「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(150ページ目) - Weblio英語例文検索

As a waveform strain generation circuit 31A is installed in the semiconductor device 30A, low-cost semiconductor test devices 10X and 10Y without the waveform strain generation function can be used.例文帳に追加

また、半導体装置３０Ａには波形ひずみ発生回路３１Ａが内蔵されているため、半導体試験装置１０Ｘ，１０Ｙとして、波形ひずみ発生機能のない安価な半導体試験装置を用いることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device capable of reducing the number of strobe signals between a TG (Timing Generator) and a DC(Digital Comparator) by integrating and supplying an edge strobe signal and a multiwindow strobe signal of the TG.例文帳に追加

ＴＧ側においてエッジストローブ信号とマルチウィンドウストローブ信号とを１本に統合して供給することでＴＧとＤＣ間におけるストローブ信号の本数を低減可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.例文帳に追加

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an odor measurement method and its device capable of giving a measurement result close to a sensory test result with high reproducibility even in measurement of a gas high in water content and volatile component content such as halitosis.例文帳に追加

口臭等、水分と揮発性成分の含有量が多い気体であっても、高い再現性でもって官能試験結果に近い測定結果を与えることのできるにおい測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide the constitution of a semiconductor storage device which automatically detects a defective memory cell through a self-test and can store the defect address corresponding to the defective memory cell without using a fuse circuit.例文帳に追加

セルフテストによって欠陥メモリセルの検出を自動的に行なうとともに、欠陥メモリセルに対応する不良アドレスをヒューズ回路を用いることなく記憶することが可能な半導体記憶装置の構成を提供する。 - 特許庁

To provide a heating and cooling device for a semiconductor element test handler capable of surely adjusting a desired temperature condition of high temperature and low temperature, of a semiconductor element with a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成をもって半導体素子を高温及び低温の所望する温度状態に正確に調節することのできる半導体素子テストハンドラの半導体素子加熱及び冷却装置を提供する。 - 特許庁

To provide a logic simulation device for semiconductor integrated circuit capable of performing a simulation with a high verification ratio by facilitating the preparation of test patterns rich in variation and facilitating the confirmation of a logic simulation result.例文帳に追加

バリエーションに富むテストパターン作成を容易化するとともに、論理シミュレーション結果の確認をも容易化して、検証率の高いシミュレーションを行うことが可能な半導体集積回路の論理シミュレーション装置を得る。 - 特許庁

To provide a Newton's ring observation device for a lens element adapted to easily observe formation precision and surface states of fitting surfaces and flange surfaces of the lens element making good use of Newton's rings without damaging the test surfaces.例文帳に追加

レンズ素子の嵌合面およびフランジ面の形成精度、表面状態を、被検面を傷付けることなく、ニュートン縞を利用して簡便に観察できるようにしたレンズ素子のニュートン縞観察装置を得る。 - 特許庁

The data transfer control device includes a pattern generator 52 for generating a test pattern of a compliant pattern, a scrambler 54 for performing scrambling, and a data scrambler 56 for scrambling and outputting transmission data.例文帳に追加

データ転送制御装置は、コンプライアントパターンのテストパターンを発生するパターンジェネレータ５２と、スクランブル処理を行うスクランブラ５４と、送信データに対してスクランブル処理を行って出力するデータスクランブラ５６を含む。 - 特許庁

To provide a defective pixel address storage device of an image sensor capable of directly storing a pixel address of a defective sensor cell detected through a test of a wafer level at the time of manufacturing an image sensor chip without an EEPROM, and the method.例文帳に追加

イメージセンサチップ製作の際、ウェハレベルのテストを介して検出された不良センサセルの画素アドレスをＥＥＰＲＯＭなしに直接記憶可能なイメージセンサの不良画素アドレス記憶装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement device capable of using the same probe card and a performance board, in an electrical characteristics test of an individual chip and a semiconductor chip in a wafer state, which relates to a semiconductor inspection apparatus of a wafer-level CSP.例文帳に追加

ウエハーレベルＣＳＰの半導体検査装置に関して、個片チップとウエハー状態の半導体チップの電気的特性試験において、同一のプローブカードとパフォーマンスボードが使用できる測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an excellent high-voltage test device contributing to a reduction of size of a building of a laboratory by shortening an insulation distance and increasing a measurement sensitivity by suppressing the occurrence of aerial partial electric discharge.例文帳に追加

絶縁距離の短縮化して試験場の建屋のコンパクト化に寄与すると共に、気中部分放電の発生を抑えることにより測定感度が向上する優れた高電圧試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection device applicable to flaw detection of a part covered with a covering body by a simple means, and capable of inspecting the distance in a fixed length direction from one point of a test body with a stable performance.例文帳に追加

簡易な手段により、被覆体で覆われた部分の探傷検査に適用でき、試験体の一点から一定の長さ方向の距離を安定した性能で検査可能な超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical element holding device which allows light irradiation test to be easily performed by accurately and surely holding even an optical element whose area being available as a margin to hold and being non-light-transmissive is small, in a prescribed position.例文帳に追加

保持代として利用できる光を透過させない領域が少ない光学素子でも所定位置に正確且つ確実に保持して光照射試験を容易に実施可能とする光学素子保持装置を提供する。 - 特許庁

To enable to inspect flaw easily, even in the case of a test object to which close installation of a flaw detection device is difficult and whose surface is changed greatly from a mirror finished surface to a diffusing surface.例文帳に追加

疵検査装置を、検査対象に近接設置が困難な検査対象であって、かつ検査対象の表面が、鏡面から拡散面まで大幅に変化するような場合であっても、容易に疵検査を可能とする。 - 特許庁

In the case of outputting an analogue signal to an under test device 16, a fixed level signal H is inputted to a driver 36 by a first switch 38, and by a second switch 40 an analogue wave 32 is made reference signal Vih of the driver 36.例文帳に追加

アナログ信号を被検査デバイス16へ出力する場合は、第１のスイッチ38により固定レベル信号Ｈをドライバ36に入力し、第２のスイッチ40により上述のアナログ波形32をドライバ36のリファレンス信号Vihとする。 - 特許庁

To provide a portable biological information collecting device in which a change in memory function can be caught by permitting a recognition function test to be regularly conducted in everyday life and which can be mounted on the human body.例文帳に追加

日常生活において定期的に認知機能テストを実施可能にすることで、記憶機能の変動を捕らえることを可能にした人体に装着可能な携帯型生体情報収集装置を提供する。 - 特許庁

To avoid a functional processing executing operation instruction for every individual device by executing the same functional processing, such as updating of firmware or the like and test printing, in a plurality of devices selected on a network.例文帳に追加

ネットワークで選択された複数のデバイスに対してファームウエア等の更新や、テストプリント等の同一の機能処理を実行させて、個々のデバイス毎に対する機能処理実行操作指示を回避することである。 - 特許庁

The stator coil insulation test device 1 detects a layer short-circuit which is a short-circuit of the winding in a stator coil 24 of a stator 22 in the combined state between the stator 22 of a motor 21 as a specimen and a rotor 23.例文帳に追加

ステータコイル絶縁試験装置１は、試験品であるモータ２１のステータ２２とロータ２３とが組み合わされた状態でステータ２２のステータコイル２４における巻線の短絡であるレアショートを検出する。 - 特許庁

To provide a block failure detecting method and a burn-in testing device therefor in a burn-in test capable of reducing mistakes in determining block failure and operator burdens, and of shortening a retest time.例文帳に追加

ブロック不良の誤判定の削減、オペレータの負担の削減および再試験時間の短縮を可能とするバーンイン試験におけるブロック不良検出方法およびそのためのバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁

The continuity test device comprises a contact pin 11 to be brought into contact with the wiring circuit 71 of a printed board 7, a tight contact spring 13 connected to a lead wire 14, and a compression spring 12 arranged between the contact pin 11 and the tight contact spring 13 to press both of them outward.例文帳に追加

プリント基板７の配線回路７１に当接させるコンタクトピン１１と，リードワイヤー１４と接続した密着バネ１３と，両者間に配設して両者を外方に押圧する圧縮バネ１２とを有する。 - 特許庁

To provide a method of forming a semiconductor device, a concentration evaluation method, and a concentration evaluation apparatus which can measure an effective concentration profile of the measurement surface of a test piece, wherein the measurement surface and the backside have not parallel surfaces.例文帳に追加

測定面と裏面とが平行な面を持たない試料の測定面の実効濃度プロファイルを測定することができる半導体素子の形成方法、濃度評価方法、および濃度評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of easily controlling vibration by applying vibration to a specimen based on a pseudo random wave part of a driving vibration signal only when the wave form is taken in.例文帳に追加

本発明は、波形を取り込む時だけ駆動振動信号の疑似ランダム波部分に基づいて試験体に振動を与え、振動の制御が容易な振動試験制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection program generation device that expands a function to perform boundary test on a program including calculating an address of a memory to be accessed by optional integer calculation.例文帳に追加

メモリアクセス先のアドレスを任意の整数演算により算出する処理を含むプログラムに対しても境界検査を実施することができるように機能を拡張することができる検査用プログラム生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an estimated distribution goodness-of-fit test device that can accurately determine whether or not a plurality of types of measured data have a significant difference, even for measured data insufficient for distribution estimation.例文帳に追加

データ数が少なく分布が推定できない測定データであっても、複数種類の測定データに有意な差があるか否かを精度よく判定することができる推定分布適合度検定装置を提供する。 - 特許庁

This semiconductor test device 1 is used for executing conduction inspection of an element 5 by carrying current to probe needles 213 in a state where the probe needles 213 executing the electric measurement of the element 5 formed on a wafer 51 are brought into contact with the element 5.例文帳に追加

ウェーハ５１に形成された素子５の電気測定を行うプローブ針２１３を素子５に接触させた状態で、針２１３に通電して素子５の導通検査を実施する半導体試験装置１である。 - 特許庁

To provide a device and a method for circuit board inspection of the circuit board for the liquid crystal display which is small in loss from disposal of its member even if the circuit board is determined not acceptable from the results of a continuity test.例文帳に追加

導通検査の結果、回路基板が不良と判定された場合であっても、部材廃棄による損失が少ない液晶表示装置の回路基板検査装置、及び回路基板検査方法を提供する。 - 特許庁

In the final inspection of the printed circuit board, a test set reads a serial number from the printed circuit board and stores the actual serial number of the printed circuit board to a storage device placed on the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板の最終検査で、テストセットは、プリント回路基板からシリアル番号を読み出した後に、プリント回路基板の実際のシリアル番号をプリント回路基板上に設けた記憶装置に挿入する。 - 特許庁

To provide a diagnostic method dispensing with reloading a test pattern after diagnosis, and capable of shortening the time required from the finish of the diagnosis to the start of mass production, and to provide a semiconductor testing device that uses the same.例文帳に追加

診断後に試験パターンを再ロードする必要がなく、診断終了から量産開始までにかかる時間を短縮することが可能な診断方法及びこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To obtain an adhesive composition for connection in a circuit manifesting a high adhesive strength, excellent in storage stability at room temperature to 50°C, manifesting enough performance after a reliability test, and to provide a connected body and a semiconductor device.例文帳に追加

高い接着強度を示し、室温〜５０℃での貯蔵安定性に優れ、かつ信頼性試験後も十分な性能を有する回路接続用接着剤組成物、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a suspension/resumption managing method and device, which conduct a test for continuously repeating a suspension processing/ resumption function by the number of suspension/resumption processing trial times.例文帳に追加

本発明は、サスペンド／レジューム処理試行回数分だけ連続的にサスペンド処理／レジューム機能を繰り返す試験を実施するサスペンド／レジューム管理方法およびサスペンド／レジューム管理装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a voice synthesizing device, a voice synthesizing system, a voice synthesizing method and a storage medium for allowing a user to hear text data with a large voice according to the significance even when a plurality of test data are simultaneously vocalized.例文帳に追加

複数のテキストデータが同時に発声された場合でも、重要度に応じて大きな音声で聞くことができるようにした音声合成装置、音声合成システム、音声合成方法及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

A testing equipment e7 for semiconductor device, which performs a burn-in test of a wafer 401 that is not divided into chip size pieces yet, has a configuration including a circuit board 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retainer plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３、フィルム３０５、位置決め板３０７、押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

A voting operation analyzing device 2 receives the test voting operation time data of each terminal device from the ground stations, decides nontransmission time ts estimated to be needed until all of the terminal devices complete voting operation when real voting is performed on the basis of the data and sets the nontransmission time ts in the ground stations.例文帳に追加

そして投票動作解析装置２が地上局から各端末装置のテスト投票動作時間データを受け取り、これに基づいて、本番投票時に全端末装置が投票操作を完了するまでに要すると見込まれる無送信時間tsを決定し、地上局に設定する。 - 特許庁

To provide a line test system using a packet, and a switching device in which a line can be tested regardless of an active/inactive status without having a MAC address unique to each device.例文帳に追加

本発明はパケットを用いた回線試験システムに関し、装置毎に固有のＭＡＣアドレスを持たせることなく、また、運用中／非運用中にかかわらず回線試験を行なうことができるパケットを用いた回線試験システム及びスイッチング値装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

This leakage display device 1 consisting of a leakage display button 4 and a spring 5 is fit and guide-supported in the vertical direction between an electromagnetic device 7 for activating the switching mechanism when electric leakage occurs and a microswitch 8 for opening and closing a earth leakage test circuit linking with opening and closing of the switching mechanism.例文帳に追加

漏電発生時に開閉機構を作動させるための電磁石装置７と、開閉機構の開閉に連動して漏電テスト回路を開閉するためのマイクロスイッチ８との間に漏電表示ボタン４とバネ５から成る漏電表示装置１を嵌めて上下方向に案内支持する。 - 特許庁

A device for the immunochromatography provided with protrusions 8 in at least two portions in the first case member a is used in this device of the present invention for the immunochromatography with the first case member a for covering an upper face of a test strip, and the second case member b for covering an under face thereof therebetween.例文帳に追加

テストストリップの上面を覆う第一ケース部材ａと下面を覆う第二ケース部材ｂをその間に挟みこんだ免疫クロマトグラフィー用デバイスであって、該第一ケース部材ａに少なくとも２箇所の凸部８を設けてなる免疫クロマトグラフィー用デバイスを使用する。 - 特許庁

The means 3a executes a test about the electric characteristic and other characteristics of a subscriber line between the network terminating device specified by the means 3a and itself when the means 3b detects that the network terminating device is not in the middle of communication.例文帳に追加

試験手段３ｃは、通信中検出手段３ｂによって通信中でないことが検出された場合には、対象特定手段３ａによって特定された網終端装置との間の加入者線の電気的特性その他の特性についての試験を実行する。 - 特許庁

A comparison circuit 12 compares waiting time T3 from a system test start time until the transfer of linkdown information with sufficient long time T2 set by a timer 2 to thereby determine the existence/absence of a failure in the entire system, especially between the opposite side device and a terminal device.例文帳に追加

比較回路１２でシステムの試験開始時よりＬＩＮＫＤＯＷＮ情報の転送が行われるまでの待ち時間Ｔ３と、タイマ２で設定した十分長い時間Ｔ２を比較判定することで、システム全体で特に対向側装置と端末装置間にて障害の有無を判断できる。 - 特許庁

A detector 2b is connected to a serial power connector 24 of an energy storage device 22 disposed in the container to detect a condition change of a test signal derived from the serially connected energy storage device and existence of failure on an insulation layer 27.例文帳に追加

容器内に配置されたエネルギー蓄積装置２２の直列電力接続体２４に対して検出器２ｂが連結され、直列接続エネルギー蓄積装置から導出された試験信号の状態変化を検出し、絶縁層２７における破損箇所の存在を検出する。 - 特許庁

To make a crack hard to occur in solder balls arranged at four corners below a semiconductor substrate even if a temperature cycle test is conducted in a mounting method of a semiconductor device for mounting the semiconductor device having a plurality of the solder balls arranged in a matrix shape below the semiconductor substrate on a circuit board.例文帳に追加

半導体基板下にマトリクス状に配置された複数の半田ボールを有する半導体装置を回路基板上に実装する半導体装置の実装方法において、温度サイクル試験を行なっても、半導体基板下の４隅に配置された半田ボールにクラックが発生しにくいようにする。 - 特許庁

To provide a visual examination device of a film, which successively performs reflection and transmission tests by one device, automatically performs an alteration of testing attitude and a change over of a light source, and automatically protrudes a black screen to an underlay part of the reflection test for optimizing the examination environment.例文帳に追加

一台の装置で反射及び透過検査を順次行うことができ、しかも検査姿勢の変更及び光源切換えを自動的に行うと共に、さらに反射検査の下敷き部に黒色スクリーンを自動的に張り出して、検査環境を最適にできるフィルム目視検査装置を提供する。 - 特許庁

Since the pendulum 10 is supported by the lifting lever part 27 when the pendulum 10 is lifted, sudden free fall of the pendulum 10 is prevented, and since the rotation device 20 can be miniaturized and constituted integrally, the whole dummy inspection test device 1 can be miniaturized.例文帳に追加

ペンデュラム１０の持上げ時にはペンデュラム１０が持上げレバー部２７に支えられているため、ペンデュラム１０が不意に自由落下してしまうことを防ぎ、更に回動装置２０を小型・一体構成にすることができるので、ダミー検定試験装置１の全体の小型化を図ることができる。 - 特許庁

To provide a method and a device for calibrating a torque measuring device in order to fulfill a high requirement of precision in a test bench environment, to thereby execute a calibration process extremely simply, flexibly and accurately, and to satisfy a requirement to safety simultaneously.例文帳に追加

テストベンチ環境における正確性に対する高い要求を満たすために、トルク計測装置の較正を行うための方法および装置を提供し、これによって較正過程を極めて簡単、柔軟かつ正確に実施し、そして同時に安全への要求も満足することができるようすること。 - 特許庁

By setting the pseudo control information for executing test drive of drive devices 3A and 3B in this failure diagnosis device 6 and by delivering the information to on-vehicle electronic control devices 2A and 2B through a CAN bus 4, the failure diagnosis device determines a vehicular control condition.例文帳に追加

故障診断装置６内において駆動装置３Ａ，３Ｂのテスト駆動を行なうための疑似制御情報を設定し、この情報をＣＡＮバス４を介して車載電子制御装置２Ａ，２Ｂに送出することにより、故障診断装置は車両制御状態を判断する。 - 特許庁