「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(109ページ目) - Weblio英語例文検索

A magnetic tape MT which is the signal recording tape, is observed by the microscope M in the state arranged on an electrostatically charged stage 2.例文帳に追加

信号記録用テープである磁気テープＭＴを、帯電されたステージ２上に配置した状態で顕微鏡Ｍにより観察する。 - 特許庁

Subsequently, the maximum forwardly-movable value in a z direction of a probe of the scanning tunnel microscope is determined on the basis of the detected tilt angle.例文帳に追加

その後、検出した傾斜角度に基づいて走査型トンネル顕微鏡の探針のｚ方向の最大前進可能値を決める。 - 特許庁

To reduce anxiety feeling and uncomfortable feeling which user senses when performing automatic measurement with a microscope accompanied by automatic setting of a measuring condition.例文帳に追加

測定条件の自動設定を伴う顕微鏡での自動測定を行う場合にユーザが感じる不安感や不快感を軽減する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND SIGNAL DETECTION DEVICE AND/OR ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出方法および信号検出装置、並びに該信号検出装置を備えた原子間力顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that is adapted to obtain an image removed of image disorder influences due to disturbances by means of simple measures.例文帳に追加

簡単な手段で、外乱による像障害の影響を除去した像を得るのに適した走査電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This application may be composed as an additional module receivable particularly onto the sample table of a conventional scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、特に、従来式の走査電子顕微鏡の試料台の上で受容可能な追加モジュールとして構成されていてよい。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function which applies an arbitrary horizontal magnetic field from an outside only onto the region near a sample.例文帳に追加

外部から試料近傍のみに任意の水平方向磁場を印加する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope illumination intensity measuring apparatus which can measure intensity of illumination light (exciting light) irradiating a sample (a cell).例文帳に追加

標本（細胞）に照射される照明光（励起光）の強度を測定し得る顕微鏡照明強度測定装置を提供する。 - 特許庁

Then, the high spatial resolution is obtained to provide the confocal scanning microscope system of high spatial resolution of 50nm level.例文帳に追加

高い空間分解能が得られ、５０ｎｍレベルの高い空間分解能を有する共焦点走査型顕微鏡システムが提供される。 - 特許庁

Further, the fluorescent microscope 1 performs high frequency enhancing processing with a computer 8 and visualizes the super resolution components of the digital image data.例文帳に追加

さらに、蛍光顕微鏡１は、計算機８で高周波強調処理を実施してデジタル画像データの超解像成分を可視化する。 - 特許庁

A cantilever 2 for an atomic force microscope 1 includes: a vibration part formed of a vertical spring 2A and a rotary spring 2B; and a probe 2C.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１用のカンチレバー２は縦バネ２Ａおよび回転バネ２Ｂからなる振動部と探針２Ｃとを備える。 - 特許庁

METHOD FOR USING CHIP OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, PRODUCT FOR PERFORMING THE METHOD OR PRODUCT MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡チップの使用方法及び該使用方法を実施するための製品又は該使用方法によって製造される製品 - 特許庁

A SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) having a y-direction illumination light source and a z-direction detection light camera is disclosed.例文帳に追加

ｙ方向の照明光源とｚ方向検出光カメラとを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of creating secondary electrons and transparent electron images that are not affected by the structure in the interior of thin film samples.例文帳に追加

薄膜試料内部の構造の影響を受けない２次電子および透過電子像の構成できる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample exchanging device of a transmission electron microscope capable of simply and precisely mounting a sample cartridge on a sample holder.例文帳に追加

簡単に正確に試料カートリッジを試料ホルダに取りつけることができる透過電子顕微鏡の試料交換装置を実現する。 - 特許庁

To provide an examination microscope free from the possibility of an objective lens being damaged by its contact with a stage when the lens is attached or removed.例文帳に追加

対物レンズの着脱時に、対物レンズがステージと接触して損傷してしまうおそれが無い検査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope capable of suppressing the distortion aberration in a wide field of view and observing a sample with a high resolution.例文帳に追加

広視野での歪曲収差を抑えることができ、高分解能で試料を観察できる写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To actualize a method for preventing contamination and breakage in a contrast enhancing element in centering an optical element in a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡おいて、光学素子をセンタリングする際にコントラスト向上素子の汚染や損傷を防止する方法の実現。 - 特許庁

It is also possible to allocate a device equipped with performance necessary for each process using the scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いる各工程に対し、その工程に必要な装置性能を備えた装置を割り当てることも可能となる。 - 特許庁

The obtained regenerated hydrotreatment catalyst is observed through a transmission electron microscope and whether the regenerated hydrotreatment catalyst is suitably reused is judged.例文帳に追加

得られた再生処理後の触媒について、透過型電子顕微鏡による観察を行い、触媒の再利用の適不適を判定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing simply and accurately probe part alignment with respect to an observation domain on a sample.例文帳に追加

試料上の観察領域に対する探針部位置合わせが簡単且つ正確に行われる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an astigmatism correction device capable of also correcting three times astigmatism without increasing size of electron microscope etc.例文帳に追加

電子顕微鏡等のサイズを大きくすることなく３回非点収差も補正することができる非点収差補正装置を提供する。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。 - 特許庁

To provide an optical scanning type confocal microscope capable of freely selecting detection wavelength, and easily and accurately detecting multi-wavelength.例文帳に追加

検出波長を自在に選択でき、多波長を簡単に、高精度に検出できる光走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a digital microscope which is capable of measuring dimensions of a test piece accurately and is small and inexpensive.例文帳に追加

正確にその試料の大きさを測定することが可能であって小型でかつ低廉なデジタル顕微鏡を提供することができる。 - 特許庁

The downsized electron microscope uses a removable sample holder which has a wall to form a part of a vacuum region where a sample exists.例文帳に追加

小型の電子顕微鏡が、サンプルが存在する真空領域の一部を形成する壁を有する取外し可能なサンプルホルダを使用する。 - 特許庁

To achieve a miniaturization and an improvement of resolving power in a probe microscope, having a cantilever activated by the inter-atomic force with the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面との原子間力で動作するカンチレバーを有するプローブ顕微鏡にあって、小型化、解像度の改善を図る。 - 特許庁

To provide an infrared microscope capable of implementing mapping measurement in which a focus is satisfactorily adjusted at respective points in a sample measurement area.例文帳に追加

試料測定領域の各点で良好にフォーカスの合ったマッピング測定を行うことのできる赤外顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can obtain accurate scanning images and observation data by improving accuracy of position of the main scanning.例文帳に追加

主走査の位置精度を向上させて正確な走査像や観察データを得られるようにした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The lighting axis 17 of the parallelized laser light slants at a fixed reference angle 19 to the lighting axis 19 of the microscope.例文帳に追加

平行化されたレーザ光の照明軸１７は、顕微鏡の照明軸１８に対して一定の基準角１９だけ傾斜している。 - 特許庁

A safety function is provided when the microscope is changed from the state of observation of transmission electron enlarged image into an observation of an electron diffraction image.例文帳に追加

透過電子拡大像を観察している状態から電子回折像の観察への切換時には、安全機能が備えられている。 - 特許庁

PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OF GaAs, GaN-BASED COMPOUND SEMICONDUCTOR AND LAMINATED STRUCTURE ANALYSIS BY USING IT例文帳に追加

ＧａＡｓ、ＧａＮ系化合物半導体の透過電子顕微鏡用試料の作製方法及びそれを用いる積層構造解析法 - 特許庁

To realize an image display method of a scanning electron microscope capable of quantitatively observing the state of unevenness of the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸の状態を定量的に観察することができる走査電子顕微鏡の像表示方法を実現する。 - 特許庁

To provide a method and a laser scanning type fluorescence microscope by which a sample is inexpensively and rapidly scanned with compact and simple structure.例文帳に追加

コンパクトで簡単な構造で安価に迅速な試料走査が可能な方法およびレーザ走査型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope concurrently having an ultraviolet light observing function and a visible light observing function and also having an automatic focusing function.例文帳に追加

紫外光観察の機能と可視光観察の機能とを併せ持ち、しかも、自動合焦機能を有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the lens barrel for microscope, a lens frame 9 holding imaging lenses 8 is slidably provided along an optical axis (n) in the lens barrel frame 2 of the lens barrel.例文帳に追加

顕微鏡用鏡筒の鏡筒枠２に、結像レンズ８を保持するレンズ枠９を光軸ｎに沿って摺動自在に設けた。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PHASE COMPENSATION OF POSITION SIGNAL AND DETECTION SIGNAL IN SCANNING MICROSCOPIC METHOD AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope stage which is small in size, is excellent in handling and operability and can be made lower in cost and a manufacturing method.例文帳に追加

小型にして取り扱いや操作性に優れ、しかも価格的に安価にできる顕微鏡ステージおよび製造方法を提供する。 - 特許庁

To carry out in a high accuracy the adjustment of axes between the irradiation lens system and imaging lens system of an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡の照射レンズ系と結像レンズ系との軸調整を高精度に行うことを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a microscope system which can efficiently analyze images with high accuracy, an information processing device, and an information processing program.例文帳に追加

高精度な画像解析を効率的に行うことができる顕微鏡システム、情報処理装置、及び情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method of lithography using a scanning tunneling microscope by which exposure can be executed by accurate tunneling current fine flux.例文帳に追加

精密なトンネル電流微細束線による露光を得ることができる走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法を提供する。 - 特許庁

The microscope 1 has a CCD camera 18 for photoreceiving the fluorescence generated in a sample, and the CCD camera 18 is provided with an electronic shutter.例文帳に追加

顕微鏡１は、試料で発生した蛍光を受光するＣＣＤカメラ１８を有し、ＣＣＤカメラ１８は電子シャッターを備える。 - 特許庁

Furthermore, applying of this image sensor to a confocal microscope makes it possible to obtain an image with high resolution while increasing the scanning speed.例文帳に追加

また、このようなイメージセンサを共焦点顕微鏡に適用すれば、スキャン速度が高速で且つ高解像度の画像を得ることが出来る。 - 特許庁

The first and second spot light intersect each other at the focusing level of the telecentric optical system microscope system.例文帳に追加

第１スポット光と第２スポット光とは、テレセントリック光学系顕微鏡システムの焦点レベルにおいて、互いに交差するようになっている。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system equipped with a mode for manually connecting pictures without using an expensive motor-driven stage.例文帳に追加

高価な電動ステージを用いることなく画像のつなぎ合わせを手動で行うモードを備えた共焦点顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁