「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(129ページ目) - Weblio英語例文検索

A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

The method comprises measuring the moisture content and the amount of cholesterol in a stratum corneum, by measuring the intensity of self-fluorescence, generated from a collected sample of the stratum corneum by using a confocal laser microscope.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を強度測定し、角層水分量とコレステロール量を測定する。 - 特許庁

To provide a self-displacement detection type cantilever which has high sensitivity and high resolution and can be miniaturized, and to provide a cantilever system, a probe microscope, and an adsorption mass sensor.例文帳に追加

高感度、高分解能で小型化も可能な自己変位検出型のカンチレバー、カンチレバーシステム及びプローブ顕微鏡並びに吸着質量センサを提供すること。 - 特許庁

To provide a non-scan type femtosecond time-resolution fluorescence microscope capable of providing a time-resolved fluorescence two-dimensional image with a high time resolution of femto second order without scanning.例文帳に追加

非走査でフェムト秒オーダーの高い時間分解能で時間分解蛍光２次元イメージを得ることのできる非走査型フェムト秒時間分解蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By changing the beam diameter of incident laser light to a confocal microscope by a variable beam diameter optical system 12, the size of the laser irradiated area of a sample is changed.例文帳に追加

共焦点顕微鏡への入射レーザ光のビーム径をビーム径可変光学系１２によって変化させることによって、試料のレーザ照射領域の大きさを変化させる。 - 特許庁

To provide a focusing device for a microscope which is capable of easily focusing a position where the contrast of the image of a specimen is highest regardless of the brightness of the specimen.例文帳に追加

標本の明るさに関係なく、容易に、標本の像のコントラストが最大となる位置に焦点を合わせることが可能な顕微鏡用焦点合わせ装置を提供する。 - 特許庁

Actual dimensions of the sample image are shown by these measure images, and the measure images are corrected in accordance with magnifications when the magnification of the microscope 1 is changed.例文帳に追加

これらの物差し画像により標本画像の実寸法を示し、さらに顕微鏡１の倍率を変更したときには、これらの物差し画像を倍率に合わせて補正する。 - 特許庁

To provide a reference sample for a scanning probe microscope capable of accurately detecting each force becoming a standard, without being affected by unevenness data of surface.例文帳に追加

表面の凹凸情報に影響されることなく基準となる各力を正確に検出することができる走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope incorporating an automatic focusing device which reduces complication of work of setting a front focal position of an objective lens to a desired observation position.例文帳に追加

所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope simple in configuration and capable of observing an examinee in the presence of oblique lighting over a wide magnification range from a high magnification to a low magnification.例文帳に追加

簡単な構成で、高倍率から低倍率まで幅広い倍率範囲で、安定した偏斜照明で観察することが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁

To provide a compact apparatus for applying cover glasses for microscope specimens, which can reduce pattern variations of a mounting medium and use cover glasses of different lengths.例文帳に追加

封入剤パターンのバラツキを小さくし、長さの異なるカバーガラスを自在に用いることができ、小型化を図り得る顕微鏡標本のカバーガラス貼着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device which arbitrarily changes a pattern of light irradiating a sample and its irradiation position, with high light utilization efficiency, under various device conditions.例文帳に追加

さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface.例文帳に追加

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of carrying out, in real time, preprocessing of an image, processing of the image, and displaying of its result, in an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡における画像の前処理、画像処理及びその結果の表示をリアルタイムで実行することができる電子顕微鏡用画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To make reduction in time for photographing images and high image quality photographing compatible in a scanning electron microscope for measurement, inspection, and defect review or the like of semiconductor wafers.例文帳に追加

半導体ウェーハの測定、検査、欠陥レビュー用などの走査電子顕微鏡において、画像を撮像する時間の短縮と高画質撮像の両立を実現する。 - 特許庁

To provide a video microscope by which a cuticle can be more clearly observed by performing operation for the change of magnification and focusing by a single hand without interrupting the observation of hair.例文帳に追加

髪の毛の観察を中断せずに倍率の変更とピント合わせを片手で操作できるようにし、さらに鮮明にキューティクルの観察ができるビデオマイクロスコープを提供する。 - 特許庁

The length of a taper part 20 of the mark 3 for focus measurement, at which the thickness of resist is made gradually thin is measured from the secondary electronic signal waveform of a scanning type electronic microscope.例文帳に追加

フォーカス測定用マーク３においてレジストの厚みがだんだんに薄くなるテーパ部２０の長さを走査型電子顕微鏡の２次電子信号波形から測定する。 - 特許庁

The laser scanning type fluorescence microscope has a laser light source part 1 and a detection part for detecting fluorescence emitted from a specimen 8 irradiated with the light from the laser light source part 1.例文帳に追加

レーザ光源部１と、レーザ光源部１からの光が照射された標本８で発する蛍光を検出する検出部を有する蛍光顕微鏡である。 - 特許庁

The image of a microscopic operation surface (28) which can be formed by the eyepiece (33) of the microscope (21) is superposed on a detection optical path (36) together with the image of an examinee.例文帳に追加

検出光路（３６）に、被検物の像とともに顕微鏡（２１）の接眼レンズ（３３）にて生成可能な顕微鏡操作面（２８）の像を重畳可能である。 - 特許庁

To provide a microscope which enables easy setting of the rate of loosening of a stopper for regulating the spacing between a specimen and an objective lens, is simple in operation and is low cost.例文帳に追加

標本と対物レンズの間隔を規制するストッパーの緩め量を簡単に設定でき、しかも操作が簡単で、価格的にも安価な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a user-friendly digital camera for microscope in which power consumption is reduced by achieving a sleep function for making a transition to the sleep state at an optimal timing.例文帳に追加

より最適なタイミングでスリープ状態へ移行するスリープ機能の実現により、使い勝手が良く且つ消費電力を低減した顕微鏡用デジタルカメラを提供する。 - 特許庁

To provide a new simple optical microscope capable of yielding a high-density and high-magnification microscopic image with easy operation and having simple constitution and made inexpensive.例文帳に追加

簡単な操作で高密度且つ高倍率の顕微鏡像を得ることができ、しかも単純構成で安価である、新しい単式光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample holding member allowing high-resolution high-inclination observation small in deformation, in relation to a sample holding member for an electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料保持部材に関し、変形の少ない高分解能高傾斜観察可能な試料保持部材を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a measurement method of sample, using an electron microscope which can carry out precise measurements of the size of feature structure of the sample.例文帳に追加

オートフォーカスの失敗による影響を除去でき、試料の特徴構造の寸法を正確に測定し得る電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for returning to a state, where a sample image can be observed again, as soon as possible even if a cantilever comes into contact with the sample.例文帳に追加

カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of evaluating the dislocation density of a group III nitride crystal in a simple and convenient manner using an optical microscope by forming etch pits having a suitable diameter.例文帳に追加

適正な径のエッチピットを形成することにより、光学顕微鏡を用いて簡便にＩＩＩ族窒化物結晶の転位密度の評価ができる方法を提案する。 - 特許庁

To provide a fluorescent illuminating device for microscope which has solid illumination used as illumination light source for fluorescence observation and is excellent in protection of sample, operability and power-saving.例文帳に追加

蛍光観察の照明用光源として固体照明を用い、試料の保護、操作性、省電力化に優れた顕微鏡用蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁

The target object is disposed, identified by a laser microscope system, cut by the laser, and automatically stored in a holding unit (a vessel) in the collection apparatus.例文帳に追加

レーザ顕微鏡システムによって載置に配置された対象物体を特定してレーザにより切断して、これを収集装置の保持ユニット（容器）内へ自動的に収納する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of arbitrarily setting a dark-field STEM, a bright-field STEM or a capturing angle of an EELS (a diffusion angle on a sample face).例文帳に追加

暗視野ＳＴＥＭ，明視野ＳＴＥＭ、或いはＥＥＬＳの取り込み角（試料面上における散乱角）の任意設定を可能とする電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope 2 converts light from a light source 7 into slit light by a slit light generator 3 to irradiate it to the workpiece at a prescribed angle obliquely from above.例文帳に追加

顕微鏡２は、光源７からの光をスリット光生成装置３によりスリット光に変換し、それをワークに対して所定の角度で斜め上方から照射する。 - 特許庁

To realize a scanning type microscope which can focus at a sample surface without scanning the entire surface of the sample surface and without being restricted in a measurement point at a high throughput with high accuracy.例文帳に追加

試料面の全面を走査せずに且つ測定点を制限されることなく、高いスループットで高精度に焦点合わせできる走査式顕微鏡の実現。 - 特許庁

To provide a microscope capable of negating a lens effect produced in a culture fluid of a sample, while adequately ensuring a space between a lighting optical system and the sample.例文帳に追加

照明光学系と標本との間のスペースを十分に確保しながら、標本の培養液に生じるレンズ効果を解消することが可能な顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

To collect region-specific expression information characterizing each piece of biological tissue, from imaging mass spectrometry data by effectively utilizing an optical microscope image on a sample.例文帳に追加

試料上の光学顕微画像を有効に活用して、イメージング質量分析データから各生体組織を特徴付ける領域特異的な発現情報を収集する。 - 特許庁

In the comparison results of the microscope images, if it is determined that the examination object patterns are not acceptable, the method compares the profiles to finally determine whether the patterns are acceptable or not.例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像比較結果、不良であると判断されれば２次電子信号プロフィールを比較して最終的にパターンの不良の可否を判断する。 - 特許庁

To provide: a mode synchronous laser device that easily adjusts the repetition frequency of pulse light with simple and compact constitution; a pulse laser light source device; and a microscope device.例文帳に追加

簡単かつ小型な構成でパルス光の繰り返し周波数を容易に調整することができるモード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

A microscope 3 generates a plurality of oblique illumination sample images, having different brightness distribution, which are obtained by obliquely illuminating the sample S and imaging a predetermined sample area.例文帳に追加

顕微鏡３は、標本Ｓを偏斜照明して所定の標本領域を撮像した明るさの分布が異なる複数の偏斜標本画像を生成する。 - 特許庁

GENERATING METHOD OF NEAR-FIELD LIGHT, MASK FOR NEAR-FIELD EXPOSURE, NEAR-FIELD EXPOSING METHOD AND DEVICE, NEAR FIELD LIGHT HEAD, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND RECORDING/REPLAYING DEVICE例文帳に追加

近接場光の発生方法、近接場露光用マスク、近接場露光方法、近接場露光装置、近接場光ヘッド、近接場光学顕微鏡、記録・再生装置 - 特許庁

To provide a disk scanning type confocal microscope in which a rotary disk can be replaced with the one suitable for an objective to be used without readjusting an optical system.例文帳に追加

光学系の再調整の必要なく、回転ディスクを、使用する対物レンズに適したものに交換可能なディスク走査型の共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which is improved in operability by linking operations to deal with switching of methods for observing an eye to be operated.例文帳に追加

本発明は、被手術眼の観察方法の切り換えに対応して行う操作を連動して行うことにより操作性の向上を図った手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a probe not receiving lateral force when scanning a sample surface, capable of high-speed measurement, and allowing reduction of abrasion of the probe.例文帳に追加

試料表面を走査するとき探針が横方向の力を受けず、高速測定が可能で、探針の磨耗を低減した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The atomic force microscope 100 is also equipped with a vibrator 154 for generating vibration, and a vibration transfer block 152 for transferring generated vibration to the glass plate 116.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００はさらに、振動を生成する振動子１５４と、生成された振動をガラス板１１６に伝達する振動伝達ブロック１５２とを備えている。 - 特許庁

(1) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of conducting magnetic force observation at stable high resolution by magnetizing only the tip of a probe without using a dedicated provision.例文帳に追加

専用の設備を用いることなく、探針の尖端のみの磁化を行い、安定した高分解能能の磁気力観察を行うことが出来る磁気力顕微鏡を実現する。 - 特許庁