「Probe Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE CARD AND WAFER INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよびウエハ検査装置 - 特許庁

PROBE CARD FEEDER AND ADAPTER例文帳に追加

プローブカード搬送装置及びアダプタ - 特許庁

PROBE HEAD, ITS ASSEMBLING METHOD, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブヘッド及びその組立方法並びにプローブカード - 特許庁

METHOD FOR POLISHING NEEDLE POINT OF PROBE CARD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードの針先研磨方法、及びプローブ装置 - 特許庁

PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁

PROBE SHEET, METHOD FOR MANUFACTURING IT, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブシート及びその製造方法並びにプローブカード - 特許庁

PROBE NEEDLE STRUCTURE AND PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ針構造体及びこれを用いるプローブカード - 特許庁

ELECTRICAL CONNECTION DEVICE FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの電気的接続装置 - 特許庁

PROBE CARD AND PRODUCTION METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップ検査用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE, PROBE CARD WITH PROBES MOUNTED THEREON, AND METHOD FOR POSITIONING THE PROBE IN MOUNTING THE PROBE ON THE PROBE CARD例文帳に追加

プローブ、複数のプローブが実装されたプローブカード、およびプローブカードにプローブを実装する際のプローブの位置決め方法 - 特許庁

The probe card 1 is provided with a probe card substrate 2, a flexible substrate 3, and a contact probe 4.例文帳に追加

プローブカード１は、プローブカード基板２、フレキシブル基板３、コンタクトプローブ４とを備える。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PENCIL-TYPE PROBE FOR PROBE CARD, AND PENCIL-TYPE PROBE例文帳に追加

プローブカード用鉛筆型プローブの製造方法及び鉛筆型プローブ - 特許庁

PROBE NEEDLE, AND VERTICAL OPERATION TYPE PROBE CARD WITH PROBE NEEDLE INCORPORATED THEREIN例文帳に追加

プローブ針と同プローブ針の組み込まれた垂直作動型プローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING IT例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PARALLELISM ADJUSTMENT MECHANISM OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの平行度調整機構 - 特許庁

PROBE CARD AND MANUFACTURE OF THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF PRODUCTION例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

HIGH DENSITY AREA ARRAY PROBE CARD DEVICE例文帳に追加

高密度のエリアアレイプローブカード装置 - 特許庁

EVALUATION ANALYSIS SYSTEM AND PROBE CARD例文帳に追加

評価解析システム及びプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、およびその製造方法。 - 特許庁

PROBE CARD, AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

WAFER PROBER WITH PROBE CARD INSPECTING-CLEANING MECHANISM AND PROBE CARD INSPECTING METHOD例文帳に追加

プローブカード検査・クリーニング機構付きウエハプローバ及びプローブカード検査方法 - 特許庁

MULTILAYER WIRING BOARD AND PROBE CARD例文帳に追加

多層配線基板およびプローブカード - 特許庁

PROBE CARD TRANSFER METHOD, PROBER AND PROBE CARD SUPPLY/RECOVERY SYSTEM例文帳に追加

プローブカード受け渡し方法、プローバ及びプローブカード供給・回収システム - 特許庁

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

プローブピンの製造方法、プローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブの製造方法及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE AND PROBE CARD MOUNTING A PLURALITY OF PROBES例文帳に追加

プローブおよび複数のプローブが実装されたプローブカード - 特許庁

METHOD FOR FIXING AND SUPPORTING PROBE CARD AND ITS PROBE SUBSTRATE例文帳に追加

プローブカード及びそのプローブ基板の固定支持方法 - 特許庁

A probe array is assembled on a probe card platform.例文帳に追加

プローブアレイはプローブカードプラットホーム上で組立てられる。 - 特許庁

To provide a multichip probe card of a structure that a local crowding of probes is avoided, the repair of the probe card and the maintenance of the probe card are easy and the reliability of the probe card is high, and to provide a chip region sorting method using the probe card.例文帳に追加

探針の局所的な密集を避け、修理、メンテナンスも容易で高信頼性の多数個取りのプローブカード及びを用いたチップ領域ソート方法を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD AND ASSEMBLING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びその組立方法 - 特許庁

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF INSPECTION OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード検査方法及び装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SUBSTRATE FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード用基板の製造方法 - 特許庁

PROBE, METHOD OF MANUFACTURING PROBE, METHOD AND DEVICE FOR ATTACHING PROBE, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ、プローブの製造方法、プローブの取付方法、プローブの取付装置及びプローブカード - 特許庁

LAMINATED PROBE ASSEMBLY DEVICE, LAMINATED PROBE ASSEMBLY METHOD, LAMINATED PROBE AND PROBE CARD例文帳に追加

積層型プローブ組立装置、積層型プローブの組立方法、積層型プローブ及びプローブカード - 特許庁

TOOL AND METHOD FOR CLEANING PROBE OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードの触針のクリーニング用具及びクリーニング方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブの製作方法及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

TESTING PROBE CARD AND PROBE SUPPORT USED THEREFOR例文帳に追加

テスト用プローブカード及びそれに用いられるプローブ支持部 - 特許庁