「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(134ページ目) - Weblio英語例文検索

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope.例文帳に追加

試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。 - 特許庁

An image 22 acquired by a laser microscope function part and a color image 23 acquired by an optical microscope function part are developed on a memory in a processor 4, addresses which should be stored in an image data file 24 are calculated from, for example, the size of each piece of image data by a CPU of the processor 4 and pieces of image data are sequentially stored in the addresses.例文帳に追加

レーザ顕微鏡機能部で取得した画像２２及び光学顕微鏡機能部で取得したカラー画像２３は、処理装置４内のメモリ上に展開され、処理装置４のＣＰＵによって、例えばそれぞれの画像データのサイズから画像データファイル２４内に格納すべきアドレスが算出され、そのアドレスに順次画像データを格納される。 - 特許庁

To provide an attachment 10 for use with a data visual presenter, which can quickly obtain correspondence between an optical axis of an imaging lens of a data visual presenter 100 and an optical axis of an eyepiece lens of a microscope 20.例文帳に追加

迅速に資料提示装置１００レンズの光軸と顕微鏡２０眼レンズの光軸を一致させることができる資料提示装置用アタッチメント１０を供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope, capable of capturing the inner peripheral surface of a notched part, such as a notch formed in the peripheral edge of a semiconductor wafer and of a groove, etc., as a high-resolution image.例文帳に追加

半導体ウェハの周縁に形成されたノッチのような切欠き部や溝等の内周面を高解像度画像として撮像できる共焦点型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope that can excite a sample labeled with fluorescent protein to thereby generate fluorescent polarization and perform various functional analysis of the sample by using the generated fluorescent polarization.例文帳に追加

蛍光タンパクにより標識した標本を励起することができ、これにより得られる蛍光偏光により標本の多様な機能解析を可能にした共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which the information of chemical composition and chemical bonding state on the surface of a sample can be attained in addition to the information of irregular shape on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面の化学組成および化学結合状態についての情報を得ることができる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Measurement information, measured by the inter-atom force microscope 23, is outputted to a judgment device 140 and the judgment device 140 judges the quality of the wafer 28, based on measurement information.例文帳に追加

原子間力顕微鏡２３で測定された測定情報は、判定装置１４０に出力され、判定装置１４０は、測定情報に基づいてウェーハ２８の良否を判断する。 - 特許庁

To provide a measuring method for an object by switching for shifting a changeable mirror, largely reducing a measuring time with an easy structure, and a non-scanning confocal microscope using the same.例文帳に追加

構成が簡単で計測時間を大幅に短縮する可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.例文帳に追加

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁

After the illuminating device is combined with the microscope, that is after it is sold, the XY adjustment of the optical fiber 1 is performed and the interval in the optical axis direction of the optical fiber 1 and an image forming lens 11 is adjusted.例文帳に追加

その後、顕微鏡と組み合わせてから、つまり、販売後、光ファイバー１のＸＹ調整、及び、光ファイバー１と結像レンズ１１との光軸方向の間隔調整を行う。 - 特許庁

To provide a scanning-type laser microscope, allowing a galvanoscanner to fast scan over a wide range and capable of observing a wide range, by efficiently radiating the heat generated in the galvano-scanner.例文帳に追加

ガルバノスキャナで発生する熱を効率よく放熱することにより、ガルバノスキャナを高速かつ広範囲を走査可能にし、広い範囲を観察できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To avoid the substantial occupancy area of a fluorescence microscope from being extended by a light shielding member when the light shielding member to shield the vicinity of a stage from light is opened to make the vicinity of the stage open.例文帳に追加

ステージ回りの遮光する部材を開いてステージ回りを開放したときに、遮光部材によって蛍光顕微鏡の実質的な占有面積を拡大してしまうのを回避する。 - 特許庁

This scanning electron microscope is so structured that an insulation member 5d is arranged between an inner magnetic pole 5a and an outer magnetic pole 5b; and the inner magnetic pole 5a and the outer magnetic pole 5b are electrically insulated from each other.例文帳に追加

内側磁極５ａと外側磁極５ｂの間に絶縁部材５ｄが配置され、内側磁極５ａと外側磁極５ｂが電気的に絶縁される構造となっている。 - 特許庁

A pair of optical microscopes are arranged on the upside and on the downside of the optical element 10, and the recessed parts 11a, 12a are detected by each microscope, and the eccentricity amount of the recessed parts 11a, 12a is calculated.例文帳に追加

一対の光学顕微鏡を光学素子１０の上方及び下方に配置し、各顕微鏡にて凹部１１ａ，１２ａを検出し、凹部１１ａ，１２ａの偏心量を算出する。 - 特許庁

To provide a stage position measuring device for an electronic microscope using a laser interference measuring machine for measuring the position of a stage, if inclinable, with high accuracy.例文帳に追加

傾斜可能なステージであっても、レーザ干渉測長器を用いて高精度のステージの位置測定を行うことができる走査電子顕微鏡等のステージ位置測定装置を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope device in which a function assigned to an operation switch can be easily viewed without greatly displacing an eye from a sample observation state and looking at the operation switch.例文帳に追加

操作スイッチに割り当てられている機能を標本観察状態から眼を大きくずらして操作スイッチを眼視することなく容易に視認可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical fiber end face inspection device and its method capable of making the accuracy of inspection higher than before when the condition of an end face of an optical fiber is inspected by using an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を用いて光ファイバ端面の状態を検査するとき、従来に比べてその検査精度を向上可能な光ファイバ端面検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To characterize the tip of a probe for machining, to additionally machine a diamond probe, and to remove a machined waste deposited on the probe in a physical default removal device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた物理的な欠陥除去装置で加工探針先端キャラクタリゼーションとダイヤモンド探針追加工と探針に付着した加工屑除去を可能にする。 - 特許庁

To enhance performance of a near field light recording apparatus and a near field light microscope each using a near field light generation element by enhancing optical efficiency of the near field light generation element.例文帳に追加

近視野光発生素子の光効率を向上させ、その近視野光発生素子を用いた近視野光記録装置および近視野光顕微鏡の性能を向上させる。 - 特許庁

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution.例文帳に追加

標本Ｓが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device which makes it possible to restrict increase in device costs and reduction in throughput and also can adjust the focus of an optical microscope installed therein with high accuracy.例文帳に追加

装置コストの上昇、及びスループットの低下を抑えつつ、荷電粒子線装置に搭載される光学式顕微鏡のフォーカス合わせを精度良く行うことが可能な装置を提供する。 - 特許庁

Focusing handles 10 and 11 are arranged on both left and right side surfaces of the bottom section of a microscope main body 1 and switches 25 and 26 which are used to switch objective lenses, are provided on the left hand side of a front surface 30.例文帳に追加

顕微鏡本体１の下部の左右の両側面に焦準ハンドル１０，１１を有し、対物レンズを切り換えるスイッチ２５，２６を前面３０の左側に配置した。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

A laser color microscope 100 includes a laser light optical system (a first optical system) 1 and a white light optical system (a second optical system) 2, and the optical systems have a common objective lens 17.例文帳に追加

レーザカラー顕微鏡）１００は、レーザ光光学系（第１光学系）１と白色光光学系（第２光学系）２とを含み、これらは共通の対物レンズ１７を有する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加

探針のＸＹ方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This electronic microscope is provided with a manipulator 10 capable of gripping a minute sample 30 by a plurality of fingers 15, 16 in a vacuum sample chamber 2 to perform minute turn, travel, and open operations.例文帳に追加

電子顕微鏡において、真空の試料室２内で複数の指片１５，１６により微小試料３０を掴んで微小な回動，移動，開放動作が可能なマニュピレータ１０を備える。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of suppressing unnecessary response light as a background and detecting desired response light in nonlinear optical response process with a good S/N ratio.例文帳に追加

非線形光学応答過程による所望の応答光を、バックグラウンドとなる不要応答光の発生を抑制して、良好なＳ／Ｎで検出できる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a two-dimensional test pattern suitable for a color confocal microscope system furnished with a function which automatically corrects the deviation of a confocal image and a color image and for the automatic adjustment of the system.例文帳に追加

共焦点画像とカラー画像とのずれを自動的に修正する機能を備えたカラー共焦点顕微鏡システムとその自動調整に適した二次元テストパターンを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope having an auto-focusing function using a phase difference optical system that can remove ghosts attributable to a light ray branching element, and to provide a ghost removing method.例文帳に追加

位相差光学系を用いたオートフォーカス機能を有する顕微鏡において、光線分岐素子に起因するゴーストを除去することが可能な顕微鏡及びゴースト除去方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample conveying mechanism capable of removing foreign bodies stuck on a sample during conveyance of the sample, and to provide a scanning electron microscope having the sample conveying mechanism.例文帳に追加

本発明は、試料搬送中に、試料に付着した異物の除去を行う試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

Fluorescence from a sample 26 placed in a confocal inverted optical microscope 19 and excitation laser light are allowed to be simultaneously incident on a nonlinear optical element 32 to generate sum frequency light 34.例文帳に追加

共焦点倒立光学顕微鏡１９に設置された試料２６からの蛍光と、励起レーザ光を非線形光学素子３２に同時に入射させ、和周波光３４を発生させる。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope which enables a testee to easily carry out work without assuming a too much undue posture from the alignment of the testee to the end of observation and inspection.例文帳に追加

被検者の位置合わせから観察、検査終了までの間、検者があまり無理な姿勢をすること無く、容易に作業を行うことができる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of a simple structure, in which a part being scanned is reduced in weight and a light beam follows a cantilever, depending on the bending deformation of a tubular piezoelectric body.例文帳に追加

走査される部分が軽量化された、円筒型圧電体の湾曲変形に応じて光ビームがカンチレバーを追従する簡単な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This polybenzazole fiber is characterized by having an uneven fiber surface and having a fiber surface area rate of ≥1.03 in an AFM (atomic force microscope) observation visual field range of 1×1 μm^2.例文帳に追加

繊維表面に凹凸を有し、当該繊維表面のＡＦＭ観察視野範囲１×１μｍ^2における表面積率が１．０３以上であることを特徴とするポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.例文帳に追加

レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a microscope optical system allowing observation extending from low magnification to high magnification, without causing barrel distortion or defocusing, when observing magnification is changed.例文帳に追加

観察倍率を変更する際に、筒偏芯や同焦点のずれが発生することなく、低倍率から高倍率まで良好な像を観察できる顕微鏡光学系を提供すること。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope having a dark field lighting device by which an examinee can be irradiated with the light emitted by a light source with high efficiency an lighting unevenness can be reduced.例文帳に追加

光源から出射された光を高効率で被検体に照射することができ、しかも照明むらの少ない暗視野照明装置を有する実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of preventing flare during a dark-field observation, and preventing limb darkening due to vignetting during a bright-field observation, thereby obtaining good observation images during both observations.例文帳に追加

暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ明視野観察時にはケラレによる周辺減光を防止し、両者とも良好な観察像を得ることの出来る顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.例文帳に追加

サーボ追従性からくる上り・下りの特性差を解消して計測精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法を提供する。 - 特許庁

In the confocal microscope device, a variable mirror wherein the wave front evaluation method is optimized as a cost function is used, to thereby realize aberration correction in the system.例文帳に追加

この共焦点顕微鏡装置では本発明の波面評価方法をコスト関数として最適化される可変鏡を用いることでシステムにおける収差の補正を実現する。 - 特許庁

To provide a technique capable of restraining the charges generated by electron beam irradiation from accumulating in a measuring sample, in a probing device that uses an SEM (scanning electron microscope) as the observation means.例文帳に追加

ＳＥＭを観察手段として用いるプロービング装置において、電子線照射により生じる測定試料への電荷の蓄積を抑制することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of obtaining precise measurement data by eliminating noise component characteristically arises only in specific scanning direction of the measurement device.例文帳に追加

測定データから測定装置の一定の走査方向にのみ特有に出現するノイズ成分を除去し、精度の高い測定データを得られる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

With the sample platform for the scanning electron microscope, a method is adopted to drop, dry and fix slurries by setting a patterned indented surface at a position where the slurries are to be dropped.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料台において、懸濁液を滴下する位置の表面に凹凸形状を設けることにより、懸濁液をその上から滴下し乾燥，固定する手法を用いる。 - 特許庁

To provide a transfer system of an electron microscope image capable of speeding up an update rate of the image even when there is change in capacity of a network line and the capacity is either small or large.例文帳に追加

ネットワーク回線の容量の変化があり、容量が大きい場合でも小さい場合でも画像の更新レートを速くすることができる電子顕微鏡像の転送方式を実現する。 - 特許庁

To provide an immersion objective of a microscope being a lens system which has a large numerical aperture and a large magnification and whose aberration is satisfactorily corrected, and made excellent in observation of feeble light.例文帳に追加

大きな開口数と大きな倍率を有し、諸収差が良好に補正されたレンズ系で、微弱な光の観察に優れた液浸系顕微鏡対物レンズを提供することにある。 - 特許庁