「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(154ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transmitter-receiver for a radio base station device that occurs no HALT state of a CPU (Central Processing Unit) when a personal computer being a high-speed high-end machine on the market is used as tools for an operation confirmation test and maintenance of the transmitter-receiver.例文帳に追加

送受信機の動作確認試験や保守点検用のツールとして、市販の高速ハイエンドマシンのパソコンを使用した場合に、ＣＰＵのＨＡＬＴ状態を生じさせない無線基地局装置の送受信機を提供する。 - 特許庁

In this falling-by-dead-weight type handler by which the device is slid down along an inclined chute to be conveyed to a test head, a tube is embedded in a groove formed in a sliding-down face of the chute, and an inflated tube is pressed to the devices to align the devices.例文帳に追加

傾斜したシュートに沿ってデバイスを滑落させ、テストヘッドへ搬送する自重落下式ハンドラにおいて、シュートの滑落面に形成された溝にチューブを埋設し、膨らませたチューブをデバイスに押し付け、デバイスを整列させる。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁

This vehicle bench test machine 10 comprises an operation panel 12 for inputting vehicle running conditions thereto, an ECU I/F control part 14 for a vehicle model, a storage device 16 for storing a vehicle running model therein, etc., and a dynamometer 22, etc.例文帳に追加

車両台上試験機１０は、車両走行条件を入力する操作盤１２と、車両モデル・ＥＣＵＩ／Ｆ制御部１４と、車両走行モデル等を記憶する記憶装置１６と、動力計２２等を含んで構成される。 - 特許庁

To provide an inexpensive measuring device that guides a plurality of light emissions (light emissions of a light emitting body) in a test space in parallel with a plurality of optical fibers, and measures all light emissions only by arranging fewer light receiving means.例文帳に追加

試験空間内での複数の発光（発光体の発光）を、複数の光ファイバで並行して導いた上で、少ない数の受光手段を配置するのみで全ての発光を測定でき、且つ、低コストで測定装置を提供する。 - 特許庁

The charts 102-108 are arrayed in the arrow B direction on the test print 100, and, when setting up a photograph processing device 10, the coloring densities of the patches P1-P18 on the charts 102-108 are measured respectively by a colorimetric unit 24.例文帳に追加

テストプリント１００にはチャート１０２〜１０８が矢印Ｂ方向に配列され、写真処理装置１０のセットアップの際には測色ユニット２４によってチャート１０２〜１０８のパッチＰ１〜Ｐ１８の発色濃度がそれぞれ測定される。 - 特許庁

To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.例文帳に追加

劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device which inspects the electric properties of an object of inspection such as an semiconductor wafer, is capable of surely carrying out a probe aligning operation after a test head is operated, and inspecting the object of inspection with proper accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハなどの被検査体の電気的特性を検査する検査装置において、テストヘッド操作後における針合わせ作業を確実に行い、適正な精度を維持した検査を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

According to the operation of the image forming device, it is determined at a step 400 whether or not print data for printing the test pattern are inputted, and if the print data are inputted, it is determined at a step 402 whether or not a yellow head 12Y is driven from the print data.例文帳に追加

ステップ４００で、テストパターンを印字するための印字データが入力されたか否かを判断し、印字データが入力されると、ステップ４０２で、印字データに基づいてイエローヘッド１２Ｙが駆動されるか否かを判断する。 - 特許庁

To enable execution of a burn-in test for a wafer formed with a large number of dies by decreasing the number of control signals required for power-source control dies formed on a wafer for smaller device scale.例文帳に追加

ウェーハ上に形成されたダイの電源制御に必要となる制御信号の本数を減らして装置規模を小さくし、多数のダイが形成されたウェーハのバーンイン試験を実施可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Additionally, discharged breath is continuously transferred at a constant rate during test period, by using an exhalation transfer device from an exhalation inlet provided in a size smaller than that of the animal body that is encased in the animal storage container, to be collected into an breath reservoir container.例文帳に追加

また排出された呼気は、動物収納容器に収納された動物の体躯以下に設けた呼気採取口より、呼気移送装置を用いて試験期間中一定速度で継続的に移送させ、呼気貯留容器に捕集する。 - 特許庁

The inspecting device 17 displays respective patterns corresponding to gradations expressed by a high-order bit and the low-order bit of a video signal for a test pattern recorded in an inner memory 17a on the same screen.例文帳に追加

検査装置１７は、内部メモリ１７ａに記録されたテストーパターン用映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する。 - 特許庁

To provide a clock data recovery (CDR) IC that can adjust a jitter transmission band at a DC test for an IC without the need for employing an expensive measurement device such as a pulse pattern generator and a jitter analyzer, and to provide its jitter transmission band adjustment method.例文帳に追加

パルスパターン発生器やジッタアナライザのような高価な測定器を用いず、しかもＩＣのＤＣテスト時でのジッタ伝達帯域調整が可能なＣＤＲ ＩＣおよびそのジッタ伝達帯域調整方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a data transmission device and an input/output interface circuit with a jitter transmission circuit, capable of testing for jitter tolerance in data transmission/reception at the time of a mass production test and of improving a fault detection rate.例文帳に追加

量産試験時にデータ送受信におけるジッタトレランスについて試験することができ、故障検出率の向上を図ることができるデータ送信装置およびジッタ送信回路を備える入出力インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

The disturb-strength matrix can be determined by the device conducting a self-test in which charge-disturb errors are provoked by executing a selected operation until a detectable error occurs.例文帳に追加

障害強度マトリクスは、デバイスがセルフテストを実行し、その中では、検出可能なエラーが発生するまで選択された動作を実行することによって、測定された障害誘発エラーを起こすようにすることによっても決定できる。 - 特許庁

For quantitative evaluation of electronic watermark, electronic images based on various attack conditions are read from the test result DB 17 and listed on an output device with the original image so as to allow the operator to visually recognize the degree of deteriorated image quality.例文帳に追加

電子透かしの定性的な評価を行うときは、試験結果ＤＢ１７から各種攻撃条件に基づく電子画像を読み出して原画像と共に出力装置に一覧表示し、画質の劣化程度を視認可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which assures write operation to all cells under the condition that the number of control pins does not increase during the wafer burn-in test operation and can also prevent defective read operation by an equalizing signal during the readout operation.例文帳に追加

ウェハバーンインテスト時、制御ピンの数が増加しない状態で全てのセルに対した書込み動作が可能で、かつ読出し動作時に等化信号による読出し動作の失敗を防止しうる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

This tester is characterized by being equipped with a separation part for separating a measured signal outputted by the device under test into two or more and the plurality of time measuring parts for performing time measurement on signals into which the signal is separated by the separation part.例文帳に追加

本装置は、被試験対象が出力する被測定信号を複数に分離する分離部と、この分離部が分離した信号の時間測定を行う複数の時間測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The device 10 is equipped with an operation oblique surface 24 arranged on a test carriage 13 and capable of moving the sensor 11 from a first position for detecting existence of the rope 12 to a second position for detecting absence of the rope 12.例文帳に追加

試験用キャリッジ１３上に配置され、ロープ１２の存在を検出する第１の位置からロープ１２の不在を検出する第２の位置までセンサ１１を移動させることができる作動斜面２４を装置１０が備える。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.例文帳に追加

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a pusher for an automatic handler capable of applying pressure uniformly even to a device under test on which two or more kinds of semiconductor chips different in thickness are mounted, and capable of controlling its load and surface temperature precisely.例文帳に追加

厚さが相違する複数種類の半導体チップが搭載された被測定デバイスに対しても、均一に圧力を印加することができ、またその荷重や表面温度を正確に制御可能なオートハンドラにおけるプッシャを提供する。 - 特許庁

To provide a simulating function capable of quickly coping with, for example, a case where a failed apparatus exists, in an actual device operation confirming test of a control program for sequentially operating the divices like a fully automated plant control program.例文帳に追加

全自動化されたプラント制御プログラムのようにシーケンシャルに機器を動作させていく制御プログラムの実機動作確認試験において、動作できない機器がある場合などに迅速に対応できるシミュレーション機能を提供する。 - 特許庁

To attain high testing efficiency by downsizing and simplifying a test apparatus in additionally installing field apparatuses such as signal lights in a railroad station yard on a signal maintenance system which controls the field apparatuses with an electronic interlock device.例文帳に追加

鉄道の駅構内における信号機等の現場機器の制御を電子連動装置を用いて行う信号保安システムに現場機器を増設して試験する際、試験装置を小型化、簡略化して、試験効率を向上を図る。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

To provide a means capable of measuring the error rate of even a test object device that receives packets through a plurality of respective transmission paths and can output a multiplexed packet group obtained by multiplexing the received packets through a single transmission path.例文帳に追加

複数の伝送路のそれぞれを介してパケットを入力しこれらを多重化した多重化パケット群を単一の伝送路を介して出力可能な試験対象装置に対しても誤り率測定可能な手段を提供すること。 - 特許庁

Disclosed is an endless belt for an electrophotographic device which is made of a conductivity imparting material containing resin composition containing a ≤0.5% by mass of a residual solvent, and has a ratio (a) of 0.4 to 2.5, expressed by an equation mentioned below, of surface resistivities before and after a test of acceleration.例文帳に追加

残留溶媒が０．５質量％以下の導電性付与材含有樹脂組成物からなり、加速試験前後における下式で表される表面抵抗率の比ａが０．４〜２．５である電子写真装置用の無端ベルト。 - 特許庁

A semiconductor memory device of a bank switching system is provided with a pass/fail determination circuit provided for each adjacent plurality of memory cell array banks so that pass/fail determination of a multi- bit test is performed for each adjacent plurality of memory cell array.例文帳に追加

バンク切替え方式の半導体記憶装置において、隣接する複数のメモリセルアレイバンク毎にマルチビットテストのパス／フェイル判定を行うように、隣接する複数の前記メモリセルアレイバンク毎に設けたパス／フェイル判定回路を備える。 - 特許庁

In this damage testing device, a tire support shaft 2 is mounted in the orthogonal direction on a support frame 1 erected vertically, and the test tire W is mounted detachably in parallel with the support frame 1 on the tire support shaft 2.例文帳に追加

損傷試験装置は、鉛直向きに立設された支持フレーム１に、タイヤ支持軸２が直交向きに取付けられ、このタイヤ支持軸２には前記支持フレーム１と平行に試験タイヤＷが着脱可能に取付けられている。 - 特許庁

The device for measuring the glucose level in a living tissue includes electrodes which are brought into contact with a test specimen and a voltage control oscillator (31) as a signal source for generating an AC voltage within a predetermined frequency range.例文帳に追加

生きている組織内のグルコースレベルを測定するための装置は、検体に接触される電極と、所定の周波数範囲内でＡＣ電圧を生成するための信号源としての電圧制御発振器（３１）を有する。 - 特許庁

Moreover, an automatic test device EQP performs automatic tests to evaluate respective communication qualities in voice communication, unrestricted digital communication and packet communication having different transmission forms based on the monitor control by the monitor controller.例文帳に追加

また、自動試験装置ＥＱＰが、監視制御装置の監視制御に基づいて、複数の伝送形態である音声通信、非制限デジタル通信、パケット通信におけるそれぞれの通信品質を評価するための自動試験を実行する。 - 特許庁

To provide a device and a method for appropriately evaluating a battery by piling up an all solid battery manufactured by piling up battery members and test pieces of the battery members on the same substrate.例文帳に追加

本発明は、電池部材の堆積によって製造する全固体電池およびその電池部材の試片を同一基板上に堆積することにより、電池を適切に評価する装置と評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The test and measurement device receives the processed signals from the microprocessor, processes the received signal and data and/or information encoded therein, and performs predetermined response processing thereto.例文帳に追加

検査計測装置は処理された信号をマイクロプロセッサから受信し、受信した信号およびその信号に符号化されているデータおよび／もしくは情報を処理し、その処理結果に応じて予め定められた応答処理を実行する。 - 特許庁

To realize a device and method for reconstituting software for an IC test system for reconstituting the whole software automatically based on a program corrected by an operator, and a storing medium.例文帳に追加

本発明の課題は、作業者によって修正されたプログラムを元にして、自動的にソフトウェア全体を再構成するＩＣテストシステム用のソフトウェア再構成装置、ソフトウェア再構成方法、及び記憶媒体を実現することである。 - 特許庁

The changeover device 107 selectively outputs the input data signal when the continuity confirmation circuit 106 detects the input data signal or the test signal when the circuit 106 detects no input data signal from its output terminal.例文帳に追加

この切替え器１０７は、導通確認回路１０６によって入力データ信号が検出された場合は入力データ信号を、入力データ信号が検出されない場合はテスト信号を、出力端から選択的に出力する。 - 特許庁

This semiconductor memory device includes a CPU core circuit, a bus connected to the CPU core circuit, and a memory BIST circuit for performing a memory test according to a command supplied through the bus from the CPU core circuit.例文帳に追加

半導体記憶装置は、ＣＰＵコア回路と、ＣＰＵコア回路に接続されるバスと、ＣＰＵコア回路からバスを介して供給される命令に応じてメモリ試験を実行するメモリＢＩＳＴ回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a fluidity testing device for sediment and a fluidity test method for sediment capable of performing fluidity evaluation suitable for pump pressure feeding, evaluating quantitatively fluidity of the sediment, and readily predicting and evaluating ground supporting force.例文帳に追加

ポンプ圧送に適した流動性評価が可能であり、土砂の流動性を定量的に評価でき、地盤支持力を簡易的に予測評価できる土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an operation method of a circulating fluidized bed combustion device capable of coping with new single-fuel combustion and mixed fuel combustion of various fuels only by implementing a test on typical conditions, and remarkably reducing labor hour and costs.例文帳に追加

代表的な条件についてのみ試験を実施するだけで新規の多種燃料の専焼或いは混焼に対応でき、手間とコストを大幅に削減し得る循環流動層燃焼装置の運転方法を提供する。 - 特許庁

An aptitude diagnostic server 10 acquires the cookie of the terminal 40 from the personal information management device 20 at accepting an aptitude diagnostic request from the terminal 40, and acquires a rule for deciding a diagnostic test from the rule management server 30.例文帳に追加

適性診断サーバ１０は、端末４０から適性診断の要求を受け付けると、端末４０のクッキーを個人情報管理装置２０から取得し、また、診断テストを決定するためのルールをルール管理サーバ３０から取得する。 - 特許庁

To provide a door handle testing device that tests a door handle by cutting out only a portion surrounding the door handle from a vehicle door and applying the same acceleration as used in a crash test to see whether a handle part of the door handle rotates in an opening direction.例文帳に追加

自動車のドアからドアハンドル付近のみを切り出して衝突試験と同じ加速度を与え、ドアハンドルのハンドル部分が開き出し方向に回動するか否かを試験するようにしたドアハンドル試験装置を提供する。 - 特許庁

When power is turned on, the measuring device checks the test piece, executes decision of propriety of measurement and switching of parameters for the measurement method, indicates a blood dotted sampling enable state, and notifies a measuring person of enabling of a blood inspection.例文帳に追加

電源が入ると、測定装置は試験片をチェックし、測定可否の判断、測定方法のパラメータ切替を実施し、その後血液点着可能状態であることを表示し、測定者に血液検査が可能になった事を知らしめる。 - 特許庁

To provide a transfer system capable of reducing the oscillation generated in the transfer system by providing a reaction force transmission member that transmits reaction force generated by the movement of a movable member to a base, and an array test device including the transfer system.例文帳に追加

可動部材の移動によって発生する反力をベースに伝達する反力伝達部材を備えることで、移送システムに発生する振動を低減し得る、移送システム及びそれを備えたアレイテスト装置を提供しようとする。 - 特許庁

To provide a method and device for estimating the life of a resin lining layer that can quantitatively judge even the fine defect of a resin lining layer, and has the advantage of a percussion test method that can be executed nondestructively and easily.例文帳に追加

樹脂ライニング層の微細な欠陥に対しても定量的な判別が可能で、非破壊かつ簡易に実施できるという打診テスト法の利点を備えた樹脂ライニング層の寿命予測法と寿命予測装置とを提供する。 - 特許庁

To provide a high voltage inspection device which can control a discharge gap length by a mechanical motion according to the presence of a chip to be measured in LSI test, thereby making it possible to avoid an electric discharge between contact probes more surely than ever.例文帳に追加

ＬＳＩ試験において測定対象のチップの有無に応じて、機械的な動作で放電ギャップ長を制御して、コンタクトプローブ間の放電をより確実に回避することができる高電圧検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a differential pressure type micro-leak detection method and a device capable of filling gas in a short time without generating the temperature difference between a test vessel and a reference vessel, and executing leak detection by the differential pressure in a short time.例文帳に追加

試験容器と基準容器の間に温度差を生じさせることなく、短時間にガスを充填し、差圧によるリーク検出を短時間で行うことができる差圧式微少リーク検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an aircraft device module in which heaters, a thermistor, and a strain gauge, are included in the module, in order to fit a specific test and flying condition, by the design, but not adding later, and to provided its manufacturing method.例文帳に追加

特定の試験及び飛行条件に適合するように、後で追加するのではなくて、設計によってヒータ、サーミスタ及び歪み計がモジュール内に含められる、航空機装置モジュール、及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁