「Probe Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE PIN AND FIXED CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブピンおよびそれを用いた固定カード - 特許庁

To provide a probe card holding apparatus capable of preventing deformation of a probe card.例文帳に追加

プローブカードの変形を防止することが可能なプローブカード保持装置を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカードの製造方法及びプローブカード - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND INSPECTION METHOD FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの製造方法と検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MAINTAINING PLANE PARALLELISM BETWEEN PROBE CARD AND ITS PROBE SUBSTRATE例文帳に追加

プローブカード及びそのプローブ基板の面平行度の保持方法 - 特許庁

VERTICAL-TYPE PROBE UNIT AND VERTICAL-TYPE PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

垂直型プローブユニット及びこれを用いた垂直型プローブカード - 特許庁

FIXING MECHANISM AND METHOD OF PROBE CARD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードの固定機構、ローブカードの固定方法及びプローブ装置 - 特許庁

ALIGNMENT TECHNIQUE OF PROBE CARD, PROBE SYSTEM, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びプローブシステム並びに電子デバイスの位置合わせ方法 - 特許庁

To provide a probe card with little fluctuations in the height of a probe needle.例文帳に追加

プローブ針の高さのバラツキが少ないプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of improving the positioning accuracy of a probe needle.例文帳に追加

プローブ針の位置決め精度を向上させるプローブカードを得る。 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING WAFER WITH PROBE CARD, PROBE INSPECTING METHOD, AND PROBE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ウエーハとプローブカードとの位置合わせ方法、プローブ検査方法及びプローブ検査装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE, PROBE CARD AND MOLD FOR PROBE例文帳に追加

プローブの製造方法、プローブカードの製造方法及びプローブ用金型の製造方法 - 特許庁

STACKED PROBE, TOOL FOR MANUFACTURING STACKED PROBE, MANUFACTURING METHOD OF STACKED PROBE, AND VERTICAL TYPE PROBE CARD USING STACKED PROBE例文帳に追加

積層プローブ、積層プローブ製造用治具、積層プローブの製造方法及び積層プローブを用いた垂直型プローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND CONTACT STRUCTURE FOR INSPECTION例文帳に追加

プローブカード及び検査用接触構造体 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SUBSTRATE FOR PROBE CARD ASSEMBLY例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ用基板の製造方法 - 特許庁

MOUNTING METHOD FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD TRANSFERRING AND LOADING ASSISTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

プローブカードの装着方法及びこの方法に用いられるプローブカード移載補助装置 - 特許庁

WIRING SUBSTRATE, AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

配線基板及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

WIRING SUBSTRATE AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

配線基板及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD FOR HIGH TEMPERATURE TEST AND TEST EQUIPMENT例文帳に追加

高温テスト用プローブカード及びテスト装置 - 特許庁

INSPECTING APPARATUS AND EXCHANGING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

検査装置及びプローブカードの交換方法 - 特許庁

PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR WAFER MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブカード及び半導体ウエハ測定方法 - 特許庁

This probe card assembly 500 is constituted from a probe card 502 and a space converter 506.例文帳に追加

プローブカード・アセンブリ５００は、プローブカード５０２と、間隔変換器５０６から構成される。 - 特許庁

To make manufacture of a dedicated probe card for every product unnecessary, regarding a probe card.例文帳に追加

プローブカードに関し、製品品種毎の専用のプローブカードの製作を不必要にする。 - 特許庁

PROBE CARD AND MEASURING DEVICE USING IT例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いた測定装置 - 特許庁

PROBE CARD AND INSPECTION METHOD OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び電子デバイスの検査方法 - 特許庁

WIRING BOARD AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

配線基板及びこれを用いたプローブカード - 特許庁

GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁

The semiconductor inspection apparatus includes a probe card and a tester with a connection part to the probe card.例文帳に追加

半導体検査装置は、プローブカードと、該プローブカードへの接続部を有するテスタとを含む。 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカードおよびプローブカードの製造方法 - 特許庁

INSPECTING PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

検査用プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

To provide a processing method of probe card applicable to a probe card having a plurality of probe needles.例文帳に追加

複数のプローブニードルを備えるプローブカードに応用可能なプローブカード処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A heater 28 is provided between the probe card 5 and a card holder 6.例文帳に追加

プローブカード５及びカードホルダー６の間にヒーター２８を備えた。 - 特許庁

PROBE CARD AND DUT CARD PROVIDED WITH MIXED SIGNAL PROCESSING CIRCUIT例文帳に追加

混合信号処理回路を有するプローブカードおよび被試験カード - 特許庁

To provide a substrate for a probe card capable of miniaturizing wiring and an electrode inexpensively, and to provide the probe card using the substrate for the probe card.例文帳に追加

低コストで配線・電極の微細化が可能なプローブカード用基板、および、前記プローブカード用基板を用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for sufficiently restraining a probe card board from being bent by enhancing a heat dissipating property of the probe card board.例文帳に追加

プローブカード基板の放熱性を向上させることによりプローブカード基板の撓みを十分に抑制できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

HETEROJUNCTION METAL PROBE, ITS MANUFACTURE AND PROBE CARD USING HETEROJUNCTION METAL PROBE例文帳に追加

異種金属接合プロ—ブ、その製造方法及び異種金属接合プロ—ブを用いたプロ—ブカ—ド - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CALIBRATION JIG, PROBE CARD WITH PROBE CALIBRATION JIG AND SEMICONDUCTOR WAFER MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

プローブ校正用治具、校正用治具付きプローブカードおよび半導体ウェハ測定装置 - 特許庁

The probe card and the performance board are arranged on the probe station (S90).例文帳に追加

プローブステーションにプローブカードおよびパフォーマンスボードを設ける（Ｓ９０）。 - 特許庁

The probe card 1 includes a plurality of probe pins 3A.例文帳に追加

本発明のプローブカード１は、複数のプローブピン３Ａを備えている。 - 特許庁

PROBE CARD QUALITY EVALUATION METHOD, ITS APPARATUS, AND PROBE INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカードの品質評価方法及びその装置、プローブ検査方法 - 特許庁

PROBE PIN, PROBE CARD, INSPECTION DEVICE, AND CONTROL METHOD OF THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブピン、プローブカード、検査装置および検査装置の制御方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING LSI DEVICE, AND PROBE CARD例文帳に追加

ＬＳＩデバイスの検査方法、およびプローブカード - 特許庁

WIRING BOARD, AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

配線基板、およびこれを用いたプローブカード - 特許庁