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Probe Cardの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1510件
PROBE CARD FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路用プローブ・カード - 特許庁
INSPECTION DEVICE AND PROBE CARD例文帳に追加
検査装置およびプローブカード - 特許庁
SEMICONDUCTOR INSPECTION PROBE CARD例文帳に追加
半導体検査用プローブカード - 特許庁
PROBE UNIT, PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE UNIT例文帳に追加
プローブユニット、プローブカード及びプローブユニットの製造方法 - 特許庁
CONTACT PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE UNIT, AND PROBE CARD例文帳に追加
コンタクトプローブ、その製造方法、プローブユニットおよびプローブカード - 特許庁
PROBE, PROBE CARD DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE例文帳に追加
プローブおよびプローブカード装置並びにプローブの製造方法 - 特許庁
CONTACT PROBE, PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PROBE例文帳に追加
コンタクトプローブ、プローブカード及びコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁
PROBE CARD, PROBE PIN, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
プローブカード、プローブピン及びその製造方法 - 特許庁
PROBE SUBSTRATE AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加
プローブ基板及びプローブカードの製造方法 - 特許庁
PROBE FOR PROBE CARD AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加
プローブカード用探針及びその製造方法 - 特許庁
PROBE UNIT AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加
プローブユニットおよびプローブカードの製造方法 - 特許庁
PROBE CARD AND TEST METHOD例文帳に追加
プローブカードおよび試験方法 - 特許庁
PROBE CARD EQUIPPED WITH INTERPOSER例文帳に追加
インターポーザを備えたプローブカード - 特許庁
WIRING BOARD FOR PROBE CARD AND PROBE CARD EMPLOYING THE SAME例文帳に追加
プローブカード用配線基板およびそれを備えたプローブカード - 特許庁
WIRING BOARD AND PROBE CARD例文帳に追加
配線基板およびプローブカード - 特許庁
PROBE CARD ARRANGEMENT UNIT AND MEASURING INSTRUMENT HAVING PROBE CARD例文帳に追加
プローブカード配置ユニット及びプローブカードを有する測定装置 - 特許庁
WIRING BOARD FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加
プローブカード用配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁
PROBE CARD AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
プローブカードおよび検査方法 - 特許庁
CIRCUIT BOARD FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加
プローブカード用配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁
PROBE MOUNTED ON PROBE CARD, AND THE PROBE CARD MOUNTED WITH PLURAL PROBES例文帳に追加
プローブカードに実装されるプローブおよびプローブを複数実装したプローブカード - 特許庁
PROBE FOR PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
プローブカード用プローブおよびその製造方法 - 特許庁
INTERFERENCE PREVENTION STRUCTURE PROBE CARD例文帳に追加
干渉防止構造プローブカード - 特許庁
PROBE CARD CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, PROBE DEVICE AND PROBE METHOD例文帳に追加
プローブカード特性測定装置、プローブ装置及びプローブ方法 - 特許庁
PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加
プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁
FLANGED PROBE, MANUFACTURE OF FLANGED PROBE AND PROBE CARD例文帳に追加
鍔付きプローブ、鍔付きプローブの製造方法及びプローブカード - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACT STYLUS FIXING HOLDER FOR PROBE CARD例文帳に追加
プローブカードおよびプローブカード用のプローブ接触針固定用ホルダーの製造方法 - 特許庁
WAFER TESTING METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加
ウェハテスト方法及びプローブカード - 特許庁
CERAMIC WIRING BOARD FOR PROBE CARD AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加
プローブカード用セラミック配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁
MEASURING NEEDLE FOR PROBE CARD, PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD OF MEASURING NEEDLE例文帳に追加
プローブカード用測定針、プローブカード及び測定針形成方法 - 特許庁
PROBE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加
半導体デバイス検査用プローブ及びプローブカード - 特許庁
PROBE CARD, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND CONTACT PROBE例文帳に追加
プローブカード、その製造方法およびコンタクトプローブ - 特許庁
PROBE, PROBE CARD, PROBE MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE SUPPORT SUBSTRATE例文帳に追加
プローブ、プローブカード、プローブの製造方法およびプローブ支持基板の製造方法 - 特許庁
ELECTRIC CONTACT FOR PROBE CARD例文帳に追加
プローブカード用電気的接触子 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF CERAMIC PROBE CARD例文帳に追加
セラミックプローブカードの製造方法 - 特許庁
PROBE NEEDLE, PROBE CARD, INSPECTION DEVICE AND METHOD USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加
プローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法 - 特許庁
PROBE, AND PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
プローブ、プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁
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