「PROGRAM TESTING」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.例文帳に追加

画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁

To improve the efficiency of the program development, testing, modification, maintenance and management and to improve the reliability of the machine device where the object code which is generated from the source code of a computer program is built in as the control means.例文帳に追加

コンピュータプログラムのソースコードより生成されるオブジェクトコードを制御手順として内蔵する機械装置において、プログラム開発、テスト、変更、維持・管理の効率をあげること、機械装置の信頼性をあげること。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSOR, ALGORITHM GENERATION DEVICE, IMAGE TESTING DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS IMAGE PROCESSOR, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS ALGORITHM GENERATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像処理システム、画像処理装置、アルゴリズム作成装置、画像検査装置、コンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラム、コンピュータをアルゴリズム作成装置として機能させるためのプログラム、および記録媒体 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

In the controller, the instruction member A is sequentially specified according to execution procedures of material testing to be executed with the tester main body specified by the testing mode, and the content of the corresponding instruction format A and its execution parameter D are read out of the memory to construct a testing execution program E controlling the operation of the tester main body.例文帳に追加

そしてコントローラにおいては、試験モードによって特定される試験機本体にて実行すべき材料試験の実行手順に従って命令番号Ａを順に指定して、メモリから該当する命令形態Ａの内容とその実行パラメータＤとを読み出して試験機本体の作動を制御する試験実行プログラムＥを構築する。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁

A recording control circuit 50 stops renewal of the memory content of the memory, at the stoppage of the test program of the semiconductor testing machine and at operation of the output control circuit 14.例文帳に追加

記録制御回路５０は、半導体試験装置のテストプログラムの停止時及び出力制御回路１４の動作時、メモリ４２の記憶内容の更新を停止する。 - 特許庁

To provide an apparatus, a method and a program for testing a semiconductor wafer in which a defective article is not handled as a good article, and an yield can be improved.例文帳に追加

万が一にも不良品が良品として扱われず、且つ、収率を高めることのできる半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus that easily and inexpensively performs an operational test of a digital broadcast receiver, and to provide a program used therefor.例文帳に追加

本発明は、デジタル放送受信機の動作試験を低コストで容易に行うことができる試験装置及びこれに用いるプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

To provide an initial adjustment method of a card-type wireless trans mission device, in which the labor for program writing and testing is reduced and working time thereof is shortened.例文帳に追加

プログラム書込み作業及びテスト作業の労力の低減、それらの作業時間の短縮を図ったカード型無線伝送機器の初期調整方法を提供する。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

SERVER PROCESS TESTING SYSTEM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST FRAMEWORK RECORDED AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST PROGRAM RECORDED例文帳に追加

サーバプロセス試験システム、サーバプロセス試験フレームワークを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、およびサーバプロセス試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ENFORCEMENT OF LOGICAL PARTITIONING, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD RECORDED THEREON, AND LOGICAL PARTITIONING TEST SYSTEM例文帳に追加

ロジカル・パーティショニングの実施をテストする方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録コンピューター可読記録媒体及びロジカル・パーティショニング・テスト・システム - 特許庁

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device.例文帳に追加

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of acquiring tendency of a waveform display required by a user, and a data collection method and a program used in the device.例文帳に追加

ユーザが必要とする波形表示の傾向を知ることができる半導体試験装置、当該装置で用いられるデータ収集方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.例文帳に追加

充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.例文帳に追加

本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

A maintenance information providing server 12 is connected to a network N, and provides maintenance information acquired by correlating information on a past defect generation spot of the semiconductor integrated circuit testing device with a diagnosis result of a self-diagnosis program function provided in the semiconductor integrated circuit testing device.例文帳に追加

メンテナンス情報提供サーバ１２は、ネットワークＮに接続され、半導体集積回路試験装置の過去の不良発生箇所に関する情報と、半導体集積回路試験装置に設けられた自己診断プログラム機能の診断結果とを対応付けたメンテナンス情報を提供する。 - 特許庁

A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加

テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

An assembly test is performed by connecting the governor ASSY 14 and a second cable unit 58, by switching an inner relay of a relay unit 52, and by giving the simulation signal by program processing of the testing device 34.例文帳に追加

ガバナＡＳＳＹ１４と第２ケーブルユニット５８とを接続し、リレーユニット５２の内部リレーを切り替え、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えてアッセンブリ検査を行う。 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

The message transmitting/receiving part 12 rewrites a circuit configuration based on the testing program 133 to rewrite a configuration of a memory table so as to be able to perform operations of a plurality of slave stations.例文帳に追加

メッセージ送受信部１２は、試験用プログラム１３３に基づいて回路構成を書き換え、複数台分の子局の動作を行えるようにメモリテーブルの構成を書き換える。 - 特許庁

When the testing of the one-chip microcomputer 1 is completed, the tested result which was written in the EEPROM 13 is erased, and a control program to be executed by the CPU 11 is written there.例文帳に追加

１チップ・マイクロコンピュータ１のテストがすべて終了すると、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれていたテスト結果が消去され、そこにＣＰＵ１１が実行する制御プログラムが書き込まれる。 - 特許庁

To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.例文帳に追加

命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal setting circuit for testing an input/output circuit through program processing by outputting data inputted into one terminal to another terminal without going through an internal bus.例文帳に追加

プログラム処理により内部バスを介することなく、ある端子に入力されたデータを他の端子に出力して入出力回路をテストできる端子設定回路を提供する。 - 特許庁

By changing the program configurating from the memory element 21 to the FPGA 12 to flexible, the device body A is operated in a hardware constitution proper for testing devices B to be measured.例文帳に追加

記憶素子２１からＦＰＧＡ１２にコンフィギュレーションするプログラムをフレキシブルに変更することで、装置本体Ａを被測定デバイスＢの検査に適したハード構成にて動作させる。 - 特許庁

Also, even when internal configuration is unknown, the memory testing program can be used universally for various memories by estimating its internal configuration.例文帳に追加

また、内部構成が不明である場合であっても、その内部構成を推定することを可能とすることで、各種メモリに対して、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することができるようになる。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

When testing a function group 3 to be tested on a computer 1, a parameter required for testing the function group 3 by an automation program 2 is read from a parameter configuration file 5, the read parameter is input when executing the function group 3, and the execution result is output as a log file 6.例文帳に追加

コンピュータ１上にて被試験関数群３を試験する場合、自動化プログラム２によって被試験関数群３を試験するために必要なパラメータがパラメータ構成ファイル５から読み込まれ、被試験関数群３が実行される際に読み込まれたパラメータが入力され、実行結果がログファイル６として出力される。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.例文帳に追加

診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The system 10 for testing and cleaning a removable medium drive 12 such as a tape drive is provided with a utility cartridge 20 and a program code 60 for starting utility operations 70, 84, 94 and 100.例文帳に追加

テープドライブのような取り外し可能媒体ドライブ（１２）をテストおよび清掃するシステム（１０）は、ユーティリティカートリッジ（２０）およびユーティリティ動作（７０，８４，９４，１００）を開始するプログラムコード（６０）を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device, capable of returning a peripheral circuit power source which is capable of dispensing with executing self-diagnosis program and a calibration when a protection circuit of the periphery circuit power source operates.例文帳に追加

周辺回路用電源の保護回路が動作したとき、自己診断プログラムを実行したり、キャリブレーションをしなくてもすむように周辺回路用電源の復帰ができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing lymph node metastasis in cervical cancer which can determine the presence of lymph node metastasis in cervical cancer with higher accuracy, a device for determining lymph node metastasis in cervical cancer and a computer program.例文帳に追加

子宮頸癌のリンパ節転移の有無をより高い精度で判定することができる子宮頸癌のリンパ節転移の検査方法、子宮頸癌のリンパ節転移判定装置およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁