Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
To provide a microscope device which can achieve the miniaturization thereof, and which is usable while switching between a confocal microscope and a total reflection microscope.例文帳に追加
装置の小型化を図った、共焦点顕微鏡と全反射顕微鏡とを切り換えて使用可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
In this case, for example, this invention is applicable to a microscope observation system that is used by separating the microscope head part from a microscope stand part.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡ヘッド部を顕微鏡スタンド部から分離して使用可能な顕微鏡観察システムに適用できる。 - 特許庁
LIGHTING SYSTEM AND MICROSCOPE INCLUDING THE SAME例文帳に追加
照明装置及びこれを備える顕微鏡 - 特許庁
PREPARATION FOR MICROSCOPE AND METHOD FOR MAKING THE SAME例文帳に追加
顕微鏡プレパラートおよびその作製方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATIC FOCUSING OF MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡用オートフォーカス装置および方法 - 特許庁
THIN-LAYER OBLIQUE ILLUMINATION SYSTEM AND MICROSCOPE例文帳に追加
薄層斜光照明装置および顕微鏡 - 特許庁
PHOTO-ACOUSTIC MICROSCOPE APPARATUS AND IMAGING METHOD例文帳に追加
光音響顕微鏡装置及び映像法 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM AND FLARE PREVENTING OPTICAL APPARATUS例文帳に追加
顕微鏡システム及びフレア防止光学装置 - 特許庁
FOCAL POINT DETECTION DEVICE AND FLUORESCENT MICROSCOPE例文帳に追加
焦点検出装置および蛍光顕微鏡 - 特許庁
To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加
測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁
The microscope 11 has a microscope body 21, and a stand 22 which can be attached and removed to/from the microscope body 21 and which can change a distance between the microscope body 21 and a stage.例文帳に追加
顕微鏡１１は、顕微鏡本体２１と、顕微鏡本体２１の着脱が可能で、顕微鏡本体２１とステージの間の距離を変更可能なスタンド２２とを備える。 - 特許庁
DEVICE FOR FIXING DISK OF CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
共焦点用顕微鏡のディスク固定装置 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, CONTROL UNIT THEREOF, AND PROGRAM例文帳に追加
顕微鏡装置、その制御装置、及びプログラム - 特許庁
REMOTE CONTROL METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡の遠隔操作方法および装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNING MECHANISM FOR OPTICAL SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加
光走査形顕微鏡の光走査機構 - 特許庁
An operating microscope 10 comprises a microscope section 16 that can observe a surgical site and a microscope supporting structure 14 that supports the microscope section 16 to make it move three-dimensionally.例文帳に追加
手術用顕微鏡１０は、術部を観察可能な顕微鏡部１６と、この顕微鏡部１６を３次元的に移動可能に支持する顕微鏡部支持機構１４とを備えている。 - 特許庁
ILLUMINATION APPARATUS AND MICROSCOPE WITH THE SAME例文帳に追加
照明装置、及びそれを備えた顕微鏡 - 特許庁
ZOOM OPTICAL SYSTEM FOR OPTICAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
光走査型顕微鏡用のズーム光学系 - 特許庁
The probe microscope 8 is supported by the probe microscope support member 10, fixed to the vibration removing stand base 1 via a probe microscope z-stage 9 for moving the probe microscope 8.例文帳に追加
プローブ顕微鏡８は、これを上下に移動させるためのプローブ顕微鏡ｚステージ９を介して、除振台べース１に固定されたプローブ顕微鏡支持部材１０によって支持されている。 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER例文帳に追加
エネルギーフィルタを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
DETECTOR SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用の検出器システム - 特許庁
IMAGE PROCESSING METHOD AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
画像処理方法及び共焦点顕微鏡 - 特許庁
COAXIAL VERTICAL ILLUMINATION LIGHTING DEVICE FOR STEREOSCOPIC MICROSCOPE例文帳に追加
実体顕微鏡用同軸落射照明装置 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置 - 特許庁
LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE EQUIPPED WITH AOTF例文帳に追加
ＡＯＴＦを備えたレ—ザ—走査式顕微鏡 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE WITH TEMPERATURE CORRECTING MECHANISM例文帳に追加
温度補正機構を備えた走査型顕微鏡 - 特許庁
IMPROVED ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
改良された環境型走査電子顕微鏡 - 特許庁
PHASE FILTER, OPTICAL DEVICE AND RASTER MICROSCOPE例文帳に追加
位相フィルタ、光学装置及びラスタ顕微鏡 - 特許庁
STEREOSCOPIC MICROSCOPE AND DARK FIELD LIGHTING DEVICE例文帳に追加
実体顕微鏡および暗視野照明装置 - 特許庁
LOW COHERENCE INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
低コヒーレンス干渉計及び光学顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁
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