくずらして操作スイッチを眼視することなく容易に視認可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To disclose a method and a device for controlling a beam in a scanning microscope with which individual areas or interested areas scattered over a whole focused area are scanned.例文帳に追加

個々の領域、結像領域全体にわたって分散されている関心のある領域を走査する走査型顕微鏡におけるビーム制御のための方法および装置が、開示される。 - 特許庁

To obtain a scanning electron microscope or a charged particle beam device having a function capable of easily managing the use state, e.g. the irradiation position of a microscale or the number of uses.例文帳に追加

マイクロスケールの照射位置あるいは使用回数といった使用状態を簡便に管理できる機能を備えた走査電子顕微鏡あるいは荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁

This test sample is observed with an optical microscope and the observed image is picked up with an image pickup element such as a CDC camera to form a sample image.例文帳に追加

次に、この試験サンプルを光学顕微鏡によって観察し、この光学顕微鏡によって観察した観察画像を、ＣＣＤカメラ等の撮像素子により撮像し、サンプル画像を生成する。 - 特許庁

To provide microscopy and a microscope capable of observing desired information of samples with an extremely high S/N ratio in a short time without having to raise the intensity of a light source.例文帳に追加

試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いＳ／Ｎで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope which permits the insertion and removal of an image pickup optical path without renewal of a body tube simply by inserting and removing an intermediate body tube unit between a body and the tube body.例文帳に追加

中間鏡筒ユニットを鏡体と鏡筒との間に挿脱するだけで鏡筒をバージョンアップすることなしに撮像光路を挿脱できる倒立型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which enables obtaining of a bright non-confocal image and performs difference image computation for changing the depth of focus, without increasing the load of a CPU.例文帳に追加

明るい非共焦点画像が得られるとともに、ＣＰＵの負荷を増大させること無く焦点深度を変更させる差画像演算を行う共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic resonance force microscope capable of providing sample information on the surface of a sample or a micro area on the surface of the sample while permitting wide area scanning.例文帳に追加

試料表面もしくは試料表面微小領域の試料情報を得ることができるとともに、より広域走査を可能にする磁気共鳴力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Physical property information is acquired by a scanning probe microscope, and a corresponding portion is collected from an area showing a specified physical property by a probe, and analyzed by an analysis method capable of providing desired information.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で物性情報を取得し、特定物性を示す領域からその部位をプローブで採取し、それを所望の情報が得られる分析方法で分析する。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

To be able to feed or discharge various kinds of solutions or gases required for culturing cells, in a state of reduced stimulation to the cells, at a long-term observation of cells under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下での細胞長期観察時に、細胞培養に必要な各種の液体または気体を細胞への刺激を低減した状態で供給排出できるようにすること。 - 特許庁

To provide a microscopic optical analysis system hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters or the like.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、微小な異物等も確実に検出・同定できる顕微光学分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope control device and an area determination method which suppress an estimated error of a defocus amount and can suppress a load necessary for defocus amount arithmetic processing.例文帳に追加

デフォーカス量の推定誤差を抑制するとともに、デフォーカス量演算処理に要する負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び領域判定方法を提供すること。 - 特許庁

To characterize the tip of a probe for machining, to additionally machine a diamond probe, and to remove a machined waste deposited on the probe in a physical default removal device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた物理的な欠陥除去装置で加工探針先端キャラクタリゼーションとダイヤモンド探針追加工と探針に付着した加工屑除去を可能にする。 - 特許庁

To enhance performance of a near field light recording apparatus and a near field light microscope each using a near field light generation element by enhancing optical efficiency of the near field light generation element.例文帳に追加

近視野光発生素子の光効率を向上させ、その近視野光発生素子を用いた近視野光記録装置および近視野光顕微鏡の性能を向上させる。 - 特許庁

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution.例文帳に追加

標本Ｓが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The wafer stage 4 is moved in the Z-axial direction towards the probe 2, and a height H between the tip of the probe 2 and the semiconductor wafer 3 are measured while watching a focusing state by the microscope 6a.例文帳に追加

ウェハステージ４をプローブ針２に向かうＺ軸方向に動かし、顕微鏡６ａで合焦状態を見ながらプローブ針２の針先と半導体ウェハ３との高さＨを測定する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, an image processing method, and an image processing program, capable of detecting the profile curve of the surface of an observation object accurately and speedily.例文帳に追加

観察対象物の表面の断面曲線を正確でかつ高速に検出することが可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a chamber structure for an organism culture which enables an organism culture observation for a long period of time and is useful for observing an organism by an erecting microscope.例文帳に追加

長期間の生体培養観察が可能な生体培養チャンバ構造体であり、正立型顕微鏡にて生体を観察する際に使用される生体培養チャンバ構造体を提供する。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

A laser color microscope 100 includes a laser light optical system (a first optical system) 1 and a white light optical system (a second optical system) 2, and the optical systems have a common objective lens 17.例文帳に追加

レーザカラー顕微鏡）１００は、レーザ光光学系（第１光学系）１と白色光光学系（第２光学系）２とを含み、これらは共通の対物レンズ１７を有する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加

探針のＸＹ方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This electronic microscope is provided with a manipulator 10 capable of gripping a minute sample 30 by a plurality of fingers 15, 16 in a vacuum sample chamber 2 to perform minute turn, travel, and open operations.例文帳に追加

電子顕微鏡において、真空の試料室２内で複数の指片１５，１６により微小試料３０を掴んで微小な回動，移動，開放動作が可能なマニュピレータ１０を備える。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of suppressing unnecessary response light as a background and detecting desired response light in nonlinear optical response process with a good S/N ratio.例文帳に追加

非線形光学応答過程による所望の応答光を、バックグラウンドとなる不要応答光の発生を抑制して、良好なＳ／Ｎで検出できる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope in which images in a plurality of positions with different depths of a sample are simultaneously picked up by a plurality of line sensors so as to extremely rapidly obtain the whole image at each of the plurality of depths of the sample.例文帳に追加

複数のラインセンサで標本深さがそれぞれ異なる複数の位置を同時に撮像し、複数の標本深さ毎の全体画像を、極めて迅速に得るようにする。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion.例文帳に追加

金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus, position control method, and program for controlling the position of an object to be operated, such as a stage in a microscope system, using a pointing device, and to provide a storage medium therefor.例文帳に追加

ポインティング・デバイスを用いて、顕微鏡システムにおけるステージなどの操作対象を位置制御する情報処理装置、位置制御方法、プログラムおよび記録媒体を提供すること。 - 特許庁

The first partial image and the second partial image acquired by moving a stage 4 of the microscope 50 on the basis of the determined overlap rate are composited, and a resulting intermediate image is acquired.例文帳に追加

第１の部分画像と、決定した重複率に基づいて顕微鏡５０のステージ４を移動させて取得した第２の部分画像とを合成して得られる中間画像を取得する。 - 特許庁

To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam.例文帳に追加

観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a two-dimensional test pattern suitable for a color confocal microscope system furnished with a function which automatically corrects the deviation of a confocal image and a color image and for the automatic adjustment of the system.例文帳に追加

共焦点画像とカラー画像とのずれを自動的に修正する機能を備えたカラー共焦点顕微鏡システムとその自動調整に適した二次元テストパターンを提供する。 - 特許庁