「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(148ページ目) - Weblio英語例文検索

The interface apparatus according to this invention is characterized in that it is equipped with an interface device comprising multiple pins connected to a test terminal and a substrate terminal, and it has a mode-switch terminal for switching the connection destination of an inner loopback.例文帳に追加

本発明のインターフェース装置は、試験端子及び基板端子に接続された複数のピンを有するインターフェースデバイスを備え、内部ループバックの接続先を切り替えるモード切替端子を有することを特徴とする。 - 特許庁

An inspection objective system 2, in which an interface circuit of an IEEE1394 specification is mounted, is connected to an emulator 10 included in the inspection device 1, and inspection processing is started when a test program on the system 2 side is started.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格のインターフェース回路を搭載した検査対象のシステム２と、検査装置１に含まれるエミュレータ１０とを接続して、システム２側のテストプログラムの起動により検査処理が開始される。 - 特許庁

To allow omission of a series of processing such as transmission of writing/reading operation with respect to a fail memory in the case where a semiconductor device to be measured is tested, of which a high speed test for a flash memory, etc. is unnecessary.例文帳に追加

フラッシュメモリなどのように高速の試験を行う必要のない被測定半導体デバイスを試験する場合におけるフェイルメモリへの書込み・読出転送という一連の処理を省略できるようにする。 - 特許庁

To provide a test method capable of generally verifying the abnormality detection of a device to be tested, signal retransmission, a processing to a high order protocol and the operation of the high order protocol when the signal of a low order protocol is abnormal.例文帳に追加

下位プロトコルの信号が異常な時に被試験装置の異常検出、信号再送、上位プロトコルへの処理と上位プロトコルの動作とについて総合的に検証可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

To provide an improved cold thermal shock test device allowing a plurality of researchers to perform cold thermal shock tests of a plurality of kinds of objects for testing mixed in a testing chamber without causing confusion.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置を改良するものであり、複数の研究者が１つの試験室に複数種類の被試験物を混在させて冷熱衝撃試験をする場合の混乱を解消することを目的とする。 - 特許庁

To provide a fundus image corrected in the change of size of a taken image by the refraction abnormality of a test eye without complicating the device structure so that the comparison of the fundus image can be quantitatively performed on the basis of the same standard.例文帳に追加

装置構成を複雑にすることなく、被検眼の屈折異常による撮影画像の大きさの変化が補正された眼底画像が得られ、定量的に同一基準で眼底画像の比較ができる。 - 特許庁

To provide a replacement judging circuit which can perform high speed replacement judgement, a semiconductor memory and a semiconductor memory test device incorporating this circuit.例文帳に追加

半導体メモリ試験を行う際に大容量の不良解析メモリを必要とせず、高速な置換判定を行うことのできる置換判定回路およびこれを搭載した半導体メモリおよび半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a circuit 102 to be tested having a scan chain composed of a flip-flop; and a mode control circuit 103 for switching from the normal operation of the scan chain to the shift mode of the scan test at arbitrary clock timing.例文帳に追加

フリップフロップにより構成されたスキャンチェーンを有するテスト対象回路１０２と、任意のクロックタイミングでスキャンチェーンのノーマル動作からスキャンテストのシフトモードに切り替えるモード制御回路１０３とを備えている。 - 特許庁

To provide a material testing machine allowing optimum detail display in response to a processing item from a graph displaying a test result, even without sufficient knowledge about the testing machine and without skill in an operation for a device.例文帳に追加

試験機に関する知識が乏しくとも、また、装置の操作に習熟していなくても、試験結果を表すグラフから処理項目に応じた最適な詳細表示を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

The two-layer separating temperature measuring device is, as well as the measuring technique thereof, presented which includes a test tube consisting of a single crystal sapphire tube containing samples such as lube oil and refrigerant and a controlling means for the sample temperature concerned.例文帳に追加

潤滑油及び冷媒を含む試料を収容する単結晶サファイア管からなる試験管及び該試料温度の制御手段を有する二層分離温度測定装置及びその測定方法である。 - 特許庁

A semiconductor device tester e7 which can perform burn-in test of a wafer 401 not yet diced into chip size comprises a circuit substrate 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retaining plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３，フィルム３０５，位置決め板３０７，押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

To provide a transforming device or the like, which transforms a test vector set so as to reduce differences of logical values occurring before and after scan capture about outputs of a scan cell contained in a full-scan sequence circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようにテストベクトル集合の変換を行う変換装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a biochemical measuring device capable of dispensing with a reference plate, simplifying an operation, simplifying retention of a test piece, thinning a retention mechanism, and being assembled simply and inexpensively.例文帳に追加

標準板を不要とすること、操作を簡単にすること、試験片の保持を簡単にし且つ保持機構を薄くすること、組立を簡単で安価にすることを実現する生化学測定装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which suppresses and reduces an increase in the delay of a test signal interconnected along a chip periphery and the deterioration of a waveform dullness, can adjust the delay, and is suitable for applying to ASIC, etc.例文帳に追加

チップ周辺に沿って配線されるテスト信号の遅延の増大、波形鈍りの劣化を抑止低減し、遅延調整を可能とし、ＡＳＩＣ等に適用して好適な半導体集積回路装置の提供。 - 特許庁

A measuring object is hung upward, mainly at the most apex part of a drop test platform, by a grasping device and a piezoelectric sensing platform is installed separately downward, while a CCD camera is installed outside the piezoelectric sensing platform.例文帳に追加

主に落下試験プラットフォームの最頂点において挟持装置により被測定物を上方に吊下げ、下方には別に圧電感知プラットフォームを設置し、かつ該圧電感知プラットフォーム外にはＣＣＤカメラを設置する。 - 特許庁

To provide a probe card, its manufacturing method, a wafer prober, and a manufacturing method of a semiconductor device, for achieving stable measurement and probe test by reducing the effect of noise while meeting the miniaturization of a terminal electrode to be measured.例文帳に追加

被測定端子電極の微細化に対応しつつ、ノイズの影響を低減し安定した測定、プローブ試験を達成するプローブカード及びその製造方法、ウェハプローバ、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, METHOD OF MEASURING DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION, ELECTROOPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器 - 特許庁

To provide a channel data transmission method by which quick data transmission is possible, to provide a controller using the method, to provide a control object device, to provide a control system with the same, and to provide a charge/discharge test system.例文帳に追加

迅速なデータ伝送が可能なチャンネルデータ伝送方法とその方法を用いた制御装置、及び制御対象装置とそれらを備える制御システム、及び充放電試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent measurement errors and prevent generating failures in an optical communication device, by regularly monitoring the level of a disturbance light in a communication light, or the like, for transmitting an optical fiber line to be tested during optical pulse test.例文帳に追加

光パルス試験の最中に、試験対象の光ファイバ線路を伝送する通信光等の外乱光のレベル監視を定常的に行い、測定誤りを防ぎ、光通信器の故障させないようにする。 - 特許庁

A temperature measuring device for test of an electronic component rotatably mounts a lever body 26 through a hinge 25 on the lower face of a support plate 23 in the casing so that the edge of the lever body may hang on the battery 5 on the board 1 inserted in the casing 21.例文帳に追加

筐体内の支持板２３の下面に蝶番２５を介して杆体２６を回動自在に取り付け、杆体の先端が、筐体２１に差し込んだ基板１上の電池５の上に垂れ下がるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.例文帳に追加

半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To accurately test a check circuit of a network device so as to specify a check circuit having abnormality and to perform operation confirmation upon burst traffic of the check circuit.例文帳に追加

ネットワーク装置のチェック回路の試験を正確に行なうことを目的とし、異常があるチェック回路を特定できるようにすること及びチェック回路のバーストトラフィックに対する動作確認を実行できるようにする。 - 特許庁

An exchange requesting means 8 of a tester 106A outputs a semiconductor device exchange signal 14 to a handler 104A after a test performing means 128 acquires a signal from a CCD 108A and before it processes the signal.例文帳に追加

テスター１０６Ａの交換要求手段８は、試験実行手段１２８がＣＣＤ１０８Ａから信号を取得した後、信号処理を行う前に半導体装置交換信号１４をハンドラー１０４Ａに出力する。 - 特許庁

To provide the nonvolatile semiconductor storage device which can test through single measurement whether or not the thresholds of all memory cells are in a proper range after all the memory cells are set in a written or erased state.例文帳に追加

全メモリセルを書き込みまたは消去の状態に設定した後、全メモリセルの閾値が適正な範囲にあるかどうかを１回の測定で高速にテストすることのできる不揮発性半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

The controlling device 2 calculates the abnormal tension reference value based on the maximum value of the warp tension on the test operation of a new fabric, which is output from a load cell 19 during the operation.例文帳に追加

制御装置２は試し運転中にロードセル１９から出力される新しい織物の試し運転時経糸張力の最大値を基に経糸の異常張力基準値を算出し、記憶部に設定する。 - 特許庁

In the bit level test, a rough time stamp about transition in the signal is measured (122), and the measured rough stamp time is compared with an expected time stamp to determine whether the device satisfys a specification or not (124).例文帳に追加

ビット・レベル試験は、信号における遷移に関する粗タイムスタンプを測定し（１２２）、測定された粗タイムスタンプを期待タイムスタンプと比較してデバイスが仕様を満足するか否かを判定する（１２４）ことを含む。 - 特許庁

A control device 50 controls the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 to control charging and discharging for the plurality of test pieces 31 to 33 by the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23.例文帳に追加

制御装置５０は、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３を制御して、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３による複数の試料３１〜３３に対する充放電を制御する。 - 特許庁

To provide a survival voltage discharge method and a survival voltage discharge device of fuel cell which facilitate handling of a fuel cell stack from power generation test to mounting on a vehicle and can extend a lifetime of the cell.例文帳に追加

燃料電池スタックの発電試験後から車両へ搭載するまでの期間における取り扱いを容易なものとすると共に電池寿命を延ばすことのできる燃料電池の残電圧放電方法を提供する。 - 特許庁

To obtain the result of evaluation of the water fogging with excellent accuracy by a bench test in a water fogging evaluating device to evaluate the water fogging generated in a lamp chamber of a lamp for a vehicle having a vent in a lamp body.例文帳に追加

ランプボディに通気孔が形成された車両用灯具の灯室内に発生する水曇りを評価する水曇り評価装置において、精度の良い水曇り評価結果をベンチテストで得られるようにする。 - 特許庁

The test device 1 is capable of regulating amount of mist to be sprayed from the spray nozzle 10 or the mixed ratio of the liquid and gas in the mist by regulating the opening rate of the flow rate regulation valves 16 and 17.例文帳に追加

また、試験装置１は、流量調整弁１６，１７の開度を調整することにより、噴霧ノズル１０から噴霧されるミストの量や、ミストに含まれる液体と気体との混合比率を調整することができる。 - 特許庁

A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.例文帳に追加

ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁

To provide a means for determining whether the stress as prescribed is exerted or not at the disturbance test for a semiconductor storage device, at a low cost and without increasing the area of a chip.例文帳に追加

半導体記憶装置に対するディスターブ試験の際に規定した通りのストレスが印加されたか否かを判定するための手段を、チップ面積を増大させることなく且つ低コストに設けられるようにする。 - 特許庁

To provide an environment creation supporting device for detecting the lack of necessary data and preparing input data for a model test based on the results of the detection.例文帳に追加

必要なデータの不足を検出して、検出結果に基づいてモデル検査を実施するための入力データを作成する環境生成支援装置、環境生成支援方法、環境生成支援プログラムを提供する。 - 特許庁

The setting value to which the offset quantity is added is set in a register 16, and a signal generation device 11 generates the test signals T1-Tn and a strobe signal ST at the timing according to the set content of the register 16.例文帳に追加

オフセット量が加算された設定値はレジスタ１６に設定され、信号発生装置１１はレジスタ１６の設定内容に応じたタイミングで試験信号Ｔ１〜Ｔｎ及びとストローブ信号ＳＴを発生する。 - 特許庁

To enable to prevent effectively leakage of microwave from the opening for thermocouple insertion in a microwave-heating device, in which the temperature can be measured by inserting a thermocouple from the outside into the test piece inside the heating chamber.例文帳に追加

加熱室内の試料へ外部から熱電対を挿入して温度測定できるマイクロ波加熱装置において、熱電対挿入用の開口からのマイクロ波漏洩を有効に防止できるものを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a structure capable of easily confirming whether a probe trace reaches a bonding region in the case of a probing test without increasing the size of a semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子のサイズを大きくすることなく、プロービング試験の際にボンディング領域に針跡が到達していないかどうかを容易に確認することができる構造を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a self-diagnostic device for a semiconductor which allows its user side to prepare for a test mode, allows its LSI to automatically operate under load at actual operation level and perform self diagnosis after power on, and outputs the result.例文帳に追加

ユーザ側でテストモードを用意し、電源投入後は自動的にＬＳＩが実動作レベルの負荷で動作して自己診断を行い、その結果を出力することができる半導体自己診断装置を提供する。 - 特許庁

This invention is especially an automated behavioral analysis method for licking in a formalin test and the device for the purpose, the laboratory animal is a rat and the regional points are defined as two points such as the mouth and legs.例文帳に追加

本願発明は、より特に、ホルマリン試験におけるリッキングのための自動化された行動解析法及びそのための装置であり、前記実動物はラットであり、そして前記部位点は口と足の２点である。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition for sealing an LED providing a resin in which crack formation by a thermal cycle test is reduced and which has excellent light resistance, and to provide the LED device sealed by the composition.例文帳に追加

冷熱サイクルによるクラックの発生が改良され、耐光性に優れた樹脂を与えることができるＬＥＤ封止材用エポキシ樹脂組成物、及びその組成物で封止されたＬＥＤ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microphotographic device capable of photographing each test object without restrictions of photographing intervals, etc. when implementing a multipoint time-lapse photography for a plurality of photographing ranges, and a control method thereof.例文帳に追加

複数の撮影範囲に対して多点タイムラプス撮影を行なう際、撮影間隔時間等に制限される事なく、各々の被検物の撮影を行なえる顕微鏡写真装置および制御方法を提供すること。 - 特許庁

This lens shape measuring device 1 calculates inclination with respect to the X-axis and the Y-axis of the test lens 20 placed on a placing part 3 by using a characteristic of the shape of the other surface having the aspherical shape.例文帳に追加

レンズ形状測定装置１は、載置部３に載置されている被検レンズ２０のＸ軸、およびＹ軸に対する傾きを、非球面形状である他方の面の形状の特徴を用いて算出する。 - 特許庁

A determining means 140 inputs the output signal of the semiconductor device 500 to be tested, performs a determination by use of a part of the test pattern and a determining timing signal and outputs the determination result to the outside.例文帳に追加

判定手段１４０は、被試験対象の半導体デバイス５００の出力信号を入力し、テストパターンの一部と判定用タイミング信号を用いて判定を行ない、判定結果を外部に出力する。 - 特許庁

To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.例文帳に追加

側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁

To provide an address control circuit in which expansion of the circuit scale is prevented and the circuit delay time is less when an IC memory operated at a high speed is tested in a semiconductor test device.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体試験装置において、高速に動作するメモリＩＣの検査を行う際に、回路規模の拡大を防ぎ、回路遅延時間の少ないアドレス制御回路を提供することである。 - 特許庁