「Self-Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SELF TEST CIRCUIT DEVICE AND ITS SELF TEST METHOD例文帳に追加

自己試験回路装置およびその自己試験方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT OF MEMORY AND SELF TEST METHOD例文帳に追加

メモリの組み込み自己テスト回路および自己テスト方法 - 特許庁

INCORPORATED SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

組込み型自己試験回路 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SELF-TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置の自己テスト回路及び自己テスト方法 - 特許庁

BUILT-IN-TYPE SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

組み込み型自己テスト回路およびテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT CONDUCTING SELF-TEST例文帳に追加

自己試験を行う集積回路 - 特許庁

SOC WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT, AND SELF-TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ、及びそのセルフテスト方法 - 特許庁

SELF-DIAGNOSIS TEST CIRCUIT AND METHOD例文帳に追加

自己診断試験回路および方法 - 特許庁

PLL CIRCUIT EQUIPPED WITH SELF-TEST FUNCTION例文帳に追加

自己テスト機能を備えたＰＬＬ回路 - 特許庁

STORAGE DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

記憶装置およびその自己テスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己試験回路を備えた集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION例文帳に追加

セルフテスト機能を有する半導体装置 - 特許庁

SELF-TEST SYSTEM FOR MAGNETORESISTIVE MEMORY ARRAY例文帳に追加

磁気抵抗メモリアレイの自己試験システム - 特許庁

MEMORY SELF-TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING THIS MEMORY SELF-TEST DEVICE例文帳に追加

メモリセルフテスト装置及びこのメモリセルフテスト装置を内蔵した半導体集積回路 - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT, AND DESIGNING DEVICE例文帳に追加

組込自己テスト回路及び設計装置 - 特許庁

The PC stops during the self-test after the power is switched on. 例文帳に追加

電源ON後のセルフテスト中に止まる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

DATA PROCESSING IC HAVING SELF-TEST FUNCTIONALITY例文帳に追加

自己テスト機能を有するデータ処理ＩＣ - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

メモリ回路用の組込み自己試験装置 - 特許庁

A self-test controller 10 is responsive to scanned in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that are specified by the self-test instruction.例文帳に追加

自己テスト・コントローラ１０は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁

The self-test controller 10 is responsive to scanned-in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that is predertermined by the self-test instruction.例文帳に追加

自己テスト・コントローラ１０は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁

DATA COMMUNICATION SYSTEM WITH SELF-TEST MECHANISM例文帳に追加

自己試験機構を備えたデータ通信システム - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁

To provide a SOC with a built-in self-test circuit and a self-test method therefor.例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ及びそのセルフテスト方法を提供する。 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

自己テスト回路及び半導体記憶装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

CLOCK GENERATING CIRCUIT INCLUDING SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

セルフテスト回路を有するクロック生成回路 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

ELECTROMECHANICAL TYPE DEVICE PERFORMING AUTOMATIC SELF-TEST例文帳に追加

自動自己試験を行う電気機械式装置 - 特許庁

SELF-PROPULSION TEST METHOD OF WATER JET PROPELLED SHIP例文帳に追加

ウォータージェット推進船の自航試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH SELF-TEST FUNCTION例文帳に追加

自己テスト機能付きの半導体集積回路 - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST HIERARCHY FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用の組込み自己テスト階層 - 特許庁

MEMORY SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND IC CARD AND MEMORY SELF-TEST METHOD例文帳に追加

メモリセルフテスト回路及びそれを備えた半導体装置及びＩＣカード並びにメモリセルフテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor IC circuit which accomplishes a BIST(built in self test), whitout having to provide an exclusive test terminal.例文帳に追加

テスト専用端子を設けることなくＢＩＳＴ（Built In Self Test）を行うことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To execute built-in self test without using plural exclusive test terminals.例文帳に追加

複数の専用のテスト端子を用いず、組み込み自己検査を実行する。 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT AND MEMORY DEVICE INCORPORATING IT例文帳に追加

自己試験回路及びそれを内蔵するメモリデバイス - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-REFRESH TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びセルフリフレッシュテスト方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD例文帳に追加

組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁

To test a partial array self-refresh function at high speed.例文帳に追加

パーシャルアレイセルフリフレッシュ機能を高速にテストする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

Google Gets License to Test Self-Driving Car 例文帳に追加

グーグルが自動走行車の試験用免許を取得 - 浜島書店 Catch a Wave

Most PC systems probe for the keyboard during the Power-On Self-Test (POST) and will generate an error if the keyboard is not detected. 例文帳に追加

たいていの PC システムは Power-On Self-Test (POST)の間にキーボードを検出し、もし見つからなければエラーとなります。 - FreeBSD

To allow a BIST (Built-In Self Test) circuit used for a manufacturing test of a LSI internal memory, to be used for initializing a cache memory also.例文帳に追加

ＬＳＩ内部メモリの製造テストに用いられるＢＩＳＴ（Build-In Self Test）回路をキャッシュメモリの初期化にも使用できるようにする。 - 特許庁

RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT FOR LOOP-BACK SELF-TEST例文帳に追加

ループバック自己検査用無線周波数集積回路 - 特許庁