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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8462件
The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加
この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも1つの条件で設定し、設定した条件の試験を1回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁
In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加
Arガスを満たした釘刺し用容器2内でLiイオン電池ユニット3の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にLiイオン電池ユニット3から発生したガスが釘刺し用容器2内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器2から配管70を通ってバッファタンク80にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁
The ingrdient measuring device 100 has a measuring means 900 which measures the quantity and /or quality of glucose detected by a test paper (a detection unit), a display 1,200 for indicating results measured by the measuring means 900, and a photogenesis information means 400 which reports by photogenesis that the humor has reached the test paper (the detection unit).例文帳に追加
成分測定装置100は、試験紙(検出部)で検出されたブドウ糖の量および/または性質を測定する測定手段900と、測定手段900により測定された測定結果を表示する表示部1200と、表示部1200とは異なる箇所に設けられ、体液が試験紙(検出部)に到達したことを発光により報知する発光報知手段400とを備えている。 - 特許庁
In adjusting the density in a device for printing a color image by developing an image of the color of each layer, using a color printing paper having C, M, Y layers, first, R, G, B test patterns are generated, and the R, G, B test patterns are printed on the color printing paper by a thermal head 36.例文帳に追加
自動濃度調整用のC、M、Yの濃度を測定する場合には、TAペーパーにR、G、Bのテストパターンを印画し、このテストパターンをR、G、Bの各色の輝線スペクトルを有する定着用ランプによって照明するとともに、TAペーパーの基準位置を検出するHPセンサの受光センサによってR、G、Bのテストパターンの反射光量をそれぞれ検出する。 - 特許庁
The container detector 1 has: a detector main body 2 slidable left and right with respect to a grasping device main body 11 by a moving means 7; optical sensors 3 same to test tubes 8 in number installed under the detector main body 2; and a detection means 4 for detecting the presence of the test tubes (containers) 8 on the basis of the signals outputted from the respective optical sensors 3.例文帳に追加
容器検出装置1は、移動手段7により把持装置本体11に対し左右方向にスライド可能な検出装置本体2と、該検出装置本体2の下部に設置された試験管8と同数の光学センサー3と、各光学センサー3から出力される信号に基づいて試験管(容器)8の有無を検知する検知手段4とを有している。 - 特許庁
The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加
ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁
To surely detect bonding failure, when the bonding failure is present between an electronic component and a wiring substrate, in a continuity test method and a continuity test device, in which the bonding failure between the electronic component and the wiring substrate in a wiring substrate unit is detected, by energizing an electric circuit formed in the wiring substrate unit that has electronic components mounted therein.例文帳に追加
配線基板に電子部品が実装されて成る配線基板ユニットに形成された電気回路に通電して、該配線基板ユニットにおける電子部品と配線基板との接合不良を検出する導通試験方法及び導通試験装置において、配線基板と電子部品とのはんだ接合部に接合不良が存在する場合に、確実にその接合不良を検出する。 - 特許庁
This predicting device of the migration resistance of the printed board includes: an acceleration degradation test section for obtaining Cole-Cole plot by applying alternating voltage to the printed board degraded in the acceleration degradation test environment; and a calculating means for predicting the migration resistance of the printed board, based on the presence of Warburg impedance (Fw) on the obtained Cole-Cole plot.例文帳に追加
また、加速劣化試験環境において劣化させたプリント配線板に交流電圧を印加してCole−Coleプロットを得る加速劣化試験部、および得られたCole−Coleプロット上のワールブルグインピーダンス(Fw)の存在に基づいて、プリント配線板の耐マイグレーション性を予測する計算手段を具備している、プリント配線板の耐マイグレーション性予測装置とする。 - 特許庁
The test bench conditioning system for a working fluid of a machine located on the test bench includes: at least one pump 3 for circulating the working fluid; a heat exchanger 4 for cooling the working fluid coming from the discharge line 1 of the machine; a heating device 5 for the working fluid, fed into the supply line 2 to the machine; and a mixing valve 6.例文帳に追加
試験台に存在する作業機械の作動流体用の試験台調整システムは、作動流体を循環させる少なくとも一つのポンプ(3)と、作業機械の放出導管(1)から来る作動流体を冷却させる熱交換器(4)並びに作業機械への供給導管(2)に供給された作動流体用の加熱装置(5)と混合弁(6)を含有する。 - 特許庁
Then, the multifunction device 100 reads the image data by a reading part 101, and transmits the image data to the transmission destination by the file name of the test data or a new file name relevant to the file name via the communication part 103 when it is determined that the test data is normally transmitted to the transmission destination based on the response received by the communication part 103.例文帳に追加
そして、複合機100は、通信部103によって受信した応答に基づいて、テストデータが正常に送信先に対して送信されたものと判定した場合に、読取部101によって画像データを読み取り、テストデータのファイル名又は当該ファイル名に関連した新ファイル名で通信部103を介して画像データを送信先に対して送信する。 - 特許庁
The selection signal generating circuit activates one signal out of selection signals corresponding to each of word line voltage in accordance with an external selection code signal for specifying word line voltage used for an external instruction signal indicating a test operation mode and word line voltage used for the memory device during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage has a required level or not.例文帳に追加
選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの1つを活性化する。 - 特許庁
In this object detecting device for detecting a specific object from an input image, a test image group 236 including an object to be detected in an image is corrected according to the detection illuminance of an illuminance detecting part 22 by a test vector correcting part 233, and set in an object detecting part 21 under the control of a detection rate adjusting part 23.例文帳に追加
入力画像の中から特定の物体を検出する物体検出装置において、検出率調整部23による制御の下に、検出対象の物体を画像中に含むテスト画像群236を用い、当該テスト画像群236をテストベクター補正部233で照度検出部22の検出照度に応じて補正して物体検出部21に設定する。 - 特許庁
The scalability test system is provided with a plurality of application running devices for running application composed of a plurality of sets of software components, and a component flow control part for changing a number of software components to be executed corresponding to one request applied from a virtual request generator to the application corresponding to the contents of the test and making the application running device run the components.例文帳に追加
スケーラビリティ試験システムは、複数のソフトウェア構成要素の組からなるアプリケーションを実行するための複数のアプリケーション実行装置と、該アプリケーションに対し仮想リクエスト発生装置から与えられた一のリクエストに対するソフトウェア構成要素の実行数を、試験の内容に応じて変更してアプリケーション実行装置に実行させるコンポーネントフロー制御部を備える。 - 特許庁
This device is mainly composed of a signal input means for inputting an original signal derived from a test body, a signal separation means for separating the original signal into plural signals, a characteristic extraction means for extracting a characteristic of the test based on at least a part of the plural separated signals, and a diagnostic result presentation means for presenting the characteristic as a diagnostic result to a user.例文帳に追加
被検体に由来する源信号を入力する信号入力手段と、源信号を複数の信号に分離する信号分離手段と、複数の分離信号の少なくとも一部に基づいて前記被検体の特徴を抽出する特徴抽出手段と、前記特徴を診断結果として利用者に提示する診断結果提示手段とから主に構成されている。 - 特許庁
A series of timing or time plates for input pins and corresponding output pins is controlled by a timing generator in the automatic test device; when the number (n) of the time plates is larger than the number (m) of timing generators, a test is actualized in several steps and the timing generators are reused to implement other time plates in 2nd and succeeding steps.例文帳に追加
入力ピンおよび対応する出力ピンに用の、各一連のタイミングまたはタイムプレートは、自動テスト装置中のタイミング発生器によって制御され、タイムプレートの数nが、タイミング発生器の数mよりも多いときに、テストは、いくつかのステップで実現され、タイミング発生器は、第2のステップまたはそれより後のステップの間に他のタイムプレートを実施するために再使用される。 - 特許庁
The magnaflux device includes a magnaflux sheet 10 enclosing magnetic particles within a flexible hollow body, a magnetic field generating coil 20 magnetizing test objects due to the effect of magnetic field under a contact of the magnaflux sheet 10 with a test objects, and an intermittent current generating means 40 for supplying intermittent current continuing alternately power distribution condition and non-power distribution condition to a magnetic field generating coil.例文帳に追加
柔軟性のある中空体に磁粉を封入してなる磁粉探傷シート10と、磁粉探傷シート10を検査対象物に接触させた状態で、磁界を作用させて検査対象物を磁化する磁界発生コイル20と、通電状態と非通電状態とが交互に連続する間歇電流を、磁界発生コイルに流す間歇電流発生手段40と、を備える。 - 特許庁
The device is equipped with a strut, an excitation source for shaking one terminal of the strut longitudinally, and a fixing means for fixing a test piece at an antinode of a standing wave generated due to the strut excitation in such a way that the longitudinal direction is orthogonal to the excitation direction.例文帳に追加
柱体と、柱体の長手方向の一端を加振する加振源と、柱体の加振により発生する定常波の腹位置で試験片をその長手方向が加振方向と直交するように固定する固定手段とを備える。 - 特許庁
Besides, a thrust generated by the model stator fin can also be measured similarly, by arranging the model stator fin fitted with a thrust measuring device like this so as not to rotate, in the rear of the model propeller in the model test of the vessel.例文帳に追加
このような推力計測装置を取り付けた模型ステータフィンは、また、船舶の模型試験において、その模型プロペラの後方に非回転に配置して、同様に模型ステータフィンから発生する推力を計測することもできる。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device which can delay or suppress the confirmation of the display defect by energization after a moisture resistance test by preventing the excessive current during voltage impression and solving the problem of the foaming phenomenon and the short.例文帳に追加
電圧印加時の過渡電流を防止して発泡現象やショートの問題を解決し、耐湿試験後の通電による表示不良の確認を遅延させ、あるいは抑制することのできる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
To provide a shading correcting device capable of appropriately correcting shading without the need to obtain an image through the use of a test sample and calculate a correction amount in advance, and to provide a shading correcting method.例文帳に追加
あらかじめテスト用試料を用いて画像を取得して補正量を算出しておく必要がなく、かつ、適切にシェーディング補正を行うことが可能なシェーディング補正装置及びシェーディング補正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
This device is constituted so that an address for block selection selecting plural blocks of a cell array 1 alternatively and successively is generated using a binary counter 14 being cascade-connected conforming to an address for block selection for a single test.例文帳に追加
この発明は、単一のテスト用のブロック選択用アドレスにしたがって、縦続接続されたバイナリカウンタ14を用いてセルアレイ1の複数のブロックを択一的に順次選択するブロック選択用アドレスを生成するように構成される。 - 特許庁
To provide a photographic processing device capable of appropriately correcting an exposure condition by accurately detecting the density of each band body formed by test printing, even when the density of the band body is to be measured automatically using a densitometer.例文帳に追加
テストプリントによって形成された帯体の濃度を濃度計を用いて自動的に測定する場合でも、各帯体の濃度を正確に検出して、適正な露光条件の補正を行うことが可能な写真処理装置を提供する。 - 特許庁
The capture section 20 variably sets the cycle position of a semiconductor device 11a from which the first data are collected, and gives execution instructions respectively corresponding to a plurality of test conditions set so that the cycle position is set differently.例文帳に追加
キャプチャ部20は、第1のデータを収集する半導体デバイス11aのサイクル位置を可変に設定するとともに、サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して実行指示を行う。 - 特許庁
The wind tunnel test device provided with a wind path 21 formed with a wall with a multitude of grooves wall 22 comprises a plurality of optical windows 32 for optical measurement placed by splitting in grooves of the multitude groove wall 22 in the wind path 21 of a transonic speed measuring cart 20.例文帳に追加
多溝壁22により形成した風路21を備えている風洞試験装置は、遷音速測定カート20の風路21が多溝壁22の溝間に分割して設けた複数の光学計測用の光学窓32を備えている。 - 特許庁
To provide a system and a device for carrying out a noninvasive test, evaluation and determination on a substance which is generally a part of a human body or other biological entity, for example, a glucose level in a blood, i.e. a blood sugar level.例文帳に追加
本発明は、一般に人体又は他の生物学的実体の一部である物質、例えば、血液中のグルコース・レベル、すなわち、血糖値、の非侵入的なテスト、評価、又は決定を行なうためのシステム及び装置を提供する。 - 特許庁
In this development support device 1 for an electronic computer, the JTAG connector 5 to be connected with a JTAG socket 105 of a target board 101 is provided with a terminal for JTAG test and a signal terminal exclusive for the on-chip debug.例文帳に追加
電子計算機用開発支援装置1において、ターゲットボード101のJTAGソケット105と接続するためのJTAGコネクタ5は、JTAGテスト用端子とオンチップデバッグ専用信号端子とを有している。 - 特許庁
Element holders (1), (2), (3) each having a light emitting element/ a light receiving element with a different azimuth angle are placed at front face of a main body of the communication apparatus 20 and the communication apparatus 20 has a test mode to confirm whether or not the relaying device 5 can communicate with a light emitting/light receiving section 2.例文帳に追加
通信装置20の本体前面に相異なる方位角を伴うように発光/受光素子を有する素子ホルダ , , を配置し、中継機5と発光/受光部2が通信可能かを確認するためのテストモードを有する。 - 特許庁
A chromatography analyzer 1 includes a light source 2, an irradiation optical system 3, a line sensor 4, a detection optical system 5, a scanning device 6 which scans a test piece 9 as an object to be scanned in a scanning direction, and a control part 7 which controls the respective parts.例文帳に追加
クロマトグラフィー分析装置1は、光源2と、照射光学系3と、ラインセンサ4と、検出光学系5と、試験片9を走査対象物として走査方向に走査させる走査装置6と、各部を制御する制御部7とを備える。 - 特許庁
To reduce the size of a device, and to appropriately attach a test head to prober body, when measuring the electrical characteristics of an inspection target body by bringing a probe into electric contact with the electrode pad of the inspection target body.例文帳に追加
プローブを被検査体の電極パッドに電気的に接触させて当該被検査体の電気的特性を測定するにあたり、装置の小型化を図ることができ、かつテストヘッドを適切にプローバ本体に装着させること。 - 特許庁
This semiconductor memory device is configured to access all the memory cells by utilizing only a part among address pins in a wafer level test mode, and a part of the address pins is used to receive the address signals from a tester.例文帳に追加
本発明による半導体メモリ装置は、ウェーハレベルテストモードでアドレスピンのうち一部のみを利用してすべてのメモリセルをアクセスするように構成され、一部アドレスピンはテスト装置からのアドレス信号が入力されるのに使用される。 - 特許庁
The disturb-strength matrix can be determined by the device conducting a self-test in which changes in the measured dispersion value are provoked by executing a selected operation until a detectable change occurs.例文帳に追加
障害強度マトリクスは、デバイスがセルフテストを実行し、その中では、検出可能な変化が発生するまで選択された動作を実行することによって、測定された分散値の変化を起こすようにすることによっても決定できる。 - 特許庁
When the stick is operated normally and the contents of the operation input outputted from the stick is taken in by the game device normally, the test bar 30 is extended or shortened in the direction of bringing down the stick according to the way of bringing down the stick.例文帳に追加
スティックが正常に動作し、ゲーム装置がスティックから出力される操作入力の内容を正常に取り込んでいれば、テストバー30はスティックを倒した方向に、その倒し方に応じて伸びたり縮んだりする。 - 特許庁
To provide a miniaturizable corrosion thinning testing device and a corrosion thinning test method, which grasp quantitatively a corrosion thinning characteristic of a ceramic material or a heat-resistant metal material, and have excellent safety, economical efficiency and operability.例文帳に追加
セラミックス材料や耐熱性金属材料の腐食減肉特性を定量的に把握でき、安全性、経済性、操作性に優れるとともに、小型化が可能な腐食減肉試験装置及び腐食減肉試験方法を提供すること。 - 特許庁
The semiconductor device includes a pre-decoding circuit for simultaneously activating a plurality of pre-decoding signals for driving each of a plurality of sub-word lines connected to one main word line, when a test mode signal to be input is activated.例文帳に追加
半導体装置は、入力されるテストモード信号が活性化されたときに、一つのメインワード線に繋がる複数のサブワード線をそれぞれ駆動する複数のプリデコード信号を同時に活性化するプリデコード回路を含んでいる。 - 特許庁
Pinching faces given shapes of chuck jaws 27 and 28 of a chuck device adapted to grasp a test piece 21 being pinched are improved in hardness by forming a hard film thereon out of titanium or a titanium compound using a PVD method or a CVD method.例文帳に追加
試験片21を挟着して把持するつかみ具のつかみ歯27、28の歯形を有する挟着面を、PVD法あるいはCVD法を用いてチタンあるいはチタン化合物による硬質被膜を形成して硬度を向上させる。 - 特許庁
To improve the yield of and reduce the test cost of a multi-chip type semiconductor device in which chips are connected in a package by providing a fuse in a first semiconductor chip, providing no fuse in a second semiconductor chip being a rewritable memory.例文帳に追加
第一の半導体チップにヒューズを設け、書き換え可能なメモリである第二の半導体チップにヒューズを設けず、それらチップをパッケージ内で接続したマルチチップ型半導体装置の歩留まりを向上し、検査コストを低減する。 - 特許庁
When receiving a forenotice of online batch for the test from the online systems and the input telegraphic messages match between the online systems, the information processing device interrupts the input of the telegraphic messages and notifies each online system of an execution command of the online batch.例文帳に追加
オンラインシステムからテスト用のオンラインバッチの予告通知を受信した際、投入済みの電文がオンラインシステム間で一致している場合、電文投入を中断し、オンラインバッチの実行指示を各オンラインシステムに通知する。 - 特許庁
To precisely conduct an acceptance determining measuring test for a semiconductor integrated circuit having a large number of output terminals to output multi-gradation output voltages, using inexpensive device constitution.例文帳に追加
多数の出力端子を有し多階調の階調出力電圧を出力する半導体集積回路の合否判定測定テストが、安価な装置構成で高精度に行える半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device for image formation in which the amount of toner deposition can be accurately detected and no undesirable influences are given to the image density and gradation control (AIDC control) even when the total length of a gradation test pattern is decreased.例文帳に追加
階調テストパターンの全長を短くしても正確にトナー付着量を検出することができ、画像濃度および階調性の制御(AIDC制御)に悪影響を及ぼさない画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加
試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a circuit device of a semiconductor memory and a method in which quality of a semiconductor memory being as high as possible can be achieved for a holding time of a memory cell with comparatively slight test, restoration, and repair cost.例文帳に追加
比較的わずかなテスト及び修復、修理コストのもとでメモリセルの保持時間に関して、半導体メモリのできるだけ高い品質を達成することを可能にする半導体メモリの回路装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
The device includes the first reservoir 21 and the second reservoir 22 for supplying one or more of media continuously to the first chamber 2 and the second chamber 10, and the chambers have stirrers 4, 11 for mixing the solid test sample and the media.例文帳に追加
装置は1以上の媒体を第1のチャンバ2と第2のチャンバ10へ連続的に供給する、第1のリザーバ21と第2のリザーバ22を含み、チャンバは固体試験サンプルと媒体を混合する攪拌器4、11を有する。 - 特許庁
The nonvolatile semiconductor memory device includes: a sense amplifier; bit lines connected to a sense amplifier; a memory cell transistor and a dummy cell transistor connected in parallel to the bit lines; and a current generating circuit for supplying a test current to a current node.例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置は、センスアンプと、センスアンプに接続されたビット線と、ビット線に並列に接続されたメモリセルトランジスタ及びダミーセルトランジスタと、電流ノードにテスト電流を供給する電流生成回路と、を備える。 - 特許庁
To provide a probe device which enables high speed test of the electric characteristics of a system LSI in which logic circuits and analog circuits are mixed loaded, at a signal transmission speed of 4 Gbps or above by a low speed tester without investing a high speed tester.例文帳に追加
ロジック回路とアナログ回路を混載したシステムLSIのそれぞれの電気的特性を高速テスタを投資することなく低速テスタで、信号伝送速度4Gbps以上の高速テストが可能なプローブ装置を提供する。 - 特許庁
To provide a vehicle wheel load adjusting device capable of accurately measuring tire performance by correcting the load balance of right and left wheels of a vehicle in a non-boarding state to obtain the proper wheel load balance in a tire performance test.例文帳に追加
タイヤの性能テストにおいて、非乗車状態での車両の左右の輪荷重バランスを補正し、正しい輪荷重バランスにすることでタイヤの性能を正確に測定できるようにする車両輪荷重調整装置を提供する。 - 特許庁
To provide a display device which can ensure an area for a thin-film transistor for test and an area for a contact hole which connects an SD electrode with a connection wiring even when a pitch between terminal wirings is small.例文帳に追加
端子配線間ピッチが小さい場合であっても、検査用薄膜トランジスタの面積及びSD電極と接続配線とを接続するコンタクトホールのための面積を確保することが可能な表示装置を提供することである。 - 特許庁
The semiconductor device 1 includes both a storage 2 for storing specific information for specifying the time of executed burn-in test and a controller 3 which stores specific information in the storage 2 and reading stored specific information.例文帳に追加
半導体装置1は、実施されたバーンイン試験時間を特定するための特定情報を記憶する記憶部2と記憶部2内に特定情報を記憶させ、また記憶された特定情報を読み出す制御部3とを含む。 - 特許庁
To provide a mobile communication terminal testing device and a method of displaying a test result, for: simultaneously displaying measurement values of adjacent channels having different communication systems; and displaying measurement results having different measurement conditions in a unified format.例文帳に追加
通信方式が異なる隣接チャネルの測定値を同時に表示し、測定条件の異なる測定結果を統一されたフォーマットで表示可能とする移動体通信端末試験装置及び試験結果表示方法を提供する。 - 特許庁
To provide a storage structure of a test program file of an automatic inspection device capable of easily adding, deleting and altering even if an inspection algorithm, an image obtaining condition and the like are added, deleted or altered.例文帳に追加
検査アルゴリズムや画像取得条件などが追加、削除、変更された場合であっても、容易にその検査プログラムを追加、削除、変更することができる自動検査装置における検査プログラムファイルの格納構造を提供する。 - 特許庁
To provide a report server device, report system, and report equipment testing method capable of discriminating automatically whether or not a test report signal is right even while the report system is being operated without providing the report equipment with a special constitution.例文帳に追加
本発明は、特別の構成を通報機器に備える必要もなく、通報システムの運用中でも試験通報信号の是非を自動的に区別し得る通報サーバ装置、通報システム及び通報機器試験方法を提供する。 - 特許庁
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