Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
CONFOCAL MICROSCOPE AND HEIGHT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
共焦点顕微鏡及び高さ測定装置 - 特許庁
SPECTROSCOPIC DEVICE AND SPECTRAL CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
分光装置、及び分光共焦点顕微鏡 - 特許庁
To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加
光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁
POSITIONING UNIT AND MICROSCOPE INCORPORATING THE SAME例文帳に追加
位置決め装置およびこれを備えた顕微鏡 - 特許庁
DEEP ULTRAVIOLET RAY-CORRESPONDING NEARFIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
深紫外線対応近接場光学顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁
MICROSCOPE IMAGING DEVICE AND DIMENSION MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置 - 特許庁
The microscope system can be applied to, for example, a microscope system for the production and observation of the MEMS device.例文帳に追加
本発明は、例えば、MEMSデバイスの製作および観察をする顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD例文帳に追加
透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁
COAXIAL INCIDENT-LIGHT TYPE LIGHTING DEVICE FOR STEREOSCOPIC MICROSCOPE例文帳に追加
実体顕微鏡用同軸落射照明装置 - 特許庁
SLIT PLATE AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
スリット板およびこれを備えた光学顕微鏡 - 特許庁
To improve the user's operability of a microscope.例文帳に追加
ユーザーの顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁
FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM, MICROSCOPY AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
顕微鏡システム、顕微鏡法、及び記憶媒体 - 特許庁
OPTICAL ELEMENT, OPTICAL DEVICE AND POLARIZATION MICROSCOPE例文帳に追加
光学素子、光学装置、及び偏光顕微鏡 - 特許庁
COVER FILM FOR MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
顕微鏡用カバーフイルム及びその製造方法 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁
STAGE AND BIOLOGICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH STAGE例文帳に追加
ステージ、および該ステージを備えた生物顕微鏡 - 特許庁
SHAPE MEASURING APPARATUS AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
形状測定装置及び共焦点顕微鏡 - 特許庁
To provide a laser scanning microscope apparatus which facilitates the setting of an observation range, to provide a control method of the laser scanning microscope and to provide a control program for the laser scanning microscope.例文帳に追加
観察範囲の設定を容易にする、レーザ走査型顕微鏡装置、その制御方法、及びその制御プログラムを提供する。 - 特許庁
PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING IT例文帳に追加
プローブ及びそれを用いた近接場顕微鏡 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
顕微鏡画像の処理装置及び処理方法 - 特許庁
NEAR-FIELD LIGHT PROBE, OPTICAL DEVICE, PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE TYPE READ/WRITE HEAD DEVICE例文帳に追加
近接場光探針、光学装置、プローブ顕微鏡、及びプローブ顕微鏡型記録再生ヘッド装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE MICROSCOPE FOR PERFORMING BLOCKAGE DETECTION例文帳に追加
閉塞検出を行う荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
LENS HOLDING DEVICE AND OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE例文帳に追加
レンズ保持装置および顕微鏡用対物レンズ - 特許庁
MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL INFORMATION ACQUISITION METHOD例文帳に追加
顕微鏡および三次元情報取得方法 - 特許庁
The microscope system can be applied to, for example, a microscope system for the production and observation of a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) device.例文帳に追加
本発明は、例えば、MEMSデバイスの製作および観察をする顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
VIBRATION PREVENTIVE RACK FOR SUSPENDED TYPE SURGICAL MICROSCOPE例文帳に追加
天吊式手術用顕微鏡の除震架台 - 特許庁
APPARATUS FOR MANAGING INSPECTION SAMPLE TEMPERATURE FOR MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
顕微鏡観察用検体温度管理装置 - 特許庁
The present device is applicable to a microscope.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
MICROSCOPE USING PHOTOREFLECTIVE OPTICAL MATERIAL例文帳に追加
光反応性光学材料を用いた顕微鏡 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE SYSTEM AND MICROSCOPIC DETECTION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線顕微装置及び顕微方法 - 特許庁
AUTOFOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
オートフォーカス装置およびそれを用いた顕微鏡 - 特許庁
MAGNETISM OBSERVATION MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING MAGNETIC DOMAIN例文帳に追加
磁気観察顕微鏡及び磁区観察方法 - 特許庁
To provide an electron microscope evaluation apparatus for properly evaluating the resolution of an electron microscope, and to provide an electron microscope.例文帳に追加
本発明は、電子顕微鏡の解像力を適正に評価する電子顕微鏡画像評価装置、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁
METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
FLUORESCENCE MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING FLUORESCENCE MICROSCOPE, FLUORESCENCE MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND RECORDED EQUIPMENT例文帳に追加
蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡の操作方法、蛍光顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁
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