Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡における試料観察方法および原子間力顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE, SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加
顕微鏡および顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGES, AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加
顕微鏡装置、顕微鏡画像処理方法および半導体素子の検査方法 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND AUTOMATIC FOCUS ADJUSTMENT METHOD BY CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
共焦点顕微鏡および該共焦点顕微鏡による自動焦点調節方法 - 特許庁
ILLUMINATION DEVICE FOR LIGHT MICROSCOPE AND LIGHT MICROSCOPE WITH ILLUMINATION DEVICE例文帳に追加
光学顕微鏡用の照明装置及び該照明装置を有する光学顕微鏡 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS AND OBSERVATION METHOD USING CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加
共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INTEGRAL SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SEPARATE OPTICAL AND MICROSCOPIC AXES例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び光顕別軸一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ADJUSTING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の分解能評価方法および電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁
To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.例文帳に追加
SCM測定及びSSRM測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁
A microscope system (100) includes a microscope (30 to 80) for observing an analyte and a computer (20) connected to the microscope.例文帳に追加
顕微鏡システム(100)は、被検体を観察する顕微鏡(30〜80)と顕微鏡に接続されるコンピュータ(20)とを含む。 - 特許庁
CANTILEVER MODULE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーモジュール、それを備えた走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁
To provide a microscope cover eliminating any necessity of darkening environment around the microscope even if performing a dark-field observation or a fluorescence observation; and to provide a microscope capable of storing the microscope cover, and a microscope cover storage box.例文帳に追加
暗視野観察や蛍光観察を行う際にも、顕微鏡周辺の環境を暗くする必要がない顕微鏡カバー、顕微鏡カバーを収容可能な顕微鏡、および顕微鏡カバー収容箱を提供する。 - 特許庁
PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD例文帳に追加
プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁
MICROSCOPE PROVIDED WITH OPTICAL ELEMENT SWITCHING DEVICE例文帳に追加
光学素子切換装置を備えた顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加
顕微鏡と、これに使用される光学装置 - 特許庁
NEAR-FIELD PHOTOEXCITED SQUID MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加
近接場光励起スクイド顕微鏡装置 - 特許庁
STAND ESPECIALLY SUITED TO SURGICAL MICROSCOPE例文帳に追加
手術顕微鏡用に特に適したスタンド - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE AND OPTICAL OBSERVATION METHOD例文帳に追加
光学顕微鏡と光学的観察方法 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁
ULTRA-HIGH-PRESSURE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
超高圧走査型トンネル顕微鏡装置 - 特許庁
MICROSCOPE FOR INTRAOCULAR OBSERVATION AND FILTER UNIT例文帳に追加
眼内観察用顕微鏡およびフィルタユニット - 特許庁
MULTILAYER MINUS FILTER AND FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加
多層膜マイナスフィルター及び蛍光顕微鏡 - 特許庁
NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
光学顕微鏡、及び分光測定方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
走査型顕微鏡とその調節方法 - 特許庁
TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
試料観察方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁
SURGICAL MICROSCOPE HAVING LIGHTING SYSTEM例文帳に追加
照明装置を備えた手術用顕微鏡 - 特許庁
ILLUMINATION DEVICE OF MICROSCOPE FOR SURGERY例文帳に追加
手術用顕微鏡のための照明装置 - 特許庁
Beam axes of the confocal microscope and the electronic microscope are set in parallel with each other.例文帳に追加
共焦点顕微鏡及び電子顕微鏡のビーム軸は、互いに平行に設定する。 - 特許庁
INSPECTION APPARATUS FOR OUTER SURFACE OF SOLDER, ETC., AND MICROSCOPE USED THEREFOR AS WELL AS MICROSCOPE HEAD例文帳に追加
半田等の外面検査装置及びこれに用いるマイクロスコープ並びにマイクロスコープヘッド - 特許庁
MICROSCOPE DEVICE AND CONTROL PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加
顕微鏡装置、制御プログラム記録媒体 - 特許庁
DARK FIELD MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD THEREFOR例文帳に追加
暗視野顕微鏡及びその調整方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MOUNTING ADJUSTED MICROSCOPE STAGE TO MICROSCOPE STAND例文帳に追加
顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH MAGNETIC MICROPROBE例文帳に追加
磁性マイクロプローブを具備した電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD AND PROGRAM FOR MANIPULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の操作方法及びプログラム - 特許庁
STEREOSCOPIC MICROSCOPE AND TRANSMISSION LIGHTING DEVICE例文帳に追加
実体顕微鏡および透過照明装置 - 特許庁
ABERRATION CORRECTOR FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用収差補正器 - 特許庁
MICROSCOPE WITH ILLUMINATION INSERTION INCIDENCE PART例文帳に追加
照明差込入射部を有する顕微鏡 - 特許庁
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