「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(147ページ目) - Weblio英語例文検索

In this trace circuit 1 to output trace data of a CPU, a FIFO memory 20 as a memory for output adjustment to adjust timing of output of the trace data and a developing device 11 to convert access data of the CPU into bit width for one word of the FIFO memory and to generate the bit pattern data for test to be used for the test of the FIFO memory are provided.例文帳に追加

ＣＰＵのトレースデータを出力するトレース回路１において、トレースデータの出力のタイミングを調整する出力調整用メモリであるＦＩＦＯメモリ２０と、ＣＰＵのアクセスデータをＦＩＦＯメモリの１ワード分のビット幅に変換し、ＦＩＦＯメモリの試験に用いる試験用ビットパターンデータを生成する展開器１１とを有する。 - 特許庁

In this deterioration testing device 100, which is a device for performing the deterioration test of a specimen by generating deterioration by irradiating a liquid crystal panel (specimen) 15 with laser light outputted from a laser device 10, an optical correction element 26 for uniformizing illuminance of the laser light is provided between the laser device 10 for outputting the laser light and the liquid crystal panel 15.例文帳に追加

本発明に係る劣化試験装置１００は、レーザ装置１０から出力されたレーザ光を液晶パネル（被検物）１５に照射して劣化を生じさせ、当該被検物の劣化試験を行う装置であり、レーザ光を出力するレーザ装置１０と前記液晶パネル１５との間に、前記レーザ光の照度を均一化する光学補正素子２６が設けられている。 - 特許庁

The operational test apparatus for USB interface comprises: a connection means for connecting a host device USB interface circuit 106 and a peripheral device USB interface circuit 107 each other; a CPU 100 for performing communication between the host device USB interface circuit 106 and the peripheral device USB interface circuit 107; and an operation panel 109 for displaying whether the communication via the CPU 100 has succeeded or not.例文帳に追加

ホスト装置側ＵＳＢインターフェース回路１０６と周辺装置側ＵＳＢインターフェース回路１０７とを相互に接続する接続手段と、前記ホスト装置側ＵＳＢインターフェースと前記周辺装置側ＵＳＢインターフェースとの間で通信を実行するＣＰＵ１００と、ＣＰＵ１００における通信結果の正否を表示する操作パネル１０９とを有する。 - 特許庁

A method of testing an integrated circuit device includes a step of applying a magnetic field to the integrated circuit device during application of one or more of test signals wherein the applied magnetic field induces magnetostriction effect in one or more materials including the integrated circuit device and a step of determining the existence of inconvenience caused by the applied magnetic field in the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路デバイスを試験するための方法は、１つ以上の試験信号の印加中に前記集積回路デバイスに印加磁界を与えるステップであって、印加磁界が集積回路デバイスを含む１つ以上の材料において磁気ひずみ効果を誘発する、ステップと、集積回路デバイス内において印加磁界に起因する不具合の存在を判定するステップと、を含む。 - 特許庁

To provide a measuring device and a measuring method having high measuring accuracy, easy to operate and having a low load to a test piece, in measuring sheet resistance of a conductive layer formed on a polymer sheet film.例文帳に追加

高分子シート膜上に形成された導電層のシート抵抗を測定するに際し、測定精度が高く操作が容易で試験片に対する負荷の小さな測定装置および測定方法を提供することにある。 - 特許庁

The tape library test device extracts an inter-cell interval that requires longer medium conveyance time than medium conveyance time required by the other inter-cell intervals on the basis of the measured medium conveyance time for each inter-cell interval, as a singular point.例文帳に追加

そして、テープライブラリ試験装置は、計測した各セル間の媒体搬送時間から、他のセル間が要した媒体移送時間より長い媒体搬送時間を要したセル間を特異点として抽出する。 - 特許庁

Since the configuration of discriminating the propriety taking the tolerable error into account is provided in inside the semiconductor device is this way, the propriety discrimination processing conventionally complicated can be simplified and the test time and the cost can be reduced.例文帳に追加

このように、許容誤差を考慮した良否判定を行う構成を装置内部に備えたことにより、従来複雑だった良否判定処理を簡素化し、テスト時間及びコストを低減することができる。 - 特許庁

To improve image quality and to eliminate the need of preliminary collision prevention test stage before a high-speed acquiring stage in the volume measurement reconstruction of a patient's body for collision prevention such as C-arm X-ray device.例文帳に追加

ＣアームＸ線装置等の衝突防止のための患者の身体マップの容積測定再構成において、画質を改善すると共に、高速取得段階の前の予備的な衝突防止試験段階を不要にする。 - 特許庁

This test device to accelerate the deterioration of an electrophotographic photoreceptor 1 is provided with a sensor 2 to detect the diameter of the photoreceptor 1, and a mechanism (not shown in figure) to vary a distance between the photoreceptor 1 and a corona electrifier 14.例文帳に追加

電子写真方式の感光体１の劣化を加速させる試験装置で、感光体１の径を検知するセンサ２と、感光体１とコロナ帯電器１４の距離を変動させる機構（図示せず）とを設ける。 - 特許庁

The terminal device 20 has a display controller 22a which displays a shmoo plot about at least two of shmoo data sets obtained by the test apparatus main unit 10, on the display section 26 in their superimposed state.例文帳に追加

端末装置２０は、試験装置本体１０で得られたシュムデータのうちの少なくとも２つのシュムデータについてのシュムプロットを、重ね合わせた状態で表示部２６に表示する表示制御部２２ａを備える。 - 特許庁

To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁

Since the operation device 3 is erected to be held to an inclined state at the time of operation, operation can be easily carried out and a load value or the like is displayed and the filling-up of visual data can be achieved and test operation is made accurate and easy.例文帳に追加

また、操作に際しては起立させ、傾斜保持させるので、操作は容易に行なえるとともに荷重値等が表示され、視覚情報の充実化が図られ、試験操作を正確、容易ならしめる。 - 特許庁

A semiconductor memory device 100A is provided with memory cell arrays 10A, 10B, a data bus 40, a reference voltage generating circuit 72, a voltage drop circuit 73, a VPP generating circuit 76, a circuit group 77, and a test circuit 80.例文帳に追加

半導体記憶装置１００Ａは、メモリセルアレイ１０Ａ，１０Ｂと、データバス４０と、基準電圧発生回路７２と、電圧降圧回路７３と、ＶＰＰ発生回路７６と、回路群７７と、テスト回路８０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

Consequently in a state before the sheet-like member 11 is pasted on the device body, the test signal terminal 16 is exposed outside via a through-hole, thereby testing signal characteristics using the terminal 16.例文帳に追加

従って、シート状部材１１が装置本体に貼られる前の状態であれば、試験用信号端子１６が、透孔を介して外部に露出しており、その端子１６を使った信号特性の試験が可能になる。 - 特許庁

To realize a wafer collective reliability evaluation device and evaluation method capable of performing a reliability evaluation test with respect to the wafer collectively in a short period of evaluation time and under broad-ranging and precise temperature conditions.例文帳に追加

評価時間が短く、幅広い且つ正確な温度条件においてウエハ一括で信頼性評価試験を行うことができるウエハ一括信頼性評価装置及び評価方法を実現できるようにする。 - 特許庁

The element wiring forming apparatus 50 forms fuse elements 11a-11f in a pattern according to the results of memory cell test on the semiconductor device, and forms elements or wiring in a region above a region where the fuse elements are formed.例文帳に追加

素子配線形成装置５０は、メモリセルテストの結果に応じたパタンのヒューズ素子１１ａ〜１１ｆを半導体装置上に形成し、ヒューズ素子が形成された領域の上方の領域に素子又は配線を形成する。 - 特許庁

To provide test- and manufacturing method and a device for a magnichanical sensor when an object having a snap ring for holding a bearing is manufactured in order for the sensor to accurately operate when it detects the presence of the snap ring.例文帳に追加

ベアリングを把持するスナップリングを有する物体を製造する際においてスナップリングの存在を検出するときに正確に動作するように、マグニカニカルセンサを試験及び製造する方法並びに装置を提供する。 - 特許庁

To measure resistance of samples fluctuating at high speed through vibration tests and impact test and the like, by devising wiring structure for a fraction of sample resistance to a Wheatstone bridge of a dynamic strain measuring device.例文帳に追加

動歪測定器のホイーストンブリッジに対する試料抵抗分の配線構造を工夫することで、振動試験や衝撃試験等により高速で変動する試料の抵抗値を高精度に測定可能とする。 - 特許庁

The network evaluation device 1 confirms communication states of the test object apparatuses 6, 8, 10, 12, 14, and 16 and the communication state between the simulated server 2 and simulated client 4 before and after the generation and after the recovery of the failure.例文帳に追加

ネットワーク評価装置１は、障害の発生前後、及び復旧後における、試験対象機器６，８，１０，１２，１４，１６の通信状態、模擬サーバ２及び模擬クライアント４間の通信状態を確認する。 - 特許庁

The optical disk is provided with a track for test for finding out an optimal power for annealing both the sides of a recording and reproducing track with a light beam and a track for ID for recording and reproducing the identification number of an anneal device.例文帳に追加

光ディスクは、録再トラックの両側を光ビームでアニールするための最適パワーを見つけ出すためのテスト用トラックと、アニール装置の識別番号を記録再生するためのＩＤ用トラックを備えている。 - 特許庁

To provide an evaluation method and a device therefor capable of performing a response evaluation of electrical inertia simultaneously with a vehicle test performed by loading a vehicle on a roller.例文帳に追加

電気慣性部を有するシャシーダイナモメータシステムにおいて、電気慣性データを評価する場合、シャシーダイナモメータ単体での電気慣性性能のみの評価表示であって、車両搭載による性能評価は行われてない。 - 特許庁

To provide a test item extraction device by which one can easily generate minimum necessary and sufficient testing items based on use environments and operational conditions even if one has poor experience in developing object software or a system.例文帳に追加

対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。 - 特許庁

Plural pads 4 formed integrally with a wiring 3 are formed in a main face of a socket substrate mounted on a socket of a burn-in test device, and plural protrusions 5 are provided on a surface of each pad 4.例文帳に追加

バーンイン試験装置のソケットに装着されたソケット基板の主面には、配線３と一体に形成され複数個のパッド４が形成され、それぞれのパッド４の表面には、複数個の突起５が設けられている。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

A socket section of a test board depending on the type of a BGA package of the semiconductor device is constituted so that the socket body section is common in various kinds of packages and only the socket cover section depends on each BGA package.例文帳に追加

半導体デバイスのＢＧＡパッケージの、種類毎に相違するテストボードのソケット部分を、ソケット本体部分は各種のパッケージに共通とし、ソケットカバー部分のみを異なるＢＧＡパッケージ毎に装備するように構成する。 - 特許庁

The IC tag reading device is constituted so that the information of the IC tag 4 can be read in a batch by moving an article (test tube 1) with the IC tag 4 attached, relative to reader/writer antennas 3A and 3B.例文帳に追加

ＩＣタグ４を付した物品（試験管１）をリーダライタアンテナ３Ａ，３Ｂに対して相対的に移動させることにより、ＩＣタグ４の情報を一括で読み取るようにＩＣタグ読取装置を構成する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric ceramic, which reduces the curvature of a test piece and an electric field induced distortion difference between its both surfaces and is formed of non-lead piezoelectric polycrystals, and to provide its manufacturing method and a piezoelectric/electrostrictive device containing the piezoelectric ceramic.例文帳に追加

試料の湾曲、試料両面の電界誘起歪の差を改善する、非鉛圧電多結晶体によって構成された圧電セラミックス、その製造方法、その圧電セラミックスを含む圧電／電歪素子を提供する。 - 特許庁

To provide a viscoelasticity measuring device and a test method of a visco-elastic body capable of evaluating a characteristic of the visco-elastic body in the state where both of static deformation and dynamic deformation are inputted simultaneously.例文帳に追加

静的変形と動的変形の両方が同時に入力される状態で粘弾性体の特性を評価することができる粘弾性測定装置および粘弾性体の試験方法を提供する。 - 特許庁

A test method of the nonvolatile semiconductor memory device has a (A) step for performing erasion of the memory cell with a FN system, and a (B) step for performing rewriting of the memory cell with the FN system after the (A) step.例文帳に追加

本発明に係る不揮発性半導体記憶装置のテスト方法は、（Ａ）ＦＮ方式でメモリセルの消去を行うステップと、（Ｂ）上記（Ａ）ステップの後、ＦＮ方式でメモリセルの書き戻しを行うステップとを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which generation of noise caused by current concentration is avoided by deviating activation start timing of a plurality of banks, reliability in a parallel test is improved and increase in the circuit area is prevented.例文帳に追加

複数バンクの活性化開始タイミングをずらすことで電流集中によるノイズの発生を回避し、パラレルテストの信頼性を向上し、回路面積の増大を回避する装置の半導体記憶提供。 - 特許庁

To provide a new method and a device for reducing the complicity and hardware of an IC tester and simultaneously reducing test circuit overhead in an integrated circuit without sacrificing DFT and BIST functions.例文帳に追加

ＩＣテスタの複雑性及びハードウエアを低減すると同時に集積回路中の試験回路オーバーヘッドをＤＦＴ及びＢＩＳＴ機能を犠牲にすることなく低減する為の新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection device for detecting flaws present under a surface of a conductivity test object material such as a steel material quickly and accurately by decreasing time loss occurring at electric scanning.例文帳に追加

電気的走査に際して生じる時間ロスを低減し、高速且つ正確に鋼材など導電性被検査材の表面皮下に存在する欠陥を検査することが可能な渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elastic wave propagation velocity measuring and operating method of a solid capable of acquiring a highly-reliable and highly-accurate test result easily and rationally, and a nondestructive compressive strength testing device using the method.例文帳に追加

容易且つ合理的に信頼性と精度の高い試験結果を得ることができる固体の弾性波伝播速度測定演算方法及び該方法を用いた非破壊圧縮強度試験装置を提供する。 - 特許庁

The optical disk test device is also equipped with a laser power measuring circuit 43 and a pulse width measuring circuit 44 which measure light intensity and pulse width of the laser beam outgoing from the laser light source 21 and output to a controller 50.例文帳に追加

また、光ディスク検査装置は、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を測定してコントローラ５０に出力するレーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４を備える。 - 特許庁

A request origin hospital 1 is provided with: a photographing device such as a fundus camera 2; and a requesting doctor terminal 3 for recording a photographed image and test information and patient information or the like and making a request to another diagnostician.例文帳に追加

依頼元病院１では、眼底カメラ２の撮影装置等と、撮影した画像と共に検査情報、患者情報等を記録して他の診断医に依頼を行うための依頼医用端末３を有している。 - 特許庁

A cleaning liquid supplied from the liquid supply device is ejected from a WJ outlet through the WJ soft tube, and a first WJ route and a second WJ route of the WJ hard tube and cleans the interior of a test object.例文帳に追加

送液装置から送られた洗浄液は、ＷＪ軟質チューブ、ＷＪ硬質チューブの第１ＷＪ路、第２ＷＪ路を通ってＷＪ出口から噴射され、被検体内部が洗浄される。 - 特許庁

To provide a test socket capable of flexibly coping with a positional shift in mounting of a flexible wiring board, and capable of accurately positioning a solid-state imaging device, which is loaded with the flexible wiring board, over the whole thereof.例文帳に追加

フレキシブル配線基板の搭載ずれに柔軟に対応可能であり、フレキシブル配線基板が搭載された固体撮像装置全体としての位置決めを正確に行うことができるテストソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for initializing using a test mode the output of a level adjustment circuit erroneously set up when the power supply is turned on, and adjusting the output of the level adjustment circuit at a high speed to a regular setting value that is a target level.例文帳に追加

電源投入時において誤って設定されたレベル調整回路の出力を、テストモードを用いて初期化し、目標レベルである正規の設定値へと高速に調整する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for computing a line characteristic which can determine the line characteristic so that setting of a ground fault relay can be performed highly accurately and exactly, without performing an artificial ground fault test.例文帳に追加

人工地絡試験を行うことなく高精度かつ的確に地絡継電器の整定が行えるように線路特性を求めることができる線路特性演算装置および線路特性演算方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe driving device which prevents an overload from being applied to a probe and a transmission shaft when the probe is caught in a test object tube, and an internal flaw detector including the same.例文帳に追加

検査対象管内でプローブが引っ掛かったときにプローブや伝達軸に過負荷が加わることを防止するプローブ駆動装置及びこの装置を備えた内挿型探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A plurality of semiconductor device test regions 11a are arranged at a peripheral edge of an effective semiconductor wafer region 1a, and each of the region is formed to partly protrude out of the effective semiconductor wafer region 1a.例文帳に追加

半導体装置テスト用領域１１ａは、有効半導体ウエハ領域１ａの周縁部に数箇所設けられ、それぞれ、その一部が有効半導体ウエハ領域１ａの外部に食み出すように形成される。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁

To properly maintain receiving-side signal quality, even when an external terminal for test is provided at a signal-receiving side in a stacked semiconductor device capable of selectively utilizing a plurality of through-electrodes.例文帳に追加

複数の貫通電極を選択的に利用可能な積層型の半導体装置において、信号の受信側にテスト用の外部端子を設けるときにも、受信側における信号品質を良好に維持する。 - 特許庁

To provide a fuel production method and a device, requiring no preliminary test for determining hydrothermal reaction conditions and capable of dealing with the change of properties of the organic sludge added to the hydrothermal treatment.例文帳に追加

水熱反応条件を決定するための予備試験が不要であり、且つ、水熱処理に投入される有機性汚泥の性状が変動した際にも対応することのできる燃料製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁