dark-field imageとは 意味・読み方・使い方

An image formed by one diffracted beam is known as a dark-field image.発音を聞く 例文帳に追加

1つの回折ビーム(回折波)によって結像される像は、暗視野像として知られている。 - 科学技術論文動詞集

Accordingly, a dark-field image of the incident angle α suitable for the sample 3 including information in omnidirections is obtained.例文帳に追加

従って、試料３に適した入射角αの暗視野像が全方位の情報を含んで得られる。 - 特許庁

It is therefore possible for the imaging means (11) to acquire a dark-field observation image of each part region.例文帳に追加

よって、撮像手段（１１）は、各部分領域の暗視野観察像を取得することができる。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope allowing easy interpretation of a dark-field image, capable of capturing a dynamic phenomenon occurring in a sample, and allowing observation of the dark-field image of a minute area.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって、暗視野像の解釈が容易で、試料で生じている動的現象を捉えることができ、且つ微小領域の暗視野像の観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a dark visual field vertical illumination microscope which quickly changes-over excitation wavelength and fluorescent wavelength, measures one tissue or one organelle by time-resolving, can be easily changed-over to a dark field and can obtain a clear image with low back ground.例文帳に追加

励起波長と蛍光波長を素早く切り換え、１つの細胞やオルガネラを時間分解して計測し、容易に暗視野に切り換えられバックグランドの低い鮮明な画像が得られる暗視野落射顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁

The dark field image can show a minute flaw as compared with the bright field image and an inspector compares both images to confirm the presence of minute flaws incapable of being shown by the bright field image.例文帳に追加

暗視野画像は明視野画像に比べて微小な欠陥まで表示することができ、検査者は両画像を見比べて明視野画像では表示できない微小な欠陥が存在することを確認することができる。 - 特許庁

Further, the substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a dark field image of the inspection surface of the substrate under inspection by dark field illumination, a second imaging means for capturing the diffraction image of the light of the single wavelength irradiated on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flaw of the inspection surface on the basis of the dark field image and the diffraction image.例文帳に追加

また、暗視野照明で被検査基板の検査面の暗視野画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記暗視野画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁