「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(129ページ目) - Weblio英語例文検索

To collect region-specific expression information characterizing each piece of biological tissue, from imaging mass spectrometry data by effectively utilizing an optical microscope image on a sample.例文帳に追加

試料上の光学顕微画像を有効に活用して、イメージング質量分析データから各生体組織を特徴付ける領域特異的な発現情報を収集する。 - 特許庁

In the comparison results of the microscope images, if it is determined that the examination object patterns are not acceptable, the method compares the profiles to finally determine whether the patterns are acceptable or not.例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像比較結果、不良であると判断されれば２次電子信号プロフィールを比較して最終的にパターンの不良の可否を判断する。 - 特許庁

To provide: a mode synchronous laser device that easily adjusts the repetition frequency of pulse light with simple and compact constitution; a pulse laser light source device; and a microscope device.例文帳に追加

簡単かつ小型な構成でパルス光の繰り返し周波数を容易に調整することができるモード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

A microscope 3 generates a plurality of oblique illumination sample images, having different brightness distribution, which are obtained by obliquely illuminating the sample S and imaging a predetermined sample area.例文帳に追加

顕微鏡３は、標本Ｓを偏斜照明して所定の標本領域を撮像した明るさの分布が異なる複数の偏斜標本画像を生成する。 - 特許庁

To provide a incident-light microscope easily operated to be focused and also realizing excellent observation free from the loss of light quantity even in dark field observation.例文帳に追加

ピント合わせ操作を容易に行なうことができ、しかも、暗視野観察においても光量損失のない良好な観察を行なうことができる落射顕微鏡を提供できる。 - 特許庁

If protein is collected on surface of the collection medium, which reacts with red detecting liquid to be colored into clear red, therefore it is easily identified under microscope.例文帳に追加

捕集媒体表面にタンパク質が捕集されていれば、赤色検出液と反応して、鮮明な赤色に着色するので、顕微鏡下で容易に識別できる。 - 特許庁

Accordingly, the light for end- face inspection from the light source is totally reflected by the end face of the optical fiber including a core and a clad, and a part of the light comes into the microscope.例文帳に追加

したがって、光源からの端面検査光は光ファイバのコア及びクラッドを含む上記端面にて全反射してその一部が光学顕微鏡に入射する。 - 特許庁

To suppress distortion generated in a lens barrel main body and in an optical member etc. therein and to suppress an increase in load imposed on a microscope main body.例文帳に追加

鏡筒本体とその内部の光学部材等とに発生する歪を抑制することができ、顕微鏡本体に対する荷重の増大を抑制することができること。 - 特許庁

To inexpensively provide a stage of a microscope which is constituted so that a sample can be accurately moved, which is easily processed, assembled and adjusted and whose handleability is excellent.例文帳に追加

精度良く標本を移動することができるとともに、加工、組立及び調整が容易であり、しかも使い勝手の良い顕微鏡のステージを安価に提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet ray microscope of which observation image is bright, the alignment of a light source can be confirmed in the middle of the observation of a sample, and the adjustment operation of a light source position is easy.例文帳に追加

観察像が明るく、標本の観察中にも光源のアライメントが確認でき、光源位置の調整作業が容易な紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A reflection electron microscope 4 irradiates incident beams 15 on the surface of bio cells 12, and photographs continuous images as a two-dimensional intensity distribution of their reflected and scattered beams 21.例文帳に追加

反射型電子顕微鏡４は、バイオセル１２の表面に入射線１５を照射し、その反射散乱線２１の二次元強度分布である連続画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section.例文帳に追加

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

It is desired that the residue is detected by using a pattern defect device, and that the residual site detected by using an electronic microscope device with an electronic ray under decompression.例文帳に追加

パターン欠陥装置を用いて残さを検出し、電子顕微鏡装置を用いて検出された残さ部位に減圧下において電子線を照射することも好ましい。 - 特許庁

To provide a microscope device for surgery, which allows surer a safer surgery by enabling an operator to easily recognize the progression condition of the surgery during operations.例文帳に追加

術者が容易に術中における手術の進行状況を把握し、より確実、安全な手術を行なうことができる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

Or, the black defect region 3 is physically removed as high as the height of the recess of the original plate with the probe 5 of an inter-atomic force microscope harder than the material of the work piece.例文帳に追加

あるいは被加工材質よりも硬い原子間力顕微鏡の探針５を用いて黒欠陥３をスクラッチングで原版の凹部の高さまで物理的に除去する。 - 特許庁

The composition comprises the following (A) to (C) ingredients; (A) ceramic particles having a number average particle size of 0.01-0.5 μm by an electron microscope method, (B) a compound containing polymerizable functional groups and (C) a photopolymerization initiator.例文帳に追加

（Ａ）電子顕微鏡法による数平均粒径が０．０１〜０．５μｍのセラミックス粒子、 （Ｂ）重合性官能基を有する化合物、及び （Ｃ）光重合開始剤 - 特許庁

To adjust a positional relation between an aperture member and a modulator to gain superior contrast, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材とモジュレータとの位置関係を調整し良好なコントラストを得ることを目的とする。 - 特許庁

The microscope system is provided with a memory unit for memorizing the focal position and a reset detecting unit for detecting specific operation in order to reset content of memory in the memory unit.例文帳に追加

合焦位置を記憶するための記憶部と、記憶部の記憶内容をリセットするために特定の動作を検出するリセット検出部とを備える構成とする。 - 特許庁

An X-ray microscope includes a wide range X-ray source, and a means for arranging a testing object 3 and a recording means, and an X-ray capillary lens is arranged therebetween.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡は、広域Ｘ線源と、テスト物体３および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にＸ線キャピラリレンズが配置される。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

To provide an optical member which is not equipped with an aperture part for rotating an optical element on a housing, and has no restriction on a rotating range, and a microscope having the same.例文帳に追加

筐体に光学素子を回転させるための開口部を有さず、回転範囲の制限のない光学部材と、これを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope with which a high-quality focused color image that does not including blur is efficiently generated in a short period of time, and to provide a method of generating a focused color image.例文帳に追加

ボケを含まない良質の合焦カラー画像を短い時間で効率よく生成できる共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法を提供する。 - 特許庁

The magnetic recording head measuring device for measuring the force related to the magnetic force of the magnetic recording head 3 or the force gradient by utilizing the magnetic force microscope, is disclosed.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、磁気記録ヘッド３の磁気力に関係する力又は力勾配を測定するための磁気記録ヘッド測定装置が開示されている。 - 特許庁

To provide a three-dimensional confocal laser microscope system capable of providing the super-depth image of a sample at a real time by scanning an objective lens at high speed.例文帳に追加

対物レンズを高速に走査することによって、リアルタイムで試料の超深度画像を得ることのできる３次元共焦点レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting device which does not depend on a sample by using a detection sensitivity value of an optical detector as a focusing evaluation value in an optical microscope.例文帳に追加

本発明では、光学顕微鏡において、光検出器の検出感度値を合焦評価値として用いて、サンプルに依存しない自動焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of altering an observation position at high speed in a single or plurality of incubation containers, with a reflux tube or potential measurement patch attached thereto.例文帳に追加

環流用チューブや電位測定用パッチを付けた状態で、単一または複数の培養容器において高速に観察位置を変更できる顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

To provide a microscope with a photographing function comprising an image-rotating function which is convenient by adequately moving an XY stage, in accordance with the movement of a screen.例文帳に追加

画面の移動に合わせてＸＹステージを適切に移動させることにより、使い勝手の良い、画像回転機能を備えた撮影機能付き顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device with an inclined column capable of obtaining an inclined image having high resolution in the same level as that of a top-down image obtained using a vertical column.例文帳に追加

直立カラムを用いて得られるトップダウン像と同程度の高分解能の傾斜像を得ることのできる傾斜カラム付の走査電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

One or more microscope slides are positioned in an image acquisition device that scans specimens on the slides and makes two dimensional images at a medium or high resolution.例文帳に追加

１つ以上の顕微鏡スライドは、スライド上の試料を走査して中解像度又は高解像度で二次元画像を生成する画像捕捉デバイス内に配置される。 - 特許庁

To provide a microscope system including an aiming detection device focusing on a sample quickly, and applicable also to a liquid sample.例文帳に追加

迅速に試料に合焦することができ、液体試料に対しても適用することのできる照準検出装置を備えた顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To facilitate recognition of a position of a reference, effective chip region by visual observation, a microscope, or the like even if the size of a chip formed on a semiconductor substrate becomes small.例文帳に追加

半導体基板上に形成されるチップサイズが小さくなっても、基準となる有効チップ領域の位置を目視、顕微鏡などにより認識することを容易とすること。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope that allows stable examination by eliminating influence of ambient light while inhibiting damage to a specimen and fading of fluorescence.例文帳に追加

標本へのダメージおよび蛍光の退色を抑制しつつ、環境光による影響を排除して安定した観察を行うことができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of automatically or nearly automatically adjusting an applied voltage of a photodetector even when scanning conditions are changed.例文帳に追加

走査条件が変更されても、光検出器の印加電圧を自動的または略自動的に調整することが可能なレーザ走査顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

In a confocal microscope, a piezoelectric actuator having the high viscous drag of a driving part is used to accelerate the damping of overshoot at the stepwise moving an objective.例文帳に追加

共焦点顕微鏡において、駆動部の粘性抵抗を高めたピエゾアクチュエータを使用して、対物レンズをステップ状に動かした時のオーバーシュートの減衰を早める。 - 特許庁

The present invention can be applied to, for example, a case of processing an image with a massive data amount such as an image obtained by photographing a sample of pathological tissue through a microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡を介して、病理組織の標本を撮影した画像等の、膨大なデータ量の画像を処理する場合に適用することができる。 - 特許庁

The user further specifies the observed region of the sample with the atomic force microscope from the observed region retrieved in the step S2b (step S3).例文帳に追加

続いて、使用者は、ステップＳ２ｂにおいて探索した観察対象領域の中から、さらに原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域を指定する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a microscope lens barrel in which a reticle anti-rotation mechanism can easily be mounted and dismounted, and situation attended with adjustment of an optical system can be obviated.例文帳に追加

レチクル回転止め機構の付け外しを容易に行うことができ、かつ光学系の調整を行う事態を防止することができる顕微鏡鏡筒を提供する。 - 特許庁

To provide a gas field ionization ion source of high stability capable of obtaining a large current, and to provide an ion microscope of high resolution and deep focal depth.例文帳に追加

本発明の目的は、大電流が得られ、高安定なガス電界電離イオン源、及び高分解能でかつ大焦点深度のイオン顕微鏡を提供することに関する。 - 特許庁

GENERATING METHOD OF NEAR-FIELD LIGHT, MASK FOR NEAR-FIELD EXPOSURE, NEAR-FIELD EXPOSING METHOD AND DEVICE, NEAR FIELD LIGHT HEAD, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND RECORDING/REPLAYING DEVICE例文帳に追加

近接場光の発生方法、近接場露光用マスク、近接場露光方法、近接場露光装置、近接場光ヘッド、近接場光学顕微鏡、記録・再生装置 - 特許庁

To provide a disk scanning type confocal microscope in which a rotary disk can be replaced with the one suitable for an objective to be used without readjusting an optical system.例文帳に追加

光学系の再調整の必要なく、回転ディスクを、使用する対物レンズに適したものに交換可能なディスク走査型の共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which is improved in operability by linking operations to deal with switching of methods for observing an eye to be operated.例文帳に追加

本発明は、被手術眼の観察方法の切り換えに対応して行う操作を連動して行うことにより操作性の向上を図った手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a probe not receiving lateral force when scanning a sample surface, capable of high-speed measurement, and allowing reduction of abrasion of the probe.例文帳に追加

試料表面を走査するとき探針が横方向の力を受けず、高速測定が可能で、探針の磨耗を低減した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The atomic force microscope 100 is also equipped with a vibrator 154 for generating vibration, and a vibration transfer block 152 for transferring generated vibration to the glass plate 116.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００はさらに、振動を生成する振動子１５４と、生成された振動をガラス板１１６に伝達する振動伝達ブロック１５２とを備えている。 - 特許庁

(1) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of conducting magnetic force observation at stable high resolution by magnetizing only the tip of a probe without using a dedicated provision.例文帳に追加

専用の設備を用いることなく、探針の尖端のみの磁化を行い、安定した高分解能能の磁気力観察を行うことが出来る磁気力顕微鏡を実現する。 - 特許庁