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「Probe Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Probe Cardの意味・解説 > Probe Cardに関連した英語例文

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Probe Cardの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1510



例文

PROBE CARD FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用プローブ・カード - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND PROBE CARD例文帳に追加

検査装置およびプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR INSPECTION PROBE CARD例文帳に追加

半導体検査用プローブカード - 特許庁

PROBE UNIT, PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE UNIT例文帳に追加

プローブユニット、プローブカード及びプローブユニットの製造方法 - 特許庁

例文

CONTACT PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE UNIT, AND PROBE CARD例文帳に追加

コンタクトプローブ、その製造方法、プローブユニットおよびプローブカード - 特許庁


例文

PROBE, PROBE CARD DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

プローブおよびプローブカード装置並びにプローブの製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ、プローブカード及びコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE PIN, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブカード、プローブピン及びその製造方法 - 特許庁

PROBE SUBSTRATE AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

プローブ基板及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

例文

PROBE SUBSTRATE AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME例文帳に追加

プローブ基板及びこれを備えるプローブカード - 特許庁

例文

MECHANISM FOR ADJUSTING PROBE CARD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードの調整機構及びプローブ装置 - 特許庁

PROBE FOR PROBE CARD AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加

プローブカード用探針及びその製造方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

プローブユニットおよびプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD例文帳に追加

プローブカードおよび試験方法 - 特許庁

PROBE CARD EQUIPPED WITH INTERPOSER例文帳に追加

インターポーザを備えたプローブカード - 特許庁

WIRING BOARD FOR PROBE CARD AND PROBE CARD EMPLOYING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用配線基板およびそれを備えたプローブカード - 特許庁

WIRING BOARD AND PROBE CARD例文帳に追加

配線基板およびプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND ITS USAGE例文帳に追加

プローブカードとその使用方法 - 特許庁

PROBE CARD ARRANGEMENT UNIT AND MEASURING INSTRUMENT HAVING PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード配置ユニット及びプローブカードを有する測定装置 - 特許庁

WIRING BOARD FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカードおよび検査方法 - 特許庁

DOUBLE ELASTIC MECHANISM PROBE CARD例文帳に追加

二重弾性機構プローブカード - 特許庁

CIRCUIT BOARD FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE MOUNTED ON PROBE CARD, AND THE PROBE CARD MOUNTED WITH PLURAL PROBES例文帳に追加

プローブカードに実装されるプローブおよびプローブを複数実装したプローブカード - 特許庁

PROBE FOR PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード用プローブおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE AND PROBE CARD FOR MOUNTING THE SAME例文帳に追加

プローブおよびプローブが実装されたプローブカード - 特許庁

ARCH-TYPE PROBE AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

アーチ型プローブ及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD FOR IC TESTER例文帳に追加

IC試験装置用プローブカード - 特許庁

INTERFERENCE PREVENTION STRUCTURE PROBE CARD例文帳に追加

干渉防止構造プローブカード - 特許庁

PROBE CARD CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, PROBE DEVICE AND PROBE METHOD例文帳に追加

プローブカード特性測定装置、プローブ装置及びプローブ方法 - 特許庁

PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加

プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁

FLANGED PROBE, MANUFACTURE OF FLANGED PROBE AND PROBE CARD例文帳に追加

鍔付きプローブ、鍔付きプローブの製造方法及びプローブカード - 特許庁

PROBE, PROBE ASSEMBLY, AND PROBE CARD INCLUDING SAME例文帳に追加

プローブ及びプローブ組立体、並びにこれを有するプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACT STYLUS FIXING HOLDER FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードおよびプローブカード用のプローブ接触針固定用ホルダーの製造方法 - 特許庁

WAFER TESTING METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

ウェハテスト方法及びプローブカード - 特許庁

CERAMIC WIRING BOARD FOR PROBE CARD AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用セラミック配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁

The probe card 5 is set (S1).例文帳に追加

プローブカード5をセットする(S1)。 - 特許庁

MEASURING NEEDLE FOR PROBE CARD, PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD OF MEASURING NEEDLE例文帳に追加

プローブカード用測定針、プローブカード及び測定針形成方法 - 特許庁

PROBE CARD DEVICE AND PROBE USED THEREFOR例文帳に追加

プローブカード装置およびそれに用いられるプローブ - 特許庁

PROBE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体デバイス検査用プローブ及びプローブカード - 特許庁

PROBE CARD, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND CONTACT PROBE例文帳に追加

プローブカード、その製造方法およびコンタクトプローブ - 特許庁

PROBE AND VERTICAL PROBE CARD USING IT例文帳に追加

プローブ及びそれを用いた垂直型プローブカード - 特許庁

EVALUATION METHOD OF NEEDLE TRACK OF PROBE NEEDLE OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードのプローブ針の針跡評価方法 - 特許庁

PROBE, PROBE CARD, PROBE MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE SUPPORT SUBSTRATE例文帳に追加

プローブ、プローブカード、プローブの製造方法およびプローブ支持基板の製造方法 - 特許庁

ELECTRIC CONTACT FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード用電気的接触子 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF CERAMIC PROBE CARD例文帳に追加

セラミックプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE, PROBE CARD, INSPECTION DEVICE AND METHOD USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法 - 特許庁

PROBE, AND PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブ、プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

例文

PROBE CARD AND METHOD FOR JOINING/FIXING CONTACT PROBE例文帳に追加

プローブカード及びコンタクトプローブの接合固定方法 - 特許庁




  
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