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PHOTOEMISSIONを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8



例文

PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

光電子顕微鏡 - 特許庁

of or relating to photoemission 例文帳に追加

光電効果の、または、光電効果に関する - 日本語WordNet

PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE SUPPRESSING CHARGING OR POTENTIAL STRAIN OF INSULATOR SAMPLE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

絶縁物試料の帯電又は電位歪みを抑制した放射電子顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

To provide a photoemission electron microscope improved so as to be able to be focused surely and highly accurately in a short time.例文帳に追加

短時間で確実に高精度の焦点合わせができるように改良した光電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁


例文

This photoemission electron microscope is equipped with an ion source or an electron beam source for marking by irradiating a focused ion beam or an electron beam to a part close to an observation portion on the sample surface.例文帳に追加

収束イオンビームまたは電子ビームを試料表面の観察部位の直近に照射してマーキングするためのイオン源または電子線源を備えたことを特徴とする光電子顕微鏡。 - 特許庁

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

例文

The failure analysis apparatus comprises an X-ray generating part for irradiating X-ray to the semiconductor integrated circuit; a movable scintillator for transforming x-ray transmitting through the semiconductor integrated circuit into light; and a photodetection part for detecting the light transformed by the scintillator and a photoemission light generated from the semiconductor integrated circuit in which a voltage is applied.例文帳に追加

故障解析装置は、半導体集積回路にX線を照射するX線発生部と、半導体集積回路を透過したX線を光に変換する移動可能なシンチレータと、シンチレータによって変換された光を検出するとともに、電圧が印加された半導体集積回路から生じたフォトエミッション光を検出する光検出部とを備えている。 - 特許庁

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