「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(145ページ目) - Weblio英語例文検索

When roll paper 220 for issuing detailed slip is set, a detailed slip issuing device prints a test pattern TP on roll paper 220 by a print head 218, and decides the suitability of print by a mark detecting sensor 212.例文帳に追加

明細票発行装置は、明細書発行用のロール紙２２０がセットされると、印字ヘッド２１８によって、ロール紙２２０にテストパターンＴＰを印刷し、マーク検知センサ２１２で印字の適否を判定する。 - 特許庁

The test device 1 can prevent drop in accuracy of the calculation result of the water balance in the fuel cell caused by the liquefaction of moisture contained in the gas exhausted from the fuel cell.例文帳に追加

従って、試験装置１は、燃料電池から排出されるガス中に含まれている水分の液化を原因として燃料電池における水収支の算出結果の精度が低下するのを防止できる。 - 特許庁

To provide a scan test circuit device and a flip-flop group initialization method inside an integrated circuit capable of reducing wiring by simplifying a constitution for initialization reset and by heightening operation speed.例文帳に追加

初期化リセットのための構成を簡単にし、動作速度を上げて、配線を少なくすることができるスキャンテスト回路装置および集積回路内部のフリップフロップ群初期化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having heightened reliability of a test result by testing many semiconductor devices loaded on a burn-in board without wrong determination.例文帳に追加

バーンインボード上に搭載される多数の半導体装置に対する試験を誤判定を生じることなく実施できるようにして、試験結果の信頼性を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To certainly verify soundness of a logic integrated circuit for confirmation in short time by comprehensively performing verification and a soundness confirmation test to all functions of a safety protection measuring device of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護計測装置の全機能に対し総合的に検証および健全性確認試験を行うことにより、試験対象の論理集積回路の健全性を短時間で確実に検証する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device with a bonding wire joined, with high strength by wire bonding, to an electrode pad with a probe trace generated during wafer test, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

ウェハテスト時に生じたプローブ痕を有する電極パッドに対してワイヤボンディングの接合が十分な強度で接合されたボンディングワイヤを備えた半導体装置、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which can easily measure dopant density near a semiconductor wafer surface without needing to manufacture a standard substance for every device every test piece like SIMS.例文帳に追加

ＳＩＭＳのように被測定試料ごとに標準試料を作製する必要もなく、半導体ウェーハの表面近傍のドーパント濃度を簡便に測定することができるようにした方法を提供する。 - 特許庁

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

To provide a BGA type semiconductor device which has strong resistivity to a heat cycle test without softening a signal layer, and restricts a popcorn phenomenon, and a both-face wiring type TAB tape used therefore.例文帳に追加

信号層の軟化がなく、ヒートサイクル試験に対して強い耐性を有し、ポプコーン現象を抑えたＢＧＡ型半導体装置とこれに使用される両面配線型ＴＡＢテープを提供する。 - 特許庁

To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.例文帳に追加

本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

The wafer surface inspection method/device measures the surface roughness, using a TEG (Test Element Group) existing in a scribe area on the wafer, in the measurable area.例文帳に追加

また、前記測定可能な領域に、ウェハ上のスクライブ領域に存在するＴＥＧ（Ｔｅｓｔ Ｅｌｅｍｅｎｔ Ｇｒｏｕｐ；テストエレメントグループ）を用いて、表面粗さを測定する方法及び装置である。 - 特許庁

An inspection control system 100 performs a test on a plurality of semiconductor devices which are manufactured under a predetermined same condition, in order for every one part of the semiconductor devices and controls the inspection to each semiconductor device.例文帳に追加

検査制御システム１００は、所定の同一条件下で製造された複数の半導体装置について、一部の半導体装置ずつ順にテストを行い、各半導体装置への検査を制御する。 - 特許庁

This test tray storing an inspection object device and conveyed to the inspection position by a handler has pockets positioned and installed to the tray body, and alignment marks added to the tray body.例文帳に追加

検査対象デバイスが格納され、ハンドラによって検査位置へ搬送されるテストトレイにおいて、トレイ本体に対して位置決めされて取り付けられたポケットと、トレイ本体に付加されたアライメントマークとを有する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit testing device suitable for testing an electronic circuit for conducting inter-substrate communication by inductive coupling, and capable of testing the electronic circuit without using a pad for a test.例文帳に追加

誘導性結合によって基板間通信を行う電子回路を試験するのに好適で、テスト用のパッドを使わなくても電子回路を試験することができる電子回路試験装置を提供すること。 - 特許庁

A semiconductor device comprises: a multilayer wiring layer (not shown); and a bonding pad 200 that is formed on the top layer of the multilayer wiring layer and includes a bonding region P1 and a test probe contact region P2.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、多層配線層（図示せず）と、多層配線層の最上層に形成され、ボンディング領域Ｐ１と試験用プローブ接触領域Ｐ２とを含むボンディングパッド２００を有する。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of achieving probe inspection even to a chip having a narrow-pitched test pad, by using a prober having a probe formed by a manufacturing technology of a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバを用い、テストパッドが狭ピッチ化したチップに対してもプローブ検査が実現できる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer capable of implementing simultaneously burn-in test for plurality of IC chips formed on the semiconductor wafer, and to provide a producing method of semiconductor device using the semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハに形成された複数のＩＣチップ１に対して、同時に、通電試験を行うことができる半導体ウエハおよびその半導体ウエハを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The electron beam test system analyzes faulty or breakdown caused by a process defect by irradiating an electron beam to a semiconductor integrated circuit device to be analyzed and obtaining a potential contrast.例文帳に追加

被解析対象物である半導体集積回路装置に電子ビームを照射して電位コントラストを取得することにより、プロセス欠陥に起因する不良又は故障を解析する電子ビームテストシステムである。 - 特許庁

The semiconductor storage device capable of confirming the program state of an enable fuse and an address fuse by constituting a logic circuit for masking enable fuse program information by a 2nd test mode signal.例文帳に追加

第２のテストモード信号により、イネーブルヒューズのプログラム情報を遮断する論理回路を構成することで、イネーブルヒューズ及びアドレスヒューズのプログラム状態を確認できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The layouts for DUT (device under test) formed on a semiconductor wafer for wafer tests include a first array DUT102, and a first pad set 104 formed adjacent to the first array.例文帳に追加

ウェハ・テスト用の半導体ウェハ上に形成されるＤＵＴ（被試験デバイス）用のレイアウトは、第１のアレイのＤＵＴ(102)と、その第１のアレイに隣接して形成された第１のパッド・セット(104)とを含んでいる。 - 特許庁

To realize an output buffer circuit capable of driving an output pad with a optimum driving force in normal operation mode and test operation mode in a semiconductor device for system in package.例文帳に追加

システムインパッケージ用の半導体装置において通常動作モード時およびテスト動作モード時において最適な駆動力で、出力パッドを駆動することのできる出力バッファ回路を実現する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device capable of suppressing waveform distortion or a noise, even when power of an optical pulse entering an optical fiber is fluctuated, and performing a test with high accuracy.例文帳に追加

光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit device 1 is provided with a plurality of macro circuits 10 arranged on a chip and a plurality of decoders 20 for supplying test enable signals TEN to a plurality of macro circuits 10.例文帳に追加

半導体集積回路装置１は、チップ上に配置された複数のマクロ回路１０と、その複数のマクロ回路１０にテストイネーブル信号ＴＥＮを供給するための複数のデコーダ２０とを備える。 - 特許庁

The ability evaluation device acquires a plurality of intermediate products produced in a process wherein the test subject creates the final product in prescribed timing, and stores time at the time of acquiring each intermediate product.例文帳に追加

被験者が最終成果物を作成する過程で生成された複数の中間成果物を所定のタイミングで取得し、各々の該中間成果物を取得する時点の時刻を記憶しておく。 - 特許庁

To provide a level device for a light reception part of a headlight tester to solve a problem in work execution, and, at the same time, to easily secure the same level with respect to a vehicle under test.例文帳に追加

施工上の問題点を解消できる反面、被試験車両に対して同等の水準を容易に確保することができるヘッドライトテスタの受光部用水準装置を提供すること。 - 特許庁

A magnet rotor 15 used as a test body is connected to the tip of a rotating shaft 3 and is arranged inside a magnetic field device 13, to thereby form a pseudo-motor 16, having a similar constitution to a finished product.例文帳に追加

回転軸３の先端に試験体となる永久磁石型ロータ１５を連結し、界磁装置１３の内側に配置することで、完成品と同様の構成を有する擬似モータ１６を形成する。 - 特許庁

The automatic wire connection device for electric instrument 100 performs the performance test of an electric instrument 50 including current terminals 52a to 52d and voltage terminals 53a to 53c protruded outward from a box 51.例文帳に追加

電気計器用自動結線装置１００は、ボックス５１外方へ突出する電流端子５２ａ〜５２ｄと電圧端子５３ａ〜５３ｃとを有する電気計器５０の性能試験を行なうものである。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring chromatic dispersion, with which chromatic dispersion of a device under test that is an optical component can be precisely measured with a simple apparatus structure.例文帳に追加

簡単な装置構成により、光学部品である被対象物の波長分散を高い精度で測定することができる波長分散測定装置及び波長分散測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that is capable of executing, at high frequencies, a disturb test which requires a long time for testing, when a burn-in tester which can supply only clocks with low frequencies is used.例文帳に追加

低周波数のクロックしか供給できないバーンインテスタを用いた場合であっても、テストに長時間を要するディスターブテストを、高周波数で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁

To provide a testing pad arrangement on a semiconductor chip of a semiconductor device, which reduces a packaging area of a probe used in test by DFT in the field of LSI circuits, flush memories and the like.例文帳に追加

ＬＳＩ回路やフラッシュメモリ等の分野におけるＤＦＴによるテストに用いるプローブの実装面積を小さくすることが可能な半導体装置における半導体チップ上のテスト用パッド配置を得る。 - 特許庁

This pressure-proof test device 10 provided with a vessel 12 filled with a liquid 11 for immersing the high-pressure gas container 1 is arranged on a production line in a downstream of a process for filling the filling- objective gas into the high-pressure gas container.例文帳に追加

高圧ガス容器(1)を浸漬させる液体(11)が満たされた槽(12)を備える耐圧試験装置(10)を、高圧ガス容器に充填対象ガスを充填させる工程の後の製造ライン上に配置する。 - 特許庁

To provide an epoxy resin molded material for sealing and electronic part device in which the characteristic evaluated by a bias test or the like under an elevated temperature and humidity is improved and thereby the operating life is elongated and which is excellent in moistureproof reliability.例文帳に追加

高温高湿下でのバイアステスト等で評価される特性が向上して長寿命になり、耐湿信頼性に優れた封止用エポキシ樹脂成形材料及び電子部品装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for inspecting a mist concentration detector, capable of increasing the accuracy of the detector and reliability of detection, while readily keeping the mist concentration constant in a test vessel.例文帳に追加

テスト容器内のミスト濃度を容易に一定に保つことができ、ミスト濃度検出装置の精度および検出の信頼性を高めることができるミスト濃度検出装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.例文帳に追加

ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁

To provide a device, method, and program for transmitting a program including test questions, capable of realizing test services by a broadcasting program and broadcasting a program for supplementary lessons concerning erroneous answers to the questions by an examinee, and to provide a device, method, and program for receiving the same.例文帳に追加

本発明は、学習試験サービスを放送番組により実現でき、受験者の誤った問題の解答について補習番組の放送を行うことのできる試験問題包含番組送信方法、試験問題包含番組送信装置および試験問題包含番組送信プログラムおよび試験問題包含番組受信方法、試験問題包含番組受信装置および試験問題包含番組受信プログラムを提供する。 - 特許庁

To allow application of no trouble to both processing devices of a device of a type such as a gas chromatography wherein expiration is transferred to a test tube to be processed, and a device of a type such as an infrared spectrophotometer wherein an exhalation bag is directly connected to a nozzle of the device.例文帳に追加

この発明は、ガスクロマトグラフィーの如き呼気を検査管に移し替えて処理を行うタイプの装置、若しくは赤外分光計の如き呼気バッグを直接装置のノズルに接続するタイプの、いずれの処理装置にも支障なく適応することが出来る呼気検査システム及び呼気バッグを提供せんとするものである。 - 特許庁

The second switch 12 is provided between the first switch 11 and a high-frequency signal generation device 21 used at a test time, and performs selectively connection between the high-frequency signal generation device 21 and the first switch 11 or connection between the high-frequency signal generation device 21 and an open terminal by control from the outside.例文帳に追加

第２スイッチ１２は、第１スイッチ１１とテスト時に使用される高周波信号発生装置２１との間に設け、高周波信号発生装置２１と第１スイッチ１１との接続、または高周波信号発生装置２１と開放端子との接続を、外部からの制御によって選択的に行うようになっている。 - 特許庁

The IC tester gives a test pattern signal to a device to be measured, judges good or bad of the device by comparing the output data obtained from the device to be measured and the pattern signal of expected value, and makes an expected value pattern generation circuit 36 constituted with a hardware generate the expected value pattern signal.例文帳に追加

被測定デバイスに対してテストパターン信号を与え、該被測定デバイスから得られる出力データと期待値パターン信号との比較によって、当該被測定デバイスの良否を判定するＩＣテスタであって、前記期待値パターン信号をハードウエアで構成された期待値パターン発生回路３６から発生するＩＣテスタ。 - 特許庁

The control program 64 has the same function as a control program built in the control device and also a function imitating so as to obtain a same control result as a result in a case where the IC test device and the control device are connected in accordance with a control demand C1, and then outputs the control result as a control result notice C2.例文帳に追加

制御プログラム６４は、制御装置に内蔵の制御プログラムと同機能を持つほか、制御要求Ｃ１に従い、ＩＣ試験装置及び制御装置が接続されているのと同じ制御結果を得るように模倣する機能を有し、この制御結果を制御結果通知Ｃ２として出力する。 - 特許庁

In a tire wear test method using a wear testing device 10 making an inspected tire 14 run on an infinite running surface 16, the wind below the temperature of the circumference of this tire wear testing device 10 is sent in at least one direction toward the tread surface of the running inspected tire 14 from a blower device 20.例文帳に追加

被験タイヤ１４を無限走行面１６上に走行させるタイヤ摩耗試験機１０を使用して行うタイヤ摩耗試験方法において、送風装置２０から走行する被験タイヤ１４のトレッド表面に向かって、該タイヤ摩耗試験機１０の周辺の温度以下の風を少なくとも一方向より送る。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This prober device includes a cleaning chamber 5 including a mechanism for cleaning a probe of a probe unit 4 of the prober device by dry processing using ion or the like in vacuum, and a measuring mechanism (a preparation chamber 3, a conveyance device 12, a test wafer 13, and a gate valve 6) for confirming electrical measurement of the probe of the probe unit 4 in vacuum.例文帳に追加

真空中内で、イオン等を用いたドライ処理で、プローバ装置の探針ユニット４の探針をクリーニングする機構を備えたクリーニング室５と、真空中内で、探針ユニット４の探針の電気的測定を確認する測定機構（仕込み室３、搬送装置１２、試験ウエハ１３、ゲート弁６）を備える。 - 特許庁

The device test method includes a medium supply step which supplies the medium on the stage 40 for mounting the device to be tested 130, an arrangement step which arranges the device to be tested on the stage, and a temperature control step which controls the stage temperature, after the arrangement step, below the freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験方法は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）上に媒介物を供給する媒介物供給ステップと、ステージ上に被試験デバイスを配置する配置ステップと、配置ステップ後にステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御ステップと、を含む。 - 特許庁