「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁

GAS REACTION OBSERVATION SAMPLE FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

光電子顕微鏡用ガス反応観察試料 - 特許庁

INTERFEROMETER FOR IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE AND EVALUATION METHOD OF THE IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE例文帳に追加

液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法 - 特許庁

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁

ELECTRODE RING, ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE RING, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電極リング、電子顕微鏡、電極リングの製造方法及び電子顕微鏡の製造方法 - 特許庁

The microscope system 200 can also be operated in a field-ion microscope (FIM) mode.例文帳に追加

また、顕微鏡システム２００は、電界イオン顕微鏡（ＦＩＭ）モードで作動させることができる。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

PROBE STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ構造体及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNER-RETAINING APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

スキャナ保持装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

COVER GLASS FOR TOTAL REFLECTION ILLUMINATING FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

全反射照明蛍光顕微鏡用カバーガラス - 特許庁

DEVICE FOR COUPLING LIGHT RAY INTO MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡内への光線連結のための装置 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型および走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND SACCNING MICROSCOPE例文帳に追加

試料の測長方法、及び走査顕微鏡 - 特許庁

STAGE POSITION MEASURING DEVICE FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡のステージ位置測定装置 - 特許庁

SAMPLE STAND ARRAY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の試料台配列 - 特許庁

BEAM SHAPING OPTICAL SYSTEM AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ビーム整形光学系および走査型顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE WITH PROBE, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローブ付き顕微鏡及びプローブ接触方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法 - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND MAGNIFIED IMAGING DEVICE例文帳に追加

顕微鏡対物レンズおよび拡大撮像装置 - 特許庁

In another embodiment, the scanning microscope (100) is constituted as a confocal microscope.例文帳に追加

別の実施形態において、走査型顕微鏡（１００）は、共焦点顕微鏡として構成される。 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE AND SCANNER DRIVE UNIT例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡およびスキャナ駆動装置 - 特許庁

PROBE SCANNING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針走査方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE FOR PERFORMING AUTOMATIC YOUNG'S FRINGE PHOTOGRAPHING例文帳に追加

自動ヤングフリンジ撮影を行う電子顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁

ELECTRONIC CAMERA WITH COOLING CONTROL FUNCTION, AND MICROSCOPE例文帳に追加

冷却制御機能付き電子カメラ、顕微鏡 - 特許庁

LIGHTING DEVICE AND MICROSCOPE APPARATUS HAVING THE SAME例文帳に追加

照明装置とこれを有する顕微鏡装置 - 特許庁

The surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope is equipped with an optical microscope 7, which is the surface- measuring instrument and a probe microscope 8.例文帳に追加

表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡は、表面測定器である光学顕微鏡７とプローブ顕微鏡８とを備えている。 - 特許庁

PROBE CONTROL METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法 - 特許庁

OBSERVATION ANGLE VARIABLE TYPE STAND FOR DIGITAL MICROSCOPE例文帳に追加

デジタルマイクロスコープ用観察角度可変型スタンド - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR EVALUATING ASTIGMATISM例文帳に追加

電子顕微鏡、及び非点収差評価方法 - 特許庁

ALIGNMENT MATCHING METHOD OF MICROSCOPE AND MICROSCOPE HAVING ALIGNMENT MATCHING DEVICE OF LIGHT BEAM例文帳に追加

顕微鏡のアライメント整合方法および光ビームのアライメント整合装置を備える顕微鏡 - 特許庁

CATHODE LUMINESCENCE MEASURING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁

To provide a base for a microscope capable of realizing the improvement of the aligning accuracy of a microscope and the prevention of the blur of the microscope after the alignment.例文帳に追加

顕微鏡の位置合わせ精度の向上及び位置合わせ後における顕微鏡のブレ防止を可能にする顕微鏡台を提供する。 - 特許庁

REMOVAL DEVICE FOR OFFSET OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去装置 - 特許庁

STAGE INCLINATION ADJUSTMENT DEVICE AND MICROSCOPE STAGE例文帳に追加

ステージ傾き調整装置及び顕微鏡ステージ - 特許庁

ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

エネルギフィルタおよびこれを用いた電子顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS PICTURE PROCESSING METHOD例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡及びその画像処理方法 - 特許庁

TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁

SCANNING PROBE AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査用プローブおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁