1153万例文収録!

「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(167ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test deviceに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 8462



例文

The screw characteristic testing device is made portable by providing a hydraulic generation means (hydraulic pump 3), a load-generating means (a cylinder 21 and a piston 22) given to amplify oil pressure from the hydraulic generation means 3 on a test screw (bolt 4), and a load display means (oil pressure gage 4) for displaying load given to the screw 9 on the same substrate 10.例文帳に追加

油圧発生手段(油圧ポンプ3)と、試験用ねじ(ボルト4)に油圧発生手段3からの油圧を増幅して付与する荷重発生手段(シリンダ21,ピストン22)と、ねじ9に付与された荷重を表示する荷重表示手段(油圧計4)とを同一の基板10上に設けて持ち運び可能とした。 - 特許庁

The semiconductor device has a comparator 4 comparing the output of the data input latch and the output of the data output latch with each other, a read/write control counter 5 generating read write mode switching signals by dividing a clock frequency, a means 14 reversing the data of the data input latch, and a means 8 making a refresh address counter serve also as the address generating counter of the test circuit.例文帳に追加

データ入力ラッチの出力とデータ出力ラッチの出力を比較するコンパレータ4と、クロックを分周してリードライトモード切替信号を発生させるリード/ライトコントロールカウンタ5と、データ入力ラッチのデータを反転する手段14と、リフレッシュアドレスカウンタをテスト回路のアドレス発生と兼用する手段8とを持つ。 - 特許庁

In a differential signal test mode for evaluating the differential signals, a first control circuit of the differential signal output device makes a differential signal generation circuit generate the differential signals corresponding to data signals and output them to first and second transmission terminals corresponding to a first control signal, and a second control circuit of the differential signal output device stops the operation of a common mode signal generation circuit corresponding to a second control signal.例文帳に追加

差動信号を評価する差動信号テストモードにおいて、差動信号出力装置の第1の制御回路は、第1の制御信号に応じて、差動信号生成回路にデータ信号に応じた差動信号を生成させて第1および第2の送信端子に出力させ、且つ、差動信号出力装置の第2の制御回路は、第2の制御信号に応じて、コモンモード信号生成回路の動作を停止する。 - 特許庁

In this image forming device using the intermediate transfer body, the variation coefficient of the shape factor of toner used in the developing means of the image forming device is16%, the number variation coefficient thereof is27%, and film thickness wear amount ΔHd (μm) per one rotation of an electrophotographic sensitive body in a wearing test is 0≤ΔHd<1×10-5.例文帳に追加

中間転写体を用いる画像形成装置において、該画像形成装置の現像手段に用いられるトナーの形状係数の変動係数が16%以下、且つ個数変動係数が27%以下であり、且つ下記摩耗試験における電子写真感光体の1回転当たりの膜厚減耗量ΔHd(μm)が0≦ΔHd<1×10^-5であることを特徴とする画像形成装置。 - 特許庁

例文

To provide a confirmation device confirming that each terminal normally operates in a state monitoring system including the plurality of terminals each detecting a prescribed state and a reception device receiving an operation signal from the terminal, and allowing certain confirmation of the operation signal generated when the terminal operates when test-operating the terminal.例文帳に追加

所定の状態を検知する複数の端末器と、上記端末器から動作信号を受信する受信装置とを具備する状態監視システムにおける上記端末器が正常に動作することを確認する確認装置において、端末器を試験動作させた場合に、その端末器が動作したときに生じる動作信号を確実に確認することができる確認装置を提供することを目的とする。 - 特許庁


例文

To provide a semiconductor device and a manufacturing method thereof for suppressing a drop in yield in manufacture to overcome the problem that the yield in manufacture may drop in manufacturing a semiconductor device by performing wafer burn-in while covering with an insulating resin an electrode terminal of a semiconductor integrated circuit element determined to be defect by performing an electric characteristic test on the semiconductor integrated circuit element of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハの半導体集積回路素子に対し電気特性の試験を行い、その試験で不良であると判断された半導体集積回路素子の電極端子を絶縁性樹脂で覆ったのちにウェハバーンインを行い、半導体装置を製造すると、製造歩留まりが低下する場合があり、製造歩留低下を抑制するための半導体装置及び製造方法を提供する。 - 特許庁

In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加

分散した複数の端子別試験ユニット(700)を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置(ATE)(200)であって、各端子別試験ユニット(700i)が、被験デバイス(DUT)(600)のそれぞれのDUT端子(di)へと刺激応答信号を発し、および/又は前記それぞれのDUT端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのDUT端子を試験する。 - 特許庁

The semiconductor device with the plurality of semiconductor storage devices mounted thereon for using test input data for inspection having a bit length of the divided data bit width, and the inspecting method thereof are constituted so that memory selection signals can be enabled for the all of the semiconductor storage devices or the arbitrary plurality of semiconductor storage devices, to write the plurality of semiconductor storage device simultaneously by one write operation.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置を搭載し、データビット幅を分割したビット長のテスト入力データを用いて検査を行う半導体装置およびその検査方法であって、メモリ選択信号を全ての半導体記憶装置あるいは任意の複数の半導体記憶装置に対してイネーブルにすることが可能な構成にし、1度の書き込み動作で、同時に複数の半導体記憶装置に書き込みを可能とするものである。 - 特許庁

When testing software installed in a controller 10 of a control apparatus 1 for controlling an external device composing a plant, a simulated signal simulating the external device is generated and a test of the software of the controller 10 is conducted by using the generated simulated signal by operating a switch 14 arranged on a graphic screen displayed on a graphic panel 12 connected to the controller 10 via a communication cable 13.例文帳に追加

制御装置1のコントローラ10に搭載され、プラントを構成する外部機器を制御するソフトウエアを試験するにあたり、このコントローラ10に通信ケーブル13を介して接続されたグラフィックパネル12に表示されるグラフィック画面上に配置されたスイッチ14を操作することにより外部機器を模擬する模擬信号を発生し、この発生された模擬信号を用いて、コントローラ10のソフトウエアの試験を行うようにしたものである。 - 特許庁

例文

On the basis of only envelope-detected samples of a signal at two test points and perturbation of a stop operation point by the properly selected voltage patterns of other constitution elements, such as an amplifier and/or a vector modulator, these operations are all performed at a base-band frequency, which enables a simple digital circuit to perform adaptive control over this device.例文帳に追加

2つのテスト・ポイントにおける信号の包絡線検出されたサンプルと、増幅器および/またはベクトル変調器など他の構成要素の適切に選択された電圧パターンによる休止動作点の摂動のみ基づいていて、これら全ての動作は、簡単なデジタル回路でこの装置の適合制御を実施可能にするベースバンド周波数で行われる。 - 特許庁

例文

This assembling device 1 is constituted as a jig used when the form for the prism-shaped test piece is assembled and composed of a rod-shaped reference shaft 2 and the reference precision plates 3, which are fixed to both end parts of the reference shaft and have reference surfaces of which the parallelism and squareness with respect to the reference shaft are within reference values.例文帳に追加

角柱形供試体用型枠を組み立てる際に使用される治具としての組立装置であって、棒状の基準軸と、該基準軸の両端部に固定され前記基準軸に対する平行度と直角度とが基準値以内に収められた基準面を有する基準精度板とからなる角柱形供試体用型枠の組立装置1とする。 - 特許庁

The failure diagnosis device, based on circuit information on LSI, establishes test output compression circuits 36a and 36b compressing output signal from scan flip-flops 34a to 36a and 34b to 36b of each stage and virtual pins PT1 and PT0 connected to the output terminal of the compression circuits 36a and 36b concerned for every stage of each scan chain.例文帳に追加

故障診断装置は、LSIの回路情報に基づいて、各スキャンチェーンの段毎に、各段のスキャンフリップフロップ34a〜36a,34b〜36bの出力信号を圧縮するテスト出力圧縮回路36a,36bと、該圧縮回路36a,36bの出力端子に接続された仮想ピンPT1,PT0と、を設定する。 - 特許庁

This test device is so constituted that a cam receiver body actuating and moving a second connector 24B so as to connect a first connector 24A provided in a fuel delivery port of the fuel injection pump 4 to the second connector 24B provided in a fuel receiver of the fuel injection nozzle 22 held by a holder 3 provided in a platform 2 is actuated, by a hydraulic piston.例文帳に追加

燃料噴射ポンプ4の燃料排出口に設けた第1接続具24Aと、プラットホーム2に設けたホルダー3に保持されている燃料噴射ノズル22の燃料受入れ口に設けた第2接続具24Bとを、接続すべく、第2接続具24Bを駆動移動させる受けカム体を油圧ピストンで駆動するように構成してある。 - 特許庁

In this test device for accelerating the deterioration of the electrophotographic photoreceptor by rotating the photoreceptor at high speed and repeating a cycle including an electrostatically electrifying stage and a light discharge stage, the passing current and the surface potential of the photoreceptor are measured by an ammeter 6 and an electrometer for surface potential 7 so as to control to keep the surface potential on a fixed condition.例文帳に追加

電子写真感光体を高速で回転させ、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させる試験装置において、電流計6、表面電位計7などで、感光体の通過電流と表面電位を計測し、表面電位を一定条件に保つように制御する。 - 特許庁

To provide a test method of a cathode panel for a cold-cathode electric field electron emission display device which makes it possible to predict a point of occurrence of a short circuit between a gate electrode, an electron emission part, or the cathode electrode prior to an actual action, which will be caused due to discharge generated between the gate electrode, the electron emitting part, or the cathode electrode.例文帳に追加

ゲート電極と電子放出部やカソード電極との間に生じた放電に起因して発生するであろうゲート電極と電子放出部やカソード電極との間の短絡発生箇所を実際の動作以前に予め予期することを可能とする冷陰極電界電子放出表示装置用のカソードパネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate replacement of ring packing and exchange of pipe guides, in a hydraulic test device for steel pipe equipped with the pipe guide 30 fitted around both ends of the steel pipe, a packing holder 10 having the built-in ring packing 20 for sealing the circumference of the steel pipe, and a clamp 40 for clamping the packing 20, by crimping the pipe guide 30 and the packing holder 10 together.例文帳に追加

鋼管の両端に外嵌するパイプガイド30と、鋼管の外周をシールするリングパッキング20を内蔵したパッキングホルダ10と、パイプガイド30とパッキングホルダ10を圧着させてパッキング20を締め付けるるクランプ40とを備えた鋼管の水圧試験装置において、リングパッキングの取替え及びパイプガイドの交換を容易にする。 - 特許庁

Particularly, the combustion control device (40) previously creates prediction model equations as linear equations for the plurality of control parameters on the basis of data acquired during test operation, solves the prediction model equations during actual operation to find adequate values for the plurality of control parameters corresponding to the target values and calculate correction amounts, and controls the plurality of control parameters on the basis of the correction amounts.例文帳に追加

特に、試運転時の取得データに基づいて予測モデル式を複数の制御パラメータの一次式として予め作成し、実運転時に該予測モデル式を解くことにより、前記目標値に対応する複数の制御パラメータの適正値を求めて補正量を算出し、該補正量に基づいて複数の制御パラメータを制御する。 - 特許庁

In a reproduction test service apparatus 4, a plurality of log files in the past provided directly or indirectly from a medical system 1 are stored in a log file storage device 405 for reproducing the operation of the medical system 1 in the past and on the basis of the stored log files, a plurality of operations of the medical system 1 in the past are reproduced on a pseudo X-ray CT system 407.例文帳に追加

再現試験サービス装置4は、医用システム1の過去の動作を再現するために、医用システム1から直接的又は間接的に提供を受けた過去の複数のログファイルをログファイル記憶装置405で記憶し、記憶したログファイルに基づいて医用システム1の過去の複数の動作を疑似的X線CTシステム407上で再現する。 - 特許庁

To provide an inspection method and a device for it capable of quickly detecting a clearance and a crack on a centimeter order or less in nondestructive inspection of a hammering test workpiece (for example, a refractory, especially, a monolithic refractory, or a concrete member) for indexation of a soundness degree of a molding and to provide a means for managing production/shipment quality as a subassembly.例文帳に追加

打音検査物(例えば、耐火物、特に不定形耐火物、或いはコンクリート部材)の非破壊検査において、センチメートルオーダー以下の空隙、亀裂まで短時間に検出可能な検査方法、その装置を提供し、更に成形体の健全度を指数化することであり、これにより組立部品としての製造・出荷の品質を管理する手段を提供する。 - 特許庁

The first signal and the second signal are drawn out once to the outside of the multichip module, and constituted so that bonding can be changed on the outside of the multichip module, and the first, second and third signals are controlled on the outside of the multichip module, and thereby a semiconductor chip which is a test object can be tested equivalently to a semiconductor device having a single body semiconductor chip.例文帳に追加

第1信号と第2信号マルチチップモジュール外に一旦引き出し、マルチチップモジュール外で結合変更可能なように構成し、第1、第2、第3信号の制御をマルチチップモジュール外部で行なうことで、試験対象とすべき半導体チップを単体の半導体チップを持つ半導体装置と等価にテスト可能にする。 - 特許庁

This optical disk device performs focus search at two or more measuring points in the radial direction on each of the signal recording layers L0, L1, and detects amplitudes A0, A1 of focus error signal FE at each measuring point, and also detects in advance optimal writing power PM0, PM1 of a laser beam α in each test zone of the signal recording layers L0, L1.例文帳に追加

この光ディスク装置では、信号記録層L0,L1の各々において、半径方向の複数の測定点でフォーカスサーチを行ない、各測定点におけるフォーカスエラー信号FEの振幅A0,A1を検出するとともに、信号記録層L0,L1の各々のテストゾーンにおいてレーザビームαの最適書込パワーPM0,PM1を検出しておく。 - 特許庁

According to the display system for the optical pulse test, an angle corresponding to the slope of the right down straight line part is measured on the basis of the measured waveform, and an LCD 36a of the display device 24a and the measured waveform are rotated on the basis of the detected angle thereby making the straight line part of the measured waveform agree with a horizontal axis of the LCD 36a.例文帳に追加

光パルス試験用表示方式では、測定波形に基づいて右下がりの直線部分の傾きに相当する角度を検出し、検出された角度に基づいて表示装置24aのLCD36a及び測定波形を回転処理し、測定波形の直線部分とLCD36aの水平軸とを一致させる。 - 特許庁

The circuit pressure display device in a specific environment to a gas spring circuit and a press tool exposed to a severe environment such as impact, chip and oil comprises a main body 2 in which a piston 3 is mounted to be exposed to the pressure of a test object circuit.例文帳に追加

特に衝撃、切りくず及び油といったような過酷な環境に曝露されたガススプリング回路及びプレス工具に特異的な環境における回路圧力表示装置(1)であり、回路圧力表示装置(1)は、テスト対象回路の圧力に曝露されるようになっているピストン(3)が中に取付けられている本体(2)により構成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit design support device, a semiconductor integrated circuit support method, and a semiconductor integrated circuit design support program for simulating a gate level netlist without rewriting a test bench even when a signal included in an RTL to be monitored in the simulation of the RTL is not included in the gate level netlist.例文帳に追加

RTLのシミュレーションにおいて監視対象とされたRTLに含まれる信号がゲートレベルネットリストに含まれていない場合でも、テストベンチを書き換えることなくゲートレベルネットリストのシミュレーションを行うことが可能な半導体集積回路設計支援装置、半導体集積回路設計支援方法、半導体集積回路設計支援プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an engine control device, reducing a burden of conformance test work, improving controllability to simultaneously match a plurality of sorts of engine output values with request values, and suppressing shift of actual engine output values from the request values caused by difference in response between a fuel injection system combustion parameter and an air system combustion parameter.例文帳に追加

適合試験作業の負担軽減と、複数種類のエンジン出力値を同時に要求値に一致させることに対する制御性向上と、噴射系燃焼パラメータと空気系燃焼パラメータとの応答性の違いに起因して実際のエンジン出力値が要求値からずれてしまうことの抑制と、を図ったエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

This device includes a DC restoring logical circuit 10 for receiving AC combining signals 6, 36 corresponding to an EXTEST test and pattern outputted from transmission integrated circuit (IC) 1, 31 meeting JTAG, and converting the same into DC signals suitable for utilizing JTAG logical circuits 4, 34 of receiving integrated circuits IC 2, 32 meeting JTAG.例文帳に追加

JTAGに準拠した送信集積回路(IC)(1、31)から出力されるEXTESTテスト・パターンに対応するAC結合信号(6、36)を受信して、JTAGに準拠した受信IC(2、32)のJTAG論理回路(4、34)による利用に適したDC信号に変換する直流(DC)復元論理回路(10)を含む。 - 特許庁

In the voice communication device in the MRI apparatus performing unidirectional communication or bidirectional communication of voice between the subject 5 in a gantry 2 arranged in a test room 1 and the operator 6 in an operation room 3, an acoustic transducer for transmitting and/or receiving disposed for the subject 5 is constituted of an osteoconduction type microphone and a speaker 7.例文帳に追加

検査室1に設置されたガントリ2内の被検者5と操作室3内の操作者6との間で音声の一方向又は双方向通信を行うMRI装置における音声通信装置において、被検者5側に備えられる送話用及び/又は受話用の音響トランスデューサを、骨伝導形のマイクロホン、スピーカ7により構成する。 - 特許庁

A sleep management method and system for improving the quality of sleep of a user which monitors one or more objective parameters relevant to sleep quality of the user when in bed and receives from the user in waking hours via a portable device such as a mobile phone feedback from objective test data on cognitive and/or psychomotor performance.例文帳に追加

ユーザの睡眠の質を改善するための睡眠管理方法およびシステムは、ベッドに就いているユーザの睡眠の質に関連する1つ以上の客観的パラメータを監視し、携帯電話などの携帯型装置を介して、起きているときのユーザから、認知能力および/または精神運動能力についての客観的テストデータのフィードバックを受信する。 - 特許庁

To provide a simulation device capable of performing highly accurately simulation of a creep deformation characteristic of a resin molding component, in a mode universal to the shape or the structure of a test piece cut out from the resin molding component which is a final product using a fiber reinforced resin material or the like, without performing a lot of complicated measurement or calculation.例文帳に追加

煩雑で多量な計測や計算をすることなく、繊維強化樹脂材料等を用いた最終的な製品である樹脂成形部品から切り出された試験片の形状や構造に普遍的な態様で、樹脂成形部品のクリープ変形特性のシミュレーションを高精度に行うことのできるシミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

To provide a verification method and a verification device for a control map for forced reproduction of a DPF (Diesel Particulate Filter), which verifies through a simple technique the adaptability of a map created analytically or a map created by a test, and verifies even if the performance of DOC (Diesel Oxidation Catalyst) deteriorates due to aging.例文帳に追加

解析的に作成されたマップや試験によって作成されたマップに対して、マップの適合性を簡単な手法で検証できるとともに、経年変化によってDOCの性能劣化が生じた場合においても、検証ができるDPFの強制再生用制御マップの検証方法および検証装置を提供すること。 - 特許庁

A test device 1 for evaluating an asphalt mixture 41 evaluates at least one among a transverse elasticity modulus, flow resistance and durability of a sample 4 formed by molding an asphalt mixture 41 into a cylindrical form, based on a response of the sample 4, when torsion is applied about the axial of the sample 4.例文帳に追加

このアスファルト混合物41を評価するための試験装置1は、アスファルト混合物41を円柱形状に成形した供試体4の軸心まわりにねじりを加えたときのその供試体4の応答に基づいて、供試体4のせん断弾性係数、耐流動性及び耐久性の少なくとも一つを評価するように構成されたものである。 - 特許庁

The termination of the resistive center conductor signal cable 206 in the signal processing instrument is provided to the signal acquisition system, where the capacitive load of a device under test at higher frequencies is reduced by reducing the input capacitance of the probe tip circuit resulting in an increase in signal acquisition frequency bandwidth.例文帳に追加

信号処理装置内における抵抗性中心導体信号ケーブル206の終端が信号取込みシステムに提供されるが、これによれば、プローブ・チップ回路の入力キャパシタンスを減少させることで、信号取込み周波数の帯域幅が増加する結果となり、これよって、高周波数における被測定デバイスへのキャパシタンスの負荷が低減される。 - 特許庁

To provide an eddy-current type inspection device, capable of adapting to a tempering depth/hardness measuring test, even for a high-frequency tempered part which has its outside diameter changed by significant amount is inspected, because even an inspection target which is altered in its outside diameter can be inspected with high inspection accuracy, regardless of the measurement region, and to provide an eddy-current type inspection method.例文帳に追加

外径が変化する検査対象物であっても測定部位に関わらず高い検査精度で検査することができるため、外径が大きく変化するような高周波焼入れ部品を検査する場合であっても焼入れ深さ/硬度測定試験に適用することが可能な、渦流式検査装置、及び、渦流式検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a gas sampling device which does not require water displacement, when a sample gas in a flexible gas sampling bag is to be collected nor accompanied by pressure changes due to the generation or absorption of gas during a test, and is capable of collecting the sample gas in the bag, as many times as desired by one bag under normal pressure with the passage of time, without having to prepare a plurality of bags.例文帳に追加

フレキシブルサンプリングバッグ中のサンプルガスを採取するに当たって水上置換する必要がなく、試験中にガス発生または吸収による圧力の変化を伴わず、常圧下で、しかも、複数のバッグを用意することなく1つのバッグで経時的に何度でもバッグ中のサンプルガスを採取することができるガスサンプリングデバイスの提供。 - 特許庁

The environmental test device includes a wind direction change driver A for changing the wind direction by rocking an air blower 12 around a horizontal axis H1, the air blower 12 being rockably supported around the horizontal axis H1 which passes through near the center of the surface of the solar panel SP supported by a panel supporting member 11, and a wind receiving member C facing the air blower 12 by placing the panel SP inbetween.例文帳に追加

パネル支持部材11により支持されたソーラーパネルSPのパネル表面の略中心を通る水平軸H1まわりに揺動可能に支持された送風機12を水平軸H1まわりに揺動させて風向を変更する風向変更駆動装置A、パネルSPを挟んで送風機12に対向する風受部材Cを備えた。 - 特許庁

The data amount of the number of days defined by a parameter definition table is extracted from an order database 11 and a test results database 12 in a server 1, data read processing in which it is stored in an intermediate server is executed and after that, the data amount for the number of days defined by the parameter definition table is extracted from the intermediate server and is shown on a display device.例文帳に追加

サーバ1内のオーダデータベース11と検査結果データベース12から、パラメータ定義テーブルにより定義された日数分のデータ量を抽出し中間サーバ24に格納するデータ読込み処理を実行し、その後、中間サーバ24からパラメータ定義テーブルにより定義された日数分のデータ量を抽出し表示装置28に表示するオーダリングシステム。 - 特許庁

To easily and surely test an electric connection state, that is, a thermocompressing bonding state between terminals through an anisotropic conductive film(ACF) 3, in a tape carrier package 1 mounted on a display panel 2 of a liquid crystal display device or the like using the ACF 3, and a method of manufacturing a flat display using the tape carrier package 1.例文帳に追加

液晶表示装置等の表示パネル2に異方性導電フィルム(ACF)3を用いて実装されるテープキャリアパッケージ1、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、ACF3を介しての端子間の電気的接続の状態、すなわち熱圧着の状態を簡便かつ確実に検査できるものを提供する。 - 特許庁

To actualize the verifying device which eliminates the need to prepare a virtual response value file from the start of a virtual test by setting as defaults virtual response value data having a value between the upper-limit and lower-limit value of response values.例文帳に追加

仮想試験の最初から仮想応答値ファイルを用意する必要がなく、簡単な操作により任意のテスト項目をフェイルの仮想応答値に設定でき、各テスト項目の仮想応答値データを容易に把握でき、実機に存在しないモジュールに対して仮想試験でアクセスを行うことを防止できるICテスタ用プログラムの検証装置を実現する。 - 特許庁

To provide a liquid epoxy resin composition highly reliable for sealing a semiconductor, which is superior in fluidity and can reduce stress to chips generated at the time of thermal cycling test, and can improve protective properties for connecting parts of terminals; and to provide a highly reliable semiconductor device where a cured product of the liquid epoxy resin composition stands between elements and a substrate.例文帳に追加

流動性に優れ、温度サイクル試験時に生じる端子の接続部保護性向上及びチップへの低応力化が可能な高信頼性の半導体封止材用液状エポキシ樹脂組成物、及びこの液状エポキシ樹脂組成物の硬化物を素子と基板間に介在してなる高信頼性半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.例文帳に追加

従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

Concerning the electromigration evaluating device having evaluation wiring for electromigration evaluation composed of a metal film formed on a silicon substrate and a pad composed of the same metal as evaluation wiring formed at both the terminals of test wiring, the pad is covered with the metal film of a small thermal expansion coefficient.例文帳に追加

本発明のエレクトロマイグレーション評価装置は、シリコン基板上に形成された金属膜からなるエレクトロマイグレーション評価用の評価配線と、この試験配線の両端部に形成された評価配線と同一金属からなるパッドとを有するエレクトロマイグレーション評価装置に関して、前記パッドを熱膨張係数の小さい金属膜で被覆する。 - 特許庁

To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.例文帳に追加

給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁

In a control device for performing the feedback control for at least the position and attitude angle of a test piece, a sensitivity function related to a transfer function concerning disturbance input through the outputs of the position and attitude angle, and a complementary sensitivity function related to a transfer function concerning a disturbance input through the output of a current fed to a coil and an electromagnet are defined.例文帳に追加

供試体の少なくとも位置・姿勢角についてのフィードバック制御をする制御装系において、外乱入力から位置・姿勢角の出力までの伝達関数に関連する感度関数と、また外乱入力からコイル・電磁石に印加される電流の出力までの伝達関数に関連する相補感度関数とが定められる。 - 特許庁

To provide a method for evaluating deterioration of a membrane-electrode assembly, accelerating deterioration of a membrane-electrode assembly or a catalyst as constituents of the MEA actually generated in a fuel cell, and semi-continuously and quickly performing an evaluation test of the MEA, and to provide a device for evaluating deterioration of the membrane-electrode assembly used for the method for evaluating deterioration the membrane-electrode assembly.例文帳に追加

実際の燃料電池内で発生するMEAの構成成分である電解質膜または触媒の劣化を加速するとともに、半連続的に迅速にそのMEAの性能試験を行う膜電極アセンブリの劣化評価方法およびその劣化評価方法に使用する膜電極アセンブリ劣化評価装置を提供する。 - 特許庁

In this image forming device capable of forming a toner image corresponding to an image on the recording material and pressing the recording material by predetermined compensation force to compensate its curl and deliver the paper, test images decided in advance are formed on each of a plurality of recording materials at predetermined density, and compensation of curl is performed by compensation force being different from each other per recording material to deliver the paper.例文帳に追加

画像に応じたトナー像を記録材上に形成し、その記録材を所定の補正力で押圧してそのカールを補正し排紙する画像形成装置に、予め定められたテスト画像を所定の濃度で複数の記録材の各々へ形成させるとともに、記録材毎に互いに異なる補正力でカール補正を行って排紙させる。 - 特許庁

To provide a blast fence device used for an engine test of an aircraft outdoors of an airport capable of moving on a rail member in a circumferential groove in order to respond to all wind directions, accomplishing self-propelling through a plurality of self-propelling wheel (including a drive wheel) and switchable to a locked position strongly locked to a pavement ground and an unlocked position.例文帳に追加

空港の屋外での航空機のエンジンテストに供するブラストフェンス装置において、全風向に対応するため円周溝内のレール部材上を360度移動可能にし、複数の自走輪(駆動輪を含む)を介して自走可能にし、舗装地面に対して強固にロックしたロック位置とロック解除位置とに切り換え可能にすること等を目的とする。 - 特許庁

In the semiconductor test device wherein a measurement operation part and a controller are connected via a system bus, and which is so configured that a plurality of interrupt processings are performed between the measurement operation part and the controller, the operation part includes an interrupt control means which performs control giving priorities to a plurality of interruptions to the controller.例文帳に追加

測定演算部と制御部がシステムバスを介して接続され、測定演算部と制御部との間で複数の割込み処理をかけるように構成された半導体検査装置において、前記演算部に前記制御部に対する複数の割込みに優先順位をつけて制御する割込み制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

A method of measuring a device under test (DUT) 110 comprises a step of applying a pulsed RF input signal 124 to the DUT, and a step of connecting an output of the DUT to a receiver 104, having an output bandwidth selected to measure the center tone in an RF pulse response spectrum from the output 113 of the DUT.例文帳に追加

被試験デバイス(DUT)110を測定する方法は、パルスドRF入力信号124をDUTに印加するステップと、DUTの出力113からのRFパルス応答スペクトル内の中央トーンを測定するべく選択されている出力帯域幅を具備したレシーバ104に、このDUTの出力を接続するステップと、を含む。 - 特許庁

To provide a probe card for using even a chip device having a small electrode size which is a test object, by reducing position deviation of a probe tip, concerning a probe card having a double elastic mechanism having a small-dimension probe used for inspection of an electric characteristic of chip devices integrated in high density on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上に高密度に集積されたチップデバイスの電気的特性の検査に使用する微小寸法のプローブを有する二重弾性機構のプローブカードにおいて、プローブ先端の位置ずれを小さくすることによって、被試験体であるチップデバイスの電極サイズの小さなものであっても使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている2ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS