「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(151ページ目) - Weblio英語例文検索

A test environment device comprises: a plurality of base station signal generation means 11 to 13 which are connected to a communication network and which generate a base station signal to a radio communication device; and control means 30 which provides a control signal to the plurality of base station signal generation means.例文帳に追加

通信網に接続されると共に、無線通信機器に対する基地局信号を発生する複数個の基地局信号発生手段１１〜１３と、これら複数個の基地局信号発生手段に制御信号を供給する制御手段３０とを備える試験環境装置である。 - 特許庁

This device further comprises a test control device which is operated by an artificial operation to energize the testing means 25 and operates the elevator body 2 to the position where the fire detector 24 is opposed to the testing means 25 and operated thereby to tentatively operate the fire detector 24.例文帳に追加

そして、人為操作により動作して試験手段２５を付勢し、かつ火災検出器２４に試験手段２５が対向し火災検出器２４が動作する位置に昇降体２を運転して、火災検出器２４を試験的に作動させる試験用制御装置を設ける。 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR RECEIVING PROGRAM INCLUDING TEST QUESTIONS, AND DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR TRANSMITTING SAME例文帳に追加

学習試験問題包含番組受信装置、学習試験問題包含番組受信方法および学習試験問題包含番組受信プログラムならびに学習試験問題包含番組送信装置、学習試験問題包含番組送信方法および学習試験問題包含番組送信プログラム - 特許庁

To provide a material test machine having a simple configuration and capable of accurately measuring strength of a joint structure of different types of materials while applying displacement of micro-order to a specimen composed of a minute structure such as an electronic device or a specimen such as a joined face by soldering of the electronic device.例文帳に追加

電子デバイス等の微小構造物からなる供試体または電子デバイスのはんだ接合面などの供試体にマイクロオーダの変位を加えながら、その異種材接合構造等の強度を高精度に計測することのできる簡易な構成の材料試験機を提供する。 - 特許庁

The device test equipment 100 includes a stage 40 for mounting the device to be tested 130, a medium supply means 80 which supplies a medium consisting of a liquid or gas on the stage, and a temperature control means 30 which controls the stage temperature below freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験装置（１００）は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）と、ステージ上に液体もしくは気体からなら媒介物を供給する媒介物供給手段（８０）と、ステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御手段（３０）と、を備える。 - 特許庁

Registers 12 and 22 for test data storage are provided at the exit of a peripheral device controller 2 and the entrance of a peripheral device 1, respectively, and data written to a storage circuit 11 are compared with data stored in those registers 12 and 22 to specify a fault location on a data transmission line.例文帳に追加

テストデータ格納用レジスタ１２，２２を周辺装置コントローラ２の出口、および周辺装置１の入り口にそれぞれ設けておき、記憶回路１１へ書き込んだデータとこれらレジスタ１２，２２に格納されたデータとを相互に比較してデータ転送路上の故障箇所の特定をする。 - 特許庁

To provide a technique of a compact turning device for a heavy object where the distance between the center of gravity of the heavy object such as a test head and the axis of a turning fulcrum is reduced, and a turning arm and a drive device are constructed so that the length in the axial direction of the turning fulcrum of the heavy object is smaller.例文帳に追加

テストヘッド等の重量物の重心及び旋回支点の軸線上間が短縮され、かつ旋回アーム及び駆動装置が重量物の旋回支点の軸線方向の長さを短く構成すると共にコンパクトな重量物の旋回装置の技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for an accelerated oxidation test of a fuel or a mineral oil product usable especially for simulation of a change with elapse of time of the fuel or the mineral oil product, a computer program for controlling the device, and a memory media readable by a computer.例文帳に追加

特に燃料または鉱物油製品の経時変化のシミュレーションに使用されることができる、燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置、ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディアを提供すること。 - 特許庁

The tape library test device transfers a medium sequentially from the top cell to the final cell on the basis of cell information that is predetermined in a tape library device to be tested, and measures a medium conveyance time required for each inter-cell transfer of the medium.例文帳に追加

テープライブラリ試験装置は、試験対象のテープライブラリ装置において予め定義されるセル情報に基づいて、先頭セルから順次媒体を最終セルまで移動させて、各セル間ごとに、媒体を移動させるのに要した時間である媒体搬送時間を計測する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device of a design system which makes it possible to set read/write operation and refresh operation in a close state, and makes the accuracy of test and quality improvement realizable in the semiconductor storage device having a memory cell which requires refresh for holding data.例文帳に追加

データ保持のためにリフレッシュを要するメモリセルを有する半導体記憶装置において、リード／ライト動作とリフレッシュ動作とを接近した状態に設定することを可能とし、テストの精度、品質向上を実現可能とする設計方式の半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

Permeation waves and reflex waves are generated in the test fluid in the fuel injection device 10 when a needle 12 opens and closes a jet 13, and thereby the pressure pulsation generated in the fuel injection device 10 reduces while it propagates from the outflow passage 53 to the chamber 51.例文帳に追加

ニードル１２が噴孔１３を開閉するときに燃料噴射装置１０内の試験流体に透過波および反射波が生じることにより燃料噴射装置１０内に発生した圧力脈動は、流体流出路５３から容積拡大室５１に伝搬することにより低減する。 - 特許庁

To provide a leased line terminating device and a state restoring method for the same, which prevent state inconsistency between a terminating device on the control side and that on the controlled side to improve maintainability even in the case of occurrence of a line fault during a remote loop back test.例文帳に追加

リモート・ループバック試験中に回線障害が生じた場合であっても、制御側の終端装置及び被制御側の終端装置で状態の齟齬が生じず保守性を向上させることができる専用回線終端装置及び当該装置の状態復帰方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection device for performing an ultrasonic flaw detection test without being affected by the surface unevenness of a structure to be inspected and capable of obtaining a precise measuring results, and an inspection device capable of sharply shortening the inspection time when a plurality of welding lines are inspected.例文帳に追加

被検査構造物の表面の凸凹の影響を受けずに超音波探傷試験を実施し、精度の良い測定結果を得ることができる超音波探傷装置、および複数の溶接線を検査するときの検査時間を大幅に短縮することができる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a communication recovering method for material testing device and a material testing device, with which a material test before communication recovery can be continued as long as possible in the case of communication recovery and communication can be recovered as automatically as possible in the case of communication abnormality.例文帳に追加

通信復帰の際に通信復帰前の材料試験を極力続行することできるとともに、通信異常の際に極力自動的に復帰することができる材料試験装置における通信復帰方法および材料試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a semiconductor memory device in which write-in and read- out of data are performed for a memory array in accordance with address information, the device is provided with an address converting circuit 23 generating new address information by performing some change for one part or all of the address information in accordance with a control signal for test.例文帳に追加

アドレス情報に応じてメモリアレイに対してデータの書き込み及び読み出しが行われる半導体集積回路において、テスト用制御信号に応じて、アドレス情報の一部又は全てに一定の変更を施して新たなアドレス情報を生成するアドレス変換回路２３を設ける。 - 特許庁

The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.例文帳に追加

テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁

To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.例文帳に追加

無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁

Operations are performed by means of an ascending/descending device 19 which ascends/descends by winding up a wire; and a supporting body 13, a box 14 and a rotating driver 17, including the device 19, are made to serve as weights and selectively combined so that four kinds of loads can be constituted and imposed on the test rod 10, respectively.例文帳に追加

動作はワイヤーを巻き上げ昇降する昇降装置１９により、昇降装置１９を含め支持体１３、ボックス１４、回転駆動体１７を錘体として、選択的に組み合わせ４種類の荷重を構成し各々の荷重を試験用ロッド１０に負荷させる。 - 特許庁

To shorten the time required in testing the determination of a semiconductor device testing apparatus, capable of performing capacity evaluation test for detecting specific relation of phase difference, between a clock and data in a semiconductor device which outputs clock synchronized with data.例文帳に追加

データに同期してクロックを出力する半導体デバイスにおいて、クロックとデータの位相差が特定の関係にあることを検出する性能評価試験を実行することができる半導体デバイス試験装置において、この判定を行う試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁

In the test method of the semiconductor wafer, when the wafer is tested, a semiconductor device in which overcurrent flows is detected among a plurality of semiconductor devices formed on the semiconductor wafer, and then power supply to the semiconductor device in which the overcurrent flows is shielded automatically.例文帳に追加

ここに開示された半導体ウェーハ及びそれのテスト方法は、テスト時、半導体ウェーハ上に形成された複数個の半導体装置のうち過電流が流れる半導体装置を検出し、 過電流が流れる半導体装置の電源供給を自動的に遮断する。 - 特許庁

An electromechanical conversion device such as an electrostatic capacitance type ultrasonic conversion device includes an electromechanical conversion element 10 having a movable area 16 for receiving an acoustic wave emitted from a test object, an electric wiring board 13 electrically connected to the element 10, and a reflection suppression layer 12.例文帳に追加

静電容量型超音波変換装置などの電気機械変換装置は、被検体から放出される音響波を受信するための可動領域１６を有する電気機械変換エレメント１０と、エレメント１０と電気的接続を取る電気配線基板１３と、反射抑制層１２を有する。 - 特許庁

To provide an electronic trip device, concerning an electronic circuit breaker equipped with threshold parameterization, current measurement, a test connector, a display and communication functions or the like, capable of incorporating into an existing opening and closing device, and also simplified irrespective of density of incorporated functions.例文帳に追加

しきい値パラメータ設定、電流測定、テストコネクタ、表示および通信機能等を備える電子式回路遮断器に関して、既存の開閉装置に組み込み可能であるとともに、組み込まれた機能の密度にかかわらず簡素化された電子式トリップ装置を提供する。 - 特許庁

Further, an electrical connection device includes a connector brought into contact with each corresponding electrode arranged at a position corresponding to each electrode of an object to be inspected to perform energization in a device brought into contact with an electrode of the object to be inspected to perform a test, and uses the contactor as a corresponding contactor.例文帳に追加

また、電気的接続装置は、被検査体の電極に接触して試験を行う装置において、上記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、当該接触子として上記接触子を用いた。 - 特許庁

The time between the time of starting measurement specified by a temperature rise evaluating test in advance and the time of reaching a prescribed temperature in the device is measured to be determined, and then this duration is set in a timer 14 as a prescribed time for the start of control suppressing the temperature rise in the device.例文帳に追加

予め温度上昇評価試験によって予め指定した計測開始時機から装置内規定温度に達するまでの時間を測定して求め、この時間を装置内温度の上昇を抑制する制御開始の規定時間としてタイマ１４に設定する。 - 特許庁

Among semiconductor devices, power MOSFETs 15 incorporated into a wafer 16 arranged on a wafer prober, electricity is turned on polysilicon heaters which the selected semiconductor device, the power MOSFET 15 have for heating, a burn-in test of the semiconductor device, the power MOSFET 15 is performed for the wafer.例文帳に追加

ウエハプローバ上に配置したウエハ１６に作り込んだ半導体デバイス、パワーＭＯＳＦＥＴ１５のうち、選択された半導体デバイス、パワーＭＯＳＦＥＴ１５が有すするポリシリコンヒータに通電して加熱し、ウエハ状態のまま当該半導体デバイス、パワーＭＯＳＦＥＴ１５の通電試験を行なう。 - 特許庁

To provide a transmission line testing device for BS added channel capable of testing whether or not in particular a transmission line in a facility can transmit a BS-IF signal of the BS added channel without the need for an exclusive device to generate the BS-IF signal and to provide a transmission line test signal generating device for BS added channel.例文帳に追加

ＢＳ−ＩＦ信号を発生させる専用の装置を必要とすることなく、当該設備の特に伝送路がＢＳ追加チャンネルのＢＳ−ＩＦ信号を伝送できるかどうかを試験することができるＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置を提供する。 - 特許庁

The test bench circuit 103, in which a built-in logic circuit has a specific circuit configuration adapted to an inspected device 100, comprises transmitting and receiving circuits 111a to 111c for input/output signals 200 of the inspected device, and an inspection signal generating circuit 112, to thereby generate the input/output signals 200 of the inspected device.例文帳に追加

テストベンチ回路１０３は、内蔵された論理回路が被検査デバイス１００に適合する特有の回路構成を持ち、被検査デバイスの入出力信号２００用の送受信回路１１１ａ〜１１１ｃと検査信号生成回路１１２とを備えることによって被検査デバイスに対する入出力信号２００を生成する。 - 特許庁

The method includes a step of inputting a series of control signals to a solid state device, a step of inputting a voltage outside a voltage range used for indicating a logical signal to the solid state device, a step of inputting at least one address to the solid state device, and a step of decoding an address to check test mode information.例文帳に追加

本発明の方法は、ソリッドステート装置へ一連の制御信号を入力する工程と、論理信号を表すために使われる電圧の範囲外の電圧を、ソリッドステート装置へ入力する工程と、少なくとも１つのアドレスをソリッドステート装置へ入力する工程と、テストモード情報を確かめるためにアドレスをデコードする工程と、を含んでいる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To perform a communication test between a meter and a centralized monitoring center without having to include an exclusive device for making a call and without having to prepare a new exclusive circuit and a component such as a switch in a centralized metering system composed of a centralized metering device connected to the meter and the monitoring center connected to the metering device.例文帳に追加

メータに接続された集中検針装置とその装置に接続された集中監視センタとでなる集中検針システムで、発呼を行うための専用の装置を必要とせず、また新たに専用の回路やスイッチ等部品を用意する必要もなく、メータと集中監視センタとの間で通信テストを実施できるようにする。 - 特許庁

To sustain gate insulating film quality high by removing bad chips in a test of applying a specified voltage higher than the clamp voltage to the gate insulating film in the middle of the manufacturing of a semiconductor device, wherein a gate insulated semiconductor device and a gate/emitter clamping element for the gate insulated semiconductor device are formed in one and the same chip.例文帳に追加

ゲート絶縁型半導体装置と、該ゲート絶縁型半導体装置のゲート・エミッタ間をクランプするクランプ素子とが同一チップ上に形成された半導体装置において、製造途中で、クランプ電圧より大きな所定の電圧をゲート絶縁膜に印加して試験をし、不良チップを除去することでゲート絶縁膜の品質を維持できるようにする。 - 特許庁

When a transmission/receiving confirmation test, which is performed before performing the telemedicine, for measuring the respiration characteristics of the patient and transmitting the result is performed between a peak flow meter 1a-2 and the server device 1b, an identification code of the patient is transmitted and stored in the selected specific monitor device 1d-1 from the peak flow meter 1a-2 via the server device 1b.例文帳に追加

テレメディスンの実行に先立って実行される、患者の呼吸特性を測定して結果を送信するピークフローメータ１ａ−２とサーバ装置１ｂとの送受信確認試験の実行時に、この患者の識別符号をピークフローメータ１ａ−２からサーバ装置１ｂ経由で、選択した特定のモニタ装置１ｄ−１に送信して記憶させる。 - 特許庁

The apparatus for inspecting a semiconductor device includes: a chamber 40 for housing a plurality of tester boards 12 having semiconductor devices 11 mounted thereon; a board handler section 30 for performing an operation involved in transferring the tester boards 12; and a device-test-conducting control device for conducting predetermined tests on semiconductor devices 11 mounted by unit of tester board 12 set inside the chamber 40.例文帳に追加

半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２が複数収容可能なチャンバ４０と、テスタボード１２の移送に関する作業を行うボードハンドラ部３０と、チャンバ４０にセットされたテスタボード１２に搭載された半導体デバイス１１に対して１つのテスタボード単位で所定のテストを実施するデバイステスト実施制御装置とを備えている。 - 特許庁

In the IC test device constituted such that the device mounted on the TAB tape is transferred on the contact ring by the TAB handler, and based on the photographed information of a camera arranged under the contact ring, the position of the device is made to coincide with the probe by the TAB handler; the hole of the contact ring is formed in a rectangular shape.例文帳に追加

ＴＡＢテープに搭載されるデバイスをＴＡＢハンドラによりコンタクトリング上に搬送し、前記コンタクトリングの下方に配置されたカメラの撮影情報に基づいて、前記ＴＡＢハンドラにより、前記デバイスの位置をプローブに合わせるように構成されたＩＣテストシステムにおいて、前記コンタクトリングの孔を矩形状に形成した。 - 特許庁

A semiconductor device comprises: a plurality of data input/output terminals DQ0 to DQn and a strobe terminal DQS which are electrically connected in common by a test probe 6a; a command address terminal CA connected to the test probe 6b; and an output control circuit 31 for performing selection of data output circuits 10 to 1n on the basis of a signal input to the command address terminal CA.例文帳に追加

試験プローブ６ａによって電気的に共通接続される複数のデータ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱｎ及びストローブ端子ＤＱＳと、試験プローブ６ｂに接続されるコマンドアドレス端子ＣＡと、コマンドアドレス端子ＣＡに入力される信号に基づいて、データ出力回路１０〜１ｎの選択動作を行う出力制御回路３１と、を備える。 - 特許庁

To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.例文帳に追加

サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁

To provide a prober device capable of forming a vertical type probe assembly into a multi-array structure and capable of solving a thermal expansion problem and a signal wire problem, to allow a probing test or a burn-in test concurrently and collectively in a plurality of chips, when inspecting characteristics of a circuit for a highly dense semiconductor chip or the like, and the probe assembly used therefor.例文帳に追加

本発明は、高密度化される半導体チップなどの回路の特性を検査するにあたり、複数のチップに対し一括して同時にプロービングテスト或いはバーンインテストができるように、垂直型プローブ組立体をマルチ配列構造とするとともに熱膨張問題及び信号配線問題を解決したプローバ装置及びこれに用いるプローブ組立体を提供する。 - 特許庁

This device includes: a memory cell array; a plurality of data input/output terminals; a plurality of signal paths for writing data supplied to the data input/output terminals to the memory cell array in parallel; a plurality of latch circuits for temporarily holding the data on the signal paths respectively; and a selector for selectively supplying the data to the latch circuits from a test data terminal during a test operation.例文帳に追加

メモリセルアレイと、複数のデータ入出力端子と、データ入出力端子に供給されたデータをメモリセルアレイに対して並列に書き込むための複数の信号経路と、複数の信号経路上のデータをそれぞれ一時的に保持するラッチ回路と、テスト動作時においてテストデータ端子からラッチ回路へデータを選択的に供給するセレクタとを備える。 - 特許庁

An attaching part 13 for attaching a supply pipe 1 is provided integrally with the base material 10 to be projected from a periphery of the supply port 12, in the chemical micro device provided with the flow passage 11 for passing the test liquid to the base material 10 and provided with the supply port 12 for inserting the supply pipe 1 for supplying the test liquid into the flow passage.例文帳に追加

基材１０に試験液を通す流路１１が設けられると共に、この流路に試験液を供給する供給パイプ１を挿入させる供給口１２が設けられた化学マイクロデバイスにおいて、上記の供給パイプを取り付ける取付部１３を上記の供給口の周囲から突出するようにして上記の基材に一体的に設けた。 - 特許庁

This device comprises a tester model which simulates the circuit operation of the tester, DUT models with different delay quantities of internal operation which simulate the circuit operation of the test object, a selection means which selects one of the DUT models and connects it to the tester model, and a determination means which determines the DUT model based on the test program, and makes the selection means select it.例文帳に追加

本装置は、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor device configured by loading an ECC (Error Correcting Code) circuit and a BIST (Built In Self Test) circuit on a memory configured to surely correct an error by the ECC circuit in an activated state of the ECC circuit and the BIST circuit at a test, and conducting sufficient screening for the ECC circuit and the critical path of the memory.例文帳に追加

メモリにＥＣＣ回路とＢＩＳＴ回路とを搭載して構成された半導体装置において、テスト時に、ＥＣＣ回路とＢＩＳＴ回路とが活性化された状態で、ＥＣＣ回路によるエラー訂正が必ず行われるように構成され、ＥＣＣ回路やメモリのクリティカルパスなどの十分なスクリーニングを行うことができる、半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The test board locking device includes the stiffener 310 consisting of a plurality of fixing bars 316 disposed in a predetermined distance, first fixing holes 324 each corresponding to the bars 316, the test board 320 connected onto the stiffener 310 and second fixing holes 332 each corresponding to the bars 316 and is provided with a lid section 330 for connecting the board 320 to the stiffener 310.例文帳に追加

本発明のテストボードロッキング装置は所定間隔に配置された複数の固定バー３１６を含むスチフナ３１０、固定バー３１６に各々対応される第１固定ホール３２４を含み、スチフナ３１０上に結合するテストボード３２０、固定バー３１６に各々対応される第２固定ホール３３２を含み、テストボード３２０をスチフナ３１０と結合する蓋部３３０とを具備する。 - 特許庁

A master slice type semiconductor device using a master wafer mounted with functional blocks (an SRAM macro 11, a logic block 12, a logic block 13, and an IP block 14) designed to perform functional operations using up to the intermediate wiring layer of a multilayer wiring structure includes pads TP for test in the intermediate wiring layer, the pads TP for test being connected to the respective functional blocks.例文帳に追加

多層配線構造の中間配線層までを使用して機能動作を行うように設計された機能ブロック（ＳＲＡＭマクロ１１、ロジックブロック１２、ロジックブロック１３、ＩＰブロック１４）を搭載したマスターウェーハを使用するマスタースライス方式の半導体装置は、この中間配線層に試験用パッドＴＰを備え、この試験用パッドＴＰが、各機能ブロックに接続される。 - 特許庁

The solid generation evaluation device 100 includes a vaporizer 1 storing an evaluated liquid L and vaporizing the evaluated liquid L, a furnace 4 supporting a test piece T(TR) in a closed space and heating the test piece T(TR), and a gas supply section 2 supplying a gas for flowing the vaporized evaluated liquid L toward the furnace 4.例文帳に追加

本発明の固形物生成評価装置１００は、評価液体Ｌを貯留すると共に評価液体Ｌを気化させる気化部１と、試験片Ｔ（ＴＲ）を密閉空間内に保持しつつ試験片Ｔ（ＴＲ）を加熱する加熱炉４と、気化した評価液体Ｌを加熱炉４に向けて流入させる気体を供給する気体供給部２とを有するという構成を採用する。 - 特許庁

To provide a communication apparatus capable of preventing the test period of a semiconductor from becoming longer by adding a function of pseudo multicast transfer to an end point of PCI-Express, for performing pseudo multicast transfer when a controller of a semiconductor test device transmits the same data to a plurality of cards, for shortening transfer time of data.例文帳に追加

本発明は、ＰＣＩ−Ｅｘｐｒｅｓｓのエンドポイントに擬似的なマルチキャスト転送の機能を付加し、半導体試験装置におけるコントローラ等が複数のカードに同一のデータを送信する際に、擬似的なマルチキャスト転送を行ってデータの転送時間を短縮することにより、半導体の試験時間の増大を防ぐことのできる通信装置を実現することを目的とする。 - 特許庁