「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(121ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a laser microscope capable of easily attaching and replacing a detector for detecting light emitted by a sample with coherent light.例文帳に追加

コヒーレント光により標本から発する光を検出するための検出器の取付けや交換を容易に行なえるレーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To surely fix a frame to a vibration-free base without backwardly reclining the frame or without removing rubber feet when installing the frame of the microscope on the vibration-free base.例文帳に追加

顕微鏡のフレームを除振台に設置する際に、フレームを後ろ向きに倒したりゴム足を取り外すことなく、フレームを除振台に確実に固定可能にする。 - 特許庁

To provide an illuminator for a microscope having little illumination irregularity and capable of obtaining an excellent observed image even in the case of using a digital camera or the like.例文帳に追加

照明ムラが少なく、デジタルカメラ等を用いた場合でも良好な観察像を得ることができる顕微鏡照明装置を提供すること。 - 特許庁

Light from the object 1 for observation is formed by an image formation optical system (microscope optical system 20) and an observed image 12 is projected in the space.例文帳に追加

観察対象物１からの光が結像光学系（顕微鏡光学系２０）によって結像されて空間中に観察像１２が投射される。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope which permits exchange of detectors and extension of the number of image channels at a low cost and has high expandability.例文帳に追加

検出器の交換や画像チャネル数の増設を低コストで容易に行うことができる、拡張性の高い走査型共焦点顕微鏡の提供。 - 特許庁

The inclusion 3 can be analyzed by manufacturing the sample 1 for analysis by the manufacturing method, cutting it, and observing the cut surface by a microscope.例文帳に追加

本発明の製造方法により分析用サンプル(1)を製造し、切断し、切断面を顕微鏡により観察することにより、介在物(3)を分析できる。 - 特許庁

To provide a laser microscope that has a simple constitution and is made to quickly measure the thickness of a film with high accuracy, by reducing the amount of data to be processed.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成で、処理データの軽減を図り得るようにして、迅速にして高精度な膜厚測定を実現することにある。 - 特許庁

A confocal microscope which is provided with an objective lens 7, a scanning mechanism 3, a movement mechanism 14, a very small opening 10 and a photodetector 11 is constituted.例文帳に追加

対物レンズ７と、走査機構３と、移動機構１４と、微小開口１０と、光検出器１１とを備えた共焦点顕微鏡を構成している。 - 特許庁

To provide a light-receiving unit which is to be connected to a confocal optical microscope to constitute a measuring apparatus for measuring the light emitted from a sample.例文帳に追加

試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a solid observation method and an electron microscope capable of totally and accurately evaluating an electronic device structure or the like with a three-dimensional structure.例文帳に追加

３次元構造を持つ電子デバイス構造等を全体的且つ高精度に評価しうる立体観察方法及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, the sample 10 is set up on the stage on a piezo element three-dimensional scanner 4 of a scanning probe microscope in the direction wherein the plurality of layers are aligned laterally.例文帳に追加

次に、複数の層が横に並ぶ方向で、試料１０を走査型プローブ顕微鏡のピエゾ素子３次元スキャナ４上のステージに設置する。 - 特許庁

binocular microscope used in surgery to provide a clear view of small and inaccessible parts of the body (as in microsurgery) 例文帳に追加

身体（顕微手術の場合のように）の小さくてアクセスしにくい部分のはっきりした視界を提供するために手術で使われる双眼顕微鏡 - 日本語WordNet

The acting way of the force with charged electrophoretic particles fixed on a substrate by an atomic force microscope, having the charged electrophoretic particles fixed on its cantilevered beam.例文帳に追加

帯電泳動粒子を片持ち梁に固定化した原子間力顕微鏡で、基板上に固定化された帯電泳動粒子との力の働き方を測定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining a high-resolution and high-contrast concavoconvex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope capable of effectively utilizing illuminating light and enabling a user to stably observe a large sample with excellent operability.例文帳に追加

照明光を有効に利用できるとともに、大型標本の観察を操作性がよく、しかも安定して行うことができる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The execution of the alignment of the mask 50 and the specimen 21 may include acquiring an image by an imaging apparatus such as a scanning electronic microscope.例文帳に追加

マスク５０および試料２１のアラインメントの実行は、画像を走査型電子顕微鏡のような撮像装置によって得ることを含むことができる。 - 特許庁

The display can be circled at least in one direction, and the casing of the display device has an auxiliary tool for fixation and/or stabilizing installation device to the microscope.例文帳に追加

ディスプレイは少なくとも１つの方向に旋回でき、表示装置のケーシングは顕微鏡への固定および／または安定設置のための補助具を有している。 - 特許庁

To provide an optical microscope for a Vickers hardness test which does not require a high degree of technology and many parts, etc., does not require a cost and has measuring lines.例文帳に追加

高度な技術や多数の部品等を必要とせず、製作コストのかからない測定線を有するビッカース硬さ試験用光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus for surgery easily and quickly providing a suitable separation state of an illumination light and an observation light when replacing pre-lenses.例文帳に追加

前置レンズを交換するときに照明光と観察光の好適な分離状態を容易かつ迅速に得られる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

AGGLUTINATION SIMULATOR FOR CONTACT MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, AND AGGLUTINATION SIMULATION METHOD例文帳に追加

接触モード原子間力顕微鏡の凝着シミュレータ、凝着シミュレーションプログラム、凝着シミュレーションプログラムを記憶した記録媒体及び凝着シミュレーション方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method and device for a metal atom micro-structure capable of fabricating a micro-electrode of nanometer scale using an interatomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて、ナノメータスケールの微細電極を作製することができる微細金属原子構造物の作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Note that the average surface roughness Ra is measured by scanning an area of 10 μmx10 μm employing an interatomic force microscope (an AFM).例文帳に追加

ここで、平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて、１０μｍ×１０μｍの範囲を走査して測定されたものである。 - 特許庁

The inverted microscope 1 is equipped with a cell activity maintaining device 31 for maintaining the activity of the cell in a container 30 near an objective 8.例文帳に追加

倒立顕微鏡１は、対物レンズ８の近傍に、容器３０内の細胞の活性を維持するための細胞活性維持装置３１が備わっている。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of performing an observing work in accordance with observation conditions, and also, capable of easily switching the observation conditions.例文帳に追加

観察条件に合った観察作業を行うことができるとともに、これら観察条件の切換えを簡単にできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detector that is readily removable and can reduce the burden of optical adjustment, when exchanging the detector, and to provide an infrared microscope equipped with the detector.例文帳に追加

容易に着脱でき、交換の際に光学調整の負担を軽減できる検出器およびその検出器を備えた赤外顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which allows bright field photography and fluorescence photography by sharing an imaging means without lowering sensitivity of the fluorescence photography.例文帳に追加

蛍光撮影の感度を低下させることなく、撮像手段を共用して明視野撮影及び蛍光撮影が可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of performing simply and accurately optical adjustment of pumping light and erasing light, and showing surely super-resolution effect.例文帳に追加

ポンプ光とイレース光との光学調整を簡単かつ正確に行うことができ、超解像効果を確実に発現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PHOTOPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

To measure an inclination and a distance of an object to be measured after being positioned using a microscope, without limiting the kind (wavelength) of measuring light.例文帳に追加

測定光の種類（波長）を制限することがなく、顕微鏡を用いた位置決めを行った上で被測定物の傾きや距離を測定すること。 - 特許庁

When a microscope 16 is focused to the sample S2, the light passes through the lens 25, the pinhole plate 24, the lens 23 and the half mirror 22 and impinges on a detector 21.例文帳に追加

顕微鏡１６がサンプルＳ２に合焦すると、光がレンズ２５、ピンホール板２４、レンズ２３そしてハーフミラー２２を通して検出器２１に入射する。 - 特許庁

To provide a color microscope in which the influence of an axial aberration of an objective lens due to the light emitted from a plurality of light sources is reduced.例文帳に追加

複数の光源から放射される光に起因した対物レンズの軸上色収差の影響を低減することのできるカラー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope having a high S/N ratio and a wide dynamic range and ensuring high speed response by restraining noise caused by return light.例文帳に追加

戻り光による雑音を抑制して高いＳ／Ｎ比と広いダイナミックレンジを有するとともに高速応答が可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope which electrically performs a tilt adjustment impossible for a person or a sample tilt mechanism to control, and achieves a precise tilt adjustment.例文帳に追加

試料傾斜機構や人間では制御できない傾斜を電気的に行い、精密な傾斜合わせを実現する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which improves a throughput, even if it is observed with a sample electrified into negative electric potential.例文帳に追加

試料を負電位に帯電させて観察を行った場合においてもスループットの向上を図ることができる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When an operation of inspecting and imaging the sample with the microscope is finished, the preparation is returned by the preparation holding hand 5 to the original position in the preparation storage magazine.例文帳に追加

ここで、顕微鏡による試料の検査・撮像が完了すると、プレパラート保持ハンド５は、前記プレパラートをプレパラート収納マガジンのもとの位置に戻す。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for a scanning electron microscope by a simple operation without damaging the sample being an observation target.例文帳に追加

観察対象の試料にダメージを与えることなく、簡単な操作で、走査電子顕微鏡用の試料を作製する方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a micro-hand which applies micro-operating force to a sample under electron beams in a vacuum of an electron microscope while ensuring vibration-isolation and suppressing outgassing.例文帳に追加

電子顕微鏡の真空中、電子線下でマイクロハンドにより耐振アウトガス抑制を保証しつつ試料に微細操作力を与えるようにする。 - 特許庁

A scanning type microscope comprises a light source unit, first scanning means 114a, a first beam restriction body 115a and a light quantity detector 118.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、光源ユニット、第１の走査手段１１４ａ、第１の光制限体１１５ａ、および光量検出器１１８を有する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which is made mechanically simple, can be promoted in downsizing and can realize the detection of exact spectral characteristic data.例文帳に追加

構成簡易にして、小型化の促進を図り得、且つ、正確なスペクトル特性データの検出を実現し得るようにした走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.例文帳に追加

例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.例文帳に追加

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of performing noise reduction processing in a time close to real time without making a user recognize an important change between frames as noise.例文帳に追加

重要なフレーム間における変化をノイズとして認識することなく、リアルタイムに近い時間でノイズ低減処理を行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A cylindrical part 11 is loosely fitted with an eyepiece lens tube 21 of the microscope 20 to be fixed to the eyepiece lens tube 21 by three screw members 14.例文帳に追加

、円筒部１１を顕微鏡２０の接眼レンズ鏡筒２１に遊嵌し、３本のネジ部材１４で円筒部１１を接眼レンズ鏡筒２１に固定する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope preventing displacement of images when images obtained at the same time by a plurality of light detecting means are superposed.例文帳に追加

複数の光検出手段で同時に取得した画像を重ね合わせたときの画像のズレを防ぐことができる倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide microtomy for a transmission type electron microscope providing easy and inexpensive observation of clear glass fiber mixed polymer innate morphology.例文帳に追加

容易に、低コストにて、ガラス繊維配合ポリマー本来の明確なモルフォロジーを観察できる、透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法の提供。 - 特許庁