「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(149ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a tester and a testing method for IC device or solder ball of a wafer in which a pressure required for bringing all solder bumps in an IC array into contact with a test array is reduced significantly.例文帳に追加

ＩＣアレイ内のすべてのはんだバンプを、テスト用のアレイと接触させるのに必要な圧力を大幅に低減させるような、ＩＣデバイス、あるいはウェハ用のはんだボールのテスト方法／装置を提供する。 - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector set, capable of reducing the difference between each logic value generated before and after scan capture, concerning the output of a scan cell included in a full-scan sequential circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of executing, simply and surely, a permeability test of a coating film applied onto the surface of armoring material such as ALC or the like in an extremely short time without using consumables such as liquid, sealing material.例文帳に追加

ＡＬＣ等の外装材の表面に施された塗膜の透水試験を極めて短時間で、かつ液体やシーリング材等の消耗品を用いずに簡単かつ確実に実施し得る試験装置を目的とする。 - 特許庁

Also, this device is provided with an image buffer 70 for holding a density value data (image data) obtained by a fine scanning part 38 until automatic set-up processing and a positive image test executed based on the density value data are completed.例文帳に追加

また、ファインスキャン部３８により得られた濃度値データ（画像データ）を該濃度値データに基づいて行われるオートセットアップ処理及びポジ画像検定が終了するまで保持する画像バッファ７０を備える。 - 特許庁

The repetitive screen generation device 100 replaces the extracted display tag information in the display code 107 with the source tag information so as to set the source tag information as a source code 101 and the divided input data as test data 102.例文帳に追加

反復型画面生成装置１００は、表示コード１０７のうち抽出した表示タグ情報を、ソースタグ情報に置き換えてソースコード１０１とし、分離した入力データをテストデータ１０２とする。 - 特許庁

The grounding wire 26 is set at a ground potential, and the pressing tool 12 presses the semiconductor device 10 onto the substrate 20 for the test through the insulating member 16, in the state where the pressing part 14 is in contact with the grounding wire 26.例文帳に追加

接地配線２６を接地電位として、押さえ治具１２が、押さえ部１４を接地配線２６に接触させつつ、絶縁性部材１６を介して半導体装置１０をテスト用基板２０に押付ける。 - 特許庁

To provide an IC test device which can easily analyze defect by correcting the number of output stages by adjusting to latency setting for every pin of memories to be tested, and its control method and a storage medium.例文帳に追加

本発明の課題は、被試験メモリの各ピン毎のレイテンシ設定に合わせて出力段数を補正することにより、不良解析の容易なＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

For this reason, the test pattern can be set in all the function blocks 1a-1d, without changing the connection between the LSI tester and the semiconductor device, and the power supply current of the plurality of function blocks 1a-1d can be measured, in a short time.例文帳に追加

そのため、ＬＳＩテスタと半導体装置との接続を変更することなく、全ての機能ブロック１ａ〜１ｄにテストパターンを設定でき、複数の機能ブロック１ａ〜１ｄの電源電流を短時間で測定できる。 - 特許庁

When the test device is a testing status, one end of the pressurizing probe is physically brought into contact with the conductor, and the other end of the pressurizing probe is brought into contact with the other suitable conductor (a conductor pad in a printed circuit board or the like).例文帳に追加

試験装置が試験実施状態となったとき、加圧プローブは１端で導電体と物理的にそれぞれ接触し、他端で他の適当な導電体（プリント回路ボードの導電パッド等）とそれぞれ接触する。 - 特許庁

To provide an IC test handler provided with a clamping device capable of restraining a lateral shift amount of an IC in an IC clamping process, and capable of preventing a terminal contact trouble or the like from occurring even in the IC having a reverse face terminal of a narrow pitch.例文帳に追加

ＩＣクランプ過程でのＩＣの横ずらし量を抑制でき、狭端子ピッチの裏面端子を持つＩＣでも端子接触不具合等の発生を防止できるクランプ装置を備えたＩＣテストハンドラの提供。 - 特許庁

A photographic printing system 1 discharges a test print TP for setup being developed by a printing section 50 through a drying section 60 and automatically conveys it to the colorimetric device 80 arranged by the drying section 60.例文帳に追加

写真プリントシステム１では、プリント部５０において現像処理されたセットアップ用テストプリントＴＰを、乾燥部６０を経由して排出し、乾燥部６０の側方に配置された測色装置８０へと自動的に搬送する。 - 特許庁

A load device (such as a measuring test head) can be lifted or lowered by winding a transmission rope at the upper edge of a first (fixed) pulley and the lower edge of a second (moving) pulley by using a double-process principle.例文帳に追加

倍行程原理を利用し、伝動ロープを第一（定）滑車の上縁及び第二（動）滑車の下縁に巻回することにより、荷重装置（例えば、測定試験ヘッド）を上昇・下降させることが可能となる。 - 特許庁

The ground fault interrupter is provided with a control power source circuit 13 supplying D/C voltage having A/C voltage of A/C electric path 3 stepped down to a given voltage to a leak detection circuit 7, a tripping device 9, and a test circuit 14.例文帳に追加

交流電路３の交流電圧を所定の電圧に降圧した直流電圧を漏電検出回路７、引外し装置９及びテスト回路１４に供給する制御電源回路１３を備える。 - 特許庁

To provide a water-absorbing fabric suppressed in generation of impurities and excellent in durability, to provide a production method of the fabric, to provide a water absorption wick using the water-absorbing fabric, and to provide an environmental test device using the water absorption wick.例文帳に追加

不純物の発生が抑制され、耐久性に優れた吸水性布帛とその製法、並びに上記吸水性布帛を用いた吸水ウイックおよびそれを用いた環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of observing different output values at normal time and at a failure time, improving the failure detection rate of the whole circuit, and improving the discrimination ability between a non- defective unit and a defective unit.例文帳に追加

正常時と故障時とで異なる出力値を観測することが可能で、回路全体の故障検出率を向上でき、良品／不良品の判別能力を向上できるテスト回路を得ることである。 - 特許庁

To provide a foam discharge testing device and a foam discharge testing method by which the time and labor for the foamg discharge test of a foam fire extinguishing equipment is eliminated, the cost for an inspection is inexpensive, and the possibility of contaminating environment is small.例文帳に追加

泡消火設備の泡放出試験に手間がかからず、点検に要する経費も低廉で、環境を汚染するおそれの少ない泡放出試験装置および泡放出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a technology for testing by specifying an element likely to generate malfunction among sensing system circuits in an wafer burn-in test while protecting this element, and to provide a semiconductor storage device provided with such a technical thought.例文帳に追加

ウェハ・バーンイン・テストにおいてセンス系回路のうちで不具合の生じそうな素子を特定し、当該素子を保護しつつテストを行う技術及びその技術思想を実装した半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a thermosetting liquid sealing resin composition which is excellent in fracture toughness and gives a semiconductor device not allowing cracks to occur during its moisture absorption/reflow treatment and impact test.例文帳に追加

熱硬化性液状封止樹脂組成物を用いた半導体装置において、吸湿・リフロー処理、熱衝撃試験においてクラックを生じない破壊靭性に優れた熱硬化性液状封止樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

An external shape of a flat rectangular body is given to a cell for test used for inspecting the function of a fluorescence device to provide a fit part fitting into a cell insertion part on a diagonal line that together joins confronting vertices thereof.例文帳に追加

蛍光発光装置の機能を点検するために使用する試験用セルの外形形状を扁平矩形体にし、セル挿入部の対向する頂点を結ぶ対角線上に嵌合する嵌合部を設けた。 - 特許庁

This component tester 1 is constructed, so that the component is sucked at the component transfer position of a component supply device 41A and positioned at the test head by heads 48 and 52 (conveying means) of a pair of indexers 40A and 40B.例文帳に追加

一対のインデクサ４０Ａ，４０Ｂのヘッド４８，５２（搬送手段）により部品供給装置４１Ａの部品受け渡し位置から部品を吸着してテストヘッドに位置決めするように部品試験装置１を構成した。 - 特許庁

After completion of execution of the instruction sequence, the control part 12 instructs the generation part 11 to shift the instruction sequence, and the control part 12 makes the device 2 of the test object execute the shifted new instruction sequence.例文帳に追加

該命令列の実行後、試験実行制御部１２がランダム命令生成部１１に指示して該命令列をシフトし、試験実行制御部１２が、被試験対象装置２に該シフトされた新たな命令列を実行させる。 - 特許庁

The test head 11 for a testing device includes a pin card 16, a back board 17 connected to the pin card 16, and a pogopin head 26 for mounting a plurality of pogopins 29 contacting to the contacting terminals of the probe card 43.例文帳に追加

ピンカード１６と、当該ピンカード１６が接続されるバックボード１７と、プローブカード４３の接触端子に接触するポゴピン２９が複数取り付けられたポゴピンヘッド２６とを備えた試験装置用テストヘッド１１である。 - 特許庁

To provide a test water feeder capable of adopting a novel small and lightweight water quality device having specification of a small sample water amount, without increasing a loss in a pipe, a vapor phase trap, and without generating a problem such as a measuring lag.例文帳に追加

配管損失や気相トラップの増大、測定遅れ等の問題を生じることなく、小形・軽量で小試料水量仕様の新形水質装置を採用できる検水供給装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device, for a prescribed item with reference to an apparatus to be measured, by which a noise is detected in real time and at once and which can urge the early solution of a problem when a test result is affected.例文帳に追加

ノイズをリアル・タイムに、又即時に検知し、試験結果に影響が出てくる際には、問題を早期に解決することを促すことができる被測装置に対する所定試験項目の試験測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a failure detection improving device, a failure detection improving program, and a failure detection improving method improving a failure detection rate by carrying out change of a circuit such that an ATPG tool can generate a test pattern.例文帳に追加

ＡＴＰＧツールがテストパターンを生成できるように回路の変更を行うことにより、故障検出率を改善する故障検出改善装置、故障検出改善プログラム、故障検出改善方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To make a voice test executable only by an operation on a monitor side in an object to be monitored, in a security system in which a voice transmitted from a security center is outputted from a voice outputting device in the object to be monitored.例文帳に追加

警備センタから送られてきた音声を、監視物件における音声出力装置から出力する警備システムにおいて、監視物件における監視装置側での操作のみで音声テストを可能とする。 - 特許庁

To provide an autonomous diagnostic function upon device installation while simplifying a test process of immediate screening of a malfunction part, examination of effect of the malfunction on other parts, and operation confirmation at the time of a trouble.例文帳に追加

不具合発生時の早急な不具合箇所の選別、非対象箇所への影響の確認及び動作確認の試験工程を簡略化できるとともに、装置設置時における自立した診断機能を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device repair a memory cell having exceptionally large gate leak current detected by a "0" margin test, without increasing a circuit area or increasing cost.例文帳に追加

“０” マージンテストにより例外的に大きなゲートリーク電流のメモリセルが検出された場合においても、回路面積の増大やコストの上昇を伴うことなくこれを救済することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In this air filter testing device, air containing testing particles is introduced into a filter storage part 2 for storage-fixing an air filter 3 for a radioactive aerosol, to test the performance such as particle collection efficiency of the air filter 3.例文帳に追加

放射性エアロゾル用のエアフィルタ３が収納固定されるフィルタ収納部２に、試験用粒子を含む空気を導入して、エアフィルタ３の粒子捕集効率等の性能を試験するエアフィルタ試験装置である。 - 特許庁

Since two data input/output terminals T0, T8 may only be connected to the tester, a test time per one device is shortened, compared with conventional one in which four data input/output terminals are required to connect to the tester.例文帳に追加

２つのデータ入出力端子Ｔ０，Ｔ８をテスタに接続すればよいので、４つのデータ入出力端子をテスタに接続する必要があった従来に比べ、１デバイス当りのテスト時間が短くなる。 - 特許庁

Each connector 10 is housed in a connector housing space 34 of the housing part 31 in positioning state, the jig 30 is set to a connector inspection device, and continuity test of terminal fittings 90 is carried out.例文帳に追加

収容部３１のコネクタ収容空間３４に各コネクタ１０を位置決め状態で収容させて治具３０をコネクタ検査装置にセットし、各コネクタ１０に収容された端子金具９０の導通検査を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and production thereof, with which a package can be miniaturized and handling or performance test and the like can be simplified by using no rewiring board while attaining cost reduction.例文帳に追加

コストダウンを実現しながらも、再配線基板を用いないことによりパッケージの小型化を図ると共に、ハンドリング等の取り扱いや性能テストを簡便化できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of automatically and quickly giving the amplitude of a servo motor rotary shaft angle to be set in conducting a test with a constant range of fluctuations in force that is applied to a work.例文帳に追加

ワークに加える力の変動幅を一定に揃えて試験を行う際に設定されるべきサーボモータの回転軸の角度の振幅を自動的且つ速やかに得ることのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for cleaning a substrate in which burrs occurring on the element forming surface of a substrate through probe test can be removed, and to provide a process for producing a semiconductor device and equipment for cleaning a substrate.例文帳に追加

プローブ検査によって基板の素子形成面にカエリが生じた場合でも、このカエリを除去することができる基板清浄方法及び半導体装置の製造方法、並びに基板清浄装置を提供する。 - 特許庁

In this characteristic, the test pulse light transmitted through the optical fiber grating 6 is scattered in an optical transmission line 7 or part of the light is returned in a direction of an in-station device 9 through reflection at a fiber connecting point or an abnormity point.例文帳に追加

この特性において、光ファイバグレーティング６を透過した試験パルス光は、光伝送路７で散乱されたり、ファイバの接続点や異常点での反射により、その一部が局内装置９の方向へ戻る。 - 特許庁

To provide a loading test device capable of realizing all assumptive loading patterns by making it possible to act various loads on a foundation or a sample body as its model of a structure such as a bridge, a building or the like.例文帳に追加

橋梁や建築物等の構造物の基礎やその模型である供試体に、さまざな荷重を作用可能にして、想定し得るすべての載荷パターンを実現することができる載荷試験装置を提供すること。 - 特許庁

Relating to the e.g., controller 10 of a tub water circulation device selecting a sequential mode such as a filter mode, a back wash mode and a cleaning mode, the test mode for individually operating the unit constitution parts can be executed.例文帳に追加

例えば、濾過モード、逆洗モード、洗浄モード等のシーケンシャルモードを選択実行する浴槽水循環装置のコントローラ１０において、単位構成部品を単独で動作させるためのテストモードを実行可能としている。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, which simply makes only the malfunctioning block to be non-selective, when the malfunctioning block is included in the plurality of memory blocks, and which can execute a prescribed test operation for the plurality of memory blocks.例文帳に追加

複数のメモリブロックの中に不良ブロックが含まれる場合に、その不良ブロックだけを簡易的に非選択にして、複数のメモリブロックに対して所定のテスト動作を実行可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a modelling testing device capable of performing an infiltration flow test of stratum deformation considering existence of ground water and deformed model stratum in situ or in either of horizontal and vertical directions.例文帳に追加

本発明は、地下水の存在を考慮した地層変形及び変形させた模型地層をその場で水平または垂直の何れの方向にも浸透流試験ができるモデリング試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce circuit scale and to shorten a test time without requiring a data selector for writing data directly to an ECC memory in a semiconductor memory device having an ECC function for data having 32 bits data width.例文帳に追加

３２ビットデータ幅のデータに対するＥＣＣ機能を有する半導体メモリ装置において、ＥＣＣメモリに直接データを書き込むためのデータセレクタを必要とせず、回路規模の縮小と検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of shortening the required time of a data retention test by using the coupling effect of a memory cell capacitor to rapidly lower the H level of a storage node.例文帳に追加

メモリセルのキャパシタのカップリング効果を利用して記憶ノードのＨレベルを急激に低下させることにより、データリテンションテストの所要時間を短縮することのできる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

A component support device 12 proposes software components which satisfy a request from the developer based on category information and information for a threshold of result matching rate with test data or coverage rate transmitted from a developer terminal 11.例文帳に追加

部品支援装置１２では、開発者端末１１から送信されたカテゴリ情報とテストデータと結果一致率やカバレージ率の閾値の情報に基づいて、開発者からの要求を満足するソフトウェア部品を提案する。 - 特許庁

To provide a triaxial cell, a triaxial compression test device and a method therefor that are reduced in size and weight to be handled easily by an ordinary adult and do not require skilled technique in handling.例文帳に追加

普通の大人が簡単に取り扱えるように小型化、軽量化し、且つ、取り扱う際に熟練した技術を必要としない三軸セル、三軸圧縮試験装置及び三軸圧縮試験方法を提供する。 - 特許庁