「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(121ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a compact low-cost polarizing microscope capable of obtaining an excellent observation image through conoscope observation and orthoscope observation, and an adjusting method.例文帳に追加

コノスコープ観察およびオルソスコープ観察による良好な観察像を得られるコンパクトでコスト的にも安価な偏光顕微鏡および調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ion microscope capable of assessing quality of a conductive tip (needle-like electrode tip) used in a gas field ion source (electrical field ionization gas ion source).例文帳に追加

気体電界イオン源（電界電離ガスイオン源）の導電性先端（針状電極先端）の品質を評価できるようにしたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To shorten a time for focusing by shortening a scanning range of Z coordinates to actuate for focusing when imaging an image by an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡で画像を撮像するとき，焦点を合わせるために動作させるＺ座標の走査範囲を短くして，焦点を合わせる時間を短縮する。 - 特許庁

SQUID DEVICE, BIOMAGNETISM MEASUREMENT DEVICE, MAGNETOENCEPHALOGRAPH, MAGNETOCARDIOGRAPH, SQUID MAGNETIC INSPECTION DEVICE, SQUID MICROSCOPE AND SQUID METAL DETECTOR例文帳に追加

ＳＱＵＩＤ装置、生体磁気計測装置、脳磁計、心磁計、ＳＱＵＩＤ磁気探傷装置、ＳＱＵＩＤ顕微鏡、及びＳＱＵＩＤ金属探知器。 - 特許庁

To provide a micro-hand which applies micro-operating force to a sample under electron beams in a vacuum of an electron microscope while ensuring vibration-isolation and suppressing outgassing.例文帳に追加

電子顕微鏡の真空中、電子線下でマイクロハンドにより耐振アウトガス抑制を保証しつつ試料に微細操作力を与えるようにする。 - 特許庁

A scanning type microscope comprises a light source unit, first scanning means 114a, a first beam restriction body 115a and a light quantity detector 118.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、光源ユニット、第１の走査手段１１４ａ、第１の光制限体１１５ａ、および光量検出器１１８を有する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which is made mechanically simple, can be promoted in downsizing and can realize the detection of exact spectral characteristic data.例文帳に追加

構成簡易にして、小型化の促進を図り得、且つ、正確なスペクトル特性データの検出を実現し得るようにした走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.例文帳に追加

例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.例文帳に追加

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of performing noise reduction processing in a time close to real time without making a user recognize an important change between frames as noise.例文帳に追加

重要なフレーム間における変化をノイズとして認識することなく、リアルタイムに近い時間でノイズ低減処理を行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The acting way of the force with charged electrophoretic particles fixed on a substrate by an atomic force microscope, having the charged electrophoretic particles fixed on its cantilevered beam.例文帳に追加

帯電泳動粒子を片持ち梁に固定化した原子間力顕微鏡で、基板上に固定化された帯電泳動粒子との力の働き方を測定する。 - 特許庁

The device for analyzing a biomolecule function structure is provided with a sample stand plate 10, scanning probe microscope section 20, and an electric measurement device 30.例文帳に追加

試料台基板１０と、走査プローブ顕微鏡装置部２０と、電気測定装置部３０とを備えることを特徴とする生体分子機能構造解析装置。 - 特許庁

To provide a liquid immersion microscope apparatus capable of precisely setting a working distance by reducing the effect of the error of attaching an adaptor to an objective lens.例文帳に追加

対物レンズに対するアダプタの取り付け誤差の影響を低減してワーキングディスタンスを精度よく設定できる液浸顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

To provide an electron microscope suitable for observing organisms and living samples under the condition that they are alive or functional.例文帳に追加

本発明は、生物，生体試料を生存或いは機能可能な状態で観察するのに好適な電子顕微鏡の提供を目的とするものである。 - 特許庁

To enable any one to simply, easily and immediately print out an enlarged image by a microscope and to view this enlarged image on the surface of a print paper.例文帳に追加

顕微鏡による拡大画像を、誰でも簡単且つ容易に、しかも直ちにプリントアウトしてその拡大画像を紙面上で見ることができるようにする。 - 特許庁

To achieve a process without overetching or insufficient etching and a process with high accuracy in surplus defect correction of a photomask by using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いたフォトマスクの余剰欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工や高精度な加工を実現する。 - 特許庁

This ceiling attaching device is provided with two vertical supports 1 and 2 having an effect parting the vibration of a microscope supporting arm mechanism 3 and an auxiliary arm mechanism 5.例文帳に追加

天井取付装置は、顕微鏡支持アーム機構(３)及び補助アーム機構(５)の振動を分断する効果を持つ二つの鉛直支柱(１，２)を有する。 - 特許庁

To provide an apparatus including a scanning probe unit provided with a mechanism attaching position-regulably the scanning probe unit to an object revolver of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レボルバに走査型プローブユニットを位置調整可能に取り付ける機構を備えた、走査型プローブユニットを含めた装置を提供する。 - 特許庁

The virtual microscope slide includes images of a specimen 31 for a given level of optical magnification which are associated and stored in a data structure.例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドには、所与の光学倍率レベルに対する、データ構造と結合し、かつ、データ構造中に記憶される標本３１の画像が含まれている。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法 - 特許庁

To provide a microscope system capable of displaying generated fluorescence in a more easily visible manner and to provide a recording method for visualizing fluorescence.例文帳に追加

発生している蛍光をより見やすく表示することが可能な、顕微鏡システムおよび蛍光を可視化するための記録方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple microscopic system and an objective lens unit, for easily acquiring sort information of an objective lens connected to a microscope body.例文帳に追加

顕微鏡本体に接続される対物レンズの種別情報を容易に取得することができる簡素な顕微鏡システムおよび対物レンズユニットを提供する。 - 特許庁

To remove a damaged layer generated in a cut end face by sputtering- etching with a convereged ion beam, when preparing a thin sample piece for a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の薄片試料を作製する際に、集束イオンビームによるスパッタエッチングによって切削端面に生じたダメージ層を除去する。 - 特許庁

In the method for evaluating the SOI wafer, wherein a semiconductor layer, an insulating layer, and a supporting substrate are sequentially formed, the evaluation is carried out by a confocal laser microscope.例文帳に追加

半導体層、絶縁層、支持基板が順次形成されたＳＯＩウエーハの評価方法であって、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡により評価する。 - 特許庁

To provide a spin-polarized electron source which can be used for an electron microscope and an accelerator, has a superior durability of magnetic characteristics and can be operated at room temperature.例文帳に追加

電子顕微鏡や加速器に用いることができる、磁気特性の耐久性に優れて、且つ、室温動作可能なスピン偏極電子源を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which enables a stable sample operation in the application of operating the sample with a laser beam and is excellent in operability.例文帳に追加

レーザ光を用いて試料を操作するアプリケーションにおいて、安定した試料操作を実現できるとともに、操作性に優れた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the differential interference microscope, the differential interference image of a sample is picked up by an imaging apparatus (11) and its video signal is output to an image processing device.例文帳に追加

本発明による微分干渉顕微鏡は、試料の微分干渉像を撮像装置(11)により撮像し、その映像信号を画像処理装置に出力する。 - 特許庁

To provide an immersion microscope objective lens that has long operation distance and has sufficiently corrected aberrations in a wide wavelength region (substantially h-line to t-line).例文帳に追加

作動距離が長く、広波長域（おおよそｈ線〜ｔ線）にわたり諸収差が良好に補正された、液浸系顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a shape measuring apparatus and a laser microscope which, even when external mechanical vibrations and acoustic vibrations are propagated, are unaffected by the external vibrations.例文帳に追加

外部からの機械振動や音響振動が伝達されても、外部振動の影響を受けない形状測定装置及びレーザ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To rapidly and accurately set an optimum retardation position in adjustment of retardation for an optical microscope having a differential interference observation function.例文帳に追加

微分干渉観察機能を有する光学顕微鏡のリタデーション調整において、最適なリタデーション位置を迅速かつ精度良く設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a photomicrographing device which can perform time-plus photography with a plurality of photographing ranges without being limited by the observation visual field of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の観察視野に制限されずに複数の撮影範囲のタイムラプス撮影を行うことができる顕微鏡写真撮影装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which can assure the required accuracy of measurement even when patterns for measurement are highly integrated or miniaturized.例文帳に追加

測定対象パターンが高集積化、微細化したときであっても、要求される測定精度を確保することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A cylindrical part 11 is loosely fitted with an eyepiece lens tube 21 of the microscope 20 to be fixed to the eyepiece lens tube 21 by three screw members 14.例文帳に追加

、円筒部１１を顕微鏡２０の接眼レンズ鏡筒２１に遊嵌し、３本のネジ部材１４で円筒部１１を接眼レンズ鏡筒２１に固定する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope preventing displacement of images when images obtained at the same time by a plurality of light detecting means are superposed.例文帳に追加

複数の光検出手段で同時に取得した画像を重ね合わせたときの画像のズレを防ぐことができる倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide microtomy for a transmission type electron microscope providing easy and inexpensive observation of clear glass fiber mixed polymer innate morphology.例文帳に追加

容易に、低コストにて、ガラス繊維配合ポリマー本来の明確なモルフォロジーを観察できる、透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法の提供。 - 特許庁

To provide a heater suitably used for a microscope slide glass which allows transmission of visible light and also heats an observed object by electric heat.例文帳に追加

可視光を透過し、かつ、電熱によって被観察物を加熱することができ、顕微鏡のスライドガラスとして好適に用いることができるヒータを提供する。 - 特許庁

To provide a stage apparatus for microscope which makes it easy to replace a slide glass and is free of a danger of breakage of the slide glass even in case of an operation mistake.例文帳に追加

スライドガラスの交換を容易に行うことができ、操作を誤ってもスライドガラスの破損の危険性が無い顕微鏡のステージ装置を提供すること。 - 特許庁

Parallel laser beams are made incident on the optical path of the microscope and formed into an image on a sample surface, and returning light from the sample surface is made incident on a photodiode.例文帳に追加

平行レーザー光線を顕微鏡光路に入射し、これを試料面に結像させ、該試料面からの戻り光をフォトダイオードに入射する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing highly accurate three-dimensional profile measurement while no sliding of the probe or deformation of the sample substantially occurs.例文帳に追加

探針の滑りや試料の変形が実質的にない状態での高精度な立体形状計測が可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform the slope adjustment of the objective lens of an optical pickup with good workability based on a beam spot image obtained by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡で取得したビームスポット画像に基づき、光ピックアップ装置の対物レンズの傾角調整を作業性良く行うことができるようにすること。 - 特許庁

To provide a radiation electron microscope which can obtain a quality electron image with a higher space resolution while preventing damage of a sample as caused by electric discharge.例文帳に追加

高い空間分解能で良質な電子像を得られ、かつ、放電による試料の損傷を防止することができる放射電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, the user observes the sample with the atomic force microscope in the observed region specified in the step S3 (step S4).例文帳に追加

その後、使用者は、ステップＳ３において指定した観察対象領域について原子間力顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a field-emission electron gun which can control the deterioration of electron emission characteristics and is low cost, and to provide an electron microscope and an electron beam exposure apparatus.例文帳に追加

電子放出特性の劣化を抑制可能であり、低コストな電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

Further, the dislocation density can be measured by counting etch pits through an optical microscope etc., and then the quality of the crystal can be evaluated.例文帳に追加

また、エッチピットの個数を光学顕微鏡などを用いて数えることで、転位密度を測定することができ、結晶の品質を評価することができる。 - 特許庁