「Probe Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR-INSPECTING EQUIPMENT例文帳に追加

プローブカード及び半導体検査装置 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

プローブカード及びプローブカード製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT CHIP AND PROBE CARD FOR INSPECTION例文帳に追加

ＩＣチップ及び検査用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体試験装置 - 特許庁

MULTILEVEL PRINTED CIRCUIT BOARD OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの多階式プリント回路板 - 特許庁

PROBE CARD FOR INSPECTING SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

固体撮像素子検査用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD, PROVER, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、プローバー、及び半導体装置 - 特許庁

This probe card 10 is equipped with a probe card substrate 20, a plurality of probe card substrates 30 loaded on the probe card substrate 20, and a plurality of probe pins 31 supported by the probe card substrates 30.例文帳に追加

プローブカード基板２０と、プローブカード基板２０に複数個、搭載されるプローブカード基板３０と、プローブカード基板３０に支持された、複数のプローブピン３１と、を備えたことを特徴とするプローブカード１０が提供される。 - 特許庁

To provide a probe card fixing device capable of fixing easily a probe card onto a card holder.例文帳に追加

プローブカードをカードホルダに簡単に固定することが可能なプローブカード固定装置を提供する。 - 特許庁

DISPLAY METHOD OF TERMINAL OR PROBE PIN, PROBE DEVICE, AND PROBE CARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

端子又はプローブピンの表示方法、プローブ装置、及びプローブカード検査装置 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE APPARATUS, PROBE TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR EXCHANGING PROBE CARD WITH PROBE NEEDLE OF POGO PIN STRUCTURE WITH PROBE NEEDLE例文帳に追加

ポゴピン構造のプローブ針を有するプローブカードとプローブ針の交換方法 - 特許庁

PROBE CARD INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカード、検査装置及び検査方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR INSPECTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR例文帳に追加

固体撮像素子の検査用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD HAVING PARALLEL ADJUSTMENT MECHANISM例文帳に追加

平行調整機構を備えたプローブカード - 特許庁

INSPECTION APPARATUS, PROBE CARD, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置、プローブカード及び検査方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

プローブカード及び電子部品試験装置 - 特許庁

METHOD AND TOOL FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの製造方法及び治具 - 特許庁

TRUCK FOR PROBE CARD, AND HANDLING METHOD OF PROBE CARD USING THE TRUCK例文帳に追加

プローブカード用台車及びこの台車を用いるプローブカードの取り扱い方法 - 特許庁

WIRING BOARD AND SUBSTRATE FOR PROBE CARD例文帳に追加

配線基板およびプローブカード用基板 - 特許庁

SUBSTRATE FOR PROBE CARD ASSEMBLY, PROBE CARD ASSEMBLY, AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ用基板、プローブカード・アセンブリおよび半導体ウエハの検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE AND SUBSTRATE FOR PROBE CARD ASSEMBLY例文帳に追加

基板およびプローブカード・アセンブリ用基板 - 特許庁

PROBE CARD AND INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

プローブカードとそれを用いた検査装置 - 特許庁

DEVICE FOR POSITIONING PROBE CARD AND TAB例文帳に追加

プローブカードとＴＡＢの位置決め装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路およびプローブカード - 特許庁

PROBE CARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MANUFACTURE OF THIS PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路テスト用のプローブカードおよびこのプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブカード装置及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

NEEDLE PROBE CARD AND WAFER CHECKING例文帳に追加

探針プロ—ブカ—ド及びウエハ—検査方法 - 特許庁

While, the inspection device, which is an inspection device including a probe card, utilizes the probe card as the probe card concerned.例文帳に追加

本発明の検査装置は、プローブカードを備えた検査装置であって、当該プローブカードとして、前記プローブカードを用いた。 - 特許庁

SHEET-SHAPED PROBE, PROBE CARD AND WAFER INSPECTING METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびプローブカードならびにウエハの検査方法 - 特許庁

REPAIR METHOD OF PROBE CARD AND PROBE SUBSTRATE USING THE SAME例文帳に追加

プローブカードのリペア方法及びこれを利用するプローブ基板 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, PROBE CARD, AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびプローブカードならびにウエハの検査方法 - 特許庁

PROBE FOR CURRENT-CARRYING TEST, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

通電試験用プローブ、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE EQUIPMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体試験システム及びプローブの接触方法 - 特許庁

VERY SMALL PROBE AND VERTICAL OPERATION-TYPE PROBE CARD USING IT例文帳に追加

微小プローブとこれを用いた垂直作動型プローブカード - 特許庁

PROBE, PROBE UNIT THEREWITH, PROBE CARD THEREWITH, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE UNIT例文帳に追加

プローブ、このプローブを用いたプローブユニット、このプローブユニットを用いたプローブカード及びプローブユニットの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE GROUP AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD USING PROBE GROUP例文帳に追加

プローブ群の製造方法およびプローブ群を用いたプローブカードの製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE CARD, PROBE DEVICE AND PROBE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその製造方法、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND METHOD FOR CHECKING FUSE OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード、それを備えた半導体検査装置及びプローブカードのヒューズチェック方法 - 特許庁