「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(170ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor testing device performs a semiconductor test on a wafer where a circuit corresponding to a plurality of chips is formed, and is provided with a semiconductor testing implementation section 131 that performs a predetermined measurement while sequentially changing positions of chips contained in one wafer, and a self-diagnosis implementation section 134 when measurement results obtained by the section 131 on a predetermined number of chips continuously failed to satisfy the provided certain criteria.例文帳に追加

半導体試験装置は、複数のチップに対応する回路が形成されたウエハに対して半導体試験を行うものであり、一のウエハに含まれるチップの位置を順番に切り替えながら所定の測定を実施する半導体試験実行部１３１と、半導体試験実行部１３１による測定結果が所定数のチップについて連続してフェイルとなったときに、自己診断を実施する自己診断実行部１３４とを備えている。 - 特許庁

A chromatographic test device includes, in the order of passage of a sample containing blood cell components and liquid components, a label holding member provided with a labeling substance capable of binding specifically to an analyte contained in the liquid components, a blood cell separation member for separating predetermined blood cell components in the sample from the liquid components, and a chromatographic carrier carrying a capturing substance bindable specifically to the analyte.例文帳に追加

血球成分及び液体成分を含む試料が通過する順に、液体成分に含まれる被検出物と特異的に結合可能な標識物質を備えた標識保持部材、試料中の所定の血球成分と液体成分とを分離するための血球分離部材、及び、被検出物と特異的に結合可能な捕捉物質を担持するクロマトグラフ担体を備えたクロマトグラフィー用試験具により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

The method for manufacturing the semiconductor device comprises the steps of dividing the circuit, formed on the semiconductor wafer into a plurality of circuit blocks, forming wirings capable of independently supplying power to each of circuit blocks divided, performing DC current test for each circuit blocks, by independently supplying power through the wiring, and forming the wiring for mutually connecting wirings which are arranged corresponding to each of a plurality of the circuit blocks.例文帳に追加

半導体装置の製造方法において、半導体基板上に設けられる回路を複数の回路ブロックに分割し、上記分割された各回路ブロックの各々において、独立して電源供給を可能とする配線を形成する工程と、上記配線を介して電源供給を行って回路ブロック毎での直流電流試験を行う工程と、上記複数の回路ブロックの各々に対応して設けられる配線を相互に接続する配線形成工程と含むようにする。 - 特許庁

This system for measuring optical characteristic of an object to be optically measured (DUT) 104 comprises a light source 112 for generating a light signal applied to the optical DUT 104, a reference interferometer 106, a test interferometer 108 connected with the light source 112 optically, and a computing device 110 connected with the interferometers to assist the determination of optical characteristic of the optical DUT by utilizing amplitude and phase computing component.例文帳に追加

本発明は、光学被測定物（ＤＵＴ）（１０４）の光学特性を測定するためのシステムであって、前記光学ＤＵＴ（１０４）に加えられる光信号を発生するための光源（１１２）と、基準干渉計（１０６）、及び、光源（１１２）に光学的に結合されたテスト干渉計（１０８）と、干渉計に結合され、振幅及び位相計算コンポーネントを利用して、光学ＤＵＴの光学特性の判定を助ける計算装置（１１０）が含まれる、システムを提供する。 - 特許庁

A radiographic inspection apparatus comprises; an imaging device which includes a plurality of radiation detectors for detecting radiation from a test object and where a second radiation detector for detecting the radiation having passed through a first radiation detector is provided; and a signal processor which is connected to each radiation detector and which obtains a ratio of the radiation including plural kinds of energy detected by the radiation detectors.例文帳に追加

撮像装置を備え、撮像装置は被検体からの放射線を検出する複数の放射線検出器を有し、第１の前記放射線検出器を通った放射線を検出する第２の前記放射線検出器が設けられ、前記放射線検出器にそれぞれ接続され、前記放射線検出器によって検出された複数のエネルギーを含む放射線の比率を求める信号処理装置を備えていることを特徴とする放射線検査装置。 - 特許庁

This semiconductor device includes a test target circuit 19 being the object of self-diagnosis, a PLL circuit 18 outputting a clock for self-diagnosis to the target circuit 19, a register 16 for diagnosis storing a clock frequency corresponding to an operating speed limit of the target circuit 19, and a control circuit 14 for setting the frequency of the clock output from the PLL circuit 18 in self-diagnosis based on the clock frequency stored in the register 16.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置は、自己診断の対象となるテストターゲット回路１９と、テストターゲット回路１９に対して自己診断用のクロックを出力するＰＬＬ回路１８と、テストターゲット回路１９の動作スピード限界に対応するクロック周波数を記憶する診断用レジスタ１６と、診断用レジスタ１６に記憶されたクロック周波数に基づいて、自己診断時にＰＬＬ回路１８から出力されるクロックの周波数を設定する制御回路１４と、を備えるものである。 - 特許庁

The puncturing device comprises an abutting part 22, a test paper 28, a blood flow passage 26, a blood introducing guide 24, a driving coil spring 108, a returning coil spring 110, and a little projection piece 157.例文帳に追加

穿刺箇所Ｐの周囲の皮膚１６２に当接する当接部２２と、血液の成分を測定する試験紙２８と、試験紙２８からハウジング１４の内壁面に連通する血液流通路２６と、血液流通路２６の開口部２６ａ近傍から内腔方向に向かって延在する血液導入ガイド２４と、穿刺針３４を穿刺準備位置から穿刺箇所Ｐに向かって進出させる駆動用コイルスプリング１０８と、穿刺をした穿刺針３４を退動させる戻し用コイルスプリング１１０と、穿刺針３４を規定の穿刺動作終了位置に停止させる小突出片１５７とを有する。 - 特許庁