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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > PROGRAM TESTINGの意味・解説 > PROGRAM TESTINGに関連した英語例文

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PROGRAM TESTINGの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 465



例文

TESTING SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験装置、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

TESTING DEVICE, PROGRAM AND RECODING MEDIUM例文帳に追加

試験装置、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁

LOOP-BACK TESTING APPARATUS, LOOP-BACK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ループバック試験装置、ループバック試験方法、およびそのプログラム - 特許庁

例文

NETWORK TESTING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびそのプログラム - 特許庁


例文

SAMPLE TESTING SYSTEM, SAMPLE TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

CALL PROCESSING TESTING METHOD, CALL PROCESSING TESTING DEVICE, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

呼処理試験方法、呼処理試験装置及びそのプログラム - 特許庁

TEST EQUIPMENT, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、および、プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

プログラム試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

例文

COMMUNICATION TESTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

通信試験装置、方法、およびプログラム - 特許庁

例文

RESIN MATERIAL INSPECTION TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

樹脂材料検査装置およびプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, TIMING GENERATOR, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、タイミング発生器、及びプログラム - 特許庁

BATTERY TESTING APPARATUS, BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TEST PROGRAM例文帳に追加

電池試験装置と電池試験方法及び電池試験プログラム - 特許庁

WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加

防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法および試験プログラム - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

不揮発性メモリ試験装置およびプログラム - 特許庁

SYSTEM AND PROGRAM FOR CONTROLLING VIBRATION-TESTING MACHINE例文帳に追加

振動試験機制御システム及びプログラム - 特許庁

TERMINAL EMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM, LOAD TESTING METHOD, LOAD TESTING DEVICE例文帳に追加

端末エミュレーションプログラム、記録媒体、負荷試験方法、負荷試験装置 - 特許庁

MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING RANKING OF TELEVISION PROGRAM例文帳に追加

テレビ番組の格付けを試験するメモリー装置並びに試験方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING UNIT, SOFTWARE TESTING METHOD AND SOFTWARE TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、ソフトウェア検査方法およびソフトウェア検査プログラム - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR TESTING SCENARIO例文帳に追加

シナリオをテストする方法、装置、及びプログラム - 特許庁

PROGRAM PREPARATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプログラム作成装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, TRANSFER PROCESSING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

検査装置、転送処理方法及びプログラム - 特許庁

PROGRAM TO BE TESTED RESOURCES COMPETITION TESTING METHOD AND COMPETITION PROGRAM例文帳に追加

被テストプログラム資源競合テスト方法及び競合プログラム - 特許庁

DRIVER PROGRAM FOR DISK DEVICE AND PROGRAM FOR TESTING DISK DEVICE例文帳に追加

ディスク装置用ドライバプログラム及びディスク装置テスト用プログラム - 特許庁

PSEUDO CALL TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING PSEUDO CALL TESTING PROGRAM例文帳に追加

疑似呼試験方法および疑似呼試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体デバイスの自動試験装置、及び自動試験装置用プログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS OF FILTER SYSTEM, METHOD FOR TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR TESTING FILTER SYSTEM例文帳に追加

フィルタ・システムの試験装置、システム試験の方法、およびフィルタ・システムの試験用コンピュータ・プログラム・プロダクト - 特許庁

TESTING SUPPORT DEVICE, FALSE ACTIVE CALL DEVICE, TESTING SUPPORT DEVICE CONTROL PROGRAM, AND TRANSMISSION PROCESSING APPARATUS TESTING METHOD例文帳に追加

試験支援装置、疑似呼装置、試験支援装置制御プログラム、及び、通信処理装置試験方法 - 特許庁

PROGRAM PRODUCTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプログラム作成方式 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEQUENCER PROGRAM例文帳に追加

シーケンサプログラムの試験装置および試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM AND DIAGNOSIS METHOD例文帳に追加

試験装置、診断プログラムおよび診断方法 - 特許庁

PROGRAM EXECUTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプログラム実行方式 - 特許庁

TESTING SYSTEM, BURN-IN TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験システム、バーンイン試験方法及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置、制御方法、および制御プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ITS CONTROL PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置及びその制御プログラム - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

アプリケーションプログラムをテストする方法及びプログラム及び記録媒体 - 特許庁

TESTING APPARATUS OF ROBOT, AND ITS METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

ロボットの試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁

SYSTEM CLOCK TESTING DEVICE, METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

システム時計検査装置、方法及びそのプログラム - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

材料試験機および材料試験機用プログラム - 特許庁

CONTROL APPARATUS, SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加

制御装置、半導体試験装置及びプログラム - 特許庁

MEDIUM TESTING METHOD, MEDIUM TESTER, MEDIUM TESTING PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

媒体検査方法、媒体検査装置、媒体検査プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験装置及び方法、並びに集積回路試験用プログラム - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD AND TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム - 特許庁

例文

TRANSMISSION APPARATUS, PATH TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

伝送装置、パス試験方法およびコンピュータプログラム - 特許庁




  
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