「Probe Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

POSITIONING MECHANISM AND INSPECTION DEVICE OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの位置決め機構及び検査装置 - 特許庁

STOCK MATERIAL FOR PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード用素材及びその製造方法 - 特許庁

VERTICAL PROBE CARD AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加

垂直型プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びプローブカード - 特許庁

CONTACTOR, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD FOR CONTACTOR例文帳に追加

コンタクタ、プローブカード及びコンタクタの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよび半導体素子検査方法 - 特許庁

Further, a probe card substrate 30 to be used for a probe test is selected by rotating the probe card substrate 20 of the probe card 10, and the tip of a probe pin 31 supported by the selected probe card substrate 30 can be projected from the main surface of the probe card substrate 20.例文帳に追加

更に、プローブカード１０のプローブカード基板２０を回転させることにより、プローブ試験で使用するプローブカード基板３０が選択され、選択されたプローブカード基板３０に支持されたプローブピン３１の先端をプローブカード基板２０の主面から突出させることができる。 - 特許庁

To provide a substrate for probe card assembly, without generating electrode exfoliation, even in a probe card passing through a MEMS probe mounting process, and also to provide a probe card using it.例文帳に追加

ＭＥＭＳプローブ実装工程を経たプローブカードでも電極剥がれが発生しないプローブカード・アセンブリ用基板およびそれを用いたプローブカードを提供することにある。 - 特許庁

To provide a clamp mechanism of a probe card capable of reliably preventing the probe card from falling.例文帳に追加

プローブカードの落下を確実に防止することができるプローブカードのクランプ機構を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD, METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの製造方法、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PROBE CARD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体装置の測定方法 - 特許庁

WAFER-INSPECTING PROBE CARD, AND WAFER INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ウエハ検査用プローブカードおよびウエハ検査装置 - 特許庁

PROBE CARD CONTACT-POINT DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード接点装置及びその製造方法 - 特許庁

METHOD OF POSITIONING PROBE CARD, AND ARRAY EQUIPMENT例文帳に追加

プローブカードを位置決めする方法と配列装備 - 特許庁

GUIDE PLATE FOR PROBE CARD AND PROCESSING TECHNIQUE THEREOF例文帳に追加

プローブカード用ガイド板およびその加工方法 - 特許庁

PROBE CARD AND INSPECTION DEVICE OF MICROSTRUCTURE例文帳に追加

プローブカードおよび微小構造体の検査装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体装置の測定方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体装置の検査方法およびプローブカード - 特許庁

PROBE CARD FOR WAFER TESTING AND WAFER TESTING DEVICE例文帳に追加

ウエハ検査用プローブカードおよびウエハ検査装置 - 特許庁

PROBE CARD, AND INSPECTION DEVICE FOR MICROSTRUCTURE例文帳に追加

プローブカードおよび微小構造体の検査装置 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

CONDUCTION INSPECTION PROBE CARD AND CONDUCTION INSPECTION METHOD例文帳に追加

導通検査プローブカード及び導通検査方法 - 特許庁

CANTILEVER TYPE PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

カンチレバー式プローブカード、およびその製造方法 - 特許庁

METHOD OF ADJUSTING INCLINATION OF PROBE CARD, METHOD OF DETECTING INCLINATION OF PROBE CARD, AND PROGRAM RECORDING MEDIUM FOR RECORDING METHOD OF DETECTING INCLINATION OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの傾き調整方法、プローブカードの傾き検出方法及びプローブカードの傾き検出方法を記録したプログラム記録媒体 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブカードおよび半導体チップの検査方法 - 特許庁

This probe card is equipped with the same construction as a conventional probe card except that its probe needle is the probe needle 30 having the above construction.例文帳に追加

本プローブカードは、プローブ針が上述の構成のプローブ針３０であることを除いて、従来のプローブカードと同じ構成を備えている。 - 特許庁

To provide a probe pin for a probe card and a probe card of high reliability, the probe pin being superior in spring characteristic and preventing contact resistance from temporally increasing.例文帳に追加

バネ特性が優れ、また接触抵抗の経時的な増加のないプローブカード用プローブピンおよび信頼性の高いプローブカードを提供する。 - 特許庁

CONTACT PROBE COMPLEX, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

コンタクトプローブ複合体、その製造方法及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

To provide a probe card which is easy to manufacture and has an accurate probe position.例文帳に追加

製作が容易でプローブの位置が正確なプローブカードを提供する。 - 特許庁

PROBE WITH SLIT AND PROBE CARD MOUNTED WITH THE SAME例文帳に追加

スリットが設けられたプローブおよび上記プローブが実装されたプローブカード - 特許庁

PROBE UNIT, ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブユニットおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

WAFER INSPECTION PROBE MEMBER, WAFER INSPECTION PROBE CARD, AND WAFER INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ウエハ検査用探針部材、ウエハ検査用プローブカードおよびウエハ検査装置 - 特許庁

To provide a probe card where fine probe pins are arranged with a fine pitch.例文帳に追加

微細なプローブピンを微細なピッチで並べたプローブカードを提供する。 - 特許庁

CONTACT PROBE, USING METHOD THEREFOR, PROBE CARD PROVIDED WITH THE CONTACT PROBE, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コンタクトプローブおよびその使用方法ならびにそのコンタクトプローブを備えるプローブカードおよび検査装置 - 特許庁

The probe card can be readily manufactured by only mounting the contact probe complex on the probe substrate.例文帳に追加

コンタクトプローブ複合体をプローブ基板に取り付けただけでプローブカードを簡単に製造できる。 - 特許庁

PROBE MEMBER, PROBE CARD USING THE PROBE MEMBER AND WAFER INSPECTION SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

プローブ部材およびこのプローブ部材を用いたプローブカードならびにこれを用いたウエハ検査装置 - 特許庁

To provide a probe test apparatus capable of easily correcting a probe needle of a probe card.例文帳に追加

プローブカードのプローブ針を容易に修正することを可能とするプローブ検査装置を提供する。 - 特許庁

A probe card 9 comprises a probe needle 9b and a probe needle support 9a.例文帳に追加

プローブカード９は、プローブ針９ｂとこれを支持するプローブ針支持体９ａにより構成される。 - 特許庁

VERTICAL BLADE TYPE PROBE, VERTICAL BLADE TYPE PROBE UNIT AND VERTICAL BLADE TYPE PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

垂直ブレード型プローブ、垂直ブレード型プローブユニット及びそれを用いた垂直ブレード型プローブカード - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカードとその製造方法及び検査方法 - 特許庁

PROBE CARD TRANSFER APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブカード搬送装置及びプローブカード搬送方法 - 特許庁

WIRING SUBSTRATE, PROBE CARD, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

配線基板およびプローブカードならびに電子装置 - 特許庁