「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(157ページ目) - Weblio英語例文検索

To evaluate the adjustment or the like of hue and chroma even other than a blue color signal by especially applying a test pattern, a signal generator and a method of evaluating a video device to operation confirmation of various video devices.例文帳に追加

本発明は、テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法に関し、特に各種映像機器の動作確認に適用して、青色色信号以外についてもＨＵＥ、クロマの調整等を評価することができるようにする。 - 特許庁

To provide technology for bringing a probe into contact with a test pad corresponding to the probe by a desired contact pressure in probe inspection using a thin film probe formed by using manufacture technique of a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、探針とその探針が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。 - 特許庁

Concerning this semiconductor memory device, when a high level signal is outputted from a test signal generating circuit 7, MOS transistors M1 and M2 are turned on, a bit line setting voltage VB1 is impressed to a bit line BL and a bar bit line bar setting voltage VB2 is impressed to a bit line bar /BL respectively.例文帳に追加

テスト信号発生回路７からハイレベルの信号が出力されると、ＭＯＳトランジスタＭ１、Ｍ２はオンし、ビット線（ＢＬ）にビット線設定電圧（ＶＢ１）が、ビット線バー（／ＢＬ）にバービット線バー設定電圧（ＶＢ２）が、それぞれ印加される。 - 特許庁

To early detect a deterioration of a printed wiring board which responds to the harmful degree of the environment wherein the board is to be used, without making a breakdown test of the wiring board by drawing out the wiring board from an electronic device or the like and to prevent a system failure or the like.例文帳に追加

本発明は、電子装置等からプリント配線板を抜き取って破壊検査をしたりすることなく、使用環境の有害度に応じたプリント配線板の劣化を早期に検出し、システム等のダウンを未然に防止することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming device which detects the concentration distribution of a test pattern with high sensitivity by using a reflection-type optical sensor of a simple configuration, and corrects an image forming position of a recording head with high accuracy, and to provide a method of correcting the image forming position.例文帳に追加

簡易な構成の反射型の光学センサを用いてテストパターンの濃度分布を高感度で検出し、記録ヘッドの画像形成位置を高い精度で補正することができる画像形成装置と画像形成位置の補正方法とを提供する。 - 特許庁

A strain gauge 66 is installed in an opposite side part of the load applying direction (the arrow F direction) side of a tilting device 44 on an outer peripheral side surface 40A of a second test piece 30, and compressive strain is detected by the strain gauge 66.例文帳に追加

第二テストピース３０の外周側面４０Ａでかつ傾倒装置４４の荷重付与方向（矢印Ｆ方向）側とは反対側の部位には、ひずみゲージ６６が取り付けられ、圧縮ひずみがひずみゲージ６６によって検知可能となっている。 - 特許庁

To provide an air conditioning device and a solenoid valve unit used for the same capable of improving airtightness while controlling generation of abnormal noise from electromagnetic open close valve and of preventing residual of gas used in an airtightness test.例文帳に追加

電磁開閉弁からの異常音の発生を抑制しつつ、気密性の向上を図ることができ、気密試験に用いられるガスの残留を防止することができる空気調和装置及びこれに用いられる電磁弁ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a security medium test method and device, capable of stably performing in bulk data matching confirmation and separate data authentication of a security medium having visual separate data and secrete data which can be seen only by a transmitted light.例文帳に追加

視認可能な個別データと透過光でしか視認できない秘匿データを備えたセキュリティ媒体のデータマッチング確認や個別データの認証を、大量且つ安定的に実施することの可能なセキュリティ媒体検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A breaking energy Ec required for destructing the solid substance is obtained by a compression test and the obtained breaking energy Ec and mass (m) of the solid substance are inputted to a computer 20 via an inputting device 31 and an input section 21.例文帳に追加

固体状物質の破壊に必要とされる破壊エネルギＥｃを圧縮試験によって求め、求められた破壊エネルギＥｃ、および該固体状物質の質量ｍを入力デバイス３１および入力部２１を介してコンピュータ２０に入力する。 - 特許庁

In the correction coefficient arithmetic unit 30, an optical measuring part 33 measures the brightness or the chromaticity of each domain when an image for a test is displayed on each domain acquired by classifying a display domain of the display device 10 into a plurality of domains.例文帳に追加

また、補正係数演算装置３０においては、光学測定部３３が、表示装置１０の表示領域を複数の領域に区分したこの各領域に、テスト用画像を表示させたときにおける各領域の輝度または色度を測定する。 - 特許庁

To provide a disk image acquiring method of acquiring an image of the result of the analysis or test of a disk by minimizing the difference between the position of a magnet of the disk and a position of a magnet of a transport unit, and to provide a disk driving device for performing the method.例文帳に追加

ディスクの磁石の位置と移送ユニットの磁石の位置との間の差を最小化することによって、ディスクの分析又はテスト結果物のイメージを獲得するディスクイメージ獲得方法及びその方法を行うディスク駆動装置を提供する。 - 特許庁

A print scanner 7 is disposed near a discharge port 331 of the finished prints of the photographic processing device A and the discharged test print is positioned in a prescribed scan position and is scanned by this print scanner 7, by which the data on unevenness correction is formed.例文帳に追加

写真処理装置Ａの仕上がりプリントの排出口３３１の近傍にプリントスキャナ７を配設し、排出されるテストプリントを所定のスキャン位置に位置決めして前記プリントスキャナ７でスキャンし、ムラ補正データを作成するように構成した。 - 特許庁

When the measuring person performs spot application of a test piece to blood, the measuring device detects the spot application state, determines whether the amount of blood is excessive or in shortage, and starts counting measurement time when confirming that the amount of blood required for measurement has been subjected to spot application.例文帳に追加

測定者により血液が試験片に点着されると、測定装置はその点着状態を検知し、血液量が過不足かを判断、測定に必要な血液量が点着されているのを確認すると、測定時間のカウントを開始する。 - 特許庁

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 - 特許庁

To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.例文帳に追加

ＭＰＵと２次キャッシュ用ＤＲＡＭとを１チップ化した半導体記憶装置において、ＤＲＡＭ部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、ＤＲＡＭ部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁

Wheels 17 are attached to a body 15 of a truck for a vehicular collision test collided with a testing vehicle relatively in a prescribed direction and a prescribed speed, with an interposed suspension device 20 provided with a suspension spring and a damper.例文帳に追加

試験車両に対して相対的に所定方向および所定速度にて衝突させる車両衝突試験用台車の車体１５に、サスペンションスプリングおよびダンパーを具備するサスペンション装置２０を介在させて車輪１７を装着した。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming device which detects the concentration distribution of a test pattern with high sensitivity, by using a reflection-type optical sensor of a simple configuration, and corrects an image forming position of a recording head with high precision, and to provide a method of correcting the image forming position.例文帳に追加

簡易な構成の反射型の光学センサを用いてテストパターンの濃度分布を高感度で検出し、記録ヘッドの画像形成位置を高い精度で補正することができる画像形成装置と画像形成位置の補正方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle travel virtual testing system capable of dispensing with an actual traveling test course and a large-scaled testing device, capable of modeling each component before structure is determined, and capable of constructing a vehicle model to verify a vehicle and a travel thereof.例文帳に追加

実走行用のテストコース及び大規模な試験装置の必要がなく、構造が確定される前に各部品をモデル化し車両モデルを構築して車両及びその走行を検証し得る車両走行仮想試験システムを提供する。 - 特許庁

Openings 4 are provided in an upstream side 1A and a downstream side 1B of a valve element 2 in the valve casing 1 respectively, an auxiliary valve 5 opening/closing the opening 4 is attached thereto, and a test piece inserting/removing device 6 is detachably attached to the auxiliary valve 5.例文帳に追加

弁箱１における弁体２の収容位置の上流側１Ａと下流側１Ｂのそれぞれに開口４を設け、これら開口４を開閉する補助弁５を取付け、該補助弁５試験片挿脱装置６を着脱可能に取付ける。 - 特許庁

This environmental test device 100 comprises a case body 12, having a gas-adjusting chamber 25 storing a temperature/humidity-regulating means, and a cover 15, constituting a laboratory 14 for storing a body to be tested 9 adjacent to the gas-adjusting chamber 25.例文帳に追加

環境試験装置１００は、温湿度調整手段が収容された気体調節室２５を有する筐体１２と、気体調節室２５に隣接した被試験体９を収容する試験室１４を構成するカバー１５とを含んでいる。 - 特許庁

This device is provided with: an electric power supply voltage change means provided in the power source part and changing electric power supply voltage; and a control part outputting command to change electric power supply voltage to the electric power supply voltage change means at a time of diagnosis of the test part.例文帳に追加

本装置は、電源部に設けられ、給電電圧を変動させる給電電圧変更手段と、試験部の診断時に、給電電圧を変動させる指令を給電電圧変更手段に出力する制御部と、を備える装置である。 - 特許庁

The driving command value determining rule of the control device is corrected so as to make an actual relationship, which is a relationship between the plurality of the test driving command values and the actual rolling angle corresponding amount, equal to a predetermined standard relationship (S11, S34, S46).例文帳に追加

複数ずつのテスト用駆動指令値と実ローリング角対応量との関係である実関係が、予め設定されている標準関係と等しくなるように、制御装置の駆動指令値決定規則を補正する（Ｓ１１，Ｓ３４，Ｓ４６）。 - 特許庁

Furthermore, the sensing circuit which uses pulse trains having periods corresponding to the differential inductance values, can improve its resolution in a minute differential inductance region, and thereby realizing the position detector with high accuracy, the test device for identifying the defects of the conductive material or the presence or absence, the torque sensor and the like.例文帳に追加

更にインダクタンス差に対応する周期を持つパルス列利用の検出回路は微小インダクタンス差領域で分解能を拡大でき，高精度の位置検出装置，導体の欠陥或いは有無の識別検査装置，トルクセンサ等を実現する。 - 特許庁

To determine whether an insulating film has been formed normally, by measuring the difference of sub-threshold characteristics of test transistors that have two kinds or more of insulating films, in a measurement to guarantee a metal oxide semiconductor capacity film in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置内のＭＯＳ容量膜保証は測定が困難で手間がかったが、２種類以上の絶縁膜をもつテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差を測定し、絶縁膜が正常に形成されたか否かを判定できるようにする。 - 特許庁

When DC test for an analog front end part 2, provided in the semiconductor integrated circuit device, is performed by a tester LT, the measurement result output from the analog circuit via an optional switch of a switching part 10 is inputted to a sample and hold circuit 11.例文帳に追加

テスタＬＴにより、半導体集積回路装置に設けられたアナログフロントエンド部２のＤＣテストが行われると、スイッチ部１０の任意のスイッチを介してアナログ回路から出力される測定結果がサンプル／ホールド回路１１に入力される。 - 特許庁

A measurement point 34 is set beforehand on a printing layer 33 of a gate disk 5 (a cell plate 32) corresponding to a shooting passage 30 to reflect laser beam from a test game ball sensing device 31, and a high reflective color is laid on the measurement point 34.例文帳に追加

試験用遊技球検出装置３１からのレーザー光の反射のために、発射通路３０に対応するゲート盤５（セル板３２）の印刷層３３に測定ポイント３４を予め定め、測定ポイント３４には高反射率色を付すようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having circuit constitution in which stress is not applied to ferroelectric capacitors even if the other element of a memory cell is driven by controlling a signal applied to a word line, plate line, and a bit line at the time of test of stress.例文帳に追加

ストレス試験時に、ワード線、プレート線及びビット線にかかる信号を制御することにより、メモリセルの他の素子を駆動しても、強誘電体キャパシタにはストレスがかからないようにする回路構成を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In a self discharge defect detection device 10 for a secondary battery 1, charging means 2 charges the secondary battery 1 as a test object, and determination means 5 calculates an input capacity of charged current required to reach charge finish current.例文帳に追加

二次電池１の自己放電不良検出装置１０において、充電手段２は、検査対象である二次電池１を充電し、判定手段５は、電流が充電終了電流に到達するまでに要した投入容量を計算する。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting device of chaind and an appearance inspecting method using it, while extracting external defect and surface defect correctly, and detecting faulty defect with a high degree of accuracy and attempting to miniaturize well the dimensions against a test object.例文帳に追加

外形不良及び表面不良を正確に抽出し、欠陥不良を高精度に検出するとともに、被検査物の大きさに対して十分に小型化を図ったチェーンの外観検査装置及びそれを用いた外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a welt fabric cutting device capable of reliably cutting a welt fabric without the need of pressurization by a binder for the cutting of the welt fabric and facilitating maintenance, a sharpness test and the visual confirmation of a cutting processing.例文帳に追加

この発明の目的は、玉布の切断にバインダによる押圧を必要とせず、玉布の切断を確実に行うことが出来ると共に、メンテナンスや切れ味テスト、および切断処理の視認が容易な玉布切断装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an easy-to-manufacture semiconductor device in which high frequency test can be carried out without causing probe damage of an electrode pad, wire bonding and bump bonding are facilitated, and the area of the electrode pad can be reduced, and to provide its measuring method.例文帳に追加

高周波試験が可能で、電極パッドにプローブダメージを与えることがなく、ワイヤボンド接合やバンプ接合を容易にし、製造が容易で、電極パッドの面積の縮小が可能な半導体装置およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of accurately determining the dynamical property of a discontinuous plane in bedrock reflecting the distortion property of underground cavern bedrock deeply existing as well as constant of normal stress (CNL) and constant of normal displacement (CND).例文帳に追加

垂直応力一定（ＣＮＬ）、垂直変位一定（ＣＮＤ）のみならず深部に位置する地下空洞岩盤の変形特性を反映した岩盤不連続面の力学的特性を正しく求めることができる試験装置を提供すること。 - 特許庁

A magnetic disk device 10 inspects the state of a head 19 before storing the system information in a disk 18, and sequentially stores the system information from a head whose state is satisfactory first on the basis of a test write result obtained by inspecting the state of the head.例文帳に追加

磁気ディスク装置１０は、ディスク１８にシステム情報が保存される前に、ヘッド１９の状態を検査し、ヘッドの状態が検査された試験ライト結果から、ヘッドの状態が良好であるヘッドから順次システム情報を保存する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which, during a test operation, a voltage different from that during a normal operation is supplied to an internal power supply line, and in which a normal voltage, such as a precharge potential or the like, is stably supplied while suppressing an increase in chip area to a minimum level.例文帳に追加

テスト動作時において通常動作時とは異なる電圧が内部電源配線に供給される半導体装置において、チップ面積の増大を最小限に抑制しつつ、プリチャージ電位などの通常電圧を安定供給する。 - 特許庁

When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.例文帳に追加

遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁

To provide an image processing method and device capable of realizing highly precise color reproduction even when an observation environment for an input image and the observation environment of psychological evaluation test and an observation environment for an output image are different from each other.例文帳に追加

入力画像に対する観察環境、心理評価実験を行った観察環境、出力画像に対する観察環境が相違する場合であっても、高精度の色再現が可能な画像処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

The communication device 10 determines that a transmission state for the user frame in the ring network is normal in the case that the transmitted test frame is acquired in a predetermined form via a second communication port connected to a transmission path in a second direction of the ring network.例文帳に追加

通信装置１０は、上記送出した試験フレームが、リング網の第２方向の伝送路と接続された第２の通信ポートを介して所定の態様で取得された場合、リング網におけるユーザフレームの伝送状態を正常と判定する。 - 特許庁

This ultrasonic flaw detection device 100 is equipped with a composite probe 13 having an SH wave vibrator 11T for oscillating an SH wave and a contact detection vibrator 12T for oscillating a transversal ultrasonic wave detecting a contact state with the test body 1.例文帳に追加

超音波探傷装置１００は、ＳＨ波を発振するＳＨ波振動子１１Ｔと、試験体１との接触状況を検知する横波の超音波を発振する接触検知振動子１２Ｔとを有する複合探触子１３を備える。 - 特許庁

When the signal 22 is inputted to the uppermost stream I/O device 31 outputting a bus use request signal 21, a try state buffer 303 sends an output from the test part 301 to the processor 1 as a data bus signal 2.例文帳に追加

バス使用要求信号２１を出力した入出力装置のうちの最上流では、バス使用許可信号２２が入力されると、トライステートバッファ３０３が試験部３０１の出力をデータ・バス信号２としてプロセッサ１に送出する。 - 特許庁

To provide a power semiconductor device capable of measuring characteristics of respective semiconductor elements by commonly providing a component and a resin case between modules, and preventing a fault such as a stress or the like in association with an increase in a rated current value and having an easy test and maintenance.例文帳に追加

モジュール間で構成部品や樹脂ケースが共通化され、定格電流値の増大に伴うストレス等の不具合を防止し、各半導体素子個々の特性が測定可能で、テストやメンテナンスが容易な電力用半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a servo signal-testing device which can conduct quality evaluation, analysis, investigation of defects and so on concerning a servo signal more properly and in more detail since it can test a specific location of a servo signal in the direction of the width of a magnetic tape.例文帳に追加

サーボ信号の磁気テープ幅方向の特定の位置を検査することができ、従って、サーボ信号の品質評価や解析、欠陥原因の究明等を、より好適かつ詳細に行うことが可能なサーボ信号検査装置を提供する。 - 特許庁

The test circuit is coupled to the bit lines, the determines selectively the voltage levels appearing on the bit lines based on a measured current level and supplies externally an electrical signal representative of the sensed voltage levels to the ferroelectric memory device.例文帳に追加

該テスト回路はビット線へ結合されており、測定した電流レベルに基づいてビット線上に表われる電圧レベルを選択的に決定し且つ検知した電圧レベルを表わす電気信号を外部的に強誘電体メモリ装置へ供給する。 - 特許庁

To provide a cooling device for an endoscope and an endoscope apparatus capable of safely and stably observing a test object in a high temperature environment by effectively cooling the insertion part of the endoscope apparatus according to an environmental change in temperature.例文帳に追加

温度環境の変化に対応して内視鏡装置の挿入部を効果的に冷却して、高温環境下において安全かつ安定的に被検体を観察することが可能な内視鏡用冷却装置及び内視鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a large intestine endoscopic test practicing device which can maintain an airtight condition between an endoscope insertion part and an intestines model even if the endoscope insertion part which has a dissimilar outside diameter is used.例文帳に追加

本発明は、異なる外径の内視鏡挿入部を用いても、内視鏡挿入部と腸モデル間で気密的状態を保てるようにすることができる大腸内視鏡検査練習装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁