「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST TUBE CONVEYING DEVICE例文帳に追加

試験管搬送装置 - 特許庁

TIRE PRESSURE TEST DEVICE例文帳に追加

タイヤ耐圧テスト装置 - 特許庁

TEMPERATURE TEST DEVICE, AND TEMPERATURE TEST METHOD例文帳に追加

温度試験装置、温度試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の試験方法 - 特許庁

TEST PRINT AND TEST PRINT DISPLAY DEVICE例文帳に追加

テストプリント及びテストプリント表示装置 - 特許庁

SOCKET TEST DEVICE AND SOCKET TEST METHOD例文帳に追加

ソケットテスト装置及びソケットテスト方法 - 特許庁

PROTOCOL TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

プロトコル試験装置および試験方法 - 特許庁

INVERTER MOTOR TEST DEVICE例文帳に追加

インバータ・モータ試験装置 - 特許庁

DATA COMMUNICATION TEST DEVICE例文帳に追加

データ通信試験装置 - 特許庁

SMALL TEST-LEARNING DEVICE例文帳に追加

小テスト学習装置 - 特許庁

TEST PATTERN EDITING DEVICE例文帳に追加

テストパターン編集装置 - 特許庁

EXERCISE STRESS TEST DEVICE例文帳に追加

運動負荷試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE RESERVATION SYSTEM例文帳に追加

検査装置予約システム - 特許庁

TEST PIECE CENTERING DEVICE例文帳に追加

試験片センタリング装置 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE例文帳に追加

電子部品試験装置 - 特許庁

PRINTED BOARD TEST DEVICE例文帳に追加

プリント基板検査装置 - 特許庁

TEST PROGRAM EVALUATING DEVICE例文帳に追加

テストプログラム評価装置 - 特許庁

TEST SAMPLE ARRANGING DEVICE例文帳に追加

テスト試料配置装置 - 特許庁

POWER LOAD TEST DEVICE例文帳に追加

電源負荷試験装置 - 特許庁

OPERATION TEST SUPPORT DEVICE例文帳に追加

動作試験支援装置 - 特許庁

LOAD MOVING TEST DEVICE例文帳に追加

荷重移動試験装置 - 特許庁

DUMMY INSPECTION TEST DEVICE例文帳に追加

ダミー検定試験装置 - 特許庁

OPEN/SHORT TEST DEVICE例文帳に追加

オープン・ショート試験装置 - 特許庁

TEST PROGRAM DEVELOPING DEVICE例文帳に追加

テストプログラム開発装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストデータの作成装置 - 特許庁

THERMAL SHOCK TEST DEVICE例文帳に追加

熱衝撃試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TEST PLUGS例文帳に追加

テストプラグの試験装置 - 特許庁

PLANT TEST MANAGING DEVICE例文帳に追加

プラント試験管理装置 - 特許庁

DRIVE SIMULATION TEST DEVICE例文帳に追加

運転模擬試験装置 - 特許庁

ELECTRONIC PARTS TEST DEVICE例文帳に追加

電子部品試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, COMMUNICATION MODULE TEST DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER例文帳に追加

半導体テスト装置、通信モジュールテスト装置、ウエハテスト装置、およびウエハ - 特許庁

TEST PROGRAM DEVELOPMENT DEVICE例文帳に追加

テストプログラム開発装置 - 特許庁

IC TEST DEVICE AND COMPOSITE IC TEST DEVICE例文帳に追加

ＩＣ試験装置及び複合ＩＣ試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE, TEST TIMING INFORMATION GENERATING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、試験タイミング情報生成装置および試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE, TEST METHOD, AND TEST PROGRAM FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器のテスト装置、テスト方法、及びテストプログラム - 特許庁

UNIT TEST DEVICE, UNIT TEST METHOD, AND UNIT TEST PROGRAM例文帳に追加

ユニットテスト装置、ユニットテスト方法、及びユニットテストプログラム - 特許庁

SWITCHING DEVICE AND TEST DEVICE例文帳に追加

スイッチ装置および試験装置 - 特許庁

TEMPERATURE MEASURING DEVICE OF LEAKAGE TEST DEVICE AND LEAKAGE TEST DEVICE例文帳に追加

洩れ検査装置の温度測定装置・洩れ検査装置 - 特許庁

STORAGE DEVICE TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

記憶装置テスト回路及びテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR ADDRESS BUS例文帳に追加

アドレスバスのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

TEST MACHINE, COMMUNICATION DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験機、通信装置及び試験方法 - 特許庁

ENGINE TEST DEVICE AND ENGINE TEST METHOD例文帳に追加

エンジンの検査装置及び検査方法 - 特許庁

TEST TOOL, TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験具、試験装置及び試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE AND MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

メモリ試験装置及びメモリ試験方法 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE AND TEST SUPPORT METHOD例文帳に追加

テスト支援装置及びテスト支援方法 - 特許庁