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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > PROGRAM TESTINGの意味・解説 > PROGRAM TESTINGに関連した英語例文

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PROGRAM TESTINGの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 465



例文

A self-test circuit built-in semiconductor memory 20 comprises a semiconductor substrate, a memory cell array 30 formed on the semiconductor substrate, testing circuits 50, 54 provided on the semiconductor substrate, storing a program, testing a memory cell array conforming to the stored program, and outputting a test result, and a controller 52 provided on the semiconductor substrate and rewriting the contents of programs stored in the test circuits 50, 54.例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置20は、半導体基板と、半導体基板上に形成されたメモリセルアレイ30と、半導体基板上に設けられ、プログラムを記憶して記憶されたプログラムにしたがってメモリセルアレイのテストを行ない、テスト結果を出力するためのテスト回路50,54と、半導体基板上に設けられ、テスト回路50,54に記憶されるプログラムの内容を書き換えるためのコントローラ52とを含む。 - 特許庁

Each of test programs for IC test is stored in a program managing directory 13 of a host system 10 as an archive 13a together with an archive managing file 13b, and corresponding to a program designating instruction, the archive 13a and the archive managing file 13b are transferred from the host system 10 to a testing device 20.例文帳に追加

IC試験の各試験プログラムは、ホストシステム10のプログラム管理ディレクトリ13内に、アーカイブ13aとしてアーカイブ管理ファイル13bとともに格納され、プログラム指定指示に応じて、ホストシステム10から試験装置20にアーカイブ13aとアーカイブ管理ファイル13bとが転送される。 - 特許庁

In this program to be tested resources competition testing method for verifying an operation about competition of computer resources for a program 2 to be tested being a test target operating on a computer, a competitive program 4 having a function for creating a competing state of the computer resources gives disturbance to processing of the program 2 to be tested to verify the operation by intentionally using applicable resources to the computer resources.例文帳に追加

コンピュータ上で動作するテスト対象の被テストプログラム2に対し、コンピュータ資源の競合に関して動作検証する被テストプログラム資源競合テスト方法において、コンピュータ資源に対して意図的に該当資源を使用することで、コンピュータ資源の競合状態を作り出す機能を有する競合プログラム4により、被テストプログラム2の処理に外乱を与えて前記動作検証を行う。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ2の単体検査を実施する場合、まずLSIテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ2を単体で検査するためのテストプログラムを、CPU4によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

例文

To provide an address pattern generation device capable of generating an address pattern for accessing a part of a memory space without forcing an excessive load on user for preparing a device program and to provide a device for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

デバイスプログラムを作成する過度の負担をユーザに強いることなくメモリ空間の一部をアクセスするアドレスパターンを発生させることができるアドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a control device for machine tool for easily achieving the debug of a working program by avoiding a workload to make an operator to input the order of execution of working programs before testing a machine tool.例文帳に追加

工作機械を試験する前に作業者に加工プログラムの実行順を入力させる作業負担を回避して簡便に加工プログラムのデバッグを実現する工作機械用制御装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a test generation program for testing a buried core efficiently while separating a custom logic section and a buried core section in a semiconductor integrated circuit having a custom logic section and a buried core.例文帳に追加

カスタムロジック部と埋め込みコアを有する半導体集積回路において、カスタムロジック部と埋め込みコア部とを分離して効率よく埋め込みコアをテストする半導体集積回路およびテスト生成プログラムを得ること。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのDUTの試験中にDUT内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

例文

A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.例文帳に追加

ECU10と第1ケーブルユニット56とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ60とECU10とを接続し、検査装置34のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁

例文

To provide a problem creating device, a problem creating program, and a learning system for creating testing problems of the contents of the teaching on the basis of notes taken by a learner when the learner receives teaching.例文帳に追加

学習者が物事の教授を受ける時点で作成したメモに基づいて、教授された内容のテスト問題を作成することができる問題作成装置、問題作成プログラムおよび学習システムを提供する。 - 特許庁

To provide a technique for testing a start/termination program which starts or terminates software running on a general-purpose machine OS without any hindrance to user business on a general-purpose machine.例文帳に追加

汎用機のユーザ業務に支障を与えることなく、汎用機OS上で動作するソフトウェアを起動または終了させる起動終了プログラムをテストすることのできる技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical disk device control program capable of obtaining an optimum write setting value by testing recording quality and adding a user's arrangement to the obtained write setting value by allowing a user to set conditions, or the like for testing the recording quality and calculating the write setting value, and to provide a host computer therefor.例文帳に追加

記録品位テストを行うことで、より最適な書き込み設定値を求めることができ、なおかつ、ユーザーの手によって、記録品位テストや書き込み設定値の算出の条件等を設定できることで、求められる書き込み設定値にユーザーのアレンジを加えることができる、光ディスク装置制御プログラムおよびホストコンピュータを提供する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

IC試験装置1の制御装置20は、補助記憶装置10に記憶されている試験プログラム50を読み出した後、試験プログラム50を制御装置20内の時間短縮装置22に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置20内の主記憶装置21に格納する。 - 特許庁

To provide a valve abnormality automatic testing device of a liquid transferring device capable of informing an abnormality detection result of a previously set valve opening and closing program by opening and closing a related valve in forming a transferring route of liquid.例文帳に追加

液体の移送ルート作成時に関連するバルブを開閉し、予め設定されたバルブ開閉プログラムの異常検出結果を試験実施者に通知することができる液体移送装置のバルブ異常自動試験装置を提供する。 - 特許庁

The fatigue evaluation system makes a subject to memorize the positions of figures or language sound using a program operating on a computing machine represented by a PC, presents stimulations for testing the memory after a prescribed time, and acquires a reaction time to the stimulations.例文帳に追加

PCに代表される計算機上で動作するプログラムを用いて、被験者に図形の位置や言語音などを記憶させ、所定時間後にその記憶をテストする刺激を呈示し、その刺激に対する反応時間を取得する。 - 特許庁

Terminal devices 24, 34 connected to the network N transmit the diagnosis result of the self- diagnosis program function of the testing devices 20, 30 to the maintenance information providing server 12 corresponding to user operation, and acquires information on the defect generation spot.例文帳に追加

ネットワークNに接続された端末装置24,34は、ユーザの操作に応じて試験装置20,30の自己診断プログラム機能の診断結果をメンテナンス情報提供サーバ12へ送信して不良発生箇所に関する情報を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.例文帳に追加

パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The generation of delay constraint, the insertion of a scan path, and the extraction of the flip flop as the object of hazard check is performed by using the information of the classified flip flops and the delay constraint program, testing problem and hazard check problem are improved.例文帳に追加

分類されたフリップフロップの情報を用いて、遅延制約の生成し、スキャンパスの挿入、ハザードチェック対象のフリップフロップの抽出を行うことで、遅延制約問題、テスト時の問題、ハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.例文帳に追加

自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a support system for testing software written in high-level languages that makes a software test effectively performable even if a program is partially modified or the test procedures are changed.例文帳に追加

高級言語により記述されたソフトウェアの試験を支援するソフトウェア試験支援装置に係り、プログラムが部分的に修正されたり、試験処理が変更された場合でも、ソフトウェアの試験が効率的に行なるようにすることを課題とする。 - 特許庁

A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加

複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書11、12を作成するステップと、設計書11、12に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。 - 特許庁

In this information processing method, after the progress of educational program of a user is managed based on the prescribed approach applied from the user via a network according to a prescribed educational program, environment where a user can receive prescribed virtual experience for testing the fruits of study the educational program via the network is provided with respect to the user satisfying prescribed conditions based on the management result.例文帳に追加

所定の教育プログラムに従ってユーザからネットワークを介して与えられる所定の働きかけに基づいて当該ユーザの教育プログラムの進捗状況を管理した後、当該管理結果に基づいて、所定の条件を満たしたユーザに対し、当該ユーザがネットワークを介して教育プログラムによる学習成果を試すための所定の仮想体験を受けられる環境を提供するようにした。 - 特許庁

On a substrate for testing, a clock signal corresponding to an actual operation of the semiconductor device is supplied, and a test program for conducting a performance test on the first memory circuit is written from a tester to the second memory circuit of the second semiconductor device.例文帳に追加

試験用基板上において、上記半導体装置の実動作に相当したクロック信号を供給し、テスト装置から上記第2半導体装置の第2メモリ回路に上記第1メモリ回路の動作試験を行うテストプログラムを書き込む。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device capable of successively storing, in a normal order, code data being continuously outputted from a DUT (a device to be tested) in an interleave type digital capture memory without depending on the conditions of a pattern program.例文帳に追加

DUTから連続的に出力されるコードデータを受けてインターリーブ方式のデジタル・キャプチャー・メモリへの格納をパターンプログラムの条件に依存することなく正常な順番で順次格納可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

kbluetoothd: Bluetooth Meta Server.kbtsearch: Bluetooth device/service search utility.khciconfig: KDE Bluetooth Monitor.kioclient: KIO command line client.qobexclient: Swiss army knife for obex testing/development.kbtobexclient: A KDE Bluetooth Framework Application.kioobex_startkbtserialchatkbemusedsrv: KDE Bemused Server.kbtobexsrv: KDE OBEX Push Server for Bluetooth. kbluepin: A KDE KPart Application.auth-helper: A helper program for kbtobexsrv that sends an authentication request for a given ACL link.Code Listing6.3: Installing kdebluetooth例文帳に追加

kbluetoothd:Bluetoothメタサーバkbtsearch:Bluetoothデバイス・サービス検索ユーティリティkhciconfig:KDEBluetoothモニタkioclient:KIOコマンドラインクライアントqobexclient:obexテスト・開発用の高度なクライアントkbtobexclient:KDEBluetoothフレームワークアプリケーションkbemusedsrv:KDEBemusedサーバkbtobexsrv:KDEBluetooth用OBEXPushサーバkbluepin:KDEKPartアプリケーションauth-helper:与えられたACLリンクに対して認証要求を送信する、kbtobexsrvのためのヘルパーです。 - Gentoo Linux

This software testing device that obtains information about the dynamic characteristics of a software system, uses a static analysis 130 and a dynamic analysis 131 and dynamically changes positions for obtaining the information about the dynamic characteristics of a program and acquisition conditions.例文帳に追加

ソフトウェアシステムの動的特性に関する情報を得るソフトウェア試験装置において、静的な分析130と動的な分析131を用い、プログラムの動的特性に関する情報を得るための位置と取得条件を動的に変更する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device equipped with the sequence control circuit for controlling sequence of a pattern generation command described in a program, the sequence control circuit decodes a part of a sequence control command just before execution of a test.例文帳に追加

プログラムに記述されたパターン発生命令のシーケンスを制御するシーケンス制御回路を備えた半導体試験装置において、前記シーケンス制御回路は、シーケンス制御命令の一部のデコードをテスト実行直前に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

In a hardness testing machine 100, the surface of a sample S is captured by a CCD camera 12, and a pattern formation program 63a is executed by a CPU 61, then, a user can form an optional pattern to be projected on the surface of the sample S.例文帳に追加

硬さ試験機100において、CCDカメラ12により試料Sの表面が撮像され、CPU61が、パターン作成プログラム63aを実行することによって、その試料Sの表面に投影する任意のパターンをユーザが作成することができる。 - 特許庁

To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts.例文帳に追加

本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し,サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁

The map information generation device 1 generates the map information to be used when testing an application program on the geographic information system (GIS), and generates large-scale map information akin to actual data from small-scale map information used as a base.例文帳に追加

この地図情報作成装置1は、 地理情報システム(GIS)に関するアプリケーションプログラムをテストする際に用いられる地図情報を作成するものであり、基となる小規模の地図情報から大規模かつ実データに近い地図情報を作成する装置である。 - 特許庁

To provide a method and a system for analyzing failures and a program for analyzing failures to systematically fix a quantity of the degree of suspicion using a doubtful failure list detected by a light-emitting analysis and OBIRCH analysis and a suspected failure list narrowed down by testing.例文帳に追加

発光解析やOBIRCH解析で検出した被擬故障リストや、テスティングによって絞り込んだ被擬故障リストを用いて、その疑わしさの度合いを体系的に定量化する不良解析方法及びそのシステム並びにその不良解析プログラムを提供することにある。 - 特許庁

In a test of the security circuit 7 by the test program, a security test signal ST becomes active, and when a predetermined address ADR is accessed in addition, a selector 12 is changed over to a register 11 side by an output signal of an AND 14 of a circuit 10 for testing.例文帳に追加

試験プログラムでセキュリティ回路7の試験になると、セキュリティ試験信号STがアクティブとなり、更に所定のアドレスADRがアクセスされると、試験用回路10のAND14の出力信号によってセレクタ12がレジスタ11側に切り替えられる。 - 特許庁

To facilitate the construction of a scan pass to a resistor or memory on an integrated circuit such as FPGA or the like on a user side in a recording medium with scan pass constructing program recorded therein so as to enhance the testing efficiency of a user logic circuit constituted on the integrated circuit and shorten the development period thereof.例文帳に追加

スキャン・パス構築用プログラムを記録した記録媒体において、ユーザ側でFPGA等の集積回路上にレジスタやメモリに対するスキャン・パスを容易に構築することができるようにして、集積回路上に構成したユーザ・ロジック回路のテストの効率化と開発期間の短期化を図る。 - 特許庁

When testing software, at first in a correct answer registration process, output data of a target program 18 are obtained on the basis of a test scenario held in a test scenario holding device 11, and output data matched with predetermined specifications are registered in a correct answer holding device 13 as correct answer data.例文帳に追加

ソフトウェアの試験を行うとき、初めに、正解登録工程において、試験シナリオ保持装置11に保持される試験シナリオに基づいて、対象プログラム18の出力データを取得し、予め定める仕様に合致する出力データを正解データとして正解保持装置13に登録しておく。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置20から読み出したテスト項目情報に含まれる機能IDが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

To provide a material testing machine by which the material characteristic of a specimen can be found with good reliability by a method wherein an operating program and a parameter with reference to a measurement controller and an analyzer as well as their measured data can be controlled in a centralized manner and the analytical processing operation of the measured data can be executed accurately.例文帳に追加

計測制御装置および解析装置に対する動作プログラムやパラメータ、更にはその計測データを一元管理することができ、計測データの解析処理を的確に実行して試験体の材料特性を信頼性良く求め得る材料試験機を提供する。 - 特許庁

A testing device 1 in the fault information tracing device 10 is constituted of an execution format program 11, an execution history collection part 12 for forming history information, a trace memory 13 for storing the history information, and a debugging monitor 14 for making the contents stored in the memory 13 dumped to a device to be tested 2.例文帳に追加

本発明に係る障害情報トレーサ装置100の試験装置1は、実行形式のプログラム11、履歴情報を編成する実行履歴収集部12、履歴情報を記憶させるトレースメモリ13、その記憶内容を被試験装置2にダンプさせるデバッグモニタ14から構成した。 - 特許庁

To execute operation of machining and testing of an inner surface of joint end parts which are mutually welded by a remote controlling program from inside of the pipe 8, positioning is performed by introducing a means for operation from the components 3, 4 of the primary circulation system 2 to inside the pipe 8.例文帳に追加

配管(8)の内部から、互いに溶接された結合端部の内面の機械加工と検査との作業を遠隔制御のプログラムによって実行するために、一次循環系(2)の構成要素(3,4)から配管(8)の内部へ作業のための手段を導入して位置決めする。 - 特許庁

This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.例文帳に追加

フラッシュメモリ(メモリ部)110と、CPU(ロジック部)120と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストROM130と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段150,112とを備える。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するPLC実機若しくはPLCエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁

To provide a testing device, method and program for an exchange controller that can adapt to TCP/IP, decrease the amount of operations for adaptation to different kind of exchanges, adapt to use of a redundancy system and a file transfer protocol, and reduce generating operations for data etc.例文帳に追加

TCP/IPに対応することができること、異機種交換機への対応作業の作業量を削減することができること、冗長化システム及びファイル転送プロトコルの利用に対応することができること、データ類の作成作業を削減できることを実現できるようにする。 - 特許庁

A method, system, and computer program product related to the maintenance of optimal control of diabetes, and is directed to predicting patterns of hypoglycemia, hyperglycemia, increased glucose variability, and insufficient or excessive testing for the upcoming period of time, based on blood glucose readings collected by a self-monitoring blood glucose device.例文帳に追加

最適な糖尿病の管理を維持する方法、システム、コンピュータプログラム製品であって、血中グルコース自己監視装置によって収集された血中グルコース測定値に基づいて、次の期間における、低血糖、高血糖、グルコース変動の増大、不十分または過剰な検査を予測する。 - 特許庁

After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.例文帳に追加

被テスト対象プロセス100のテストを単体テスト処理システム130によりテストし、その結果をトレースログファイル125に格納後、被テストプログラム100よりテスト用初期化関数111がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル120より読み込む。 - 特許庁

To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.例文帳に追加

テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁

When preparing an electronic file on a certain computer and transferring it to another computer, a suitable executable code capable of automatically testing the presence/absence of an application program(AP) required for using this file in the receiver's computer is embedded in that transfer file.例文帳に追加

電子ファイルがあるコンピュータ上で作成され他のコンピュータに転送されるとき、該ファイルを受け手側のコンピュータで使用するのに必要なアプリケーションプログラムが該受け手側コンピュータに存在するかどうかを自動的にテストすることのできる適切な実行可能コードが、その転送ファイルに埋め込まれる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for concealing defective pixels in image sensors, by which the provision of an external storage means, is unnecessitated, the testing on every occasion, so as to program defective pixels is unnecessitated and moving defect pixels for the use of a user can be concealed and to provide a computer-readable recording medium in which a program to realize the method is recorded.例文帳に追加

外部に別に格納手段を設ける必要がないのみでなく、いちいちテストをして欠陥ピクセルに対するプログラミングをする必要もなく、ユーザが使用する間にも動く欠陥ピクセル(Moving defect pixel)に対する補正が可能となるようにするための、イメージセンサの欠陥ピクセル補正装置及びその方法と、前記方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読み出すことができる記録媒体を提供する。 - 特許庁

Based on the incidental resolution of the Diet in 1973, the existing chemicals survey program has been conducted by the Japanese Government (Ministry of Health, Labour and Welfare, the Ministry of Economy, Trade and Industry, and the Ministry of the Environment). In the program, the three Ministries have been conducting safety testing and gathering safety information on existing chemicals that had already been manufactured or imported before 1973, when the Act on the Evaluation of Chemical Substances and Regulation of Their Manufacture, etc. (the Chemical Substances Control Law) 1 was promulgated. 例文帳に追加

昭和48年の化学物質の審査及び製造等の規制に関する法律(以下「化審法」という)公布時に既に製造又は輸入が行われていた既存化学物質については、化審法制定時の国会附帯決議に基づき、厚生労働省、経済産業省及び環境省(以下「3省」という)が試験を実施し安全性情報の収集(既存点検)を行ってきている。 - 経済産業省

例文

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のIC試験を行う場合に、全IC試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてIC試験を実行することのできるIC試験装置、IC試験方法、及びそのIC試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁




  
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