「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(153ページ目) - Weblio英語例文検索

A tip of a contact 3 of a socket for connecting a semiconductor test device to a semiconductor chip 1 is formed into a shape provided, in its intermediate part, with a metal wire part 7 comprising a plurality of metallic wires bent toward a lead terminal part 2.例文帳に追加

半導体試験装置と半導体チップ１とを接続するソケット部の接触子３の先端の形状を、その途中にリード端子部２側に湾曲した複数の金属製ワイヤからなる金属ワイヤ部７を設けた形状とする。 - 特許庁

Thereto, other barriers are constituted so as to give crack stop protection, to be electrically connected to a monitoring device and so as to test the capacitance/resistance of the barrier structure to show the complete states of the barriers to a user.例文帳に追加

さらに他のバリアは、クラックストップ保護を与えるよう構成され、モニタ・デバイスへの電気的接続を可能にして、バリアの完全性の状態をユーザへ示すバリア構造のキャパシタンスおよび／または抵抗をテストするよう構成される。 - 特許庁

A sound model generating device 1 receives phoneme HMM data, needed to generate test data "Hello" for decision from respective sound model DBs and generates cancatenated phoneme data representing an array of "Hello" from the received phoneme data.例文帳に追加

音響モデル生成装置１は、判断用テストデータ「こんにちは」の生成に必要な音素ＨＭＭデータを各音響モデルＤＢから受け取り、受け取った音素ＨＭＭデータから「こんにちは」と並べた連結音素データを生成する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM STRUCTURE CONDUCTOR, THE THIN FILM STRUCTURE CONDUCTOR ACQUIRED BY USING THE SAME METHOD, AND PROBE DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT TEST USING THE SAME CONDUCTOR例文帳に追加

薄膜構造導電体を製造する方法及びその薄膜構造導電体を製造する方法を用いて得られた薄膜構造導電体ならびにその薄膜構造導電体を用いた集積回路テスト用のプローブデバイス - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with temperature detection function detecting the prescribed temperature with less dispersion and optimizing an operation state in accordance with the detected prescribed temperature, a test method, and a refresh-control method.例文帳に追加

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置、試験方法、及びリフレッシュ制御方法を提供することを目的とすること - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁

In the bending testing device 1, the uniform bending stress can be generated in the whole circuit board 9 by this constitution, while determining selectively the bending direction of the circuit board 9, when performing the bending fatigue test of the circuit board 9.例文帳に追加

これらの構成により、曲げ試験装置１では、回路基板９の曲げ疲労試験を行う際に、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。 - 特許庁

The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.例文帳に追加

そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁

The output values of the shift registers 200, outputted from the indeterminate mask device 220, are compressed by an MISR 230, and a tester compares its output values with the output expectation values of the test data to detect the defects of the LSI 105.例文帳に追加

不定マスク器２２０から出力されるシフトレジスタ２００の出力値をＭＩＳＲ２３０で圧縮し、この出力値と、テストデータの出力期待値とをテスタが比較することにより、ＬＳＩ１０５の不良を検出する。 - 特許庁

To provide a test writing circuit compatible with a multilayer recording disk having two or more layers and capable of correctly determining a recording laser parameter even when there are fluctuation of intervals between layers including transmittance, damages and dust, and to provide an optical disk device.例文帳に追加

２層以上の多層記録ディスクに対応し、透過率を含め、層間隔のばらつきや、傷、ほこりなどがあっても、記録レーザパラメータを正しく決定できる試し書き回路、及び光ディスク装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a circulation flow water vessel provided with a bubble removing device capable of removing bubbles generated in a circulation flow or bubbles generated by a cavitation test to carry out an experiment not affected by the bubbles.例文帳に追加

回流中に生成された気泡或いはキャビテーション試験によって生成した気泡を除去して、気泡の影響を受けない実験を行うことのできる気泡除去装置を備えた回流水槽を提供することにある。 - 特許庁

The image output device 101 further estimates an undetermined density adjustment value on the basis of a comparison between the density of a color mixture patch group in the test chart 201 and the density of the color mixture patch group of a reference density in a reference chart 202.例文帳に追加

さらに、画像出力装置１０１は、テストチャート２０１における混色パッチ群の濃度とリファレンスチャート２０２における基準濃度の混色パッチ群の濃度との比較に基づいて、未決定の濃度調整値を推定する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING MARKET TEST DATA, PROGRAM OF METHOD EXECUTABLE BY COMPUTER, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM AND READ BY COMPUTER, AND ITS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

マーケットテストデータ選定装置、マーケットテストデータ選定方法、このマーケットテストデータ選定方法をコンピュータにより実行可能なプログラム及びこのプログラムを記録したコンピュータにより読み取り可能な記録媒体、並びに、マーケットテストシステム及びマーケットテスト方法 - 特許庁

Otherwise, the steel product end automatic flaw detection device is characterized by enabling the flaw guarantee of the whole length by rotating once the test material or the sensor by using the sensors formed by facing the sensors shifted as much as the inspectable width of the sensors.例文帳に追加

さらに、センサーの探傷可能な幅分だけずらしたセンサーを対峙させたセンサーを用い、被検材またはセンサーを１回転させたことにより全長の疵保証を可能としたことを特徴とする鋼材端部自動探傷装置。 - 特許庁

To provide an optical communication system capable of easily performing a loop-back test of an optical signal without the need to change the connection to an external device or an optical transmission line, an optical signal transmitting/receiving method for the optical communication system, and an optical transmitting/receiving module.例文帳に追加

外部装置や光伝送路の繋ぎ換えの必要が無く、簡易に光信号のループバックテストを行うことができる光通信システム、光通信システムの光信号送受信方法及び光送受信モジュールを提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation method which can perform evaluation of heat fluctuation characteristics in a comparatively short time, without being accompanied by complicated adjustment work in an evaluation test of heat fluctuation accompanied by acceleration; and to provide an evaluation device for the evaluation method.例文帳に追加

加速を伴う熱揺らぎの評価試験において、煩雑な調整作業を伴わず、かつ比較的短時間で熱揺らぎ特性の評価を行うことのできる評価方法及びそのための評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

To perform a confirmation test in which a large difference between AC characteristics does not exist in a plurality of current passes concerned in a plurality of through electrodes between an interface chip and a core chip respectively in a semiconductor device of a type using the interface chip.例文帳に追加

インターフェースチップを用いるタイプの半導体装置において、インターフェースチップとコアチップ間の複数の貫通電極にそれぞれ関する複数の電流パスで大きなＡＣ特性の差がないことの確認試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a method and device for evaluating a chlorine resistance of a polymer material, capable of accurately evaluating the chlorine resistance of the polymer material, by executing a test quantitatively and continuously without directly measuring the polymer material.例文帳に追加

高分子材料を直接測定することなく定量的かつ連続的に試験を実施して高分子材料の耐塩素性を正確に評価できる高分子材料の耐塩素性評価方法とその評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide an LED light source for test, capable of preventing unevenness in illuminance and color of illumination light, and to provide a solar cell evaluation device capable of accurately evaluating output characteristics of solar cells by the same.例文帳に追加

照射光の照度ムラや色ムラの発生を抑えることができる試験用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁

When performing a test, the signals recorded in the data recording device 14 are reproduced by a plant data reproduction apparatus 23, and a reproduced operation amount signal and a reproduced state feedback signal are inputted to a control apparatus 21 to be tested.例文帳に追加

試験時には、プラントデータ記録装置１４により記録された信号をプラントデータ再生装置２３によって再生し、再生操作量信号及び再生状態フィードバック信号を被試験制御装置２１に入力する。 - 特許庁

In order to perform a (p) well variation test, the memory device is provided with an IPL decoding logic circuit 60, a reference voltage generator 70, an IPL voltage reference multiplexer 80, a (p) well voltage feedback circuit 90, and a differential amplifier circuit 36.例文帳に追加

ｐウェル変化テストを実行するために、メモリ・デバイスには、ＩＰＬデコード論理回路６０、基準電圧発生器７０、ＩＰＬ電圧基準マルチプレクサ８０、ｐウェル電圧フィードバック回路９０、差動増幅器回路３６が設けられる。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage device wherein an examination time can be reduced by interrupting the test at the time when any bits are not non-defective articles, and changing the procedure and judgment when there is a write/delete disabled bit.例文帳に追加

書込／消去不能のビットがある場合に、全ビットが良品でないときにはその時点でテストを中断し、手順や判断を変更して試験時間を短縮できるような不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for monitoring the inner surface of piping, capable of allowing an inspector to readily monitor the inner surface state of the piping from the outside of the piping, and capable of performing the accurate wall thickness reducing control of the piping by an ultrasonic flaw detection test.例文帳に追加

検査員が配管の外部から配管内面の状態を容易に監視でき、超音波探傷試験による的確な配管減肉管理を行うことができる配管内面監視装置及び方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing device of a power train for obtaining a reliable test result by giving accurate load torque corresponding to the transitional drive state of a vehicle for mounting the power train including a motor and a transmission.例文帳に追加

原動機及び変速機を含むパワートレインが搭載される車両の過渡的な走行状態に対応して正確な負荷トルクを付与し、信頼性の高い試験結果を得ることができるパワートレインの試験装置を提供する。 - 特許庁

Each of the contact electrodes 6 has a contact portion 6c for electrically connecting a contact electrode member 6a for making contact with an electrode 2a of a semiconductor device 2 and a contact electrode member 6b for contacting the terminal of a test board.例文帳に追加

コンタクト電極６の各々は、半導体装置２の電極２ａに接触するコンタクト電極片６ａと、試験基板の端子に接触するコンタクト電極片６ｂとを電気的に接続する接続部６ｃを有する。 - 特許庁

To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature.例文帳に追加

半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing normal detection even when adjacent word lines are short-circuited on a test mode and also capable of performing detection at a burst length unit and relieving an abnormality when it exists in the detection.例文帳に追加

テストモードにおいて、隣接するワード線がショートした場合においても、正常な検出ができ、しかも、バースト長単位での検出と、異常である場合には、その救済が可能である半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an input termination control device in which analysis for initial defects, functions, and reliability of a semiconductor memory at a test can be easily performed by controlling ON/OFF of an input termination of a semiconductor memory, and its method.例文帳に追加

半導体メモリの入力ターミネーションをオン・オフ制御して、テストの際に半導体メモリの初期不良、機能分析、信頼性分析を容易にすることができる入力ターミネーション制御装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁

A semiconductor storage device is equipped with the RAM (random access memory) (10), the ODT (on die termination) circuit (30), and a JTAG (joint test action group) circuit (20).例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）（１０）と、ＯＤＴ（Ｏｎ Ｄｉｅ Ｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ）回路（３０）と、ＪＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ）回路（２０）と、を具備している。 - 特許庁

In the ADSL system, an in-station device 10 is provided with two SELs 13-i and 14-i, separately for each internal ADSL circuit, and a circuit test interface 15 for leading in the ADSL circuits from these selectors.例文帳に追加

ＡＤＳＬシステムにおいて局内装置１０が、内部のＡＤＳＬ回線で回線毎に二つのＳＥＬ１３−ｉ，１４−ｉとこれらセレクタからＡＤＳＬ回線を引き込む回線試験インタフェース１５とを設けている。 - 特許庁

To provide a liquid crystal module truck and a method of manufacturing a liquid crystal display device, capable of reducing man-hour in circuit adjustment, an aging test, and display inspection, and being difficult to cause connector breakage in a module.例文帳に追加

回路調整、エージング試験及び表示検査における工程数を削減することができると共に、モジュールにコネクタ破損不良が発生しにくい液晶モジュール用台車及び液晶表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In addition, test signals are generated responding to connection of the devices with the device interface, and then transmitted on the bus.例文帳に追加

いくつかの実施形態では、デバイスをデバイス・インターフェースと結合させるのに応答してテスト信号を生成し、バス上に当該テスト信号を送信し、デバイス・インターフェースでのバス信号が予想されたバス信号と異なる時にエラー信号を生成する。 - 特許庁

To provide an image information processor by which an image from an image preserving device is determined as the same one from a plurality of image generating apparatuses when receiving medical images belonging to the same test are received, and also to provide a medical network system, and a program for the computer of a medical image processor.例文帳に追加

複数の画像発生装置から同一検査に属する医用画像を受信したときに画像保存装置側で同一検査と判断できるようにした画像情報処理装置及び医用ネットワークシステムを提供する。 - 特許庁

A liquid phase-type thermal shock test device comprises a high- temperature tank 1 and a low-temperature tank 2 to add thermal stress to an object to be measured 6 and is provided with a control means 5 to control the surface temperature of the object to be measured 6 in each of the tanks 1 and 2 to control thermal stress.例文帳に追加

被測定対象物６に熱ストレスを加える高温槽１と低温槽２とを有し、各槽１，２における被測定対象物６の表面温度を管理して熱ストレスを制御する制御手段５を設ける。 - 特許庁

The testing device outputs such a test output that is recognized as low-speed data of 25 MHz from the outside of the LSI, though the clock recovery circuit 1 in the LSI operates practically by a high-speed clock of 125 MHz, for example.例文帳に追加

そして、実際にはＬＳＩ内部のクロックリカバリ回路１はたとえば１２５ＭＨｚの高速クロックで動作しているが、ＬＳＩ外部からは２５ＭＨｚの低速データとして認識されるような試験出力を外部に出力させる。 - 特許庁

To provide a communication conversion control device capable of satisfying restriction in time from a request of a diagnostic test tool to an initial response by an on-vehicle ECU and realizing unifying standards for conventional vehicles.例文帳に追加

ダイアグテストツールの要求から車載ＥＣＵが最初の応答を行うまでの時間的な制約を満足することができるとともに、従来の車両も規格統一を図ることが可能な通信変換制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tool capable of evaluating the legibility of a test on a display device and modifying the properties of the text as occasion demands so as to display a legible text while maintaining specification of a writer's existing style.例文帳に追加

表示装置上でテキストの可読性を評価して、執筆者の既存スタイルの特定を維持しながら判読可能なテキストを表示するべく、必要に応じてテキストの特性を修正することができるツールを提供する。 - 特許庁

To solve the difficulty in speeding up of the image forming speed, in downsizing of a device and reducing the cost, when image quality compensation control, etc., is carried out by detection of a test patch image density during image forming action.例文帳に追加

この発明は、画像形成動作中のテストパッチ像濃度検出による画質補償制御等を行う場合、画像形成速度の高速化、装置小型化、低コスト化が困難であるという課題を解決しようとするものである。 - 特許庁

Since no constituent parts are arranged between the rollers 7a and 7b nor between rollers 8a and 8b in the dynamic balancing machine 1, it is possible to measure unbalance of the device under test 11 having a protrusion part 35.例文帳に追加

また、動釣合い試験機１には、ローラ７ａおよび７ｂと、ローラ８ａおよび８ｂとの間に構成部品が配置されていないので、突出部分３５を有している被試験体１１の不釣合いを測定することができる。 - 特許庁

As shown in Fig. (b), within a prescribed time in which the temperature of the semiconductor device 11 is within a prescribed temperature range, a test for detecting whether or not an ordinary open circuit/short circuit with reference to a bonding part of a bonding wire 13 exists is executed.例文帳に追加

その後、図１（ｂ）に示すように、半導体デバイス１１の温度が所定温度範囲内にある所定時間内に、ボンディングワイヤ１３の接合部に対する通常のオープン／ショートの有無を検出するテストを実行する。 - 特許庁

The test device measures the bearing power of a pile 12 buried in the ground 10, in which a measuring instrument 16 that measures the loading load applied to a pile head 14 located at the upper end of the pile 12 and the displacement is placed.例文帳に追加

試験装置は、地盤１０中に埋設された杭１２の支持力を測定するものであって、杭１２の上端側に位置する杭頭部１４に加えられる載荷荷重と変位とを測定する計測器１６が設置される。 - 特許庁

In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加

環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子１５、電位差計測端子１６に対する試験片１１の相対位置を同一にする試験冶具１２の位置決め機構１４を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an individual identification device wherein a protection plate provided before an imaging means in an advance direction of light transmitted through a test subject such that dirt or dust does not come into the imaging means from the outside is not used as it is dirty.例文帳に追加

撮像手段に外部からゴミやホコリが入らないように被検体を透過した光の進む方向に向かって撮像手段の手前に設けられた保護板が汚れたままでは使用されない個人識別装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, under the condition that the communication between the in-station device 10 and the ATU-R of a user's terminal be established, the ADSL circuits are connected with one another via the circuit test interface, thus the ADSL circuits in on line state can be monitored.例文帳に追加

また、局内装置１０とユーザ端末のＡＴＵ−Ｒとの間の通信を確立した状態で回線試験インタフェースを介してＡＤＳＬ回線を接続し、オンライン状態でのＡＤＳＬ回線をモニタすることができる。 - 特許庁