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DIFFERENTIAL INTERFERENCEとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 微分干渉
「DIFFERENTIAL INTERFERENCE」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 112件
DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加
微分干渉顕微鏡 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
微分干渉光学系 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE TYPE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
微分干渉型検査装置 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE OPTICAL SYSTEM AND OPTICAL DEVICE HAVING DIFFERENTIAL INTERFERENCE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
微分干渉光学系、及び微分干渉光学系を有する光学装置 - 特許庁
LUMINOUS FLUX CONTROLLER, INTERFERENCE DEVICE AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加
光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加
微分干渉観察方法及び顕微鏡 - 特許庁
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「DIFFERENTIAL INTERFERENCE」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 112件
TRANSMITTED ILLUMINATION TYPE DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加
透過照明型微分干渉顕微鏡 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁
A surface defect inspection device includes a differential interference image acquisition part 2 containing a differential interference optical system for forming a differential interference optical image of the workpiece 1 and a photographing part for acquiring a differential interference image by photographing the differential interference optical image, and a processing part 3 for processing the differential interference image and detecting the defect on the surface of the workpiece.例文帳に追加
表面欠陥検査装置は、被検査物1の微分干渉光学像を形成する微分干渉光学系と前記微分干渉光学像を撮像して微分干渉画像を得る撮像部とを有する微分干渉画像取得部2と、前記微分干渉画像を処理して、被検査物1の表面における欠陥を検出する処理部3と、を備える。 - 特許庁
In image composition, the first differential interference image and the second differential interference image are composed by sum-of-squares processing, whereby they are composed.例文帳に追加
画像合成に際し、第1の微分干渉像と第2の微分干渉像とを2乗和処理して画像合成を行う。 - 特許庁
To provide a device which detects, in a short period of time, a quantity of phase change of an observation object from a differential interference image obtained by a differential interference microscope.例文帳に追加
観察物体の位相変化量等を微分干渉顕微鏡により得た微分干渉画像から短時間で検出する装置を提供する。 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加
画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁
To provide a zoom objective lens which satisfactorily performs differential interference at an arbitrary magnification.例文帳に追加
任意の倍率での微分干渉を良好に行ない得るようにする。 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME例文帳に追加
3次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁
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