「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(161ページ目) - Weblio英語例文検索

This leak testing system is provided with a pre-processor 10 putting the work W in the pressurized helium atmosphere, a lead testing device 50 performing the helium leak test on the work W, a transfer mechanism 40 carrying out the work W from the pre-processor 10 and setting it on the leak testing device 50, and a controller 90 controlling the devices 10 and 50 and the mechanism 40.例文帳に追加

リークテストシステムは、ワークＷを加圧ヘリウム雰囲気に置く前処理装置１０と、ワークＷのヘリウムリークテストを行うリークテスト装置５０と、ワークＷを前処理装置１０から搬出し、リークテスト装置５０にセットする転送機構４０と、これら装置１０，５０及び機構４０を制御するコントローラ９０とを備えている。 - 特許庁

To provide a method, capable of rationally selecting a wet processing treatment, where chemicals can be shared, in a short time resting on a minimum preliminary test when utilization of common chemicals is promoted eliminating cross contamination caused, by newly adopted materials in a cleaning device line configuration in a silicon semiconductor device manufacturing process.例文帳に追加

シリコン半導体装置の製造過程における洗浄装置ライン構成について、新たに採用した材料に由来するクロス汚染を排除しつつ、薬液の共用化を進める際、最小限の予備的な試験検討に基づき、合理的に短時間に、ウエットプロセス処理において薬液を共用化できる処理を選別する方法の提供。 - 特許庁

In the power level adjusting device for adjusting an output power level of a DUT 10 (device under test) whose power can be adjusted from the outside, a power source circuit 11 supplies power to the DUT 10 via a current limit circuit 12, and the current limit circuit 12 limits applies limitation so that a current exceeding a predetermined current value may not be applied to the DUT 10.例文帳に追加

外部からパワー調整可能なＤＵＴ１０の出力パワーレベルを調整するパワーレベル調整装置において、電源回路１１からＤＵＴ１０に対して電流制限回路１２を介して電源を供給すると共に電流制限回路１２によってＤＵＴ１０に所定電流値を超える電流が流れないように制限する。 - 特許庁

To provide a physiological function examination device and a display device for physiological function examination result in which the information of a patient with heavy chronic respiratory insufficiency or a complicated patient with ischemic hear disease or the like as obtained from a exercise test in daily life is obtained from the movement so that an proper evaluation can be performed with being hardly influenced by a measurement error or accidental error.例文帳に追加

重度の慢性呼吸不全患者や虚血性心疾患等合併患者を対象に日常生活中の労作から運動負荷試験に準ずる情報を得て、計測誤差や偶発的計測誤差の影響が少なく客観的な評価ができる生理機能検査装置および生理機能検査結果表示装置を得る。 - 特許庁

The input termination control device of a semiconductor memory is constituted of an input termination for matching impedance when a signal is received at a transmission line, a test circuit receiving an input termination-off instruction and an off-release-instruction and outputting the input termination off-control signal, and first and second switch performing switching-on-off by the input termination on-off control signal of the test circuit.例文帳に追加

半導体メモリの入力ターミネーション制御装置において、伝送ラインに信号が受信されるときにインピーダンスをマッチングさせるための入力ターミネーションと、外部からテスト入力ピンを通して入力ターミネーションオフ命令及びオフ解除命令を受けて前記入力ターミネーションオン・オフ制御信号を出力するテスト回路と、前記テスト回路の入力ターミネーションオン・オフ制御信号によりスイッチングオン・オフする第１及び第２スイッチと、から構成される。 - 特許庁

In the optical disk recording/playback device constituted so that laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area arranged on the disk, the test signal is recorded on the trial writing area by changing the laser output, and then the laser output is set by recognizing the recording properties of the recorded signal in the state that the gain of a PLL servo circuit incorporated in a clock signal producing circuit is reduced.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性をクロック信号生成回路に組み込まれているＰＬＬサーボ回路の利得を低下させた状態にて認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

The refraction angle control unit 10 is used for the noncontact ultrasonic flaw detection device including a transmission ultrasonic probe 20, and a reception ultrasonic probe 30 for receiving ultrasonic waves transmitted from the transmission ultrasonic probe 20 and propagated through a test piece S for transmission, thus controlling the composition of gas, namely, a noncontact medium M interposed between the transmission ultrasonic probe 20 and the test piece S.例文帳に追加

屈折角制御装置１０は、送信超音波探触子２０と、送信超音波探触子２０から送信されて試験体Ｓを伝搬して透過した超音波が受信される受信超音波探触子３０とを備えた非接触超音波探傷装置に用いられる屈折角制御装置であって、送信超音波探触子２０と試験体Ｓとの間に介在する非接触媒体Ｍである気体の組成を制御する。 - 特許庁

The psychological test device analyzes input image data, calculates a predetermined characteristic variable, stores a plurality of comment configuration sentences configuring a comment sentence for the subject, inputs whether an image drawn in the previous test is pertinent to each of the plurality of comment configuration sentences, and prepares a discriminant with the calculated characteristic variable as a description variable and an input pertinent degree as a target variable for each of the plurality of comment configuration sentences.例文帳に追加

心理検査装置は、入力される画像データを解析し、所定の特性変量を算出し、被検者に対するコメント文を構成するコメント構成文を複数格納し、今回以前の検査で描かれた画像が複数のコメント構成文の各々に該当するか否かを入力し、複数のコメント構成文の各々について、算出される特性変量を説明変量とし、入力される該当度を目的変量として、判別式を作成する。 - 特許庁

In an optical disk recording/reproducing device in which, after recording test signals changing the laser beam output in the trial region on the inner surface of a disk, the laser output is adjusted by reproducing the recorded test signals, and the laser output is corrected, in this invention, based on the drive voltages applied to the focusing coil in the inner region and in the signal recording region of the disk.例文帳に追加

ディスクの内周側に設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録されたテスト信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成されている光ディスク記録再生装置において、ディスクの内周位置におけるフォーカスコイルに供給される駆動電圧と信号記録位置におけるフォーカスコイルに供給される駆動電圧に基づいてレーザー出力を補正する。 - 特許庁

The optical disk recording and reproducing device constituted to perform the operation to set the laser output by recording test signals in a trial writing region disposed on the inner peripheral side of the disk 1 and to record the signals in a signal recording region by the set laser output performs the operation to set the laser output by performing the operation to record the test signals in the signal recording position of the signal recording region.例文帳に追加

ディスク１の内周側に設けられている試し書き領域にテスト信号を記録することによってレーザー出力の設定動作を行うとともに設定されたレーザー出力によって信号記録領域に信号を記録するように構成された光ディスク記録再生装置において、信号記録領域の信号記録位置にてテスト信号の記録動作を行うことによりレーザー出力の設定動作を行う。 - 特許庁

The writable optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk and can repetitively execute a record operation, in which the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal after executing two times of operations recording the test signal by varying the laser output to the trial writing area.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成され、且つ記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録する動作を２回行った後、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device provided with a docking block, which is to be connected to a performance board and mounted to a handler base plate or the performance board, and a test socket mounted to the docking block, a docking plate for mounting the test socket is arranged, while a plate type docking base having a fitting hole, into which the docking plate is inserted and fitted, is arranged in the docking block.例文帳に追加

パフォマンスボードに接続されハンドラーベースプレートあるいは前記パフォマンスボードに取付けられるドッキングブロックと、このドッキングブロックに取付けられるテストソケットとを具備する半導体テスティング装置において、前記テストソケットが取付けられるドッキングプレートと、このドッキングプレートが挿入嵌め合わされて取り付けられる嵌合孔を有する板状のドッキングベースとを有するドッキングブロックを具備したことを特徴とする半導体テスティング装置である。 - 特許庁

To provide an antireflection film which has an excellent antireflection function having no irregularity of reflected colors, which has high film strength after a forced deterioration test which becomes the index of durability in particular, and which has an antistatic function excellent in scratch resistance, and to provide a polarizing plate and an image display device.例文帳に追加

本発明の目的は、反射色ムラのない優れた反射防止機能を有し、特に耐久性の指標となる強制劣化試験後の膜強度が強く、耐傷性に優れた耐電防止機能を有する反射防止フィルム、偏光板及び画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

A low temperature test device has two CCD cameras 10a, 10b not having a zoom mechanism installed at a different planar position, and a prism mechanism 11 capable of at least a part of the surface of a semiconductor wafer and/or probe needle 52 from any one of the CCD cameras 10a, 10b.例文帳に追加

異なる平面位置に設置したズーム機構を有さない２台のＣＣＤカメラ１０ａ，１０ｂと、いずれのＣＣＤカメラ１０ａ，１０ｂからも半導体ウエハの表面及び／又はプローブ針５２の少なくとも一部を撮影させることが可能なプリズム機構１１とを有している。 - 特許庁

To provide a device capable of quickly evaluating child's achievement by marking a test sheet by a pen, diagnosing problems, diagnosing an arrival state at an arrival target, and preparing treatment problems against errors and a computer readable recording medium in which programs are recorded.例文帳に追加

テスト用紙に、ペンで採点すると、すばやく児童の学力を評価し、問題点を診断し、到達目標への到達状況の診断が行え、誤答に対する治療問題を作成する装置とプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。 - 特許庁

In the measurement of an error rate performed in the process to optimize the signal channel parameter of the disk device, the error rate is deteriorated by means of deteriorating the S/N ratio of an input signal, thereby the decision of the optimized parameter value is attained by the error rate test of less transfer bits.例文帳に追加

ディスク装置の信号チャンネルパラメータの最適化の過程で行われるエラーレートの測定において、入力信号のＳ／Ｎ比を劣化させることにより、エラーレートを劣化させ、より少ない転送ビットのエラーレート試験で最適化パラメータ値を決定することを可能にする。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device capable of producing a good cross section for observation having little streak and improving throughput, and a method of processing and observing a test piece which allows production of a good cross section of observation and provide a correct observation image.例文帳に追加

筋引きの少ない良好な観察用断面を作製することができるとともに、スループットを向上させることが可能な集束イオンビーム装置、及び、良好な観察用断面を作製して、正確な観察像を得ることができる試料の断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁

To precisely conduct measurement of an analog device, by using not only a periphery of a test board but also a central part which is conventionally a hole part, as a mounting area for wafer measuring components, in a wafer measuring board for constituting a wafer testing system together with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ，テスタと共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの周辺だけでなく、従来穴部であった中央部をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁

The print management device compares the received image data with original data of the test pattern image stored in a print execution database 34 to determine whether print is abnormal or not and outputs maintenance data corresponding to the determination result to competent management servers 40 for managing execution of maintenance of corresponding printers.例文帳に追加

そして、受信した画像データと印刷実行データベース３４に記憶しているテストパターン画像の元データとを比較して印刷異常の有無を判定し、その判定結果に対応するメンテナンスデータを、対応する印刷装置のメンテナンスの実行を管理する管轄管理サーバ４０に出力する。 - 特許庁

The CPU 7, when executing the test program 81, compares the data prepared in the write source data area 82 in the main storage device 8 with the data in the readout data area 83 sent back by the FIFO 5 in the PCI data bus returning mechanism 2 connected to a PCI bus 101.例文帳に追加

ＣＰＵ７は試験プログラム８１の実行時に、主記憶装置８内の書込み元データエリア８２に用意されているデータと、ＰＣＩバス１０１ヘ接続されているＰＣＩバスデータ折返し機構２内のＦＩＦＯ５で折返された読出しデータエリア８３内のデータとを比較する。 - 特許庁

Then, the mounting test evaluation device 1 can properly discriminate whether the integrated circuit 17 and the plurality of the signal lines 2-1 to 2-n are connected or not when the integrated circuit 17 is provided with prescribed electrostatic protection circuits 32-1 to 32-m.例文帳に追加

このとき、本発明による実装試験評価装置１は、集積回路１７が所定の静電保護回路３２−１〜３２−ｍを備えているときに、集積回路１７と複数の信号線２−１〜２−ｎとが接続されているかどうかをより適切に判別することができる。 - 特許庁

To provide a failure diagnosis device capable of forcing registers of part of a boundary scanning test circuit mounted on an integrated circuit on a substrate as a shift register, and, during the period of normal operation, feedbacking to compare part of output signal at the output side to the input side to detect signal anomaly.例文帳に追加

基板上の集積回路に搭載された境界走査試験回路の一部のレジスタをシフトレジスタとして動作させ、通常動作時に、出力側の一部の出力信号を入力側にフィードバックして比較して、信号異常が検知できる故障診断装置を提供する。 - 特許庁

An error is found in its early stage by conducting an error test by attenuating the input signal from the magnetic head 2 of the disk device (making S/N worse) suitably to each drive by using an attenuator and a fault can be predicted with a sufficient margin before the fault actually occurs.例文帳に追加

ディスク装置の磁気ヘッド２からの入力信号を、減衰器４を使用して各ドライブに最適に減衰（Ｓ／Ｎ比を劣化）させてエラーテストを行うことで、エラーを早期発見し、故障発生状態に至るまでに十分に余裕をもって故障予知を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an oxidation-reduction current measurement method and a measurement device therefor, having a simple structure and capable of measuring the concentration of a component to be measured with high precision, without requiring a complex structure and part and short-life consumables in order to feed a test water (sample solution) at a constant flow rate.例文帳に追加

検水（試料液）を定流量で送液するために複雑な構造や部品、及び、短寿命の消耗品を必要としない、構造が簡単で、高精度にて測定対象成分の濃度を測定することのできる酸化還元電流測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time required for outputting the leading data of serial data in a semiconductor device in which other data (e.g. test data) is outputted to the outside through a data output circuit in which parallel data outputted from an internal circuit (e.g. memory cell region) is converted to serial data.例文帳に追加

内部回路（例えば、メモリセル領域）から出力されるパラレル・データをシリアル・データに変換して外部に出力するデータ出力回路を介して他のデータ（例えば、テスト・データ）を外部に出力する半導体装置に関し、シリアル・データの先頭のデータが出力されるまでの時間を短くする。 - 特許庁

The device is characterized in having a hook part attached to the test head, a clamp block used to press the printed board to the contact pin, and a contact clip which is installed at the end part of the clamp block, which is hooked on the hook part and by which the clamp block is pressed to the contact pin so as to be fixed.例文帳に追加

本装置は、テストヘッドに取り付けられる引掛部と、プリント基板をコンタクトピンに押し付けるクランプブロックとこのクランプブロックの端部に設けられ、引掛部に引掛けて、クランプブロックをコンタクトピンに押し付けて固定するキャッチクリップとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

A burn-in device 1 sets an electric power source and a GND at 0 V, a control signal-1 (IN1 terminal) at 5 V, and a control signal-2 (IN2 terminal) at 0 V respectively, in a pretest before a burn-in test, to be output to a burn-in substrate 2, and monitors a monitor output (Monitor terminal).例文帳に追加

バーンイン試験行う前のプリテストにおいて、バーンイン装置１は電源及びＧＮＤを０Ｖ、制御信号１（ＩＮ１端子）を５Ｖ、制御信号２（ＩＮ２端子）を０Ｖに設定してバーンイン基板２に出力し、モニター出力（Ｍｏｎｉｔｏｒ端子）を監視する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The lap supply device comprises: a CPU 31 for calculating a gear change pattern of the lap roller motor 26 on the basis of a measurement result for a spinning sliver weight obtained in test spinning; and a CPU 31 for controlling the lap roller motor 26 on the basis of the gear change pattern calculated by the CPU 31.例文帳に追加

ラップ供給制御装置は、試験紡出時の紡出スライバ重量の測定結果からラップローラ用モータ２６の変速パターンを演算するＣＰＵ３１と、ＣＰＵ３１により演算された変速パターンに基づきラップローラ用モータ２６を制御するＣＰＵ３１とを備えている。 - 特許庁

To provide a fast test device for a bare chip LSI mounting board capable of detecting, in its early stages, continuity defectives or functional defectives and reducing the loss in production in the stage of mounting a bare chip LSI on a board before mounting SMT components such as a RAM, a capacitor, and resistance.例文帳に追加

ＲＡＭ、コンデンサ、抵抗などのＳＭＴ部品を搭載する前に、基板上にベアチップＬＳＩが搭載された段階で、導通不良や機能不良を早期に発見し、生産上の損失を低減する、ベアチップＬＳＩ搭載基板の高速テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a service providing method and a service providing device capable of efficiently executing information gathering, training, and test for acquiring a driver's license in the service providing method and a service providing system for providing respective services for acquiring the license.例文帳に追加

免許証を取得するための各サービスを提供するサービス提供方法及びサービス提供システムに関し、運転免許証の取得のための情報収集、教習、試験を効率よく行なえるサービス提供方法及びサービス提供装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a leakage inspection device using air-tight chamber forming structure capable of forming an air-tight chamber in a part to be inspected of a pipe directly from a side face of the pipe, in which the air-tight chamber can attain air-tightness enough to carry out an air-tightness test of high detection sensitivity.例文帳に追加

管の側面から直接に管の被検査部に気密室を形成できる気密室形成構造であって、かつ該気密室は高い検出感度の気密性試験を行うのに十分な気密性を実現できる気密室形成構造を用いた漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a copper plating peeling device of a copper-plated carbon electrode which can easily, rapidly and safely recycle the copper-plated carbon electrode without any secondary waste solution treatment when recycling the used copper-plated carbon electrode of a carbon-arc type weathering test apparatus.例文帳に追加

カーボンアーク式耐候光試験装置の使用済み銅メッキカーボン電極の再生処理に関するものであって、簡便に、迅速に、安全に、且つ二次的廃液処理を要しないで銅メッキカーボン電極の再生処理が可能な銅メッキカーボン電極の銅メッキ剥離装置を提供すること。 - 特許庁

This method for measuring metal components eluted from a polishing pad comprises steps of immersing the polishing pad in an alkaline solution to elute metal components from the polishing pad, adding acidic components to an eluate, and then measuring metal components in the eluate by a test device.例文帳に追加

研磨パッドをアルカリ溶液中に浸漬して、研磨パッドから金属成分を溶出させる工程、溶出液に酸性成分を添加した後、溶出液中の金属成分を検査装置にて測定する工程、を包含する、研磨パッドから溶出される金属成分の測定方法。 - 特許庁

To provide a temperature information output unit for defining an operating point so as to cope with any specification discussed in a test group (ODTS TG) of JEDEC in order to define an operating point of a temperature information output device (ODTS).例文帳に追加

温度情報出力装置（ＯＤＴＳ）の動作時点を定義するため、ＪＥＤＥＣの温度情報出力装置テストグループ（ＯＤＴＳ ＴＧ）で議論されている全ての仕様に対応可能となるように動作時点を定義する温度情報出力装置を提供すること。 - 特許庁

The read/write control circuit 6 receiving the trigger from the coincidence comparing circuit 5 writes the quality judgment result judged by a judging circuit 2 at the address in the memory specified by an address pointer 7 together with the address and data for the device 20 under test.例文帳に追加

そして、一致比較回路５より上記トリガが入力されたリード／ライト制御回路６は、判定回路２にて判定された良否判定結果を、前記被試験デバイス２０に対するアドレスおよびデータとともに、アドレスポインタ７に指定されるメモリ４内のアドレスに書き込む。 - 特許庁

Provided is the device for the accelerated oxidation test of the fuel or the mineral oil product, which includes a pressure vessel (1) for storing a sample (2) of the fuel or the mineral oil product, and also has at least one temperature changing means.例文帳に追加

このために、燃料または鉱物油製品の加速酸化試験用の装置、すなわちその装置が燃料または鉱物油製品の試料(2)を収容するための圧力容器(1)を持ち、その圧力容器(1)が少なくとも1個の温度変化用の手段を持つことを提案する。 - 特許庁

The irradiation test method for a semiconductor device 10 includes disposing a plurality of semiconductor devices 10 at overlapping positions, as viewed from one direction 50; and delivering irradiation along the one direction 50, at such an intensity as to penetrate all of the plurality of semiconductor devices 10.例文帳に追加

半導体装置１０の放射線照射試験方法であって、複数の半導体装置１０を一方向５０からみたときに重なるように配置し、前記一方向５０に沿って複数の半導体装置１０の全てを貫通する強度で放射線を照射する。 - 特許庁

Consequently, the columnar electrodes 12 tends to shake and in a temperature cycle test after a device is mounted on a circuit board, stresses due to the difference in coefficient of thermal expansion between a silicon substrate 11 and the circuit board can be absorbed by the columnar electrodes 12.例文帳に追加

このため、柱状電極１２は揺れ動き易くなり、回路基板上に搭載した後における温度サイクルテストにおいて、シリコン基板１１と回路基板との間の熱膨張係数差に起因して発生する応力を柱状電極１２で吸収することができる。 - 特許庁

To provide a radio receiver emulator for achieving the consistency between evaluation of radio communication by a simulation side and evaluation of radio communication using a signal receiving section for actually receiving RF signals outputted from a radio communication device, and to provide a radio test system using the same.例文帳に追加

シミュレーション側による無線通信の評価と、無線通信機の出力したＲＦ信号を実際に受信する信号受信部を用いた無線通信の評価との同一性を図った無線受信機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システムを実現することにある。 - 特許庁

To provide a cup conveying device for a cup-type vending machine capable of avoiding the collision of a cup holder at a side of a vending machine body with a commodity outlet port at a side of a main door and preventing the breakage thereof securely when the main door is closed after performing test marketing.例文帳に追加

テスト販売の実行後、メインドアが閉鎖される際に、販売機本体側のカップホルダと、メインドア側の商品取出口部とが衝突するのを回避でき、それらの破損を確実に防止することができるカップ式自動販売機のカップ搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lens adjustment system capable of facilitating the adjustment of characteristics of an AF processing means, which performs a process with respect to AF by displaying a test chart corresponding to content onto the monitor such as a personal computer in a lens device with an AF function.例文帳に追加

ＡＦ機能を備えたレンズ装置において、ＡＦに関する処理を行うＡＦ処理手段の特性調整を、その内容に応じたテストチャートをパソコン等のモニタに表示させて行うことによってＡＦ処理手段の特性調整を簡易に行えるようにしたレンズ調整システムを提供する。 - 特許庁

The output from a touch sensor circuit 43, output from a reversing circuit 472 reversing a signal from a single shoot switch, output of a reversing circuit 473 reversing a shoot control signal, and a shoot allowing/prohibiting signal from a trial shooting test device are inputted to a logical circuit (NAND circuit) 474.例文帳に追加

タッチセンサ回路４３の出力、単発発射スイッチからの信号を反転する反転回路４７２の出力、発射制御信号を反転する反転回路４７３の出力、および試射試験装置からの発射可否信号は、論理回路（ＮＡＮＤ回路）４７４に入力される。 - 特許庁

To provide a component testing device and a component conveyance method for arranging flexibly an electronic component even onto a function station whose configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like, by heightening flexibility of conveyance or arrangement of the electronic component by conveyance hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁