「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(155ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device which enables a test before the shipping of a memory chip by removing a pump circuit which supplies a voltage for operation from memory chips, and individually separating them as a pump chip to be mixedly packaged into an MCP (Multi Chip Package) chip.例文帳に追加

動作用の電圧を供給するポンプ回路を各メモリチップから取り去り、ポンプチップとして別チップにしてＭＣＰチップ内に同梱するようにして、メモリチップの出荷前試験を可能にする半導体装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the sum of voltages of the D+ data output signal and D- data output signal is tested, whereby the test can be performed in the same channel of the testing device, and a precise measurement can be thus performed, without being influenced by skew between channels.例文帳に追加

また、Ｄ＋データ出力信号とＤ−データ出力信号との電圧の和をテストすることで、テスト装置の同一チャンネルでのテストが可能となり、 チャンネル間のスキューの影響を受けることなく高精度での測定が可能となる。 - 特許庁

To provide a device and a method for detecting an analyte, capable of displaying directly the presence of interference to take the interference into consideration, when evaluating a test result, and capable of displaying directly a type of the interference in some cases.例文帳に追加

試験結果を評価する際に干渉を考慮することができるようにこれら干渉の存在を直接表示し、場合によってはそれら干渉のタイプを直接表示できるアナライト検出用のデバイスと方法を提供する。 - 特許庁

A prober device 20 includes a first probe card 21, a second probe card 22, first and second test heads 23 and 24 mounted with the probe cards 21 and 22 respectively, a stage 26 on which the semiconductor chip 11 is mounted, a stage driving mechanism 27, and a housing 28.例文帳に追加

プローバ装置２０は、第１プローブカード２１、第２プローブカード２２、プローブカード２１，２２がそれぞれ装着される第１及び第２テストヘッド２３，２４、半導体チップ１１を載せるステージ２６、ステージ駆動機構２７、筐体２８を備えている。 - 特許庁

An image test device 104 has a restoring device 201 that generates correct image data obtained by restoring image data prior to the halftone process from output image data, and an image comparing device 202 that compares read image data generated by an image reading device 105 which reads an image output medium with the correct image data and determines whether a print state of the image output medium is good or defective.例文帳に追加

画像検査装置１０４は、出力画像データから、中間調処理前の画像データを復元した正解画像データを生成する復元装置２０１と、画像出力媒体を読み取る画像読み取り装置１０５により生成された読取画像データと正解画像データとを比較し、画像出力媒体について印刷状態の良否判定を行なう画像比較装置２０２と、を備えた。 - 特許庁

In the rewritable optical disk recording/reproducing device capable of setting a laser output by recording a test signal in a trial writing area provided in a disk, and repeatedly recording in the disk, when recording is performed in the signal recorded area, a laser output is set by recording a test signal in the recorded area while changing the laser output and detecting the recording quality of the test signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録するとともに記録されたテスト信号の記録品位を検出することによりレーザー出力を設定し、且つディスクへの記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、信号が記録されている記録済み領域への記録動作を行うとき、該記録済み領域にテスト信号をレーザー出力を変更しながら記録するともに記録されたテスト信号の記録品位を検出することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

To enable a spatial resolution of a display device to be accurately evaluated, even regarding the vicinity of the upper limit of a spatial resolution of a video signal by applying a signal generator, signal generation method and test method to subjective evaluation of a moving image resolution on the display device, for example.例文帳に追加

本発明は、信号発生装置、信号発生方法及び試験方法に関し、例えばディスプレイ装置における動画像解像度の主観評価に適用して、ビデオ信号の空間解像度の上限近傍についても、ディスプレイ装置の空間解像度を正確に評価することができるようにする。 - 特許庁

To enable an information recording and reproducing device, which optically records and reproduces information on an optical disk having its test write areas at multiple positions, to accurately record and reproduce information by suitably matching recording power with even a combination of an arbitrary optical disk and the recording and reproducing device without adding any constitution.例文帳に追加

テストライト領域が複数の位置に存在する光ディスクに光学的に情報を記録再生する情報記録再生装置において、特別な構成を付加することなく、任意の光ディスクと記録再生装置との組合わせに対しても、記録パワーを最適にマッチングさせ、正確な情報の記録再生を可能とする。 - 特許庁

The filter device which is provided with float type gas flow monitoring means in one body, and supplies a test gas to the gas detection device after removing dust includes a calibration gas introduction part which is formed while connected to a gas intake of the gas flow monitoring means and introduces the calibration gas.例文帳に追加

フィルタ装置は、フロート式のガス流監視手段が一体に設けられた、被検ガスをダストを除去してガス検出装置に供給するためのものにおいて、ガス流監視手段のガス流入口に接続されて形成された、校正用ガスを導入するための校正用ガス導入部を有する構成とされている。 - 特許庁

The vertical type balancer 10 is provided with a putting-on and removing part 1 which moves in any one direction of vertical direction, fixes a device W under test, moves in the other direction of the vertical direction, and relieves the device W from the fixed state, and a means 2 of movement for moving the putting-on and removing part 1.例文帳に追加

縦型釣合い試験機１０は、上下方向のいずれか一方向に移動して被試験体Ｗを固定し、上下方向の他方向に移動して被試験体Ｗを固定した状態から解放する着脱部１と、この着脱部１を上下方向に移動させる移動手段２と、を備えている。 - 特許庁

The device used for a quick loading test of the pile conducted by striking a pile head 4 with a plumb bob 3 is characterized by that the device includes the plumb bob and a cushioning material 2 interposed between the plumb bob and the pile head, and the cushioning material is formed of material with specific gravity of 0.35-0.5.例文帳に追加

杭頭４を重錘３で打撃しておこなう杭の急速載荷試験に用いる装置であって、重錘と、前記重錘と前記杭頭の間に介在させる緩衝材２と、からなり、前記緩衝材は比重が０．３５以上０．５以下の材料からなることを特徴とするものである。 - 特許庁

This device includes a test master (110) wherein, when receiving access to an evaluation object macro (120) from a CPU (200) which is a host device, and detecting that the access is a competition evaluation start access determined beforehand, a command for competition evaluation is inputted into the evaluation object macro at a prescribed timing with respect to the access.例文帳に追加

上位装置であるＣＰＵ（２００）から評価対象マクロ（１２０）に対するアクセスを受け、前記アクセスが予め定められた競合評価開始アクセスであることを検出すると、前記アクセスに対して、所定のタイミングで、競合評価用の命令を前記評価対象マクロに投入するテストマスタ（１１０）を備える。 - 特許庁

To provide an image display device which suppresses the occurrence of bubbles in an interface between a transparent adhesive resin sheet and a front plate in a long-term reliability test under high temperature and high humidity, in a manufacturing method of the device in which a transparent filler is closely arranged between a transparent plastic front panel and an image display panel.例文帳に追加

透明プラスチック前面パネルと画像表示パネルの間に透明充填材が密着配置される装置の製造法において、高温高湿下での長期信頼性試験で透明な粘着性樹脂シートと前面板の界面の気泡の発生を抑制する画像表示用装置を提供する。 - 特許庁

The device comprises a vibration table for placing a test specimen, a rotation moment measuring section 25 for measuring the rotation moment of the vibration table, and an excitation stopping section 26 for inputting the output of the rotation moment measuring device 25 and controlling for stopping excitation when the rotation moment of the vibration table exceeds a permissible range.例文帳に追加

供試体が載置される振動台と、該振動台の回転モーメントを測定する回転モーメント測定部２５と、該回転モーメント測定装置２５の出力が入力され、前記振動台の回転モーメントが許容範囲を超えた場合、加振を停止する制御を行う加振停止部２６とを備えていることを特徴とする。 - 特許庁

This modified device for equilibrium dialytic treatment is of such a construction that it uses a dialytic membrane which is present in all of an arbitrary number of test wells included in dialytic blocks and also inserted into at least a gap for dividing the wells to the donating side and the receiving side which be accessed and operated from the top the device during testing.例文帳に追加

透析ブロックに含まれる任意の数の試験ウェルの全ての中にあり、それらウェルを試験中いつでも装置の上部からアクセス及び操作できる授与側と受領側に少なくとも分離する間隙内に挿入された透析膜を利用する平衡透析処置用改良型装置。 - 特許庁

To enable the speedy maintenance work of an exchange while shortening time required for specifying a fault occurrence unit device by enabling return test diagnosis concerning the unit device (exchange element) of a speech path system in a short time through a simple processing sequence.例文帳に追加

交換機における折り返し試験診断方法及び装置に関し、通話路系のユニット装置（交換要素）についての折り返し試験診断を、簡素な処理手順により短時間でに行うことができるようにし、障害発生ユニット装置の特定に要する時間を短縮し、交換機の迅速な保守作業を可能にする。 - 特許庁

A processing device 3 comprises: a conversion part 33 to convert the information on the lightness and the color of every pixel extracted from the image imaged by the imaging device 2 into a surface angle of the test object 7; and a surface extract part 34 which extracts planes having a same angle by grouping the angle of the every pixel.例文帳に追加

処理装置３は、撮像装置２から撮像した画像から抽出される画素ごとの明度と色との情報を用いて検査対象７の表面の角度に換算する換算部３３と、画素ごとの角度をグループ化することにより同じ角度を有した平面を抽出する面抽出部３４とを備える。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

This dust prevention testing device 1 is constituted of an exciter 3 excitable in a prescribed vibration condition, a sealable dust housing 4, a sealable housing 5 for evaluation fixed in the dust housing 4, and a dust supply device 6 capable of supplying a prescribed quantity of dust for the test into the dust housing 4.例文帳に追加

防塵試験装置１は、所定の振動条件で加振可能な加振器３と、密閉可能な粉塵箱体４と、この粉塵箱体４内に固定された密閉可能な評価用箱体５と、粉塵箱体４内に試験用粉塵を所定量供給可能な粉塵供給装置６とから構成されている。 - 特許庁

This test device 1 for detecting a defect inside the processed article 5, 6 and specifying a position thereof has: heat sources 2, 7, 13, 14; sensor devices 3, 10, 11, 12 for measuring temperature distribution of the surface 8 of the processed article; and an evaluation device 4 connected to the sensor devices.例文帳に追加

本発明は、加工品（５、６）内の欠陥を検出し、その位置を特定するための試験装置（１）に関するものであり、熱源（２、７、１３、１４）と、加工品の表面（８）の温度分布を測定するためのセンサ装置（３、１０、１１、１２）及びセンサ装置に接続された評価装置（４）を有している。 - 特許庁

To solve a problem that, in a four terminal measuring device implementing connection check by loading check current to wiring connecting between a measuring device and a test object, since it is required to cutoff a current source so that the measured current does not flow during the connection checking period or to reduce measured current value, constituent becomes complicated.例文帳に追加

計測装置と被測定物間を接続している配線にチェック電流を流して接続チェックを行う４端子計測装置において、接続チェックを行う間は測定電流が流れないように電流源を切り離すか、測定電流値を小さくしなければならず、構成が複雑になるという課題を解決する。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

To provide a control constant deciding method which can facilitate the adjustment of many control constants, in a control system for performing feedback control of at least the position and attitude angle in a supporting device with magnetic force like a magnetic support weighing device used for a wind tunnel test.例文帳に追加

風洞試験に用いる磁力支持天秤装置のような磁気支持装置における少なくとも位置・姿勢角についてフィードバック制御を行う制御系において、多数に上る制御定数の調整の容易化を図ることができる磁力支持装置における制御定数決定方法を提供する。 - 特許庁

The acoustic device is given test signals whose amplitude components are equal for every channels, and furthermore, frequency components are different, and a control part 23 performs fourier transform for the reproduced output from the acoustic device, obtains a result of the frequency analysis, and gets acoustic pressure components, phase components, and sound volumes for every channels according to the results.例文帳に追加

音響装置には、チャネル毎にその振幅成分が等しくその周波数成分が異なるテスト信号が与えられ、制御部２３は音響装置から出力される再生出力をフーリエ変換して周波数分析結果を得て、周波数分析結果に応じてチャネル毎の音圧成分、位相成分、及び音量を得る。 - 特許庁

In this automatic determination method of a sagittal plane in a range of the subject to be tested by a magnetic resonance device, almost coronal localizer imaging of the test range is carried out and the sagittal plane is determined by automatic image evaluation by an image processing unit of the magnetic resonance device based on the coronal localizer imaging.例文帳に追加

磁気共鳴装置により検査すべき被検体範囲のサジタル面の自動決定方法において、検査範囲のほぼコロナルのロカライザ画像撮影が行なわれ、このコロナルのロカライザ画像撮影に基づいて磁気共鳴装置の画像処理ユニットによる自動画像評価によってサジタル面が決定される。 - 特許庁

In this device, a sampling path 30 is provided with a first comparator 50 comparing a test signal 20 with a first threshold Vth1 to supply a first comparison signal 50A, and a first sampling device 60 receiving both a first timing signal 70 comprising a plurality of consecutive primary timing marks and the above first comparison signal 50A as input signals.例文帳に追加

サンプリング経路３０は、試験信号２０を第１の閾値Ｖth1と比較し、第１の比較信号５０Ａを供給する第１の比較器５０、複数の連続する第１のタイミングマークからなる第１のタイミング信号７０とともに第１の比較信号５０Ａを入力として受信する第１のサンプリング装置６０を備える。 - 特許庁

The balancing machine is provided with a centrifugal force generating device 3 on a bearing stand 2 supporting a rotor 6, which is structured that detects the vibration of the bearing stand 2 generated by rotating a weight 3c as known unbalance by the centrifugal force generating device 3 and judges the acceptance of a hard beaming type of balancing test.例文帳に追加

釣合い試験機において、ロータ６を支持する軸受架台２に遠心力発生装置３を備え、その遠心力発生装置３が既知の不釣合いとしての重り３ｃを回転させたことにより生ずる軸受架台２の振動を検知し、ハードタイプの釣合い試験の可否を判定する構成にした。 - 特許庁

This administration method includes a stage for operating a moving device so that an administration tube 2 is separated from a rest position and moved to an operation position, and a stage for operating an administration control device so that a specified amount of fluid is supplied into a receptacle channel 4 of the test element 6 from an administration chamber through the administration tube 2.例文帳に追加

投与方法は、投与チューブ２が休止位置を離れて動作位置に移動するよう移動装置を作動させる段階、および規定量の流体が、投与チャンバから投与チューブ２を介してテストエレメント６の受承流路４内に供給されるよう投与制御装置を作動させる段階を含む。 - 特許庁

(2) The test device of the fuel cell comprises in order of gas flow direction a mass flow-rate controller 2, a humidifier 3, a volume type flowmeter 7, and an arithmetic device 8 to obtain a moisture content by reducing the flow-rate value of the mass flow-rate controller 2 from the flow-rate value of the volume type flowmeter 7.例文帳に追加

（２）本発明の燃料電池の試験装置は、ガス流れ方向に順に、質量流量コントローラー２、加湿器３、体積式流量計７と、体積式流量計７の流量値から質量流量コントローラー２の流量値を減算して水分量を求める演算装置８と、を有する。 - 特許庁

The position detection device 1a can be configured, by using the transmitting antenna and the receiving antennas which are formed on the transparent substrate with transparent electrodes and by placing the antennas on a display, as a position detection device that detects a position of a test object being positioned in a three-dimensional (3D) area on the display.例文帳に追加

位置検出装置１ａにおいて、透明基板上に透明電極で形成された送信アンテナおよび受信アンテナを用い、このアンテナをディスプレイ上に配置することにより、ディスプレイ上の３次元領域に位置する被検物体の位置を検出する位置検出装置を構成することが出来る。 - 特許庁

An operation determination section 12 of the control device 10 determines an operation situation of the test device 20, a hammer driving section 13 controls operation of an actuator hammer 100, a setting input section 14 inputs an impact strength or automatic/manual setting, and a display section 16 displays inputted data or a determination result of operation.例文帳に追加

制御装置１０の動作判定部１２は試験装置２０の動作状況を判定し、ハンマー駆動部１３はアクチュエータハンマー１００の動作を制御し、設定入力部１４は打撃強度や自動・手動等の設定を入力し、表示部１６は入力されたデータを表示したり動作の判定結果等を表示する。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

In the multiplex computer system comprising computers 10 and 20 which have the same function and an operation managing device 30 which totally manages those computers, the operation managing device 30 is provided with an operation simulation part 35, which simulates the operation of the operation managing device 30 according to a predetermined operation pattern to test the computer system.例文帳に追加

同一機能を有する複数台の計算機１０、２０と、これら各々の計算機を統括して管理する運転管理装置３０からなる多重化計算機システムであって、運転管理装置３０に操作模擬部３５を設け、この操作模擬部３５によりあらかじめ決められた操作パターンで運転管理装置３０の操作の模擬を行い、計算機システムの試験を行うようにしたものである。 - 特許庁

The control apparatus 160 recognizes that the vehicle 100 is connected to the power supply device 300 by using the charging cable 400, based on the comparison of a signal on test power transmission which is transmitted to the power supply device 300 by radio, with the information on power being transmitted from the power supply device 300 via the charging cable 400 according to the signal.例文帳に追加

制御装置１６０は、給電装置３００に対して無線にて送信するテスト送電に関する信号と、この信号に応じて充電ケーブル４００を介して給電装置３００から送電される電力に関する情報との比較に基づいて、車両１００と給電装置３００とが充電ケーブル４００を用いて接続されていることを認識する。 - 特許庁

This digital control software fault simulation test device includes at least a plant simulation (Process) device of program simulation; a controller (Controller) including a high pressure spray substance control and software simulation control (Control Logical Simulation); and an operation interface device for enabling an operator (Operator) to observe a high pressure core sparay controller and special safety control system control.例文帳に追加

少なくとも、プログラム模擬のプラント模擬（Ｐｒｏｃｅｓｓ）装置と、高圧注水実体制御とソフト模擬制御（Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｌｏｇｉｃａｌ Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ）とが含有される制御装置（Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）と、作業者（Ｏｐｅｒａｔｏｒ）が高圧炉心注水制御装置と格別安全制御システム制御を観察するための操作インターフェース装置とが含有される。 - 特許庁

The failure analyzing device 10 is constituted by a test information acquisition 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device, a layout information acquisition 12 for acquiring layout information, a failure analyzer 13 for analyzing a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control unit 14 for displaying information of an analysis result on a display unit 40.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、解析結果の情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device, which can manufacture a bump electrode high in connection reliability by enabling fine gaping, further can make a connection between terminals without using expensive anisotropy conductive film, and can easily execute a test high in connection reliability, a semiconductor device manufactured by it, a circuit substrate, an electro-optical device, and an electronic apparatus.例文帳に追加

狭ギャップ化が可能で接続信頼性の高い突起電極を製造することができ、さらに端子間の接続については高価な異方性導電膜を用いることなく行うことができ、しかも接続信頼性の検査も容易に行えるようにした、半導体装置の製造方法とこれによって得られる半導体装置、及び回路基板、電気光学装置、電子機器を提供する。 - 特許庁

The failure analyzing device 10 is constituted of a test information acquisition part 11 for acquiring a failure observation image P2 of the semiconductor device, a layout information acquisition part 12 for acquiring layout information, a failure analyzer 13 for analyzing a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control unit 14 for displaying the information of an analysis result on a display unit 40.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、解析結果の情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加

測位用信号を受信する受信装置２０の自動試験システム１０であって、受信装置２０に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置２０を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段４４と、を有する。 - 特許庁

To provide a device and a method for monitoring partial discharge generation, reducing a data quantity of partial discharge in a charge lifetime test by a charge sample for evaluating insulation performance, and reducing a storage capacity for storing partial discharge data.例文帳に追加

絶縁性能を評価する課電試料による課電寿命試験での部分放電のデータ量が低減でき、部分放電のデータを記憶するための記憶容量が少なくて済む部分放電発生監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In this case, a display form of the test result is switched between a plural display form for displaying a plurality of specimens and a single display form for displaying each specimen based on an instruction from a user through an input device 102.例文帳に追加

このとき、入力装置１０２を介した使用者からの指示に基づいて、試験結果の表示形式を複数の供試体について表示する複数表示形式、および各々の供試体について表示する単数表示形式との間で切り替える。 - 特許庁

The predicted tire uniformity of the product tire is decided according to calculation using a transfer function applied to product tire measurement data from a factory field test device including a balancing machine and a tire unifying machine in a factory field.例文帳に追加

製品タイヤの予測されるタイヤユニフォーミティは、工場現場のバランス試験機および工場現場のタイヤ均一化機を含む工場現場試験装置からの、製品タイヤの測定データに適用される伝達関数を用いた計算により決定される。 - 特許庁

The clock phase adjusting section 110, before a test for the external device 102 by the BIST circuit 107, automatically adjusts the phase of the clock from a CLK-generating section 103, and setting the optimum phase of the clock.例文帳に追加

クロック位相調整部１１０がＢＩＳＴ回路１０７による外部デバイス１０２の検査の前に、ＣＬＫ生成部１０３からのクロックの位相を自動調整して位相を設定することで、最適なクロックの位相を設定することが可能となる。 - 特許庁

The network quality evaluation device is characterized in that a probe having a packet extract function is inserted to one terminal of measurement object span on the communication network so as to measure a propagation delay time for a test packet reciprocated through the measurement object span.例文帳に追加

通信ネットワーク上の測定対象区間の一端にパケット抽出機能を有する1台のプローブを挿入し、前記測定対象区間を往復するテスト用パケットの伝播遅延時間を測定することを特徴とするネットワーク品質評価装置。 - 特許庁