「dark-field image」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The side surface of the crystal blank B irradiated by the dark-field light source 11 is observed in a dark field by the image pickup system 10.例文帳に追加

暗視野光源１１に照射された水晶ブランクＢの側面は、撮像系１０によって暗い視界中に観察される。 - 特許庁

By comparing a reference information inputted, bright field image or back scattering electron image with a dark field image, it is judged whether their correlation value or the dark field image has a prescribed contrast.例文帳に追加

上記目的は、入力された参照情報，明視野像或いは後方散乱電子像と、暗視野像を比較し、その相関値、或いは暗視野像が所定のコントラストを有しているか否かを判定することで実現される。 - 特許庁

An image formed by one diffracted beam is known as a dark-field image. 例文帳に追加

1つの回折ビーム(回折波)によって結像される像は、暗視野像として知られている。 - 科学技術論文動詞集

Accordingly, a dark-field image of the incident angle α suitable for the sample 3 including information in omnidirections is obtained.例文帳に追加

従って、試料３に適した入射角αの暗視野像が全方位の情報を含んで得られる。 - 特許庁

It is therefore possible for the imaging means (11) to acquire a dark-field observation image of each part region.例文帳に追加

よって、撮像手段（１１）は、各部分領域の暗視野観察像を取得することができる。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope allowing easy interpretation of a dark-field image, capable of capturing a dynamic phenomenon occurring in a sample, and allowing observation of the dark-field image of a minute area.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって、暗視野像の解釈が容易で、試料で生じている動的現象を捉えることができ、且つ微小領域の暗視野像の観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a dark visual field vertical illumination microscope which quickly changes-over excitation wavelength and fluorescent wavelength, measures one tissue or one organelle by time-resolving, can be easily changed-over to a dark field and can obtain a clear image with low back ground.例文帳に追加

励起波長と蛍光波長を素早く切り換え、１つの細胞やオルガネラを時間分解して計測し、容易に暗視野に切り換えられバックグランドの低い鮮明な画像が得られる暗視野落射顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁

The dark field image can show a minute flaw as compared with the bright field image and an inspector compares both images to confirm the presence of minute flaws incapable of being shown by the bright field image.例文帳に追加

暗視野画像は明視野画像に比べて微小な欠陥まで表示することができ、検査者は両画像を見比べて明視野画像では表示できない微小な欠陥が存在することを確認することができる。 - 特許庁

Further, the substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a dark field image of the inspection surface of the substrate under inspection by dark field illumination, a second imaging means for capturing the diffraction image of the light of the single wavelength irradiated on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flaw of the inspection surface on the basis of the dark field image and the diffraction image.例文帳に追加

また、暗視野照明で被検査基板の検査面の暗視野画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記暗視野画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The change in the chromaticity is great in the dark field, in a driving method for improving the animation characteristics, by dividing the one frame into the bright field having high luminance and the dark field having low luminance for displaying an image, when the gradation of the image is 190 or higher.例文帳に追加

１フレームを輝度の大きな明フィールドと、画像の階調が１９０以上の場合に画像を表示する、輝度の小さな暗フィールドに分割することによって動画特性を改善する駆動方法においては、暗フィールドにおいて色度の変化が大きい。 - 特許庁

An image sensor 50 detects a scattered light from the surface of the chip, and outputs a dark field image signal.例文帳に追加

画像センサー５０は、半導体チップの表面からの散乱光を検出して、暗視野画像信号を出力する。 - 特許庁

An acquired dark field image is measured by an image processing flow meter 11 for finding the number, the position, and the moving amount of the particles.例文帳に追加

得られた暗視野画像を、画像処理流速計１１にて計測し、粒子の数と位置および移動量を算出する。 - 特許庁

The particle image analyzer includes an illuminating optical system 4 for implementing dark-field illumination to particles, an imaging optical system 5 for imaging particles dark-field-illuminated, an image processing substrate 6 extracting particle image from taken images by dark-field illumination to derive morphological characteristic information representing morphological characteristics of particles by analyzing the extracted particle images and an imagery data processing section 2b.例文帳に追加

この粒子画像分析装置は、粒子を暗視野照明するための照明光学系４と、暗視野照明された粒子を撮像するための撮像光学系５と、暗視野照明による撮像画像から粒子像を抽出し、抽出された粒子像を分析して粒子の形態的特徴を表す形態的特徴情報を求める画像処理基板６および画像データ処理部２ｂとを備える。 - 特許庁

The level selection section captures dark image data, obtained by imaging the field with the imaging element in a shield state and selects low level pixels whose values are a predetermined threshold from the dark image data.例文帳に追加

レベル選別部は、遮蔽状態の撮像素子で撮像して得た暗黒画像データを取り込み、予め定められた閾値以下の低レベル画素を、この暗黒画像データから選別する。 - 特許庁

Since the diffracted beam is automatically inclined to the objective axis, the main limitation on the dark-field image arises from the spherical aberration of the objective lens. 例文帳に追加

回折ビームは対物レンズの軸に対し自動的に傾けられるので、暗視野像の限界は対物レンズの球面収差から生じる。 - 科学技術論文動詞集

In the dark-field method, the objective aperture is displaced so that the image is formed not by the incident electron beam but by an appropriate diffracted beam. 例文帳に追加

暗視野法では、対物絞りが移動され、像が入射電子ビームではなく適切な回折ビームで形成されるようにされる。 - 科学技術論文動詞集

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

To detect a defect in a mask with high sensitivity by acquisition of a dark field image without generating a pseudo defect.例文帳に追加

疑似欠陥を発生させることなく、暗視野像の取得によりマスクの欠陥を高い感度で検出する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of inspecting a specimen by using an annular illuminator with a small diameter and photographing an image of the specimen under dark field illumination.例文帳に追加

小さい径の環状の照明具を用いて暗視野照明下で被検物の画像を撮影し検査できる検査装置を提供する。 - 特許庁

A dark-field light source 11 irradiates the crystal blank B with light from a direction oblique with respect to the optical axis 9 of the image pickup system 10.例文帳に追加

暗視野光源１１は、撮像系１０の光軸９に対して斜めの方向から水晶ブランクＢに光を照射する。 - 特許庁

To provide a visual examination instrument which enables better visual examination by taking a dark field image suitable for the visual examination.例文帳に追加

外観検査に適した暗視野像を撮像することによって、外観検査を良好に行うことができる外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To observe with high image resolution and high contrast by using a vertical dark field illumination in a state where an optical path between an observation object and a lens is filled with liquid.例文帳に追加

観察物体との間の光路を液体で満たした状態で落射暗視野照明を用いて高解像で高コントラストな観察を行う。 - 特許庁

By this structure, an information for judging whether the dark field image has an appropriate atomic number contrast is obtained.例文帳に追加

このような構成によれば、暗視野像が適正な原子番号コントラストを備えているか否かを判断する情報を得ることが可能となる。 - 特許庁

To enable a dark field camera to perform high-sensitivity and high- resolution photographing while the service lives of image intensifiers are prolonged.例文帳に追加

イメージ・インテンシファイアの長寿命化を達成しつつ、高感度、高解像度での撮影を可能にする。 - 特許庁

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。 - 特許庁

The matching accuracy measurement and the high-speed multiple-point measurement of a low contrast matching mark are performed by a dark visual field illuminating means, a dark visual field image capturing means, a high-speed scanning means by a high-speed stage, an image capturing means at a stage running time and a high-speed signal processing means.例文帳に追加

低コントラスト合わせマークでの合わせ精度計測及び高速多点計測は、暗視野照明手段、暗視野画像取り込み手段、高速ステージによる高速走査手段、ステージ走行時の画像取り込み手段、高速信号処理手段により達成される。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting quality wherein both a bright field image and a dark field image in the inspecting region of a continuous sheet are clearly obtd. to clearly judge the quality of condition of an article to be inspected.例文帳に追加

連続シートの検査領域の明視野像および暗視野像の双方を明瞭に得て、被検査物の状態の良否を明確に判定できる品質検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus by which a cleaning electric field is secured as larger than a development electric field even when a photosensitive drum is degraded and dark potential is lowered.例文帳に追加

感光体ドラムが劣化して暗電位が低下してきても、クリーニング電界を現像電界よりも大きく確保しておくことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Since the light reflected from the substrate 0 is absorbed by the filter 11 in this case, the image image-formed in the image picking-up means 6 is brought into a dark field to make the defect distinct on the monitor 9.例文帳に追加

この場合において、透光性基板から反射された光は、光吸収フィルタ１１によって吸収されるので、撮像手段に結像される像は暗視野となりモニタ上で該欠陥が明瞭となる。 - 特許庁

In a method for inspecting presence/absence of a defect in a mask for semiconductor exposure, an optical system is used for making light of an arbitrary wavelength incident on the mask to acquire the dark field image, and an arbitrary partial area where an even dark field image is obtained on the mask is arranged at a defocus position separated from a just-focus position to acquire an image.例文帳に追加

半導体露光用マスクの欠陥の有無を検査する方法であって、マスクに任意波長の光を入射させ暗視野像を取得する光学系を用い、マスク上にて均一な暗視野像が得られる任意の一部領域をジャストフォーカス位置から離れたデフォーカス位置に配置して像を取得する。 - 特許庁

An electron lens is disposed between an electron detector of a ring-like dark-field and an electron detector of a bright-field, an electron lens is disposed between the detector of the bright-field and an EELS spectrometer, and an object point of the EELS spectrometer is made to be a virtual image.例文帳に追加

環状暗視野電子検出器と明視野電子検出器の間に電子レンズを配置し、かつ、明視野電子検出器とＥＥＬＳスペクトロメータの間に電子レンズを配置し、かつ、ＥＥＬＳスペクトロメータの物点を虚像にする。 - 特許庁

To extract easily a dark part when generating a synthetic image, concerning an observation device capable of observing a transparent observation object such as a biological cell in a wide visual field, by adopting for illumination, a surface light source formed by arranging a bright part and the dark part repeatedly.例文帳に追加

本発明は、明部と暗部とを繰り返し配置してなる面光源を照明に採用することにより、生体細胞など透明な被観察物を広視野で観察することを可能とした観察装置に関し、合成画像の作成時に暗部の抽出を容易に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample.例文帳に追加

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To raise image quality by enlarging an electric field formed in a photoconductive layer, while suppressing the occurrence of a dark current in a radiation image detector.例文帳に追加

放射線画像検出器において、暗電流の発生を抑制するとともに、光導電層に形成される電界を大きくすることにより画質を向上させる。 - 特許庁

The projecting defect Wi of the measuring object W is detected as a white defect image in the image of the dark field section W_b imaged by the line sensor camera 2, but the recessed defect is not detected.例文帳に追加

被測定物Ｗの凸状欠陥Ｗｉは、ラインセンサカメラ２によって撮像された暗視野部Ｗ_b の画像の中に白い欠陥画像として検出されるが、凹状欠陥は検出されない。 - 特許庁

In the diffraction pattern, strong precipitate reflections are visible and this accounts for the dark precipitate contrast in the bright-field image. 例文帳に追加

その回折図形には析出物による強い反射が見られ、そして、これが明視野像での暗い析出物によるコントラストを説明する(コントラストの原因である)。 - 科学技術論文動詞集

To provide an electron beam device not requiring skill of a user represented by a scanning electron microscope suitable for obtaining a dark-field STEM image.例文帳に追加

ユーザの熟練を必要とせずに高コントラストな暗視野ＳＴＥＭ像を得るのに好適な走査電子顕微鏡に代表される電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high precision, miniaturized semiconductor image pickup device capable of detecting bright and dark portions in sufficient contrast even if there is a large brightness distribution within a field of view.例文帳に追加

一視野内の輝度分布が大きい場合であっても明るい部分と暗い部分とを十分なコントラストで検知可能な、高精度かつ小型化された半導体撮像素子を提供する。 - 特許庁

To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy.例文帳に追加

簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。 - 特許庁

To provide a field sequential liquid crystal display device capable of a sharp color image which has good color reproducibility and is sharply switched from dark display to light display and whose display colors are sharply switched.例文帳に追加

色再現性が良く、しかも暗表示から明表示への切換わり及び表示色の切換わりがシャープな鮮明なカラー画像を表示することができるフィールドシーケンシャル液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

The sharpness of the dark-field microscopic image differs according to the position of the objective lens 31 on a Z axis, and the position of the objective lens 31 having the maximum sharpness is regarded as the focused position.例文帳に追加

暗視野顕微鏡画像は、対物レンズ３１のＺ軸上の位置によって鮮明さが異なり、最も鮮明になったときの対物レンズ３１の位置を合焦位置とする。 - 特許庁

Therefore, the main beam transmitted through the sample 7 passes a position displaced from the center of an annular detection face by the dark-field scan image detector 10 through a locus as shown by a dotted line.例文帳に追加

したがって、試料７を透過した主ビームは、点線で軌道を示すように、暗視野走査像検出器１０の環状の検出面の中心から外れた位置を通過する。 - 特許庁

Because the hollow conical electron beam is irradiated onto the sample 3 with the electron beam converged, an irradiation area on the sample 3 can be reduced to obtain the dark-field image of a minute area with high resolution.例文帳に追加

また、空洞円錐状の電子ビームを収束させた状態で試料に照射させるので、試料上での照射面積を小さくでき、微小領域の暗視野像を高分解能で得ることができる。 - 特許庁

To provide a particle image analyzer capable of analyzing particle images imaged using dark-field illumination to acquire morphological characteristic information, while simplifying imaging processes of transparent particles.例文帳に追加

透明粒子の撮像工程を簡素化しながら、暗視野照明を用いて撮像された粒子画像を分析して形態的特徴情報を得ることが可能な粒子画像分析装置を提供する。 - 特許庁