「Probe Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD ASSEMBLY AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカード組立体及びプローブ装置 - 特許庁

PROBE REPLACEMENT METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブの交換方法及びプローブカード - 特許庁

PROBE UNIT, PROBE CARD, MEASURING DEVICE AND PRODUCTION METHOD FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブユニット、プローブカード、測定装置及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE PIN, METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブピン、プローブピンの製造方法及びプローブカード - 特許庁

WAFER SUBSTRATE TYPE PROBE CARD例文帳に追加

ウエハー基板型プローブカード - 特許庁

SUBSTRATE FOR PROBE CARD, LAMINATE FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD USING THE LAMINATE FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード用基板およびプローブカード用積層体ならびにこのプローブカード用積層体を用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD FOR DEVELOPMENT TEST例文帳に追加

開発テスト用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD WITH SURFACE LIGHT SOURCE例文帳に追加

面光源付プローブカード - 特許庁

CONTACTOR AND PROBE CARD例文帳に追加

接触子及びプローブカード - 特許庁

PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE例文帳に追加

プローブカード及びプローブの製造方法 - 特許庁

PROBE AND PROBE CARD TO USE THE SAME例文帳に追加

プローブ及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

The probe card 5 includes a probe needle 6.例文帳に追加

プローブカード５は、プローブ針６を備える。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE CARD MANUFACTURING METHOD, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの製造方法及び試験装置 - 特許庁

PROBE CARD MAINTENANCE METHOD例文帳に追加

プローブカードのメンテナンス方法 - 特許庁

PRODUCTION METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

プローブ・カードの製造方法 - 特許庁

VERTICAL OPERATION-TYPE PROBE CARD例文帳に追加

垂直作動型プローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び試験装置 - 特許庁

TESTER AND PROBE CARD例文帳に追加

試験装置およびプローブカード - 特許庁

CONNECTION PAD FOR PROBE CARD AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブカードの接続パッド及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

CONTACT PIN FOR PROBE CARD AND PROBE CARD EMPLOYING IT例文帳に追加

プローブカード用接続ピンおよびそれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD ASSEMBLING BOARD AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ用基板およびそれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD WITH LIGHT SOURCE GUIDE例文帳に追加

光源ガイド付きプローブカード - 特許庁

PROBE CARD FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用プローブカード - 特許庁

METHOD FOR CLEANING PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードのクリーニング方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR PROBE CARD ASSEMBLY AND PROBE CARD USING IT例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ用基板およびそれを用いたプローブカード - 特許庁

METHOD FOR CLEANING PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの洗浄方法 - 特許庁

PROBE CARD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び検査装置 - 特許庁

WIRING SUBSTRATE FOR PROBE CARD AND PROBE CARD USING SAME例文帳に追加

プローブカード用配線基板およびこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND TEST DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び試験装置 - 特許庁

POSITIONING MECHANISM FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの位置決め機構 - 特許庁

CARD HOLDER, AND FIXING MECHANISM FOR PROBE CARD例文帳に追加

カードホルダ及びプローブカードの固定機構 - 特許庁

The probe pin is used for the probe card.例文帳に追加

また、該プローブピンをプローブカードに使用する。 - 特許庁

WAFER INSPECTING PROBE MEMBER AND PROBE CARD例文帳に追加

ウエハ検査用プローブ部材およびプローブカード - 特許庁

PROBE SUBSTRATE, AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME例文帳に追加

プローブ基板及びこれを含むプローブカード - 特許庁

PROBE AND PROBE UNIT FOR PROBE CARD, PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用探針、プローブカード用探針ユニット、プローブカード及びそれらの製造方法 - 特許庁

CLAMPING MECHANISM OF PROBE CARD AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードのクランプ機構及びプローブ装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE NEEDLE AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ針の製造方法及びプローブカード - 特許庁

POLISHING MEMBER OF PROBE, POLISHING METHOD OF PROBE, PROBE CARD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブの研磨部材、プローブの研磨方法、プローブカード及びプローブ装置 - 特許庁

PROBE CARD FOR LCD INSPECTION例文帳に追加

ＬＣＤ検査用プローブカード - 特許庁

INSPECTING APPARATUS AND PROBE CARD例文帳に追加

検査装置およびプローブカード - 特許庁

INSPECTION APPARATUS AND PROBE CARD例文帳に追加

検査装置およびプローブカード - 特許庁

MULTILAYER SUBSTRATE AND PROBE CARD例文帳に追加

積層基板及びプローブカード - 特許庁